稀土长余辉荧光粉试验方法第1部分：发射主峰和色品坐标的测定GB/T24981.1-2010

稀土长余辉荧光粉是一种应用广泛的发光材料。在LED照明、显示屏等领域有着重要的作用。本文将介绍稀土长余辉荧光粉试验方法第1部分——发射主峰和色品坐标的测定，该方法适用于评价荧光粉在LED照明中的发光性能。

一、实验原理

荧光粉的发光性能与其结构和组成密切相关。荧光粉的发光主要来自于激发态到基态的跃迁。因此，荧光粉的发光峰值位置和色品坐标是评价其发光性能的重要指标。

二、实验步骤

1. 仪器准备：使用示波器、测试电路、多用表等仪器。

2. 样品制备：将荧光粉样品加入有机溶剂中，搅拌均匀，并滴加到LED芯片上。

3. 实验操作：将LED芯片放置在测试电路中，接通电源，并改变荧光粉样品的浓度和厚度等条件，记录相应的发射主峰和色品坐标数值。

4. 数据处理：根据实验结果计算出荧光粉的发射主峰和色品坐标。

三、实验注意事项

1. 在样品制备过程中，应严格控制荧光粉的浓度和厚度。

2. 测量数据时，应注意避免环境光的干扰。

3. 在实验操作中，应严格按照安全操作规程进行，防止发生意外。

四、总结

本文介绍了稀土长余辉荧光粉试验方法第1部分——发射主峰和色品坐标的测定，该方法是评价荧光粉在LED照明中的发光性能的重要手段之一。通过实验方法的介绍，相信读者已经对该方法有了更加深入的了解。