识别卡带触点的集成电路卡第2部分:触点的尺寸和位置GB/T16649.2-1996

一、标准内容

GB/T16649.2-1996是《识别卡带触点的集成电路卡》国家标准的第二部分，主要规定了集成电路卡中卡带触点的尺寸和位置。

二、试验方法

根据GB/T16649.2-1996的规定，进行卡带触点尺寸和位置的测试需要以下步骤：

1. 用千分尺测量卡带触点的长度、宽度、高度和间距等尺寸参数。
2. 用显微镜观察卡带触点的形状和表面质量，并检查是否存在裂纹、划痕等缺陷。
3. 用相机拍摄卡带触点的照片，并进行图像处理和分析，计算出触点的面积、圆度等参数。
4. 根据GB/T16649.2-1996规定的位置要求，测量卡带触点相对于卡带边缘的距离和位置偏差，并记录测试结果。

三、标准要求

根据GB/T16649.2-1996的规定，卡带触点的尺寸和位置应满足以下要求：

• 卡带触点的长度、宽度、高度和间距应符合标准中规定的尺寸范围。
• 卡带触点表面应平整、光滑，无裂纹、划痕等缺陷。
• 卡带触点的形状应为圆形或矩形，且圆度误差不应超过标准中规定的范围。
• 卡带触点的位置应与卡带边缘的距离和位置偏差应符合标准中规定的要求。

四、注意事项

在进行卡带触点尺寸和位置的测试时，需要注意以下事项：

• 测试设备应具备相应的精度和灵敏度，以确保测试结果的准确性。
• 测试过程中应严格控制温度、湿度等环境因素，以避免影响测试结果。
• 测试样品应符合标准中规定的要求，包括数量、形状、表面质量等。