一、前言

电感耦合等离子体原子发射光谱 （ICP-AES）是一种高灵敏度、高精确度、广线性范围的光谱分析技术，被广泛应用于分析化学领域中。本文将介绍利用ICP-AES测定钨及其合金中钴量的方法。

二、测定原理

在高温下，将样品溶解后喷入ICP（电感耦合等离子体），样品中的元素被气化并激发产生光谱线，通过分析这些光谱线，可以测定样品中钴元素的含量。

三、实验步骤

试样的处理

将待测样品加入适量的氢氧化钠和硝酸溶液中，使其中的钴离子完全溶解，并调整试液的pH值。然后用水稀释至定容体积。

仪器操作

按照仪器说明书进行操作，设置ICP-AES的参数（包括波长、功率等），并进行校准。

测定过程

取适量已处理好的样品及标准钴溶液，喷入ICP中进行测试。

四、计算方法

测量时先选定检测钴元素的波长，然后根据标准曲线或添加法得出样品中的钴元素含量。

五、结论

电感耦合等离子体原子发射光谱法是一种高灵敏度、高精确度、广线性范围的测定钴量的方法。在实际应用中，可以根据需要对其进行适当的改进和优化，以满足特定的分析要求。