概述

俄歇电子能谱（AES）和X射线光电子能谱（XPS）是两种常用的表面化学分析技术。其中，峰强度是评价样品表面组成和结构的一个重要参数。GB/T28893-2012标准规定了俄歇电子能谱和X射线光电子能谱测定峰强度的方法和报告结果所需的信息。

测定方法

AES和XPS的峰强度测定方法类似，其中主要包括以下步骤：

1. 样品制备

样品应当表面平整、洁净，并且需要进行表面处理，以保证得到准确的测量结果。

2. 实验条件设置

在进行实验前，应当设置好仪器参数并进行校准。根据样品的组成和特性，选择相应的入射电子能量或X射线能量，并确定激发源强度和探测器位置等参数。

3. 测量峰强度

对样品进行扫描，记录得到数据后，使用分析软件进行峰位、峰宽和峰面积的计算以及背景信号的去除，在此基础上计算出峰强度。

报告结果所需信息

GB/T28893-2012标准规定了完成AES和XPS峰强度测量后需要报告的信息：

• 实验人员和实验日期
• 样品编号和样品制备方法
• 仪器类型和型号
• 入射电子能量或X射线能量
• 峰位、峰宽和峰面积的计算结果
• 背景信号的去除方法和结果
• 数据处理和峰强度计算方法
• 峰强度的不确定度评定方法和结果

结论

GB/T28893-2012标准对于俄歇电子能谱和X射线光电子能谱测定峰强度的方法和报告结果所需的信息做了详细的规定，因此在进行实验时需要遵循标准要求，确保得到准确和可靠的实验数据。