高纯银化学分析方法痕量杂质元素的测定辉光放电质谱法GB/T36590-2018

GB/T36590-2018标准中指出，高纯银是一种纯度较高的银材料，其中杂质元素含量应该控制在极低的水平。因此，对其进行化学分析的精度要求非常高，需要使用能够检测到痕量杂质元素的方法。

现代化学分析技术中，辉光放电质谱法是一种常用的痕量元素分析方法。该方法主要基于利用荷质比选择性地将元素离子化，并通过加速器使离子加速后进入质谱仪进行检测。辉光放电质谱法具有检测限低、分析速度快、精度高等优点。在高纯银化学分析中，可以利用辉光放电质谱法对其中的痕量杂质元素进行测定。

GB/T36590-2018标准中规定，高纯银可以通过ICP-MS、GFAAS、ICP-OES、XRF等方法进行化学分析。其中，辉光放电质谱法作为一种常用的痕量元素分析方法，可以检测到铜、钴、铁、锰、镍、银、锗、铟、铅、硒、锡和锑等痕量元素。该方法具有灵敏度高、选择性好、重复性好等优点，特别适合用于高纯银化学分析中痕量杂质元素的测定。

综上所述，辉光放电质谱法是一种常用的痕量元素分析方法，特别适合用于高纯银化学分析中痕量杂质元素的测定。根据GB/T36590-2018标准，可以采用辉光放电质谱法对高纯银中的痕量杂质元素进行测定，以确保高纯银的纯度水平符合要求。