光学仪器环境试验方法第21部分：低压与大气温度、高温综合试验GB/T12085.21-2011

光学设备在使用过程中往往需要经受各种复杂、恶劣的环境，因此对其环境适应性和耐久性要求也很高。为了评估光学设备在不同环境下的性能表现，需要进行各种环境试验。其中包括低压与大气温度、高温综合试验。

GB/T12085.21-2011是我国针对光学和光学仪器环境试验制定的标准之一。该标准规定了在低压和大气温度、高温条件下进行综合试验的方法和要求。

试验环境

试验环境应该符合以下条件：

• 低压：1.33kPa±0.13kPa
• 大气温度：-40℃～+55℃
• 高温：70℃～80℃

试验方法

在试验过程中，需要将试验样品放置于试验箱内，并对其施加低压和不同温度的环境。试验时间为96小时。

试验结束后，观察试验样品是否受到了破坏或变形，并进行必要的检测和测试。如果试验样品能够正常工作并且没有发生任何问题，则说明其具有良好的环境适应性和耐久性。

结论

GB/T12085.21-2011标准中规定的低压与大气温度、高温综合试验方法，可以有效地评估光学设备在复杂恶劣环境下的表现。这对于提高光学设备的使用寿命和可靠性具有重要的意义。