电磁兼容, 测试技术, 辐射抗扰度, GB/T17626.3-1998
电磁兼容试验和测量技术射频电磁场辐射抗扰度试验GB/T17626.3-1998详解
添加时间:2023/10/5 12:45:29 阅读次数:
本文将从GB/T17626.3-1998标准出发,对电磁兼容试验和测量技术中的射频电磁场辐射抗扰度试验进行详细解析,旨在帮助读者更好地了解该领域的相关知识。
电磁兼容(EMC)是指在电气设备或系统之间保持无干扰或互不干扰的能力。为确保电气设备或系统符合EMC要求,需要进行一系列的测试和评估。其中,GB/T17626.3-1998标准规定了射频电磁场辐射抗扰度试验的方法和标准。
一、试验目的
射频电磁场辐射抗扰度试验是为了评估被试设备在实际工作环境下受到无线电发射机等射频电磁场辐射的影响程度,以确定其在EMC方面的性能是否符合要求。
二、试验方法
射频电磁场辐射抗扰度试验根据被试设备的用途不同,分为A类、B类和C类三种试验方法。
- A类试验:主要针对低频电气设备和家用电器等;
- B类试验:主要针对办公设备、工业设备等;
- C类试验:主要针对专用设备、科学仪器等。
在各种试验中,都需要将被试设备放置在标准试验环境中,并通过射频电磁场发射器向被试设备施加一定的电磁场。在此基础上,通过测量设备的输出信号,评估被试设备对射频电磁场辐射的抗扰度能力。
三、试验要求
被试设备在进行射频电磁场辐射抗扰度试验时,需要满足一系列的要求。其中,最重要的是在试验过程中保证被试设备正常运行,同时确保测试结果的准确性和可靠性。
四、试验结果评价
在射频电磁场辐射抗扰度试验结束后,需要对测试结果进行评估。根据GB/T17626.3-1998标准,评估结果分为三类:
- 正常运行:被试设备在试验期间正常运行,无异常情况出现;
- 暂时失效:被试设备在试验期间出现暂时性故障,但不影响正常使用;
- 永久失效:被试设备在试验期间无法恢复正常运行。
以上就是GB/T17626.3-1998标准中关于射频电磁场辐射抗扰度试验的详细解析。通过射频电磁场辐射抗扰度试验,可以确保被试设备在实际工作环境下的EMC性能符合要求,从而提高设备的稳定性和可靠性。
总之,射频电磁场辐射抗扰度试验是电磁兼容测试中非常重要的一个环节。在进行测试前,需要了解相关的标准和方法,并在测试过程中保证被试设备正常运行和测试结果的准确性。只有这样,才能确保被试设备的EMC性能符合要求,同时提高设备的品质和可靠性。
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