镍铁镍、硅、磷、锰、钴、铬和铜含量的测定波长色散X-射线荧光光谱法(常规法)GB/T24198-2009

波长色散X-射线荧光光谱法（WDXRF）是一种快速、准确的材料分析技术。它基于样品与高能X射线相互作用时会发生荧光现象的原理，通过测量荧光强度来确定样品中各元素的含量。

在实际应用中，WDXRF可测定包括镍铁镍、硅、磷、锰、钴、铬和铜等多种元素的含量。这些元素在工业生产中具有重要作用，需要进行快速、准确地检测。

GB/T24198-2009是国家标准中关于波长色散X-射线荧光光谱法测定镍铁镍、硅、磷、锰、钴、铬和铜含量的常规方法。该方法可以通过选择合适的仪器参数和样品制备方法，得到准确可靠的分析结果。

在实际应用中，WDXRF测量镍铁镍、硅、磷、锰、钴、铬和铜含量的方法通常包括以下步骤：

1. 样品制备：将待测样品粉碎并加入流动剂中制成均匀的样品片。
2. 仪器调试：根据样品的特性和分析目的，设置合适的仪器参数，如电压、电流、晶体取向等。
3. 测量数据：将样品片放置在WDXRF仪器上，启动仪器，进行测量，并记录相应的荧光强度和能谱曲线。
4. 数据处理：根据测量数据，计算出各元素的含量，并进行质量控制和数据校准。
5. 结果分析：将得到的分析结果与标准值进行比较，评估样品中各元素的含量是否符合要求。

总之，波长色散X-射线荧光光谱法作为一种常用的材料分析技术，在测定镍铁镍、硅、磷、锰、钴、铬和铜等元素含量方面具有广泛应用。GB/T24198-2009提供了相应的常规方法，对于保证分析结果的准确性和可靠性具有重要作用。