GB/T5195.3-2017
萤石105℃质损量的测定重量法
Fluorspar—Determinationoflossinmassat105℃—Gravimetricmethod
- 中国标准分类号（CCS）D52
- 国际标准分类号（ICS）73.080
- 实施日期2018-06-01
- 文件格式PDF
- 文本页数5页
- 文件大小304.94KB
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萤石105℃质损量的测定重量法
国家标准 GB/T5195.3一2017 代替GB/T5195.32006 萤石 105C质损量的测定 重量法 Frorspar一Determinationflossinmassat105C一Gravimetricmethod 2017-09-07发布 2018-06-01实施 国家质量监督检验检疫总局 发布 国家标准化管理委员会国家标准
GB/T5195.3一2017 萤石105C质损量的测定 重量法 范围 GB/T5195的本部分规定了用重量法测定萤石中105C质损量的方法
本部分适用于萤石中105C质损量的测定
测定范围质量分数):0.02%10.00%
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GB/T8170数值修约规则与极限数值的表示和判定 GB/T22564萤石取样和制样 原理 试样在105C士2C时干燥,测定其质损量
其质损量相当于在该温度下,水分和其他挥发分的 含量
试剂和材料 4.1称量瓶:高约40mm,直径约65mm. 4.2搪瓷或玻璃皿l;高约40mm,长方形的约300mm×200mm或圆形的直径约250mm
5 仪器 5.1电烘箱,可控制温度105士2C
5.2天平
取样与制样 按照GB/T22564的规定进行取样与制样
分析步骤 7.1测定次数 对同一试样,应称取两份试样进行测定
GB/T5195.3一2017 7.2试料量 7.2.1干料 称取约100g,准确至0.01g干料试样,置于已知质量的称量瓶(4.1)中;称量瓶预先在105C士 2C的电烘箱中干燥,取出,置于干燥器中冷至室温并称量,准确至0.01g
7.2.2滤饼 称取约1000g,准确至0.1g滤饼试样,置于已知质量的皿(4.2)中,此皿预先在105C士2C的电 烘箱中干燥,取出,置于干燥器中冷至室温并称量,准确至0.l只
7.3测定 7.3.1干料 将装有干料试样的称量瓶(见7.2.1)继续置于105士2C的电烘箱中干燥2h,取出,置于干燥器 中冷却至室温并称量,准确至0.01g" g
7.3.2滤饼 将装有滤饼试样的M(见7.2.2)继续置于105C士2C的电烘箱中干燥5h,取出,置于干燥器中冷 至室温并称量,准确至0.1 g
结果计算及表示 8 8.1结果计算 按式(1)计算105C质损量的质量分数 mo一m ×100 w'质损量 o 式中 105下的质损量(质量分数),%; w质抛数 干燥前试料量,单位为克(g) 770 干燥后试料量,单位为克()
71 8.2结果表示 测定的结果按照GB/T8170的规定进行修约,结果保留小数点后两位
允许差 9 两个分析结果之间的差值应不大于表1所列允许差
表1允许差 %质量分数 允许差 质损量 0,020.50 0.01 >0.501.00 0,05
GB/T5195.3一2017 表1(续 %质量分数) 质损量 允许差 >l.00一3.00 0.10 3.00一5.00 0.20 >5.00~10.00 0.30 10试验报告 试验报告应包括下列信息: 测试实验室名称和地址; b 试验报告发布日期; c 本部分的编号; d)试样本身必要的详细说明; 分析结果; e 与结果对应的编号; f 测定过程中存在的任何异常现象和本部分中没有规定的可能对试样的分析结果产生影响的任 g 何操作
萤石105℃质损量的测定重量法GB/T5195.3-2017
萤石是一种广泛应用于工业和农业领域的无机材料，主要用于制造合成氟化物、铝冶金等。在生产过程中，萤石会受到不同程度的热处理和湿度影响，导致其性能发生变化。因此，萤石的质损量成为一个非常重要的指标。
105℃质损量是指将萤石样品在105℃下加热，使得其中的水分挥发后，剩余物质的重量与原样品重量之比。这个比值可以反映出萤石在不同条件下的稳定性和耐久性。
GB/T5195.3-2017标准规定了采用重量法测定萤石105℃质损量的方法。具体步骤如下：
- 将待测样品按照一定比例粉碎，称取5g ± 0.001g的样品。
- 将样品置于105℃恒温箱内，在恒温条件下加热2小时。
- 将加热后的样品取出，放在干燥器内冷却至室温。
- 将冷却后的样品放入称量皿中，记录称量皿+样品的重量。
- 将称量皿+样品放入烘箱中，在60℃恒温条件下烘干至常重。
- 取出烘干后的称量皿+样品，记录其重量。
- 计算出105℃质损量，即(称量皿+样品+常重)与称量皿+样品的重量之差除以样品重量。
该方法具有简单、快速、准确等优点，可以广泛应用于萤石质损量的测定。
