红外焦平面阵列参数测试方法GB/T17444-2013解析

红外焦平面阵列是一种常用于热成像和红外检测的器件，其性能参数的测试非常重要。GB/T17444-2013标准规定了红外焦平面阵列的参数测试方法，下面我们就来逐一解析。

1. 基本参数测试

基本参数测试包括灵敏度、响应时间、线性度等项目。其中，灵敏度是衡量红外焦平面阵列探测器性能的一个重要指标，它反映了探测器对辐射能量的响应能力。响应时间则是指探测器从受到辐射信号到输出信号的时间间隔，通常用毫秒（ms）来表示。而线性度则是指探测器输出信号与输入辐射能量之间的关系是否呈现线性。

2. 器件参数测试

器件参数测试主要包括暗电流、噪声等项目。其中，暗电流是指在没有接收到外部信号时，探测器输出的微弱电流信号，通常用nA来表示。而噪声则是指探测器输出信号中除了信号本身以外所包含的杂散信号，通常用mV来表示。

3. 几何参数测试

几何参数测试主要包括视场角、分辨率等项目。其中，视场角是指探测器能够覆盖的最大角度范围，通常用度（°）来表示。而分辨率则是指探测器对目标的分辨率，通常用像素来表示。

4. 引线参数测试

引线参数测试主要包括引线电阻、引线电容等项目。其中，引线电阻是指引线导电性能的好坏，它直接影响到探测器的信号传输质量。而引线电容则是指引线与探测器之间的电容值，它反映了探测器对高频信号的响应能力。

综上所述，GB/T17444-2013标准规定了红外焦平面阵列的参数测试方法，并对各项测试项目进行了详细说明。在实际应用中，我们可以根据这些测试结果来评估探测器的性能表现，从而选择最合适的器件。