玻璃衬底上纳米薄膜厚度测量触针式轮廓仪法GB/T33826-2017

随着科技的发展，纳米材料在各个领域得到了广泛应用，其中纳米薄膜作为一种重要的纳米材料，在光电信息、生物医药等领域有着广泛的应用前景。然而，纳米薄膜的制备过程中，其厚度的控制和检测一直是制约其应用的主要问题之一。

近年来，随着触针式轮廓仪的发展，其在纳米薄膜厚度测量领域也得到了广泛应用。该测量方法基于纳米薄膜表面的形貌变化，通过触针式轮廓仪对其进行测量，得到纳米薄膜的厚度信息。

GB/T33826-2017标准规定了触针式轮廓仪法在玻璃衬底上测量纳米薄膜厚度的具体步骤和相关技术要求。在实际应用中，可以根据生产需要选择不同型号的触针式轮廓仪进行测量。

该方法的优点在于：第一，触针式轮廓仪是一种非接触式测量方式，能够避免传统测量方法中可能会损伤样品的情况；第二，触针式轮廓仪具有高精度、高效率等特点，能够满足工业生产中对纳米薄膜厚度检测的需求。

需要注意的是，在使用触针式轮廓仪进行测量时，应该注意测量环境的温度、湿度等因素的影响。另外，在数据处理过程中，也应该注意数据的精度和可靠性，避免因为数据误差而导致生产问题。

总之，基于GB/T33826-2017标准的玻璃衬底上纳米薄膜厚度测量方法——触针式轮廓仪法，为纳米薄膜的制备和应用提供了一种有效的手段。未来随着触针式轮廓仪技术的不断发展和完善，该方法将有望在更广泛的领域得到应用。