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半导体集成电路塑料四面引线扁平封装引线框架规范GB/T15876-2015
添加时间:2023/7/10 14:38:48 阅读次数:
本文介绍了半导体集成电路塑料四面引线扁平封装引线框架规范GB/T15876-2015的相关内容。
半导体集成电路塑料四面引线扁平封装是一种常见的封装形式,其引线框架规范由GB/T15876-2015制定。该规范主要涉及引线框架的尺寸、材料、组装方式以及检验方法等内容。
引线框架尺寸
根据GB/T15876-2015规范,引线框架的尺寸应符合以下要求:
- 框架长度(L):在0.7mm至10mm范围内变化。
- 框架宽度(W):在0.3mm至6mm范围内变化。
- 框架高度(H):在0.4mm至3mm范围内变化。
引线框架的尺寸对于半导体集成电路的性能和稳定性有着重要影响,因此必须严格按照规范进行设计和制造。
引线框架材料
半导体集成电路塑料四面引线扁平封装引线框架通常采用铜合金、钢等材料制造。根据GB/T15876-2015规范,引线框架的材料应符合以下要求:
- 允许的变形量:不超过0.1mm。
- 硬度:在Vickers硬度HV100至370之间。
- 表面粗糙度:Ra小于0.8um。
引线框架材料的选择对于半导体集成电路的可靠性、耐久性和稳定性有着重要影响。
引线框架组装方式
引线框架的组装方式对于半导体集成电路的性能和稳定性也有着重要影响。根据GB/T15876-2015规范,引线框架的组装方式应符合以下要求:
- 引线框架应垂直于芯片表面。
- 引线框架与芯片的间距应符合规范要求。
- 引线框架的位置和间距应保持一致性。
引线框架检验方法
为了确保半导体集成电路塑料四面引线扁平封装引线框架的质量,需要进行相关的检验。根据GB/T15876-2015规范,引线框架的检验方法应包括以下内容:
- 引线框架的尺寸检验。
- 引线框架材料的力学性能检验。
- 引线框架与芯片的间距检验。
- 引线框架位置和间距的检验。
- 引线框架表面粗糙度的检验。
通过对引线框架的严格检验,可以保证半导体集成电路塑料四面引线扁平封装引线框架的质量和可靠性,提高产品的竞争力和市场占有率。
总结
半导体集成电路塑料四面引线扁平封装引线框架规范GB/T15876-2015对于引线框架的尺寸、材料、组装方式以及检验方法等方面进行了明确规定,确保了产品的稳定性和可靠性。在设计和制造过程中,必须严格按照规范要求进行操作,确保产品达到最高标准。
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