磁性材料在低频磁场中屏蔽效能的测量方法GB/T30140-2013

磁性材料是一种具有磁性的材料，广泛用于制造电子元器件中。在实际应用过程中，磁性材料可能会受到来自外界的各种干扰源的影响，从而导致其性能下降或者失效。因此，对磁性材料的屏蔽效能进行测量和评估非常重要。

GB/T30140-2013是中国国家标准化委员会发布的针对磁性材料在低频磁场中屏蔽效能的测量方法的标准。该标准主要包括屏蔽效能的定义、测量装置和测量方法等内容，为评估磁性材料在低频磁场中的屏蔽效能提供了科学的依据。

根据GB/T30140-2013标准，磁性材料在低频磁场中的屏蔽效能可以通过以下步骤进行测量：

1. 测量装置准备：按照标准要求，选择合适的测量装置，包括磁场源、感应线圈和示波器等设备，并正确连接各个部件；
2. 标样制备：根据标准要求，选择合适的磁性材料作为标样，制备符合标准要求的标样试件；
3. 实际测量：将标样试件放置于测量装置中，并对其进行低频磁场的激励，同时通过感应线圈采集输出信号并记录；
4. 数据处理和分析：根据采集的数据，计算出磁性材料在低频磁场中的屏蔽效能，进行数据处理和分析。

根据GB/T30140-2013标准，磁性材料在低频磁场中的屏蔽效能应当具备如下特点：

• 屏蔽效能高，即能够有效地降低外部磁场对内部电子器件的干扰；
• 屏蔽效果稳定，即不受温度、湿度等环境因素影响；
• 评估结果准确可靠，即测量结果精度高、误差小。

总之，GB/T30140-2013标准为磁性材料在低频磁场中屏蔽效能的测量和评估提供了科学的依据和技术支持，为保证电子元器件的正常运行具有非常重要的意义。