红外焦平面阵列特性参数测试技术规范GB/T17444-1998

随着红外成像技术的不断发展，红外焦平面阵列逐渐成为红外探测器的主要形式之一。红外焦平面阵列具有快速响应、高分辨率、大视场等优点，已经广泛应用于军事、安防、医疗、航空等领域。

然而，红外焦平面阵列的性能参数测试是保证其质量稳定的重要手段。为此，我国制定了红外焦平面阵列特性参数测试技术规范GB/T17444-1998，明确了测试方法、测试设备和测试步骤等。

一、测试方法

红外焦平面阵列的性能参数测试包括以下几方面：

1. 响应时间
2. 灵敏度
3. 非均匀性
4. 动态范围
5. 噪声等效温差NE△T

根据测试要求，可以采用光学法、电学法或热学法进行测试。

二、测试设备

为了保证测试结果的准确性和可靠性，需要使用专门的测试设备。这些设备包括：

• 光谱辐射源
• 标准黑体辐射源
• 冷却装置
• 信号采集系统
• 计算机

三、测试步骤

红外焦平面阵列的性能参数测试按照以下步骤进行：

1. 准备测试设备并进行校准
2. 将待测焦平面阵列与测试设备连接
3. 进行测试，记录测试数据
4. 数据处理和分析
5. 撰写测试报告

四、总结

红外焦平面阵列特性参数测试技术规范GB/T17444-1998为红外焦平面阵列的性能参数测试提供了明确的指导，使得测试结果更加准确可靠。本文介绍了测试方法、测试设备和测试步骤等相关内容，希望对读者有所帮助。