工业硅化学分析方法第10部分：汞含量的测定原子荧光光谱法GB/T14849.10-2016

GB/T14849.10-2016标准中规定了一种测定汞含量的方法——原子荧光光谱法。该方法采用高频感应耦合等离子体源作为放电源，利用铁管产生气体流，将样品原子化后通过光谱仪检测汞元素谱线强度来计算汞含量。

使用该方法测定汞含量需要先进行样品预处理，对不同种类的样品要采取不同的预处理方法。对于硅材料样品，可以采用硝酸和氢氟酸混合溶液进行消解，然后用过量的二苯基卡宾（diphenylcarbazide）在弱酸性环境中显色测定汞含量；对于水、废水、土壤、沉积物和生物样品等其他各类样品，则需要根据具体情况选择不同的预处理方法。

该方法具有快速、准确、灵敏度高等优点，同时能够同时检测多种元素，且操作简便，适用范围广泛。同时，该方法也可以与其他分析技术相结合，例如降解前处理、射线处理、荧光探针标记等，可以提高其测定精度和特异性。