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工业硅化学分析方法第2部分:铝含量的测定铬天青-S分光光度法GB/T14849.2-2007

添加时间:2023/11/12 11:37:09 阅读次数:

在工业生产中,硅材料是一种广泛应用的重要原材料。而硅材料的质量和性能则与其中的杂质含量密切相关。因此,在硅化工生产过程中,对硅材料中杂质元素的分析和测定显得尤为重要。

工业硅化学分析方法包括多种测定方法,其中铬天青-S分光光度法是一种常见的测定铝含量的方法。该方法使用铬天青-S作为指示剂,通过颜色反应来检测硅材料中铝的含量。

具体操作步骤如下:

  1. 样品制备:将待测样品加入盛有氢氟酸的烧杯中,用小火加热溶解。
  2. 测定操作:将样品转移到色谱管中,加入适量铬天青-S指示剂和缓冲液,通过分光光度法测定吸光度值。
  3. 计算结果:根据标准曲线计算出样品中铝的含量。

这种铬天青-S分光光度法在GB/T14849.2-2007标准中有详细规定。该方法简便、精确、可靠,广泛应用于硅化工生产过程中的质量控制和检测。

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