信息技术盘阵列通用规范

信息技术盘阵列通用规范

国家标准 GB/T35297一2017 信息技术盘阵列通用规范 speeificationfordiskarray Informationtechnology一General 2017-12-29发布 2018-07-01实施 中华人民共利国国家质量监督检验检疙总局 发布 国家标准化管理委员会国家标准
GB/35297一2017 前 言 本标准按照GB/T1.1一2009给出的规则起草 请注意本文件的某些内容可能涉及专利 本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任 本标准由全国信息技术标准化技术委员会(SAC/TC28)提出并归口 本标准起草单位:浪潮(北京)电子信息产业有限公司、中兴通讯股份有限公司、西北工业大学、华中 科技大学北京尊冠科技有限公司、电子科技集团第五十二研究所、电子技术标准化研究院、北 京计算机技术及应用研究所 本标准主要起草人:刘刚、赵江、文中领、黄臣、王恩东、曲刚、王洪斌、陈业嘉、张晓、赵晓南、周可、 李春花、阳小珊、郑良,邱全伟、马小鹏、张永晋、郭克敏陈海、陕振、李瑞东、张强,吴庆民、袁鹏飞、 张立强、葛峰、李博乐、高成蹦、胡振,唐金荣、牛卫星,膝学军、张扬
GB/35297一2017 信息技术盘阵列通用规范 范围 本标准规定了盘阵列(以下简称产品)的要求、试验方法、质量评定程序及标志,包装、,运输、贮存等 要求 本标准适用于盘阵列的设计生产和交付验收 规范性引用文件 下列文件对于本文件的应用是必不可少的 凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文 件 凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件 GB/T2421.1电工电子产品环境试验概述和指南 GB/T2422电工电子产品环境试验术语 GB/T2423.1电工电子产品环境试验第2部分;试验方法试验A;低温 GB 2423. 2 电工电子产品环境试验第2部分;试验方法试验B;高温 3 423.3电工电子产品环境试验第2部分;试验方法试验Cab;恒定湿热试验 T GB 2423.6电工电子产品环境试验第2部分;试验方法试验Eb和导则;碰撤 GB 2423.10电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Fe:振动(正弦 GB/T2828.1计数抽样检验程序第1部分;按接收质量限(AQL)检索的逐批检验抽样计划 GB/T3047.8高度进制为44.45mm的窄柜基本尺寸系列 GB/T4857.2包装运输包装件基本试验第2部分;温湿度调节处理 GB/T4857.5 包装 运输包装件跌落试验方法 GB4943.1信息技术设备安全第1部分;通用要求 GB/T5080.7设备可靠性试验恒定失效率假设下的失效率与平均无故障时间的验证试验方案 GB/T5271.14信息技术词汇第14部分;可靠性,可维护性与可用性 GB/T6882声学声压法测定噪声源声功率级消声室和半消声室精密法 GB/T9254信息技术设备的无线电骚扰限值和测量方法 GB/T15934电器附件电线组件和互连电线组件 GB/T17618信息技术设备抗扰度限值和测量方法 GB17625.1电磁兼容限值谐波电流发射限值(设备每相输人电流<16A GB/Z17625.6电磁兼容限值对额定电流大于16A的设备在低压供电系统中产生的谐波电 流的限制 GB/T26572电子电气产品中限用物质的限量要求 H2507一2011环境标志产品技术要求网络服务器 s]/T11364电子电气产品有害物质限制使用标识要求 s/11647信息技术盘阵列接口要求
GB/T35297一2017 3 术语、定义和缩略语 3.1术语和定义 s/T11647界定的以及下列术语和定义适用于本文件 3.1.1 盘阵列diskarray 采用数据条带与校验冗余等方法实现多个独立的磁盘或固态盘并行访问,为主机提供数据存.访 问、控制和保护服务的存储系统 3.1.2 扩展盘柜jstbumdleoadisks 多个盘在物理上聚集,在逻辑上没有控制软件组合而各自独立呈现的设备 3.1.3 冗余redundaney 通过重复配置系统部件、使之能在系统出现故障部件时替代其工作维持系统功能不受影响的备份 部件 3.1.4 效率effieiensy 盘阵列电源在达到稳定工作状态时的实际输出功率与实际输人有功功率的比值 3.1.5 热备份盘hosparedisk 用于迅速替代在使用中出现故障的盘的空闲、待机的盘 3.1.6 局部热备份盘 loealhotsparedisk 专属于阵列设备某一个RAID的热备份盘 3.1.7 全局热备份盘sloalhtspaedisk 为所有RAID共用的热备份盘 3.1.8 数据重建datarebuilding 在具有冗余容错功能的盘阵列中,把一个或多个故障盘上的所有数据重新生成到替换盘上的过程 3.1.9 rthuldine onlinedata 在线数据重建 在数据重建过程中不中断数据存取服务的数据重建 3.1.10 降级运行模式degradedlrunningmode 在有容错能力的盘阵列级别下,当有盘等冗余部件出错时,盘阵列仍能提供服务,支持数据的读写 功能 3.1.11 扩容eapaeityexpansionm 通过向阵列中增加磁盘或扩大磁盘容量以改变阵列的存储容量的过程
GB/35297一2017 3.1.12 用户 user 使用对象存储服务的客体 3.1.13 容器bueket 用于存储对象的存储空间,通过其属性可以用来控制地域、访问权限,生命周期等 3.1.14 对象ojeet 系统中存储数据的基本单元,由元数据信息、数据和URI组成 3.2缩略语 下列缩略语适用于本文件 FC;光纤信道(FibreChannel FCP;光纤信道协议(FibreC'hannelProtocol) I/O输人输出(Input/Output OPS;每秒1/0操作次数(Input/OutputoperationsPerSecond) isCsl,互联网小型计算机系统接(GimtermetSmallcomputer SystemInterface LUN;逻辑单元号(LogicalUnitNumber) RAID独立冗余盘阵列(RedundantArraysofIndependentDisks) SAs;串行连接SCSI(SerialAttachedsCSI sCSI:小型计算机系统接口(SmallCo omputerSystem lnterface URI;统一资源标识符(UniformResourceIdentifier) URL;统一资源定位地址(UniformResourceLocator) 要求 4.1外观和尺寸 4.1.1外观质量 产品表面状况应满足以下要求 表面不应有明显的凹痕,划伤.毛刺、变形和污染， a b)表面涂渡层应均匀,不应起泡、龟裂、脱落和磨损 金属零部件表面不应有锈蚀及其他机械损伤 c 开关应易操作,零部件紧固无松动 d 4.1.2机箱外形尺寸 机箱外形尺寸宜符合GB/T3047.8的有关规定,并应与计算机系统或其他配套设备相协调 4.2功能 4.2.1基本要求 产品应至少支持块存储、对象存储、文件存储功能中的一种,应具有日志与统计报表操作管理 功能
GB/T35297一2017 4.2.2块存储功能 块存储应具有下列功能 支持进行主机端口配置; a b 创建、删除逻辑单元 建立、解除映射关系; 查询逻辑单元状态; d 设置逻辑单元的属性; e 支持进行RAID等数据管理 4.2.3文件存储功能 文件存储应具有下列功能 创建、删除、获取、修改文件; a b) 查询文件状态; c 设置文件的属性 4.2.4对象存储功能 4.2.4.1数据对象操作功能 数据对象操作应具有下列功能 创建、,剔除、,获取对象; a 获取、设置对象属性; b) 获取、设置对象权限; c 获取对象临时访问URL d 4.2.4.2容器操作功能 容器操作应具有下列功能 获取用户的所有容器; a b 创建,删除容器; 设置、获取容器权限 c d 列出容器中的对象 4.2.5 日志与统计报表 日志与统计报表应具有下列功能 日志功能;日志记录必须完整可靠,至少包括时间、事件内容等信息; a b统计功能:提供的统计量包括周期性I/O流量等 告警功能:在出现故障或严重异常时系统产生告警 c 4.2.6操作管理 操作管理应具有下列功能 配置管理:提供对系统管理网络的配置、资源组的配置、版本管理等功能,并提供配置信息的导 a 出与导人功能
GB/35297一2017 b 操作维护;系统管理员通过图形界面或命令行的方式进行系统操作,并进行日常和故障维护 c 系统监控;提供对系统健康状态的实时监控,包括工作温度、电源电压等;当监控到异常状态 时,应告警并记录日志 4.3性能 4.3.1数据传输率 4.3.1.1 突发数据传输率 突发数据传输率由主机接口类型和协议确定,主要的接口形式和突发数据传输率如下 iSCSI接口:100Mb/s,l000Mb/s,10Gb/、等; aa b)光纤(FC-AL)接口;2Gb/s、4Gb/s,8Gb/s,16Gb/s等; sCs接口:40MB/s,80MB/s、160MB/s,320MB/s等; c d)sAs接口:3Gb/s、6Gb/s、12Gb/、等 其他外置接口:如Infiniband40Gb/s e 4.3.1.2持续数据传输率 持续数据传输率是多台服务器并行访问产品可达到的最大持续数据传输率,表示产品所能提供的 最大数据访问性能 持续数据传输速率需至少满足的合格范围应在产品详细规范中规定 4.3.2并发IoPs 并发IoPs是指多台服务器并行访问产品可达到的最大IoPs,表示产品所能提供的最大IoPs,应 在产品详细规范中规定 4.4容量 产品铭牌或其相关说明材料上应标明内存容量、存储介质(磁盘、SSD等)容量以及产品最大支持 的盘数量 容量的单位用kB,MB,GB、TB,PB表示,同时换算成kiB,MBGiB、TB、PiB表示,其中 kB=1000(10')字节; a MB=1000000(10')字节; b c GB 1000000000(10°)字节; 000000000000(10')字节; d TB PB 000000000000000(1015)字节; kiB 024(2i")字节; MiB 1048576(2)字节; 8 GiB 1073741824(2m)字节; h TiB=1099511627776(2")字节; PiB=1125899906842624(2in)字节 j 产品如支持容量扩展,应在产品铭牌或其相关说明材料上明示其可扩展的容量 4.5接口 应符合SJ/T11647的要求
GB/T35297一2017 4.6访问管理 4.6.1盘阵列管理 产品应明确并列出一些必要的硬件物理信息,以及必要的管理辅助信息,包括以下方面 a 产品所使用的存储介质管理接口在使用时应避免共享阵列服务接口; b)记录所有发生的事件和传输的必要信息 产品组件的安全策略应与其系统的安全策略保持一致 4.6.2盘阵列访问控制 产品应明确硬件和软件接口的访问认证,授权和数据访问控制信息,避免非授权访问造成数据泄 漏,主要包括以下方面 强化对产品物理存储资源的访问控制,宜使用端口认证技术 a b 应为产品管理员配置单独的用户ID并配置强密码; 宜使用集中化授权办法; c d 应使用良好的访问控制模型,仅授予授权用户最少的权限用于执行其所需求的操作 应为产品配置不同的安全管理,并对其分配不同的管理员特权 e 4.7电气安全 产品的安全要求应符合GB4943.1的规定 4.8电源 4.8.1对于交流供电的产品,应能在220V士22V,50Hz士1Hz条件下正常工作 4.8.2电源的插头的要求应符合GB/T15934的规定 4.9噪声 产品的噪声要求应在产品详细规范中规定 4.10电磁兼容 4.10.1无线电骚扰 产品的无线电骚扰应符合GB/T9254的规定 在产品详细规范中应明确规定选用A级或B级所 规定的无线电骚扰限值 4.10.2谐波电流 产品的谐波电流应符合GB17625.1中对A类设备的限值要求(设备单相电流<16A时),或者 GB/Z17625.6标准中的限值要求(设备单相电流>16A时 4.10.3抗扰度 产品的抗扰度应符合GB/T17618的规定
GB/35297一2017 4.11供电模块效率和功耗 4.11.1供电模块效率 供电模块效率应满足表1的要求 表1供电模块效率 限值 负载条件 电源效率 功率因数Pp 20% 82% 0.8 50% 85% 0,9 100% 82% 0.95 4.11.2基准配置功耗要求 产品的基准配置包括产品运行的最小数量供电模块、至少一个控制器(含盘阵列接口)和至少一块 硬盘 该指标和产品配置和产品负载有关,在提供数据的同时应说明产品的各项配置参数和测试环境 空载状态(产品处于开机状态,无任何读写访问请求,常温环境下)下的功耗指标应满足表2要求 表2基准配置空闲状态功耗要求 类型 基准配置 空闲状态功耗/w 盘阵列和控制器集成在一个框体中,最小存储系统由单框体组成 550 盘控一体型盘阵列 盘阵列控制器和硬盘分别配置在不同的框体中,最小存储系统包括 盘控分离型盘阵列 二800 控制器框体和一个硬盘框体 4.11.3扩展配置功耗增加值 带扩展配置的产晶空闲功耗评价值为表2与表3之和 该指标和产品配置和产品负载有关,在提供数据的同时需要说明产品的各项配置参数和测试环境 空载状态(盘阵列处于开机状态,无任何读写访问请求,常温环境下)下的功耗指标应满足表3要求 表3扩展配置空闲状态能耗要求 基准配置 空闲状态功耗增加值/w 每增一控制器 <600 每增加1GB缓存 每增加一硬盘 <25 每增加一个供电模块 40 5(<1Gb/s) 每增加一盘阵接口(IP 10(1Gb/s<速率<10Gb/s) 20(10Gb/s<速率)
GB/T35297一2017 4.12环境适应性 4.12.1气候环境适应性 4.12.1.1气候环境 气候环境适应性见表4 表4气候环境适应性 气候条件 参数 1035 工作 温度 -30"55C 贮存运输 工作 35%~80% 相对湿度 贮存运输 20%~93%(40"C 大气压 86kPa106kPa 4.12.1.2工作温度下限 产品的工作温度下限值为10C 4.12.1.3贮存温度下限 产品的贮存温度下限值为一30c. 4.12.1.4工作温度上限 产品的工作温度上限值为35C 4.12.1.5贮存温度上限 产品的贮存温度上限值为55C 4.12.1.6工作条件下的恒定湿热 产品的工作条件下温度上限值为35,湿度范围为20%93% 4.12.1.7贮存条件下的恒定湿热 产品的贮存运输温度为40C,湿度范围为20%93% 4.12.2机械环境适应性 4.12.2.1 振动适应性 振动适应性见表5
GB/35297一2017 表5振动适应性 试验项目 试验内容 参数 535 频率范围/Hz 初始和最后 扫描速度 (oct/min 振动响应检在 0.,15 驱动振幅或加速度/n mmm 驱动振幅或加速度/mm 0,15 定频耐久试验 持续时间/min 10士0.5 频率范围/Hz 5355 驱动振幅或加速度/mm 0.15 扫频耐久试验 1 扫描速度/oet/min 循环次数 注表中驱动振幅为峰值,要求存储系统测试中含完整包装 4.12.2.2碰撞适应性 碰撞适应性见表6 表6碰撞适应性 峰值加速度/m/s' 脉冲持续时间/ms 碰撞次数 碰撞波形 50 16 1000 半正弦波 注:要求存储系统测试中含完整包装 4.12.2.3运输包装跌落适应性 运输包装跌落适应性见表7 表7运输包装跌落适应性 包装件质量/kg 跌落高度/mm S10 900 10一30 760 30一40 400 4045 300 4550 200 >50 00 4.13可靠性 采用平均失效间隔工作时间(MTBF)衡量产品的可靠性水平 产品在常温和稳定标称220V电压下的m值(MTBF的不可接收值)不得低于10000h
GB/T35297一2017 4.14限用物质的限量要求 应符合GB/T26572的要求 试验和测试方法 5 5.1试验和测试环境条件 除另有规定外,试验和测试均在下述正常大气条件下进行 温度;1535C a b) 相对湿度:25%~75%; 大气压;86kPa106kPa c 5.2外观和尺寸测试 用目测法和有关检测工具进行外观和尺寸测试,检查是否符合4.1的要求 5.3功能测试 5.3.1基本要求测试 根据具体产品型号和配置情况判断,检查是否符合4.2.1的要求 5.3.2块存储功能测试 块存储功能测试如下: 主机端口配置测试:主机端口支持的传输层协议类型可以包括iSCSI、FCPSAS等 针对不 a 同类型的协议,分别测试配置功能 示例，如对于isCsI协议,获取到isCsltarget的P地址.,TCP端口号和名字信息,iscslinitiator直接通过P地址 和TCP端口来建立TCP连接,使用iSscsltarge的名字来建立iscs会话 b创建、删除逻辑单元测试;接收创建逻辑单元的指令,在产品的资源中根据指令指定的大小和 D等属性创建该逻辑单元,在创建结束后对该逻辑单元进行格式化;接收删除逻辑单元的指 令,产品应执行对解除映射关系的目标逻辑单元进行删除操作,对删除后的目标逻辑单元上的 数据进行有效地清除,删除后的目标逻辑单元所占用的存储空间完全释放,并返回产品的存储 资源池中,为新的需求所用 建立、解除映射关系测试方法如下 建立映射关系测试方法如下: 若采用iSCSI,接收到建立映射关系指令后,在产品的isCsI端口中,对启动器的 iscs名称进行设置,以便于创建的产品存储资源被授权的服务器系统访问;在产品 iscsI端口上将创建的逻辑单元与相应服务器启动器的iScsI名称建立映射关系; 若采用FCSAN,接收到建立映射关系指令后,在产品上配置服务器的FCwwN worldwideName)或wwPN(worldwidePortName),以便于创建的产品存储资 源被授权的服务器系统访问;在产品FC端口上将创建的逻辑单元与相应的服务器 建立映射关系 22 解除映射关系测试方法如下 若采用isCSI,接收解除映射关系指令后,确认该逻辑单元已经从服务器系统分离;在产 10
GB/35297一2017 品iSCSI端口上将相应的逻辑单元与相应的服务器映射关系在列表中删除; -若采用FCSAN,接收解除映射关系指令后,确认该逻辑单元已经从服务器系统分离;在 产品FC端口上将相应的逻辑单元与相应的服务器映射关系在列表中删除 查询逻辑单元状态测试;接收逻辑单元状态查询指令,根据卷ID反馈该逻辑单元的状态及其 d 属性信息 设置逻辑单元的属性测试:允许修改逻辑单元的属性,如逻辑单元的名称、归属控制器、预取策 略和写策略等属性 数据管理功能测试 测试容错功能;测试所声称支持的RAID0,1.5.6,10,50.60等RAID级别(可选择支持 其中的一种或多种);测试在线数据重构功能(RAID0级别除外) 测试数据自恢复功能:在产品设置热备盘(全局热备盘或局部热备盘),测试在线数据重建 RAID0级别除外): 测试数据预拷贝功能;将指定盘上的数据迁移到可用空闲热备盘上,迁移完成后,用新盘 替换掉指定盘,在测试过程中可以通过重构时间来判定 5.3.3文件存储功能测试 文件存储功能测试如下 创建、删除、获取、修改文件测试;进人文件系统中,可以正常创建不同类型的文件,并能对文件 a 进行修改、获取和删除操作; b 查询文件状态测试:选择相关文件,可以查看文件的文件大小、文件创建者、修改时间、访问时 间等相关信息; 设置文件的属性测试;能够对文件的隐藏、只读等属性进行相关的设置和修改 5.3.4对象存储功能测试 5.3.4.1 数据对象操作功能测试 数据对象操作功能测试方法如下 创建、删除、获取对象测试: 创建对象;对象存储系统中的对象指定一个容器;测试有多个请求同时写一个对象,最后 -个创建结束的写请求有效性; 删除对象;测试支持根据对象URI删除对象; 22 33 获取对象;测试支持根据URI读取对象数据 b 获取、设置对象属性测试: 获取对象属性;读取单个指定属性,测试是否包括系统内置属性或者全部的用户自定义 属性; 设置对象属性;测试对象系统内置属性(包括对象名字)是否不允许修改;测试自定义属性 是否可以进行设置 获取、设置对象权限测试: 测试获取用户对象权限信息包括读、写及修改权限 测试设置用户对象权限,包括读,写及修改权限 d 获取对象临时访问URL测试: 获取对象临时URL,测试用户访问机制;当指定注册用户时,测试在指定某时间段内是否生 11
GB/T35297一2017 效,测试过期时是否不可访问 5.3.4.2容器操作功能测试 容器操作功能测试方法如下 测试是否能够获取用户的所有容器,其中容器信息包括容器名字以及其他必要信息 a 测试是否不允许创建同名的容器;测试是否能够删除包括对象的容器;测试删除一个容器成功 b 后,是否该容器和容器中的对象不可恢复; 测试容器拥有者是否对该容器的权限具有设置功能;测试除容器拥有者之外的其他用户是否 对该容器的权限具有读写访问功能; 测试获取的对象信息是否包括每个对象URI以及其他必要信息;并测试返回对象的数量是否 d 正确 5.3.5日志与统计报表测试 日志与统计报表测试应包括 a 日志功能测试 测试日志是否完整可靠,是否包括严重级别、时间、事件内容等信息 1 22 设置自定义系统日志级别,并测试是否能产生对应级别下的系统日志 33) 设置自定义日志记录的触发事件,并测试是否能产生对应触发事件下的日志; 测试日志导出和日志删除功能 4 统计功能测试.测试是否包含周期性统计10流量(包括读流量、写流量)等功能 b 告警功能测试;模拟故障或严重异常时,是否产生告警 5.3.6操作管理测试 操作管理测试应包括: a 配置管理测试;测试是否具有系统管理网络的配置、资源组的配置、版本管理,授权管理等功 能,测试配置信息的导出与导人功能 操作维护测试;通过图形界面或命令行的方式对系统进行操作,测试是否正常返回结果 b 系统监控测试;测试监控信息是否包含工作温度、电源电压等状态;当出现异常状态时,测试是 否产生告警并记录日志 5.4性能测试 5.4.1数据传输率测试 5.4.1.1 突发数据传输率测试 突发数据传输率根据产品所使用的接口类型和协议确定,具体使用接口类型和协议在产品详细规 范或说明书中描述 具体测试要求依此判定 5.4.1.2持续数据传输率测试 根据具体产品型号和配置情况.以及说明书,参照有关产品主机接口资料,使用相关仪器,测试产品 主机接口数据传输率,结果应符合4.3.1的要求 根据具体产品型号和配置情况,连接多台服务器,划分RAID及LUN 在每台服务器识别产品分 配的磁盘后,进行数据传输率测试,在每个服务器上并行对产品所划分的磁盘进行测试 最大数据传输 12
GB/35297一2017 率一般采用连续读大数据块(>32MB)的参数组合进行测试 测试环境拓扑图如图1所示 通常使用iometer,iozone或其他测试软件测试数据传输率 测试集群 测试服务器 lomcter IP交换机 测试服务器 测试服务器 测试服务器 测试服务器 Dnamo Dynamo Dynamo Dnamo 交换机 isCSIL,FC,InfiniBand等 LUN LUN LUN RAID RAID RAID 物理物理 物理物理 物理物理 物理 磁盘 磁盘 磁盘 磁盘 磁盘 被测磁盘阵列 图1并发访问性能测试环境拓扑图 5.4.2并发IoPSs测试 根据具体产品型号和配置情况,连接多台服务器,划分RAID及LUN 在每台服务器识别产品分 配的磁盘后,进行IoPs测试,在每个服务器上并行对产品所划分的磁盘进行测试 最大IOPs一般采 用连续读小数据块(4kB)的参数组合进行测试 测试环境拓扑图见图1 注:通常使用iometer、,iozone或其他测试软件测试数据传输率 5.5容量测试 产品的容量测试可通过如下方式进行 通过检验内存或外存等存储器件的产品标签或型号,识别所有存储器件的物理容量,再计算得 a 出相关标称容量,容量的单位用PB、TB,GB,MB,kB表示,需要时可换算成PB、TiB,GiB、 MiB,kiB表示,保留小数点后两位 检验结果大于或等于标称值的95%为合格; 通过操作系统,基本输人输出系统(IOs)、存储管理软件或其他测试工具等检验所有提供给 用户使用的存储器件的容量(或称可用空间),再计算得出相关标称容量,容量的单位用PB TB,GB,MB,kB表示,需要时可换算成PiB、TiB,GiB,MiB、kiB表示,保留小数点后两位 检 验结果大于或等于标称值的90%为合格 产品支持容量扩展时,需按照以上类似步骤验证产品扩展后的容量,同时验证扩展后产品的数据读 写功能是否正常 5.6接口测试 各种物理接口的特性采用目测方法和实际操作检查是否正确,在运行状态下借助相关仪器进行检 13
GB/T35297一2017 验,检查是否满足4.5的各项要求 5.7访问管理测试 产品访问管理测试采用实际操作检查是否正确,检查是否满足4.6的各项要求 5.8电气安全试验 按GB4943.1的有关规定进行 5.9电源试验 5.9.1交流电源适应能力 按表8的电压和频率组合对受试样品进行测试,每种组合运行检查程序一遍,受试样品工作应 正常 表8电压和频率组合 标称值 组合 电压/N 频率/Ha 220 50 49 198 198 51 242 49 242 51 电源插头 5.9.2 按GB/T15934的规定进行 5.10噪声试验 按GB/T6882的规定进行 测试点距离受试样品各平面1m处,在外设不工作、硬盘不寻道的条 件下进行测试,取最大值 5.11电磁兼容试验 5.11.1无线电骚扰 按GB/T9254的规定进行 5.11.2谐波电流 按GB17625.1或GB/Z17625.6的规定进行 5.11.3抗扰度 按GB/T17618的规定进行 14
GB/35297一2017 5.12供电模块效率和功耗试验 5.12.1试验设备与试验要求 测试环境温度和相对湿度应保持在本标准规定范围内,不应采用外部的风扇,空调或散热器来降低 待测样品的温度 测试中,样品应置于非导热材料上 交流电源电压为(217.8V~222.2V),频率范围为49.5Hz50.5Hz,总谐波失真不得大于3% 应使用经过校准并满足要求的电压表、电流表和功率表(或功率分析仪 功率表有功功率试验的精度应不低于0.1w 电压表精度应不低于0.1V 电流表精度应不低于0.1A 试验中测试回路应尽可能短,以避免由于测试线路引起的测量结果误差 5.12.2试验设置 将产品置于出厂设置,所使用部件功能完整且性能良好,正常运行,无使用缺陷 功率表电流表 电压表 图2测试原理图 5.12.3 供电模块效率测试 按H]2507一2011中B.3.3的规定进行 5.12.4空闲能耗测试方法 空闲能耗测试方法如下 将产品接人测试回路,连接所有产品接口; a b 开启被测产品,启动至稳定状态,无系统报错; 在无1/0访问状态下稳定运行20min后,连续记录产品空闲状态的有功功率和测试时间,测 c 试时间不少于5min,读数频率不小于1s/次,取算术平均值得到空闲状态功率 5.13环境适应性测试 5.13.1 -般要求 环境试验方法的总则、名词术语应符合GB/T2421.1和GB/T2422的有关规定 以下各项试验中,规定的初始检测和最后检测,统一按本标准进行外观和结构检查,并运行检查程 序一遍.工作应正常 15
GB/T35297一2017 5.13.2温度下限试验 5.13.2.1工作温度下限试验 按GB/T2423.1中“试验A”进行 受试样品须进行初始检测 严酷程度取表4规定的工作温度 下限值,加电运行检查程序2h,受试样品工作应正常 恢复时间为2h 5.13.2.2贮存运输温度下限试验 按GB/T2423.1中“试验A”进行 严酷程度取表4规定的贮存运输温度下限值 受试样品在不 工作条件下存放16h 恢复时间为2h,并进行最后检测 为防止试验中受试样品的结霜和凝露,将受试样品用聚乙烯淋膜密封后进行试验 必要时还可以 在密封套内装吸潮剂 5.13.3温度上限试验 5.13.3.1 工作温度上限试验 按GB/T2423.2中“试验B"进行 受试样品须进行初始检测,严酷程度取表4规定的工作温度上 限值 加电运行检查程序2h,受试样品工作应正常 恢复时间为2h 5.13.3.2贮存运输温度上限试验 按GB/T2423.2中“试验B”进行 严酷程度取表4规定的贮存运输温度上限值 受试样品在不工 作条件下存放16h 恢复时间为2h,并进行最后检测 5.13.4恒定湿热试验 5.13.4.1工作条件下的恒定湿热试验 参考GB/T2423.3中“试验Ca”进行,严酷程度取表4规定的工作温度、湿热上限值 受试样品须 进行初始检测 试验持续时间为2h 在此期间加电运行检查程序，工作应正常 恢复时间为2h,并 进行最后检测 5.13.4.2贮存运输条件下的恒定湿热试验 参考GB/T2423.3中“试验Ca"进行,受试样品须进行初始检测 严酷程度取表4规定的贮存运输 温度、湿热上限值,受试样品在不工作条件下存放48h 恢复时间2h,并进行最后检测 5.13.5振动试验 按GB/T2423.10中“试验Fe”进行 受试样品按工作位置固定在振动台上,进行初始检测 受试 样品在不工作状态下,按表5规定值,分别对三个互相垂直的轴线方向进行振动 5.13.5.1 初始振动响应检查 试验在给定频率范围内,在一个扫频循环上完成 试验过程中记录危险频率，一个试验方向上最多 不超过4个危险频率 5.13.5.2定频耐久试验 用初始振动响应检查中记录的共振危险频率进行定频试验,如果两种危险频率同时存在,则不能只 16
GB/35297一2017 选其中一种 在试验规定频率范围内如无明显共振频率,或危险频率超过四个则不做定频的耐久试验,仅做扫频 耐久试验 5.13.5.3扫频耐久试验 按表5给定的频率范围由低到高,再由高到低,作为一次循环 按表5规定的循环次数进行,已做 过定频耐久试验的样品不再做扫频耐久试验 5.13.5.4最后振动响应检查 对于已做过定频耐久试验的受试样品须做此项试验,对于做过扫频耐久试验的样品,可将最后一次 扫频试验作为振动响应检查 本试验须将记录的共振频率与初始振动响应检查记录的共振频率相比 较,若有明显变化,应对受试样品进行修整,重新进行该项试验 试验结束后,进行最后检测 5.13.6碰撞试验 按GB/T2423.6中“试验Eb”进行,受试样品须进行初始检测,安装时要注意重力影响,按表6规定 值,在不工作条件下,分别对三个互相垂直轴线方向进行碰撞 试验后进行最后检测 5.13.7运输包装件跌落试验 对受试样品进行初始检测,将运输包装件处于准备运输状态,按GB/T4857.2的规定进行预处理 将运输包装件按GB/T4857.5的要求和本标准表7的规定值进行跌落,任选四面,每面跌落一次 试验后按产品详细规范的规定检查包装件的损坏情况,并对受试样品进行最后检测 5.14可靠性测试 5.14.1试验条件 产品在常温和稳定标称220V电压的条件下进行试验 5.14.2试验方案 可靠性试验按照GB/T5080.7进行,可靠性鉴定试验和可靠性验收试验应运行检查程序,故障的 判据和计人方法见附录A,并只统计关联故障数 5.14.3 试验时间 试验时间应持续到总试验时间及总故障数均能按选定的试验方案做出接收或拒收判决时截止 多 台受试样品试验时,每台受试样品的试验时间不得少于所有受试样品的平均试验时间的一半 5.15限用物质的限量要求测试 按GB/T26572的规定进行 质量评定程序 6.1 通则 产品的型式检验和质量一致性检验应符合本标准和产品详细规范的规定 17
GB/T35297一2017 6.2检验分类 本标准规定的检验分为: 型式检验 a b)质量一致性检验 各类检验项目和顺序分别按表9的规定 若产品详细规范中有补充检验的项目,应将其插人至 表9的相应位置 表g检验一览表 质量一致性检验 检验项目 要求章条号 试验方法章条号 型式检验 逐批检验 周期检验 外观和尺寸 4.l 5.2 功能 4.2 5.3 性能 5.4 4.3 5.5 容量 4.4 接口 4.5 5.6 访问管理 4.6 5.7 电气安全 4.7 5.8 电源 4.8 5,9 噪声 4.9 5.10 4.10 5.1 电磁兼容 4.l1 5.12 供电模块效率和功耗 工作温度下限 4.12.1.2 5.13.2.1 贮存运输温度下限 4.12.1.3 5.13.2.2 工作温度上限 4.12.1.4 5.13.3.l 贮存运输温度上限 4.12.1.5 5.13.3.2 工作条件下恒定湿热 4.12.l.6 5.13.4.l 贮存运输条件下恒定湿热 4.12.1.7 5.13.4.2 4.12.2.l 5.13.5 振动 碰撞 4.12.2.2 5.13.6 运输包装件跌落 4.12.2.3 5.13.7 可靠性" 4.13 5.14 限用物质的限量 4.l4 5.15 注;“o”表示应进行的检验项目,“”表示不检验的项目 在周期检验中,安全检验仅作接地连续性,接触电流和抗电强度三项 可靠性检验的样品数量及方法按照相关标准和产品详细规范的规定， 18
GB/35297一2017 6.3型式检验 6.3.1型式检验的时机 产品在下列情况应进行型式检验 产品的设计定型或生产定型时 a b 产品的质量一致性检验连续出现不合格时; 产品的设计,生产工艺、材料等发生变化时; c d 产品的生产停产超过6个月时; 质量检查监督机构要求时 6.3.2型式检验程序 型式检验应按表9规定的项目和顺序进行,样品数量为2台 允许故障数或不通过项为0 试验 项目故障的判定和计人方式见附录A 在检验过程中出现故障或某项不通过时,应停止试验,查明故障原因,提出故障分析报告,采取纠正 措施,重新进行试验 再次出现故障或不通过项时,型式检验失效 6.4质量一致性检验 6.4.1通则 质量一致性检验由逐批检验和周期检验组成 6.4.2逐批检验 6.4.2.1检验批 批量生产或连续生产的产品,进行全数检验 6.4.2.2检验程序 每一检验批应按表9规定的项目和顺序对全数产品进行检验 检验中,出现任一项故障或不通过 项时,应返修后重新进行检验;若再次出现任一项不合格时,该台产品被判为不合格产品 逐批检验中 性能和外观结构检查,允许按GB/T2828.1进行抽样检验,产品详细规范中应规定抽样方案拒收后的 处理方法和逐批检验不合格判据 逐批检验由产品制造单位的质量检验部门负责进行 6.4.3 周期检验 6.4.3.1检验程序 连续生产的产品,应按表9规定的项目和顺序每年至少进行一次周期检验 周期检验应从逐批检 验合格产品中随机抽取,样品数量为2台 可靠性试验的样品数量按产品详细规范的规定 周期检验中检验项目的故障判定和计人方法见附录A,除可靠性试验外,其余项目的故障处理按以 下规定进行 检验中出现故障或任一项通不过时应查明故障原因,提出故障分析报告，经修复后重新进 行该项检验 之后,再顺序做以下各项试验,如再次出现故障或某项通不过,在查明故障原因,提出故障 分析报告,再经修复后,则应重新进行各项周期检验 在重新进行检验中又出现某一项通不过的情况 时,判该产品通不过周期检验 19
GB/T35297一2017 6.4.3.2样品的处理 经过周期检验合格的样品,应印有标记,不得作为合格品出厂 标志、包装、,运输、贮存 7.1标志 产品应有电子信息产品有害物质的名称及含量和标志,标志应符合S/Tl1364的要求 包装箱外应标有制造厂名称,地址、产品名称和型号、制造日期或生产批号,并喷刷或贴有“小心轻 放”“怕湿”等运输标志,运输标志及产品的其他标识标志应符合国家有关规定 包装箱外喷刷或粘贴标志不应因运输条件和自然条件而退色、变色、脱落 7.2包装 包装箱应符合防潮、,防尘,防震的要求包装箱内应有装箱明细表、检验合格证、备附件及有关的随 机文件 7.3运输 包装后的产品应能以任何交通工具,运往任何地点,在长途运输时不得装在敞开的船舱和车厢中, 中途转运时不得放在露天仓库中,在运输过程中不允许和易燃、易爆、易腐蚀的物品同车(或其他运输工 具)装运,并且产品不允许经受雨、雪或液体物质的淋袭与机械损伤 7.4贮存 产品贮存时应存放在原包装箱内,存放产品的仓库环境温度为040,相对湿度为30% 85% 仓库内不允许有各种有害气体,易燃、易爆的产品及有腐蚀性的化学物品,并且应无强烈的机械 振动、冲击和强磁场作用 包装箱应垫离地面不少于10em,距离墙壁、热源、冷源、窗口或空气人口不 少于50cm 若无其他规定时,贮存期一般应为6个月 若在生产厂存放超过6个月者,则应重新进行 交收检验 20
GB/35297一2017 附录 A 规范性附录) 故障的分类与判据 A.1故障定义和解释 按GB/T5271.14规定的故障定义,出现以下情况之任一种均解释为故障: 受试样品在规定条件下,出现了一个或几个性能参数不能保持在规定值的上下限之间 aa b)受试样品在规定应力范围内工作时,出现了机械零件、结构件的损坏和卡死,或出现了元器件 的失效或断裂,而使受试样品不能完成其规定的功能 A.2故障分类 故障类型分为关联性故障(简称关联故障)和非关联性故障简称非关联故障) 关联故障是受试样品预期会出现的故障,通常都是由产品本身条件引起的 它是在解释试验结果 和计算可靠性特征值时应要计人的故障 非关联故障则是受试样品出现非预期的故障,这类故障不是由受试样品本身条件引起的,而是由试 验要求之外的条件引起的 非关联故障在解释试验结果和计算可靠性特征值时不计人,但应在试验中 做记录,以便于分析和判断 A.3关联故障判据 关联故障判据包括: 必须经更换元器件、零部件才能排除的故障; a b 损耗件(如硬磁盘等)在其寿命周期内发生的故障; 需要对接插件、电缆进行修整,以消除短路和接触不良,方可排除的故障; c 在试验过程中需要重新对存储部件进行格式化才能排除的故障 d 出现造成测试和维护使用人员的不安全或危险或造成受试样品和设备严重损坏而必须立即中 止试验的故障 一旦出现此类故障,应立即做出拒收判定; 程序的偶然停运或运行失常,但无需做任何维修和调整,再经启动就能恢复正常,这种偶然的 跳动故障,凡积累达三次者(指同一受试样品),计为一次关联故障,不足三次者均作非关联故 障处理 不是同一因素引起而同时发生两个以上的关联故障,则应如数计人 如果是同一因素引起的， g 则只计一次; h)承担试验的检验单位,根据故障情况和分析结果,有资格认定某种故障为关联故障 A.4非关联故障判据 非关联故障判据包括: 从属性故障: a 21
GB/T35297一2017 由于受试样品中某一元器件、零部件失效或出现设备故障而直接引起受试样品另一相关元器件或 零部件的失效而造成的,或者由于试验条件已经超出规定的范围(如突然断电、电网电压的频率的变化、 温湿度变化、严重的机械环境和干扰等)而造成的故障 b)误用性故障 由于操作人员的过失而造成的故障,如安装不当,施加了超过规定的应力条件,或者按产品详细规 范的规定允许调整的部件没有得到正确的调节等,而造成的故障 诱发性故障 c 在检修期间,因为维修人员的过失而造成的故障 d)承担试验的检验单位,根据事故情况和分析结果,有资格认定某种故障为非关联故障 22

信息技术盘阵列通用规范GB/T35297-2017简介

随着信息技术的不断发展，数据量的增加带来了更高的数据存储需求。而盘阵列作为数据存储系统的核心组成部分，其设计和实现对于数据安全和稳定性具有至关重要的作用。

然而，在实际应用中，由于厂商之间的差异性和标准缺失等原因，盘阵列的设计和实现存在着巨大的差异性。这不仅影响了盘阵列的性能和效率，还可能导致数据丢失和文件损坏等问题。

为了解决这些问题，国家制定了《信息技术盘阵列通用规范》（以下简称“规范”），该规范于2017年发布，是盘阵列相关工作的重要参考标准。

根据规范的要求，盘阵列应具备以下特点：

• 容错能力：支持磁盘故障检测和数据自动恢复
• 可扩展性：支持在线扩容、迁移和升级
• 高性能：支持数据并行读写和负载均衡
• 数据安全：支持数据加密、权限控制和访问审计

同时，规范还详细规定了盘阵列的架构设计、硬件配置、软件实现和测试验证等方面的内容。这些规范确保了不同厂商的产品之间的互操作性和兼容性，提高了盘阵列的整体性能和稳定性。

除了以上这些优点，规范的出台还具有以下意义：

• 促进了盘阵列技术的发展，提高了盘阵列的整体水平
• 降低了盘阵列的开发和使用成本，避免了因为差异性导致的重复设计和开发工作
• 促进了数据的交换和共享，降低了数据丢失和损坏的风险

总之，《信息技术盘阵列通用规范》的出台对于盘阵列相关工作有着重要的意义，是盘阵列领域的重要进步，为盘阵列的设计和实现提供了标准和规范，有助于提高盘阵列系统的整体性能和稳定性。

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