几何量测, 量测器具, 术语, GB/T17164-2008

几何量测量器具术语产品术语GB/T17164-2008

添加时间:2023/9/30 16:01:15 阅读次数:

几何量测是现代工业生产中不可或缺的一环,它对于保证产品质量以及工业自动化水平都有着至关重要的作用。在进行几何量测时,需要使用各种不同的量测器具,而这些器具都有着特定的术语和名称。

量测器具术语

以下是常见的量测器具术语及其定义:

  • 游标卡尺:由主体、测头、测杆、定位块、游标、非触发式指针等部分组成的一种尺寸测量仪器。
  • 内径卡尺:用于测量孔的大小、圆柱形零件内径的尺寸测量仪器。
  • 外径卡尺:用于测量轴、孔等圆柱体的外径尺寸测量仪器。
  • 高度规:用于测量工件高度的量具。其结构由主体、底座、滑块、定位杆、测头、显示装置等部分组成。
  • 平行垂线仪:用于测量被测物体表面的平行度和垂直度的工具。

产品术语

以下是常见的几何量测产品术语及其定义:

  • 光学平行仪:利用反射原理进行平行度测量的量测仪器。
  • 三坐标测量机:利用计算机控制的运动平台实现对零件三维坐标的测量。
  • 形状测量仪:用于测量被测对象的形状、轮廓、曲率等参数的量测仪器。
  • 表面粗糙度测量仪:用于测量物体表面微小起伏的工具。
  • 激光测距仪:使用激光束对被测物体进行距离测量的仪器。

以上是常见的几何量测领域术语和产品术语,这些器具在工业生产中扮演着重要角色。熟练掌握这些术语和名称,有助于提高生产效率、保证产品质量。

参考标准:GB/T17164-2008

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