光学系统杂(散)光测量方法GB/T10988-2009

光学系统是一类常见而重要的精密测量工具，在医疗、制造、科研等领域得到广泛应用。在光学系统中，由于各种因素所导致的杂(散)光会对精度产生影响，因此需要对其进行测量和修正。

散光是指光线通过透镜后形成像点不在焦点上，而是在一个平面上的现象。散光存在的原因主要有透镜表面形态误差、透镜非轴向厚度变化、透镜材料色散等。因此，散光对光学系统精度的影响不可忽略。

根据GB/T10988-2009标准，光学系统的散光可以通过以下方法进行测量：

• 干涉法：通过利用干涉仪测量透镜表面形态误差来计算出散光。
• 点扩散函数法：通过对透镜像差函数的分析，得出散光信息。
• 直接测量法：通过在光学系统中加入特定设计的元件（如棱镜）来测量散光。

在实际的光学系统测量过程中，以上方法可以结合使用以提高测量精度和准确性。另外，在进行散光测量时，还需要注意环境的稳定性、测量仪器的灵敏度以及人为因素等影响因素，以保证测量结果的可靠性。

GB/T10988-2009标准的推出，为光学系统的散光测量提供了规范和标准，有助于提高测量精度和准确性，同时也为相关行业的技术规范和质量控制提供了参考依据。