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柔性薄膜基体上涂层厚度的测量方法GB/T38518-2020
添加时间:2023/5/11 11:12:38 阅读次数:
本文介绍了柔性薄膜基体上涂层厚度的测量方法GB/T38518-2020,包括测量原理、测量步骤和注意事项。
柔性薄膜作为一种新型材料,具有重量轻、薄度低、可弯曲性好等特点,在制造业中应用广泛。在柔性薄膜的制备过程中,常常需要对其表面进行涂层处理,以改变其表面性质或增加其功能。然而,涂层的厚度对于柔性薄膜的性能具有重要影响,因此需要对其进行精准地测量。
测量原理
GB/T38518-2020是我国颁布的柔性薄膜基体上涂层厚度的测量标准,采用的是光学显微镜法。该方法通过对样品表面反射的光线进行观察和测量,计算出涂层的厚度。
具体来说,测量过程中需要将柔性薄膜样品放置在透明基板上,并在其表面涂覆一层透明的抗反射涂料。然后,在光学显微镜下观察涂层表面的暗纹和亮纹变化,通过调节光学显微镜的焦距,使得暗纹和亮纹清晰可见。然后,使用光学显微镜配套的软件对暗纹和亮纹进行测量和计算,即可得到涂层的厚度。
测量步骤
根据GB/T38518-2020标准,柔性薄膜基体上涂层厚度的测量步骤如下:
- 将柔性薄膜样品放置在透明基板上,并在其表面涂覆一层透明的抗反射涂料。
- 使用光学显微镜观察涂层表面的暗纹和亮纹变化,调节光学显微镜的焦距,使得暗纹和亮纹清晰可见。
- 使用光学显微镜配套的软件对暗纹和亮纹进行测量和计算,得到涂层的厚度。
- 重复测量,取平均值作为涂层厚度的最终结果。
注意事项
在进行柔性薄膜基体上涂层厚度的测量时,需要注意以下事项:
- 样品表面必须清洁干净,并在其表面涂覆一层透明的抗反射涂料,以避免反射光线对测量结果的影响。
- 调节光学显微镜的焦距时,应该确保暗纹和亮纹清晰可见,以保证测量结果的准确性。
- 在进行测量时,应该尽可能避免环境的震动和光的干扰。
- 多次测量,取平均值可以提高测量结果的精度。
总之,GB/T38518-2020标准规定了一种精确、可靠的柔性薄膜基体上涂层厚度的测量方法。在实际应用中,需要按照标准要求进行操作,并注意相关的注意事项,以保证测量结果的准确性。
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