工业用氟化铝中硫量的测定X射线荧光光谱分析法GB/T8156.10-1987

氟化铝是一种重要的工业原料，在生产过程中，需要对其进行质量监控，其中硫含量是一个关键指标。传统的测定方法需要消耗大量的试剂和时间，而X射线荧光光谱分析法则具有快速、准确、无需样品破坏等优点，成为氟化铝中硫含量测定的理想方法之一。

根据GB/T8156.10-1987标准，使用X射线荧光光谱仪进行测定的步骤如下：

• 制备标准物质
• 样品制备：将样品粉碎并烘干，再按一定比例与流动剂混合
• 仪器校准：对荧光光谱仪进行能量刻度和灵敏度校准
• 样品测定：将标准物质和样品依次放入分析室，通过X射线激发后，读取荧光信号并计算硫含量

该方法具有快速、精确、简单等优点，适用于氟化铝中硫含量的测定。值得注意的是，该方法需要专业人士进行操作和数据分析，以保证结果的可靠性。