微电子技术用贵金属浆料测试方法固体含量测定GB/T17473.1-2008

GB/T17473.1-2008标准规定了微电子技术用贵金属浆料的固体含量测定方法。这个方法可以确保贵金属浆料的质量，并且能够评估浆料是否符合工艺要求。

测定贵金属浆料固体含量的方法如下：

• 将样品放入烘箱，温度设定为110℃，烘干至恒重后取出，称量质量m1（g）
• 将烘干后的样品与硝酸银(10%）混合溶液，振荡均匀后过滤
• 用纯水洗净过滤膜，并将其置于干燥器中烘干至恒重后取出，称量质量m2（g）
• 计算浆料固形含量：W=（m1-m2）/m1×100%

该方法操作简单，精度高，适用于贵金属浆料制备、生产和检验过程中的固体含量测定。

GB/T17473.1-2008标准的实施可以确保微电子技术用贵金属浆料的质量稳定性和一致性，提高了微电子产品的可靠性和性能。同时，加强对该标准的执行，可有效减少生产过程中的缺陷率，提高产品的品质和寿命。