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工业硅化学分析方法第8部分:铜含量的测定原子吸收光谱法GB/T14849.8-2015
添加时间:2023/7/7 15:06:01 阅读次数:
本文介绍了工业硅中铜含量的测定方法——原子吸收光谱法,并详细阐述了该方法在GB/T14849.8-2015标准中的应用。
工业硅是重要的无机非金属材料,在冶金、化工、建筑等领域有广泛的应用。其中,铜是一种常见的杂质元素之一,其含量会对工业硅的性能产生较大的影响。因此,准确测定工业硅中铜的含量对于保证产品质量和使用效果具有重要意义。
原子吸收光谱法原理
原子吸收光谱法是一种常用的测定金属元素含量的方法。其基本原理是利用金属元素在吸收特定波长的光时会发生电离吸收的特性,通过比较待测样品和标准溶液的吸收强度来计算样品中金属元素的含量。
测量步骤
根据GB/T14849.8-2015标准,原子吸收光谱法的具体测量步骤如下:
- 将待测样品硅石制成粉末,加入一定比例的硝酸和氢氟酸进行溶解。
- 经过调整后,将样品放入原子吸收光谱仪中进行分析。在分析过程中,需要设置特定波长的光源,并记录待测样品和标准溶液的吸收强度。
- 计算待测样品中铜的含量,并进行数据处理和质量控制。
实验注意事项
在进行原子吸收光谱法测量时,需要注意以下几点:
- 采用的溶解方法应符合GB/T14849.1-2014标准中规定的要求。
- 样品处理和分析设备应保持干净,以避免杂质元素的干扰。
- 选取适当的波长和灵敏度参数,以保证测量结果的准确性和精度。
- 进行数据处理和质量控制时,应遵循GB/T14849.8-2015中的具体要求,以确保测量结果的可靠性。
结语
工业硅中铜含量的准确测定对于保证产品质量和使用效果至关重要。本文介绍了一种常用的测量方法——原子吸收光谱法,并详细阐述了该方法在GB/T14849.8-2015标准中的应用。希望本文能够对相关领域的研究者和实践者提供一定的参考。
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