电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法第3部分：平均线膨胀系数测试方法GB/T5594.3-2015

电子元器件结构陶瓷材料在使用过程中，由于受到温度变化的影响，其尺寸也会发生变化。为了保证电子元器件的性能和可靠性，需要进行平均线膨胀系数测试。本文将详细介绍该测试方法。

1. 测试原理

平均线膨胀系数是指材料在温度变化时，单位温度下长度增加或缩短的比例。测量平均线膨胀系数的方法有很多种，但最常用的是线膨胀仪法。

线膨胀仪法的基本原理是：用一根样品棒材，通过样品架和测量系统，使其在恒定的温度下自由膨胀或收缩，同时用电阻应变仪测量样品棒材的伸长或缩短，然后计算平均线膨胀系数。

2. 测试步骤

平均线膨胀系数测试方法GB/T5594.3-2015规定了以下测试步骤：

• 准备工作：将样品切成标准尺寸，并进行表面处理。将线膨胀仪安装好，根据要求调整温度、采样速率等参数。
• 安装样品：将样品固定在样品架上，并将测量电极与样品棒接触。
• 调整测量电路：通过电桥平衡方式进行电路调整，确保电路正常工作。
• 进行测试：升温到设定温度，然后开始测试。测试过程中需要记录温度和电阻应变值，并计算平均线膨胀系数。
• 数据处理：将测试结果进行统计处理，并计算平均值、标准差等指标。

3. 结论

通过以上测试步骤，可以得到电子元器件结构陶瓷材料的平均线膨胀系数。这个参数对于设计和制造具有重要意义的电子元器件结构陶瓷材料来说是非常关键的。