GB/T15471-2013

逻辑分析仪通用规范

Generalspecificationforlogicanalyzer

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  • 中国标准分类号(CCS)L85
  • 国际标准分类号(ICS)17.220
  • 实施日期2014-05-15
  • 文件格式PDF
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逻辑分析仪通用规范


国家标准 GB/15471一2013 代替GB/T15471一1995 逻辑分析仪通用规范 Generalspeeifieationforlogicanalyzer 2013-12-17发布 2014-05-15实施 国家质量监督检监检疫总局 发布 国家标准花管理委员会国家标准
GB/T15471一2013 目 次 前言 范围 规范性引用文件 术语和定义 产品分类 要求 试验方法 检验规则 2 26 标志、包装、运输、贮存
GB/T15471一2013 前 言 本标准按照GB/T1.1一2009给出的规则起草 本标准代替GB/T15471一1995《逻辑分析仪通用技术条件和测试方法》,本标准与GB/T15471 1995相比,主要变化如下 -增加了部分术语及定义 -增加了门限步进、毛刺脉冲宽度、触发序列速度等参数的试验方法 请注意本文件的某些内容可能涉及专利 本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任 本标准由工业和信息化部提出 本标准由全国电子测量仪器标准化技术委员会(SAC/TC153)归口 本标准起草单位;电子科技大学、工业和信息化部电子工业标准化研究院 本标准主要起草人:王厚军,戴志坚,师奕兵,黄英华,田书林、曹玲 本标准所代替标准的历次版本发布情况为 GB/T15471一1995
GB/T15471一2013 逻辑分析仪通用规范 范围 本标准规定了逻辑分析仪的术语、产品分类、要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输和贮存等 本标准适用于逻辑分析仪,也适用于具有逻辑插人单元或逻辑分析仪附属装置的测量仪器,外置式 的逻辑分析仪也可参照本标准 规范性引用文件 下列文件对于本文件的应用是必不可少的,凡是注明日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文 件 凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件 GB/T191包装储运图示标志 GB/T3047.6电子设备台式机箱基本尺寸系列 GB/T6587一2012电子测量仪器通用规范 GB/T1l463一1989电子测量仪器可靠性试验 GB/T18268(所有部分)测量、控制和实验室用的电设备电磁兼容性要求 术语和定义 下列术语和定义适用于本文件 3 逻辑分析仪logieanalyzer 获取相对一个触发事件的数字逻辑信号,以各种方式显示这些信号并进行分析的测试仪器 其主 要特点是能以单通道(串行方式)或多通道(并行方式)进行记录并显示在触发事件前或触发事件后捕获 到的逻辑信号 逻辑分析仪一般由输人,采集、存储、触发与控制、处理与显示等部分组成 3.2输入 3.2.1 探头prohe 以软电缆连接,能将被测信号传输给仪器的输人装置 3.2.2 输入阻抗 inputimpedance 逻辑分析仪在工作条件下对被测电路所呈现的负载 3.2.3 输入电压范围inputvoltagerange 仪器能够正确识别和采集的输人信号电压范围 3.2.4 最大输入电压 axiuminputvoltage 不损坏仪器的最大输人电压 超出该电压,仪器或探头可能会损坏
GB/T15471一2013 3.2.5 threshold 门限 与输人信号比较的一种预选电压值 注:任何比门限电压更正的输人电压被记录为逻辑高,而任何比门限电压更负的输人电压被记录为逻辑低 3.2.5.1 门限灵敏度sensitivity 在规定的信号持续时间内,对可检测信号所要求的最小电压值(见图1) 门限灵敏度 门限 门限误差 实际战形 逻辑分析仪 显示的波形 图 3.2.5.2 双门限dualthreshold 具有两个预选门限的方式,即每个通道具有两个能与该通道输人信号进行比较的预选门限 3.2.5.3 混合门限mixedthreshold 各通道或通道组合具有不同的门限调节值 3.2.6 通道时滞ehanneltochamnelskew 同一个信号在不同输人通道传输的时间差 3.3采集 3.3.1 同步采集方式symehroousmode 按与输人逻辑信号相位相关的外部时钟来取样输人逻辑信号的采集方式,也称为状态分析方式 3.3.2 异步采集方式asynchronousmode 取样输人逻辑信号的时钟与被测系统无关的采集方式,该方式也称为定时分析方式 注:该方式下通常由内时钟取样 3.3.3 最大定时取样速率 maximumtimingsamplerate 定时分析方式时,数据采集的最高有效速率,通常用Sa/s表示 3.3.4 最大状态时钟速率maximumstatecoekrate 状态分析方式时,时钟通道输人的外部时钟的最大速率
GB/T15471一2013 3.3.5 最小脉冲持续时间 mminimmumpulseduration 能被可靠检测到的最窄脉冲,见式(1. MPD=(1/时钟频率)十C 式中: MPD -最小脉冲持续时间; 某一规定的常数 3.3.6 建立时间 etuptime 数据信号在时钟有效沿到来之前出现并稳定的时间,以保证数据被正确获取(见图2) 注:建立时间允许有负值 建立时间 保持时间 信号 时钟 图2 3.3.7 保持时间holdtime 数据信号应该在有效时钟沿到来之后继续保持稳定的时间,以保证数据被正确获取(同图2) 注保持时间允许有负值 3.3.8 毛刺glitch 窄于规定的最小脉冲宽度的脉冲,一般将宽度小于当前取样间隔的脉冲称为毛刺 3.3.9 毛刺检测与锁定glitchdetectandlateh 若检测到毛刺存在,则给出一个时钟宽度的脉冲(见图3》 毛刺 正常跃变 宽度 信号 时钟 显示波形伪波形 图3
GB/T15471一2013 存储 3.4.1 存储深度memorydepth -次存储采集数据的数量,一般指每通道所存储数据位的数量 3.4.2 限定存储limitedstorage 采集的数据符合限定条件才存储 3.5控制 3.5.1 触发事件triggerevent 对逻辑信号采集与存储进行控制或定位的一个事件或者一序列事件 触发事件可以由内部电路产 生,根据信号逻辑状态在内部获得,或从外部触发源获得 3.5.2 触发字triggerword 用于选择数据捕获窗口而设置的一种特定的数据字 3.5.3 任意态anything 给定的某通道的输人信号为任何状态均认为满足本通道的触发要求 注:一般情况下,若设触发字某位即某通道)为任意态(常用“X”表示),则该位出现“1”或“o”均认为满足触发 要求 3.5.4触发源 3.5.4.1 字触发wordtrigger 以采集数据中出现某特定的数据字为触发事件 3.5.4. 2 边沿触发cdgetrigger 以某通道信号的跳变沿上升或下降沿)为触发事件 3.5.4.3 毛刺触发glitehtrigger 以某一个或多个通道中出现毛刺脉冲为触发事件 3.5.4.4 组合字触发commbinedwordtrigger 以采集数据中出现多个特定的数据字中的任意一个为触发事件 3.5.4.5 序列字触发sequentialwordtrigger 以采集数据中依次出现某特定的数据字序列为触发事件 3.5.4.6 序列触发sequentialtrigger 以采集数据中依次出现特定的触发事件序列的触发方式 注:该序列可以包括字识别,边沿,毛刺等或它们的组合
GB/T15471一2013 3.5.4.6.1 触发序列等级triggersequencelevel 在序列触发中,序列事件的等级 3.5.4.6.2 触发序列速度triggersequencerate 在序列触发中,相邻两级事件出现的最快速度 3.5.4.7 随机触发 randomtrigger 没有任何条件的触发事件 3.5.4.8 强制触发 mpeleltrgeer 预设的触发事件没有出现时,在一定条件下,自动强迫仪器的触发 3.5.4.9 手控触发manualtriger 由手动控制引起的触发事件 3.5.4.10 串行总线协议触发serialbusprotoeoltrig igger 按照某一特定的串行通信数据格式如:Ic,CAN,USB,SP1等)触发 3.5.5触发方式 3.5.5.1 预触发pretrigger 触发事件出现前即开始采集并存储一定数量数据的触发方式,触发前的数据量一般用存储深度的 百分比表示,可以为0%100% 3.5.5.1.1 触发开始跟踪sarttraeeromtrteer 触发事件出现后,才开始存储数据,即触发前的数据量为存储深度的0% 3.5.5.1.2 触发终止跟踪stoptracebytrigger 触发事件出现后,就停止存储数据,即触发前的数据量为存储深度的100% 3.5.5.2延迟触发 3.5.5.2.t 数据延迟触发datadeaytrigger 触发事件出现后并不立即触发,而是延迟一定量的数据后才触发的触发方式 3.5.5.2.2 时间延迟触发 timedelaytrigger 触发事件出现后并不立即触发,而是延迟一定时间后才触发的触发方式 3.5.5.3 限定触发mtedtreeer 对设置的触发字再加以限定条件的触发方式
GB/T15471一2013 3.5.5.4 触发窗口triggerwindow 对触发范围预选的上、下限 在该范围内的任何字的出现都能产生触发 注触发窗口也可以称为范围触发器(rigerrange). 3.5.5.5 超时强制触发timeoutcompeledtrigger 预置一个时间间隔,超过该时间间隔,如果没有出现触发事件,将强迫产生触发事件 3.5.5.6 定时禁止触发timmeinprohibitedtrigger 预置一个时间间隔,在该时间间隔内,将不识别触发事件 3.5.6 外触发输入extermaltrigerimput 逻辑分析仪从外部获得的触发信号 3.5.7 触发输出 triggeroutput 与触发事件时间相关的,可供外部使用的信号 3.5.8 触发操作triggeraectons 触发后采取的操作选择,包括;触发、发送电子邮件,填人内存;存储/不存储;定时器和计数器控 制等 3.6显示 3.6.1 数据显示datadisplay 以各种各样的格式来处理和显示所记录的数据 注,数据可以在阴极射线管(CRT)显示器或ICD显示器上进行显示,显示器可以安装在逻辑分析仪的内部或外部 3.6.2 定时图timingdiagram 以伪波形来表示所记录数据的状态与时间之间关系的波形(见图4 信号 时钟 显示波形伪波形 图4 3.6.3 图形显示graphicformat 用二维(xX、Y)图来表示所规定的数据、时间或其他因数的关系(见图5) 注数据图描述了状态幅度(Ym)与状态顺序(x)的丽数关系
GB/T15471一2013 FF C" 00 FEF X轴状态顺序 图5 3.6.4 状态表statetable 表示在每次连续取样时,输人数据通道逻辑状态的表格 注;该逻辑状态可以用二进制,八进制、十进制、十六进制,.Iso七值(AscI)码或助记符号来表示 3.6.5 映象图map 表示逻辑状态的一种矩阵格式,以便能用独特的图形来识别用户系统的工作状态(见图6). 注:图形是以单独的点来描绘每个已存人的逻辑字,点的垂直位置与字的高半个字值成比例,点的水平位置与字的 低半个字值成比例 00FF 0000 x轴低半个字值 8080 FF00 (FFFF 轴高半个字值 图6 反汇编分析disassemblyanalyze 将采集到的数据按照被测系统CPU的指令系统进行反汇编,并显示反汇编后得到的汇编语言程 序代码 产品分类 可按结构分为板卡式、外置式、台式(含便携式)等,应在产品标准中给出
GB/T15471一2013 要求 5.1 -般要求 5.1.1外观与结构 逻辑分析仪的结构应完整,外观无明显机械损伤和镀涂破坏现象;各控制件均须安装正确、牢固可 靠、操作灵活 5.1.2外形尺寸 应以宽(w)高(H)深(D)的顺序给出逻辑分析仪的最大外形尺寸 5.1.3重量 产品标准中应给出整机的重量或主机、插人单元、附属装置等分别的重量,以千克(ke)为单位 5.1.4供电电源 有产品标准规定逻辑分析仪适用的供电电源类型,并给出电源电压和频率范围以及最大消耗功率 5.1.5预热时间 由产品标准规定,预热时间一般应不超过30min. 5.2性能特性 5.2.1输 5.2.1.1输入通道数 由产品标准规定数据通道和时钟通道的数量,数据通道数量一般为8的整数倍 5.2.1.2输入阻抗 由产品标准规定,通常要求输人电阻大于20kQ,输人电容小于15pF 5.2.1.3输入电压范围 由产品标准规定,一般应为士5 5.2.1.4最大输入电压 由产品标准规定 5.2.1.5门限 由产品标准规定门限种类、范围、最小步进、灵敏度与误差等指标 5.2.1.6通道时滞 有规定时,由产品标准规定
GB/T15471一2013 5.2.2采集 5.2.2.1最大定时取样速率 由产品标准规定,并说明是否支持半通道扩展功能,若有应给出半通道下的最大定时取样速率 5.2.2.2定时取样速率范围与档位 由产品标准规定定时取样速率的可设置范围,即最大定时取样速率与最小定时取样速率;同时应给 出在此范围内取样速率档位变化,一般采用1、2、5进制 5.2.2.3最大状态时钟速率 由产品标准规定 5.2.2.4建立时间(. 由产品标准规定最小建立时间 5.2.2.5保持时间(t 由产品标准规定最小保持时间 5.2.2.6最小时钟脉冲宽度 由产品标准规定 5.2.2.7最小可检测毛刺脉冲宽度 若有毛刺检测功能,由产品标准规定 5.2.3存储 5.2.3.1最大存储深度 由产品标准规定,并说明是否支持半通道或1/4通道扩展能力,若有应给出半通道或1/4通道时的 最大存储深度 5.2.3.2限定存储 若有此功能,由产品标准规定 5.2.4控制 5.2.4.1触发方式 应在产品标准中说明,通常应该具有字触发、边沿触发、毛刺触发、组合/序列触发、预触发/延迟触 发等 5.2.4.2 延迟触发 5.2.4.2.1数据延迟触发 若有此功能,由产品标准规定可设置的延迟范围
GB/T15471一2013 5.2.4.2.2时间延迟触发 若有此功能,由产品标准规定可设置的延迟时间范围 5.2.4.3序列触发 由产品标准规定最大触发序列级数 触发序列速度 5.2.4.4 由产品标准规定最大触发序列速度 5.2.4.5毛刺触发 若有此功能,由产品标准规定 5.2.4.6限定触发 若有此功能,由产品标准规定 超时强制触发 5.2.4.7 在产品标准中说明是否具有该功能,若有应给出时间设置范围 5.2.4.8定时禁止触发 在产品标准中说明是否具有该功能,若有应给出时间设置范围 5.2.4.9外触发输入 在产品标准中说明是否具有外触发输人端子,并给出支持的电平标准(一般为TTL、输人阻抗等 5.2.4.10触发输出 在产品标准中说明是否具有触发输出端子,并给出输出电平标准(一般为TTL)、输出阻抗等 5.2.4.11触发操作 在产品标准中说明是否具有操作的可选择能力,若有,给出可选择的操作方式 5.2.5接口功能 由产品标准规定逻辑分析仪具有的接口功能,如USB,GPIB,LAN等 5.2.6反汇编分析 在产品标准中说明是否具有此功能,若有,应给出支持的CPU种类 5.2.7显示 5.2.7.1显示方式 在产品标准中明确给出支持的显示方式,一般包括:状态表(数据列表、定时图伪方波、映象 图等 10
GB/T15471一2013 5.2.7.2显示器 若为台式,在产品标准中提供下述内容: 显示器类型,一般为cRT或LCD, a) 有效工作面:高(h)×宽(w); b) e)检验工作面;高(h)×宽(zw) 注:单位为厘米cm)或格(div d 分辨力 颜色一般为单色、伪彩色或真彩色 若为彩色,应给出最大颜色种类数量 a 5 安全 应符合GB/T6587一2012的规定 除非另有规定,逻辑分析仪应至少进行以下的安全试验 接触电流试验 介电强度试验; 保护接地试验 在产品标准中给出绝缘电阻、泄漏电流及试验电压的数值 5.4环境适应性 应符合GB/T6587一2012的要求,并由产品标准规定逻辑分析仪的环境组别和运输流通等级 5.5电磁兼容性 应符合GB/T18268的有关规定 5 6 可靠性 由产品标准规定平均故障间隔时间(MTBF) 试验方法 试验要求 6.1 6.1.1对逻辑分析仪的性能特性进行检测时,应按照产品标准规定的额定工作条件,并在不打开机箱 的情况下进行,若有特殊情况必须打开机箱才能测试时,应在产品标准中说明 6.1.2试验用的标准测试仪器和设备应经过计量部门检定合格,并应稳定可靠和处于有效期内 6 1. .3 试验室的环境条件(以下称为正常条件)若无特殊规定,应在下列测试用标准大气条件下进行: 温度:l5C30C; a b)相对湿度;25%一75%; c 气压:86kPa106kPa -般要求的试验 6.2.1外观与结构检查 检查逻辑分析仪的外观与结构时,采用观察法及手动操作法进行 6.2.2外形尺寸检查 检查逻辑分析仪的外形尺寸时,用量器测量尺寸并与图纸核对的方法进行,并应符合 1
GB/T15471一2013 GB/T3047.6 6.2.3 重量检查 检查逻辑分析仪的重量时,用磅秤称其重量 供电电源电压、频率和功率试验 6.2.4.1供电电源电压和频率试验 按GB/T65872012中5.12的规定进行 6.2.4.2电源消耗功率试验 在逻辑分析仪的额定电源电压下测量其电流,求得消耗功率 测试方法由产品标准具体规定 6.2.5预热时间 应满足产品标准要求 6.3性能特性测试 6.3.1 6.3.1.1输入通道及通道数 6.3.1.1.1测试方框图 测试方框图见图7 被测逻辑分析仪 数据发生器 数据输出 时钟输出 信号输入通道 探头 时钟输入通道 图7 6.3.1.1.2测试步骤 a 连接数据发生器和逻辑分析仪; b)设置数据发生器输出信号幅度,使其满足逻辑分析仪输人电压范围的要求,在测试前可用示波 器验证信号幅度是否满足要求; 逻辑分析仪设置适当的门限和取样速率; d)同时或逐步测试逻辑分析仪的所有通道,观察其显示波形,相应通道应有正确的波形显示 用目测法观察逻辑分析仪所有能够工作的通道数量 e 12
GB/T15471?2013 6.3.1.2迹 6.3.1.2.1?? ???8. 迹? ?? ? ?8 6.3.1.2.2? 迹??; a b)?????,迹??; ?????,迹??(??????) c 6.3.1.3?Χ 6.3.1.3.1?? ???9. ?? ? ?? ?g 6.3.1.3.2? ???; a b)???????Χ??,??? ?????; ????; c d)??,?????? 6.3.1.4? 6.3.1.4.1?? ???10 13
GB/T15471一2013 可调直流电压源 被剥逻辑分析仪 探头 输出滑 图10 6.3.1.4.2测试步骤 连接可调直流电压源和逻辑分析仪 a b设置直流电压源输出电压与逻辑分析仪最大输人电压一致,在测试前可用万用表验证电压是 否满足要求; 使S闭合并持续1min,然后断开s; c d)按6.3.1.1测试方法测试,输人通道仍能正常工作 6.3.1.5门限 6.3.1.5.1门限种类、范围、灵敏度 6.3.1.5.1.1测试方框图 渊试方框图同图9. 6.3.1.5.1.2测试步骤 a)连接信号发生器和逻辑分析仪 b)设置信号发生器输出信号为与相应数字电平标准(如TTL.CMOSECL等)一致的方波或脉 冲信号,同时逻辑分析仪门限选择相应的电平标准类型,应能采集并显示正确的波形 逻辑分析仪门限采用自定义门限设置方式,并将门限设置到最大值,调节信号发生器的输出 当其输出信号高电平小于该最大门限值时,采集显示的波形为低电平,当信号发生器输出信号 高电平大于该最大门限值时,应能采集并显示正确的波形 逻辑分析仪门限采用自定义门限设置方式,并将门限设置到最小值,调节信号发生器的输出 当其输出信号低电平大于该最小门限值时,采集显示的波形为高电平,当信号发生器输出信号 低电平小于该最小门限值时,应能采集并显示正确的波形 逻辑分析仪门限采用自定义门限设置方式,门限设置为一定值 信号发生器输出方波或脉冲 信号,信号的中心电平为门限设置电平 改变信号发生器输出信号的峰蜂峰值,当峰蜂值大于或 等于灵敏度时,应能采集并显示正确的波形 6.3.1.5.2最小步进、误差 6.3.1.5.2.1测试方框图 测试方框图见图11 14
GB/T15471一2013 直流数字电压表 被渊逻辑分析仪 至被测仪器 探头 测量版 门限测试器 图1m 6.3.1.5.2.2测试步骤 连接直流数字电压表和逻辑分析仪 a b逻辑分析仪采用自定义门限设置方式,门限设置为一定值,用直流数字电压表测量门限电压 值,当门限设置作最小改变时,电压表测得的值改变量应小于或等于最小步进值 逻辑分析仪门限设置为一定值,用直流数字电压表测量门限电压值,则门限误差见式(2): U一U -×100% (2 式中: 门限的额定值,单位为伏(V); U U 直流数字电压表指示的电压值,单位为伏(V 6.3.1.6通道时滞 6.3.1.6. 测试方框图 1 测试方框图见图12 被测逻辑分析仪 驮冲信号发生器 示波器 CH1 CH2 cH11 cH2 信号输入通道 探头 时钟输入通道 图12 6.3.1.6.2测试步骤 连接脉冲信号发生器、,示波器和逻辑分析仪; a b逻辑分析仪设置为状态分析模式,触发字中对应输人通道的位设置为“1”,其余位设置为任意 态“x”; 15
GB/T15471一2013 用示波器观测脉冲信号发生器输出,调节脉冲信号发生器输出如图13波形 逐步减小输人数 据信号前沿超前时钟前沿的值,使逻辑分析仪仪器处于完成触发识别和不完成触发的临界点, 记录数据信号超前时钟的值(如数据前沿滞后时钟前沿时,则此值记为负值); 按上述方法逐个测试所有输人通道,上述记录的最大'值减去最小值的差,即为输人通道间 的时滞 数据信号+1.4V 时钟+1.4V 图13 6.3.2 采集 6.3.2. 最大定时取样速率、取样速率范围与档位 1 6.3.2.1.1测试方框图 测试方框图同图9 6.3.2.1.2测试步骤 连接信号发生器和逻辑分析仪; a b)逻辑分析仪设置为定时分析方式,取样速率设置为最大; 设置信号发生器输出为一定频率的脉冲波形,并设置脉宽大于该最大取样速率的一个周期并 小于该取样速率的两个周期 D 观察逻辑分析仪能否稳定捕捉并显示该脉冲波形,且该波形宽度为一个取样周期 逻辑分析仪设置为定时分析方式,取样速率按照产品标准规定的档位逐级设置直到最小定时 e) 取样速率,并分别按照步骤c)d)测试,检查取样速率范围及档位 6.3.2.2最大状态时钟速率 6.3.2.2.1 测试方框图 测试方框图同图7 6.3.2.2.2测试步骤 a)连接数据发生器和逻辑分析仪 b)逻辑分析仪设置为状态分析方式,并选用相应时钟通道输人的外时钟作为采集时钟; 16
GB/T15471一2013 数据发生器产生一定频率方波,逐步增加外时钟频率,观察逻辑分析仪是否触发,显示波形是 否正确 6.3.2.3建立时间和保持时间 6.3.2.3.1测试方框图 测试方框图见图14 被测逻辑分析仪 脉冲信号发生器 频率计 CH1 CH2 信号输入通道 探头 示波器 时钟输入通道 CH1 CH2 图14 6.3.2.3.2测试步骤 a)连接脉冲信号发生器、懒率计,示波器和逻辑分析仪 b逻辑分析仪设置为状态分析方式,时钟置“_厂”,触发字置全“1”; 用示波器观测脉冲信号发生器输出,调节脉冲信号发生器输出如图15(A)波形,l.建立时间 应符合产品标准的规定值,保持时间)应能满足产品标准的规定值;使仪器获取数据,应能 可靠地完成触发识别.检查显示应为全“1”; 逻辑分析仪时钟改置“”,调节脉冲信号发生器输出如图15(B)波形,使仪器获取数据,应 能可靠地完成触发识别,检查显示应为全“1” 逻辑分析仪时钟置为“”,触发字改置全"0",调节脉冲信号发生器输出如图15(C)波形,使 仪器获取数据,应能可靠地完成触发识别,检查显示应为全“0”; 逻辑分析仪时钟改置“厂”,调节脉冲信号发生器输出如图15(D)波形,使仪器获取数据,应 能可靠地完成触发识别,检查显示应为全“0” 17
GB/T15471一2013 数新 (A 时钟 数据 B 时钟 数据 时钟 数据 D 时钟 图15 6.3.2.4最小时钟脉冲宽度 6.3.2.4.1测试方框图 测试方框图同图14 6.3.2.4.2测试步骤 a)连接脉冲信号发生器、频率计,示波器和逻辑分析仪; 逻辑分析仪置为状态分析方式,触发字置全“1”,设置适当门限" b 调节脉冲信号发生器使数据,时钟输出幅度符合要求,调节时钟信号的脉宽为产品标准规定的 c 时钟最小脉宽,并保证产品标准规定的建立时间和保持时间 使逻辑分析仪获取数据,应稳定,可靠地完成触发识别,检查仪器显示应为全“1”,时钟的正脉 d 冲负脉冲应分别进行测试 6.3.2.5最小可检测毛刺脉冲宽度 6.3.2.5.1 测试方框图 测试方框图见图16 18
GB/T15471一2013 6.3.2.5.2测试步骤 a 连接脉冲信号发生器和逻辑分析仪 b)设置脉冲信号发生器输出与逻辑分析仪产品标准中给出的最小可检测毛刺脉冲宽度相同的脉 冲信号,频率为1kHz; 开启逻辑分析仪的毛刺识别与显示,观察能否正确捕捉并显示1kHz的毛刺信号 脉冲信号发生器 被测逻辑分析仪 信号输出 探头 图16 6.3.3存储 6.3.3.1最大存储深度 6.3.3.1.1测试方框图 测试方框图同图7 6.3.3.1.2测试步骤 a)连接数据发生器和逻辑分析仪; b)逻辑分析仪设置为定时分析方式,设置适当的触发方式,存储深度设置为最大; o数据发生器产生包含满足触发条件数据字的数据流; d》逻辑分析仪采集并列表显示结果,显示数据应与数据发生器输出数据流特征一致,存储的数据 量个数与设置的存储深度一致 6.3.3.2限定存储 6.3.3.2.1测试方框图 测试方框图同图7 6.3.3.2.2测试步骤 a)连接数据发生器和逻辑分析仪 逻辑分析仪设置为定时分析方式,设置适当的触发方式与限定条件; b e数据发生器产生包含满足触发和限定条件的数据流; d逻辑分析仪采集并列表显示结果,采集到的数据应为满足限定条件的数据,存储的数据量个数 应与设置的存储深度一致 6.3.4控制 6.3.4.1触发方式 根据产品标准对相应的触发方式进行测试 19
GB/T15471一2013 6.3.4.2延迟触发 6.3.4.2.1数据延迟触发 6.3.4.2.1.1测试方框图 测试方框图同图7 6.3.4.2.1.2测试步骤 连接数据发生器和逻辑分析仪 a b)使数据发生器输出数据流,数据流中有若干相同的特征字,为识别相同特征字在数据流中的位 置,每个特征字后面设置相互不同的数据 逻辑分析仪置为状态分析方式,延迟数置“0” c d逻辑分析仪启动采集,数据发生器的数据流输出一次,仪器应完成触发识别 数据列表显示 中,在触发字位置的数据应为设置的触发特征字,触发字后面的数据量为M个(M与预触发设 定相关) 逻辑分析仪延迟数改置为N,启动采集,数据发生器重新输出一次,逻辑分析仪应完成触发识 别 数据列表显示中,在触发字位置前第N个数据应为设置的触发特征字,即触发特征字后 面的数据数量增加了N,为M+N个 6.3.4.2.2时间延迟触发 6.3.4.2.2.1测试方框图 测试方框图同图7 6.3.4.2.2.2测试步骤 a)连接数据发生器和逻辑分析仪; b数据发生器输出数据流; 逻辑分析仪置为定时分析方式,时间延迟置“0”,触发字置为数据流中的某一特征字; 逻辑分析仪启动采集,数据发生器的数据流输出一次,仪器应完成触发识别 数据列表显示 中,在触发字位置的数据应为设置的触发特征字,触发字后面的数据量为NM个(M与预触发设 定相关); 将时间延迟改置为T,逻辑分析仪启动采集,数据发生器将数据重新输出一次,仪器应完成触 发识别 数据列表显示中,在触发字位置前第N(N=T/取样周期)个数据应为设置的触发特 征字,即触发字后面的数据数量为M十(T/取样周期)个 6.3.4.3序列触发 6.3.4.3.1测试方框图 测试方框图同图7 6.3.4.3.2测试步骤 连接数据发生器和逻辑分析仪; a 20
GB/T15471一2013 b逻辑分析仪置为状态分析方式,依次设置多级触发条件; c)设置数据发生器输出数据流中包含有逻辑分析仪设置的序列触发条件对应的特征数据, d逻辑分析仪启动数据采集,应能完成触发识别 数据列表显示中,应依次显示与设置序列特征 字一致的数据流 6.3.4.4触发序列速度 6.3.4.4.1测试方框图 测试方框图同图7 6.3.4.4.2测试步骤 连接数据发生器和逻辑分析仪 b逻辑分析仪置为状态分析方式,依次设置多级触发条件; 设置数据发生器输出数据流中包含有逻辑分析仪设置的序列触发条件对应的特征数据,同时 c) 调节相邻级触发字出现的时间间隔小于或等于最大触发序列速度的要求 d)逻辑分析仪启动数据采集,应能完成触发识别,并显示正确的数据流 6.3.4.5毛刺触发 6.3.4.5.1测试方框图 测试方框图同图16 6.3.4.5.2测试步骤 连接脉冲信号发生器和逻辑分析仪 b逻辑分析仪置为定时分析方式,触发方式置毛刺触发,选择毛刺触发通道; 脉冲信号发生器输出一定脉宽(小于取样时间间隔)及一定频率的脉冲 逻辑分析仪启动数据采集,当脉冲信号发生器无信号输出时,仪器处于等待状态;当脉冲信号 d 发生器输出毛刺脉冲时,仪器触发 如果开启毛刺显示,可以在该通道上观察到与脉冲信号相 同频率的毛刺 6.3.4.6限定触发 6.3.4.6.1测试方框图 测试方框图同图7 6.3.4.6.2测试步骤 连接数据发生器和逻辑分析仪,将被测触发限定通道输人端逐一与数据输人端连接; a b逻辑分析仪置为定时分析方式,触发限定通道的限定条件设置为数据发生器输出数据中的 个字,数据通道触发字置任意态(“x”). 逻辑分析仪启动数据采集,应完成触发识别,显示的数据列表应与数据发生器输出的数据流 -致 21
GB/T15471一2013 6.3.4.7超时强制触发 6.3.4.7.1 测试方框图 测试方框图同图7 6.3.4.7.2测试步骤 a 连接数据发生器和逻辑分析仪; b 逻辑分析仪置为定时分析方式,设置触发条件并设置超时强制触发的时间; 逻辑分析仪启动数据采集,在超时时间要求内,数据发生器输出含触发字的数据流,应完成触 e) 发识别,显示的数据列表应与数据发生器输出的数据流一致,且触发位置数据满足触发条件; 逻辑分析仪启动数据采集,数据发生器输出不含触发字的数据流,逻辑分析仪不能触发,在超 D 时时间到后,逻辑分析仪强制触发,显示的数据列表应与数据发生器输出的数据流一致,触发 位置数据与触发条件无关 6.3.4.8定时禁止触发 6.3.4.8.1测试方框图 测试方框图同图7 6.3.4.8.2测试步骤 a)连接数据发生器和逻辑分析仪; b) 逻辑分析仪置为定时分析方式,设置触发条件并设置定时禁止触发的要求时间 e)逻辑分析仪启动数据采集,在定时时间要求内,数据发生器输出含触发字的数据流,逻辑分析 仪不会触发 d)定时时间到后,数据发生器输出含触发字的数据流,逻辑分析仪应完成触发识别,显示的数据 列表应与数据发生器输出的数据流一致,且触发位置数据满足触发条件 6.3.4.9外触发输入、触发输出 6.3.4.9.1测试方框图 测试方框图见图17 6.3.4.9.2测试步骤 连接脉冲信号发生器、示波器和逻辑分析仪 a b 仪器置为定时分析方式,触发方式置为外触发; 设置脉冲信号发生器通道1(CH1)输出一定频率的脉冲信号,通道2(CH2)输出脉冲电平为 TTL电平; 逻辑分析仪启动数据采集,当脉冲信号发生器通道2无信号输出时,仪器处于等待状态;当脉 冲信号发生器通道2输出脉冲时,逻辑分析仪触发,定时图中在相应的输人通道上显示与脉冲 信号发生器通道1输出频率一致的波形; 当逻辑分析仪启动数据采集后,可在示波器上观测到触发输出波形与脉冲信号发生器通道2 输出信号波形一致 心
GB/T15471一2013 被测逻辑分析仪 脉冲信号发生器 示波器 CHl CH2 CH1 CH2 触发输出 外触发输入 信号输入 探头 图17 6.3.4.10触发操作 根据产品标准对相应的触发操作功能进行检验 6.3.5接口功能检测 根据产品标准对接口功能进行检验 6.3.6反汇编分析 6.3.6.1测试方框图 测试方框图见图18 被渊微处理器系统 被测逻辑分析仪 输出 探头 图 18 6.3.6.2测试步骤 连接被测微处理器系统和逻辑分析仪 a) b) 逻辑分析仪置为状态分析方式,取样时钟为被测系统的总线时钟,触发字设置为某程序的人口 特征数据,相应的微处理器反汇编状态功能开启,启动数据采集; c)被测微处理器系统运行该程序; d逻辑分析仪应能完成触发识别,检查反汇编程序显示窗口中显示的汇编程序应与微处理器运 行的程序一致 6.3.7显示 采用直接观察方法进行 23
GB/T15471一2013 4 6. 安全试验 按GB/T6587一2012中5.8的试验方法进行 6.5环境适应性试验 按产品标准规定的环境级别和运输流通级别及GB/T6587一2012的试验方法进行 6.6 电磁兼容性试验 按GB/T18268的试验方法进行 可靠性试验 按GB/T11463一1989的试验方法进行 检验规则 检验分类 本标准规定的检验分为鉴定检验和质量一致性检验 7.2检验条件 应符合GB/T6587一2012中5.2的规定 7.3缺陷判定 应在产品标准中规定,并符合GB/T6587一2012中的规定 7.4鉴定检验 7.4.1鉴定检验项目 检验项目应符合表1规定 表1鉴定检验项目 鉴 定检验分组 试验 A组 B组 C组 D组E组F组 要求 序 方法 检验项目 章条 主要性非主要低温 可 号 章条 工作前 运输电磁 机械 号 靠 能特性性能特高温振动 电源 检验 冲击 包装兼容 性 测 试性测试|湿度 外观与结构 I6,2.l1 外形尺寸 l6.2.2 重量 2.3 供电电源电压、频率和功率 输人通道数 5.2. 6,3. 输人阻抗 6.3. 2.1. 输人电压范围 l6.3.1.3 2
GB/T15471一2013 表1(续) 定 检 验 分 组 试验 A组 C组 D组E组F组 B组 要求 序 方法 检验项目 章条 主要性非主要低温 可 号 章条 工作前 机械 运输电磁 号 幕 能特性性能特高温振动 电源 号 检验 冲击 包装兼容 试 性测试湿度 性 最大输人电压 5.2.1.46.3.l.4 5.2.1.5 门限 10 通道时滞 5.2. 1. 6 6.3.1.6 11 最大定时取样速率 2.2.16.3.2. 12 定时取样速率范围与档位 2.2.2 最大状态时钟速率 2. 建立时间 5.2. 2 6.3.2.3 15 保持时间 2.2.56.3.2.3 6最小时钟脉冲宽度 2.2 D 3 17 最小可检测毛刺脉冲宽度 18最大存储深度 2 .3." 6.3. 3 19 限定存储 6.3.3.2 触发方式 20 21 延迟触发 l6.3 22 序列触发 23 触发序列速度 .2.4.4 毛刺触发 24 25 限定触发 6.3.4 6 26 超时强制触发 27 定时禁止触发 2. 28 外触发输人 2. 29 3,4 触发输出 2.4.10o 30 触发操作 31 接口功能 2.5 66.3.5 32 反汇编分析 2.6 6.3.6 33 显示 6. 334 安全 35环境适应性 6.5 36 电磁兼容性 6.6 37 可靠性 注: 表示应做的项目 表示有要求时应做的项目 表示不做的项目 25
GB/T15471一2013 7.4.2鉴定检验抽样 7.4.2.1A组检验 随机抽取5台样品进行 7.4.2.2B组检验 在已通过A组检验的5台样品中进行 7.4.2.3C组检验 在已通过A组和B组检验的样品中抽取3台进行 7.4.2.4D组检验 在已通过A组和B组检验的样品中抽取1台进行 7.4.2.5E组检验 在已通过A组和B组检验的样品中抽取1台进行 7.4.2.6F组检验 在已通过A组和B组检验的样品上至少选取2台进行 7.4.3鉴定检验合格判据 应符合GB/T6587一2012中6.3.3的规定 7.5质量一致性检验 7.5.1检验项目 应按表2中规定项目进行 表2质量一致性检验项目 质量一致性检验分组 试验 A组 B组 C组 D组E组F组 要求 序 方法 检验项目 章条 主要性|非主要低温 号 章条 运输电磁 工作前 机械 号 靠 能特性性能特高温振动 电源 号 检验 冲击 包装兼容 测 试性测试湿度 性 外观与结构 I6,2.l1 外形尺寸 l6.2.2 重量 2.3 供电电源电压、频率和功率 输人通道数 5.2. 6,3. 输人阻抗 6.3.1." 2.1. 输人电压范围 l6.3.1.3 26
GB/T15471一2013 表2(续 质量一致性检验分组 试验 A 组 B组 C 组 D组E组F组 要求 序 方法 检验项目 章条 主要性非主要低温 可 号 章条 工作前 机械 运输电磁 号 能特性|性能特高温振动 电谢 靠 检验 冲击 包装兼容 性 测 试 性测试湿度 最大输人电压 5.2.1.46.3.1.4 门限 1c 通道时滞 5.2.1.6l6.3.1. 最大定时取样迷率 6.3.2. 12 定时取样速率范围与档位. 13 最大状态时钟速率 14 建立时间 2.2.4 15 保持时间 6.3.2. 16最小时钟脉冲宽度 最小可检测毛刺脉冲宽度 1 18最大存储深度 5.2.3.16.3.3. 19限定存储 2.3.2 6.3.3. 20 触发方式 l6.3.4 21 延迟触发 22 序列触发 5.2.4.36.3.4. 23 触发序列速度 2.4 l6.3.4. 24 毛刺触发 7 3,4 25 限定触发 6超时强制触发 6.3.4 2,4.7 27 定时禁止触发 5.2 28外触发输人 2 3.4 29 .2.4.1o 触发输出 触发操作 30 331 接口功能 5.2.5 6.3.5 反汇编分析 32 2.6 33 显示 2. 3.7 安全 35 环境适应性 电磁兼容性 36 37 可靠性 注: 表示应做的项目 表示有要求时应做的项目 表示不做的项目

逻辑分析仪通用规范GB/T15471-2013

逻辑分析仪(Logic Analyzer)是一种测试仪器,主要用于捕捉和分析数字电路的信号。逻辑分析仪通用规范GB/T15471-2013是我国制定的关于逻辑分析仪标准的规范文件。

定义

逻辑分析仪是一种测量、分析数字电路信号的设备,可以用来检测和分析从芯片到系统级别的各种数字电路的信号。它能够同时捕捉多个信号,显示在同一个时间轴上,用于验证或诊断复杂的系统设计。

分类

按照采样率分为低速逻辑分析仪和高速逻辑分析仪;按照信道数分为16、32、64、128等不同档次;按照采样深度分为256、512、1024等不同档次;按照应用领域分为通用逻辑分析仪和专用逻辑分析仪。

功能

逻辑分析仪可以捕获、存储和显示不同的数字信号,包括时钟、数据和控制信号等。它可以同时显示多个信号,以帮助用户分析信号间的关系。此外,逻辑分析仪还可以进行协议分析、触发分析等高级功能,对于复杂的数字系统验证和故障诊断非常有帮助。

特征

逻辑分析仪具有采样率高、存储容量大、支持多种信号标准、支持协议分析、触发分析等特点。

应用

逻辑分析仪广泛应用于数字电路测试、调试和故障诊断,在计算机、通信、汽车、航空等领域都有广泛的应用。在数字信号处理和数字系统设计方面,逻辑分析仪也是必不可少的测试工具之一。

逻辑分析仪通用规范的相关资料

和逻辑分析仪通用规范类似的标准

逻辑分析仪通用规范

学习机通用规范

异型接点带通用规范

逻辑分析仪通用规范

增强材料术语及定义

经济类型分类与代码

功能量规

残肢功能训练

实心聚乙烯绝缘柔软射频电缆
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半导体设备电源接口
本文分享国家标准半导体设备电源接口的全文阅读和高清PDF的下载,半导体设备电源接口的编号:GB/T15872-2013。半导体设备电源接口共有7页,发布于2014-05-152013年第25号公告 下一篇
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