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浅谈首饰贵金属含量的测定X射线荧光光谱法GB/T18043-2013

添加时间:2023/7/22 15:39:07 阅读次数:

一、引言

随着社会经济的发展和人们生活水平的提高,首饰已逐渐成为人们日常生活中不可或缺的一部分。然而,在购买首饰时,消费者并不总是能够确定所购买的首饰的贵金属含量是否真实,从而导致了市场上出现了许多假冒伪劣产品。因此,准确地测定首饰贵金属含量显得尤为重要。

本文将介绍一种常用的首饰贵金属含量测定方法——X射线荧光光谱法,并详细解析其在GB/T18043-2013标准中的应用。

二、X射线荧光光谱法原理

X射线荧光光谱法是一种利用样品受到X射线激发后发生荧光辐射的强度与其元素含量之间的关系来测定样品中元素成分的方法。该方法基于元素的Kα、Kβ或Lα等特征X射线,通过测量样品所发出的荧光X射线强度和能谱,从而得到样品中各元素的含量。

相对于传统的化学分析方法,X射线荧光光谱法具有快速、无损、精确等优点,并且可以同时检测多种元素。

三、GB/T18043-2013标准中的应用

GB/T18043-2013《首饰材料贵金属含量的测定 X射线荧光光谱法》是我国首饰行业中的一项重要标准,规定了利用X射线荧光光谱法测定首饰材料贵金属含量的具体步骤和要求。

该标准主要适用于Au、Ag、Pt等贵金属含量在0.01%以上的首饰材料的测定,具有以下特点:

  1. 样品制备简单方便,不需要进行湿法化学分析。
  2. 测定速度快,一次检测可以同时得到多个元素的含量。
  3. 测量精度高,相对标准偏差小于5%。

四、结论

X射线荧光光谱法是一种常用的首饰贵金属含量测定方法,其在GB/T18043-2013标准中得到了广泛应用。该方法具有快速、无损、精确等优点,并且可以同时检测多种元素。因此,我们相信,在今后的首饰质量检测中,X射线荧光光谱法将会发挥越来越重要的作用。

本文介绍了X射线荧光光谱法在首饰贵金属含量测定中的应用,以及其在GB/T18043-2013标准中的具体实现。通过本文的阐述,我们可以深入了解这种测定方法的原理、特点和优势,对于提高首饰质量检测的效率和准确性有着重要的意义。
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