微电子技术用贵金属浆料测试方法细度测定GB/T17473.2-2008

贵金属浆料是微电子技术中常用的材料，其粒径大小对于电路板的性能和稳定性具有重要影响。为了保证贵金属浆料的质量，需要采用一定的测试方法进行细度测定。GB/T17473.2-2008标准规定了微电子技术用贵金属浆料测试方法细度测定的相关要求。

该标准要求采用激光粒度仪或电阻率法对贵金属浆料粒径进行测定。其中，激光粒度仪主要适用于测定粒径在0.02微米以上的样品，而电阻率法则适用于粒径在0.5微米以上的样品。同时，标准还规定了实验条件、样品制备、数据处理等各种细节问题，以确保测试结果的准确性和可靠性。

细度测定对于微电子技术中贵金属浆料的制备和应用具有重要意义。通过精确测定贵金属浆料的粒径大小，可以更好地控制电路板的性能和稳定性，并提高产品的可靠性和寿命。因此，GB/T17473.2-2008标准的制定对于促进微电子技术的发展和提高产品品质都具有积极作用。

总之，微电子技术用贵金属浆料测试方法细度测定GB/T17473.2-2008标准规定了一系列测试方法和要求，以确保贵金属浆料的粒径测定结果的准确性和可靠性。在微电子技术应用中，企业应该严格按照该标准进行贵金属浆料的细度测定，以保证产品品质和客户满意度。