国家标准 GB/T34081一2017 开关波 wavelengthseleetiveswiteh 2017-07-31发布 2017-11-01实施中华人民共利国国家质量监督检验检疙总局发布国家标准化管理委员会国家标准
GB/T34081一2017 19 可靠性试验 7.1可靠性试验环境要求 19 7.2可靠性试验要求 19 20 7.3失效判据 8 检验规则 21 8.1检验分类 8.2出厂检验 221 21 8.3型式检验 22 标志,包装、运输和贮存 22 9.1标志 22 9.2包装 9.3运输 23 23 9.4贮存附录A(资料性附录wss外形图和引出端排列 24
GB/34081一2017 前言本标准按照GB/T1.1一2009给出的规则起草请注意本文件的某些内容可能涉及专利本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任本标准由工业和信息化部提出本标准由工业和信息化部(通信)归口本标准主要起草单位;武汉烽火科技集团有限公司、中兴通讯股份有限公司,信息通信研究院、深圳新飞通光电子技术有限公司、深圳日海通讯技术股份有限公司、四川华明创新光电科技有限公司本标准主要起草人;胡强高、孙莉萍、袁志林、杨柳、杨睿、谢德权、郑彦升、武成宾、赵文玉、陈悦、王冰、徐秋霜
GB/34081一2017 波长选择开关范围本标准规定了波长选择开关(以下简称wSS)的术语和定义、缩略语,分类、技术要求,测试方法,可靠性试验、检验规则及标志、包装、运输和贮存本标准适用于光通信系统中的wSS器件,其他应用环境下的wSS器件也可参照使用规范性引用文件下列文件对于本文件的应用是必不可少的凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文件凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件 GB/T2421.1一2008电工电子产品环境试验概述和指南 GB/T3828.1一2012计数抽样检验程序第1部分;按接收质量限(AQL)检索的逐批检验抽样计划 GB/T204402006密集波分复用器/解复用器技术条件 GB/T26125一2011电子电气产品六种限用物质(铅,汞,觞、六价铬、多澳联辈和多澳二苯醒) 的测定 GB/T26572一2011电子电气产品中限用物质的限量要求可重构的光分插复用(RoADMD)设备技术要求 YD/T20032009 s/T11364-2014电子电气产品有害物质限制使用标识要求 IrU-TG.894.1-2012wDMI应用的光谱栅格,DwDM频率栅格(SspectralgridsorwDMappli eations;DwDMfrequencygrid) TelcordiaGR-1209-cORE:2010无源光器件总规范(Genericrequirementsforpassirveoptical components) TelcordiaGR-1221-coRE;1999无源光器件可靠性保证总规范(Genericreliabilityassurancere quirementsforpassiveopticalcomponents) 术语和定义、缩略语 3.1术语和定义 YD/T2003一2009界定的以及下列术语和定义适用于本文件 3.1.1 波长选择开关wavelengthseleetiveswiteh 用以实现任意波长或波长组合在任意输出端口衰减、切换或阻塞的光器件,如图1和图2所示 3.1.2 端口数目numberofports wSS所有输人和输出端口数目之和
GB/T34081一2017 入e入 WSs 控制单元注A.,AwA代表(aAA,)的任意组合,且A..AA之间无交集图11×NwSs功能原理框图 A a A wSs 控制单元注:A.、AA，代表(a、入g入.)的任意组合,且A.、AA，之间无交集图2 x1wsS功能原理框图 N 3.1.3 最小设置带宽 minimumsettingbandwidth 任意输出端口切换、衰减或阻塞的最小带宽 3.1.4 最大设置带宽nmaximumsetingbandwidth 任意输出端口切换、衰减或阻塞的最大带宽 3.1.5 带宽设置分辨率 bandwidthsettingresolution" 在带宽设置范围内,各端口所能设置的带宽最小变化量的最大值 3.1.6 带宽设置精度bandwidthsettingaccuracy 在带宽设置范围内,各端口带宽设置值与实际值之差绝对值的最大值 3.1.7 insertionlossunifo tthesameport 同一端口的插入损耗一致性 ormiltyat 同一端口内,所有通道固有插人损耗的最大值和最小值之差的绝对值,单位为分贝dB),如图3所示,定义见式(1): ILU=ILmn一ILmn 式中 ILU -同一端口的插人损耗一致性,单位为分贝dB); -同一端口内,所有通道固有插人损耗的最小值,单位为分贝(dB); ILmn 一端口内,所有通道固有插人损耗的最大值,单位为分贝(dlB). IL -同一 mw%
GB/34081一2017 B GHz 频率/波长 U-T中心 U-T中心 TU-T中心 U-T中心波长1 波长2 波长3 波长n 插损一致性 Lm 插逃带觉度通带宽皮通带宽度通带宽度图3同一端口的插入损耗一致性定义示意图 3.1.8 端口间的插入损耗一致性insertionlossuniformityamongdfferentports wSS器件所有端口内,所有通道固有插人损耗的最大值和最小值之差的绝对值,单位为分贝(dB) 定义见式(2): LU-P=|IL Ilma 式中 lU-P 端口间的插人损耗一致性,单位为分贝(dB); 所有端口内,所有通道固有插人损耗的最小值,单位为分贝(dB); mim7 所有端口内,所有通道固有插人损耗的最大值,单位为分贝(dB). lmxp 3.1.9 衰减范围attenuationrange 衰减值可设置的最大值和与最小值之间的差值,单位为分贝(dB). 3.1.10 衰减精度attewatioaceuraey 在衰减范围内,所有通道在各端口衰减的设置值与实际值之差绝对值的最大值,单位为分贝(dB) 3.1.11 衰减分辨率attewatioresolution" 在工作波长范围内,所有通道在各端口所能设置的最小衰减变化量的最大值,单位为分贝dB) 3.1.12 overtime 衰减量的时间稳定性attenuationstability 所有通道在任意端口衰减值设置固定时,在规定的时间范围内衰减变化量绝对值的最大值,单位为分贝(dB). 3.1.13 衰减响应时间 attenuationresponsetime 任意通道在任意端口从接收衰减指令到完成指定衰减量所需要的最大时间,单位为毫秒(m ms 3.1.14 etime 切换响应时间switch respose 任意通道在任意端口从接收切换指令到完成指定切换所需要的最大时间,单位为毫秒(m
GB/T34081一2017 3.1.15 astabitity 波长热稳定性 wavelengththermal wSS器件所有端口所有通道的中心波长,在规定的工作温度范围内和衰减范围内,随温度变化而产生的漂移量的最大值,通常表示为每单位温度(C)的波长漂移量,单位为纳米每摄氏度(nm/C) 3.1.16 insertionlossthermal 插入损耗热稳定性 lstability wSS器件所有端口所有通道的插人损耗,在规定的工作温度范围内和衰减范围内,随温度变化而产生的变化量的最大值,通常表示为每单位温度(C)的插人损耗变化量,单位为分贝每摄氏度 dB/"C 3.1.17 切换串扰switehingersstall wSS器件的所有通道在端口间进行切换操作时,对非目标端口产生的光功率干扰,单位为分贝 dB 3.1.18 purtisoation 端口间隔离度 wsS器件任意工作波长在任意工作端口和非工作端口之间的插人损耗差值的绝对值的最小值,单位为分贝(dB) 3.2缩略语下列缩略语适用于本文件 EsD;静电放电(lectrostaticDischarge) HBM:人体模型(HumanBodyMode ILU;同一端口的插损一致性(InsertionL.ossUniformityAtTheSamePort) LU-P;端口间的插损一致性(InsertionlossUniformityAmongDifferentPorts) ROADM可重构光分插复用器(ReconfigurableOptiealAdd-DropMultiplexer) RoHs:关于限制在电子电器设备中使用某些有害成分的指令(RestrietionofHazardousSub stances wSS:波长选择开关(wavelengthSelectiveSwitch) 分类 4.1工作通道最小频率间隔按工作通道最小频率间隔可分为 00GHz; a b) 50GHHz; n×12.5GHzn>1,且"取整数). c 4.2输入/输出端口数按输人/输出端口数可分为 a)1×N bN×1
GB/34081一2017 5.3外形尺寸和引出端排列 wSS外形尺寸和引出端排列参见附录A 5.4外观要求 wSS外观应平滑、无油溃,无伤痕、无裂纹,整个器件牢固,引线无松动或端口连接器的插拔应平顺 5.5环保符合性要求 wSsS的组成单元分类应符合GB/T26572一2011中表1的规定,有毒有害物质的限量要求按 GB/T26125一2011规定检测,应符合GB/T26572一2011中表2的规定测试方法 6.1测试环境要求测试环境应符合GB/T2421.1一2008中5.3.1规定的大气条件 6.2测试仪器要求(非通用仪器仪表测试所用的仪器仪表应在有效校准期内,其精度应高于所测参数精度的一个数量级 6.3外观检查进行光学性能测试前,对wss器件进行目测检查,外观应符合5.4的规定 6.4中心波长中心波长准确度,波长热稳定性、带宽的测试 6.4.1测试原理测试原理框图如图4所示参考光谱温度试验箱光谱分析仪宽谱光议 wSS 控制单元图4中心波长、中心波长准确度、波长热稳定性、带宽测试原理框图
GB/T34081一2017 6.4.2测试步骤测试步骤如下如图4所示,将宽谱光源的输出端接光谱分析仪的输人端,存储宽谱光源的光谱为参考光谱 a b)将待测wSS放人温度试验箱,连接宽谱光源和光谱分析仪,控制wSS正常工作;固定栅格 wSS的通道频率间隔取其固定栅格,灵活栅格wSS的通道频率间隔取最小频率间隔,并以 TU-TG.694.1一2012标称的中心频率为准;将温度试验箱的温度设置为常温(十25C),恒温30min后进行测试 A为中心波长,Bw.,为带宽值,中心波长准确度计算方法见式(3),波长热稳定性计算方法见式(4) A入.，=|入.中声一入IruT ，5-s=max|入c6一入e5/70 式中取值1一N,代表wSS所能控制的通道序号; 取值0,5、10,15,分别代表0dB衰减、5dlB衰减、10dB衰减、15dB衰减,单位为分贝(dB); 取值1一n,代表输出端口编号; -取值0.5、3.0,20,分别代表一0.5dB带宽、一3.0dlB带宽、一20dB带宽,单位为分贝(dB):; -取值5、25,65,分别代表一5C、+25C、十65,单位为摄氏度(); 和中心波长入.e,,对应的ITU-T标准波长,单位为纳米(n nm 入rTUT -wSS在+65时的中心波长指标,单位为纳米(n nm; 入-G -wsS在一5时的中心波长指标,单位为纳米(nr m d 分别设置wSS的奇数通道和偶数通道至输出端口P,所有通道衰减0dB,获取带宽组合矩阵， BW110.,5-2s BW2 BWN-10,5-23 2-1-0.5-23s BW BW， BwN130 113.0-235 2-1-3.0-25 取带宽组合矩阵第一行的最小值为-0.5dB带宽指标值,取第二行的最小值为一3.0dB带宽指标值;分别设置奇数通道和偶数通道至输出端口P1,获取一20dlB的带宽组合矩阵 BW BW3 BW、 N10s|,取最大值为-20dB带宽指标值 11202s 212025 分别设置奇数通道和偶数通道衰减0dlB.5dB、10dB和15dB;获取中心波长组合矩阵和中心波长准确度组合矩阵， A入1 入2. 入 Ag小1s 人10-1l-25 人N0-1-25 1-0-1-25 人2-0-1-25 N0-1-25 入入 AAN1 人N5-1-25 A1s13s入gs1 1-5-1-25 人2-5-1-235 y 入、 AA=如1 入2-1o-1-25 A2-10-1-25 1-10-l-25 人N-0-1-25 -1-25 入2-15-1-2s A入N15-1-25 取中心波长准确度组合矩阵中的最大值为中心波长准确度指标值,并取对应行的中心波长阵列为中心波长指标值分别设置wSs的奇数通道和偶数通道至输出端口P.(k=2,3,n),重复步骤d)步骤e). 完成测试;取所有端口一0.5dB带宽的最小值为常温时的一0.5dB带宽指标值,取所有端口 -3.0dB带宽的最小值为常温时的-3.0dB带宽指标值,取所有端口一20dB带宽的最大值为常温时的-20dB带宽指标值;取所有端口的中心波长准确度最大值为常温时的中心波长准确度指标,取对应端口的中心波长指标为常温时的中心波长指标
GB/34081一2017 分别设置温度试验箱为低温(一5C)和高温(十65C),恒温30min,重复步骤d)步骤),完 g 成测试,获取低温和高温时的一0.5dlB带宽指标、一3.0dB带宽指标和一20dB带宽指标,同时获取低温和高温时的中心波长准确度指标和对应的中心波长指标 h 取三个温度下的-0.5dB带宽和-3.0dB带宽的最小值为wSS的一0.5dB带宽和一3.0带宽指标值,取三个温度下的一20dB带宽的最大值为wSS的一20带宽指标值;取三个温度下的中心波长准确度最大值为wSs的中心波长准确度指标,取对应温度的中心波长为wss的中心波长指标根据式(4)计算出波长热稳定性组合矩阵l12 欲N,取矩阵中的最大值为wSS的波长热稳定性指标 6.5固有插入损耗、插入损耗热稳定性、通带内损耗不平坦度的测试 6.5.1测试原理测试原理框图如图5所示参考功率温度试验箱光功率计可调谐激光器 Wss 控制单元图5固有插入损耗、插入损耗热稳定性,通道内损耗不平坦度测试原理框图 6.5.2测试步骤测试步骤如下: 如图5所示,将可调谐激光器输出端接光功率计的输人端,存储可调谐激光器的功率为参考 a 功率将待测wSS放人温度试验箱,连接可调谐激光器和光功率计,控制wSS正常工作;固定栅格 b wss的通道频率间隔取其固定栅格,灵活栅格wss的通道频率间隔取最小频率间隔,并以 TU-TG.694.1一2012标称的中心频率为准;将温度试验箱的温度设置为常温(十25C),恒温30min后进行测试 L为各通道的固有插人损耗,插人损耗热稳定性计算方法见式(5),式(5)中的70代表 C65C工作温度的变化区间值;通道内损耗不平坦度计算方法见式(6),式中c,a、力、t 的定义同6.4.2 I =IL IL|/70 65-5 65
GB/T34081一2017 IL Ripp l LMw声什-0 式中: IL -wSS在+65时的固有插人损耗指标,单位为分贝(dB); 65 L wSs在一5C时的固有插人损耗指标,单位为分贝(dB); L -通道有效带宽范围内的插人损耗最大值,单位为分贝(dB); Mc什声" 通道有效带宽范围内的插人损耗最小值,单位为分贝(dB) 分别设置wSS的奇数通道和偶数通道至输出端口P,所有通道衰减0dB,取通道有效带宽内的损耗最差值为固定插人损耗,获取组合矩阵、 IL-1-2 IL2-12 ILN1-2s 取组合矩阵中最大值为固有插人损耗指标值获取dB衰减时的通道内损耗不平坦度组合矩阵， |Rippo1Ripp:01 RippNw1al fD 依次分别设置奇数通道和偶数通道衰减5dB,10dB和15dB,重复步骤e),形成组合矩阵 Ripp2.0-1-5 RippN0-1-2s Ripp@1 Ripp1Ripp子1 RippN于1说 I-25 Ripp Ripp-o1 RippN 1o-1-25 0-1-25 Rip Ripp2151-3 Rippxs1动 Pp-15-1-25 取组合矩阵中的最大值为通道内损耗不平坦度指标值分别设置wsS的奇数通道和偶数通道至输出端口P(k=2,3,n),重复步骤d)步骤f), g 完成测试;取所有端口固有插人损耗的最大值为常温时的固有插人损耗指标值,取所有端口通道内损耗不平坦度的最大值为常温时的通道内损耗不平坦度的指标值 h)分别设置温度试验箱为低温(一5C)和高温(十65C),恒温30min,重复步骤d)步骤g) 完成测试,获取低温和高温时的固有插人损耗指标值、通道内损耗不平坦度的指标值 D 取三个温度下的固有插人损耗和通道内损耗不平坦度的最大值为wSs的固有插人损耗和通道内损耗不平坦度的指标值;根据式(5)计算得出wSs的插人损耗热稳定性指标值 6.6相邻通道隔离度和非相邻通道隔离度的测试 6.6.1测试原理测试原理框图如图4所示 6.6.2测试步骤测试步骤如下按照6.4.2中的测试步骤a)和b)放置并连接wSS,设定常温(十25C),恒温30min后进行 a 测试 b)ACI为各通道的相邻通道隔离度,NCI为非相邻通道隔离度,其中,c、/、的定义同6.4.2 将wSS的第1通道设置成直通输出端口1,其余通道全部关断,如图6所示计算得到第1通道 c 在端口！的相邻通道隔离度ACI1值和非相邻通道隔离度NCI,值 d 依次设置第2,3、,N通道直通输出端口1,重复步骤c),得到相邻通道隔离度组合矩阵 lACI5ACI,1衣 ACI1l和非相邻通道隔离度组合矩阵|NCI下菇NCI1 NCI1站; 10
GB/34081一2017 dB 频率/波长 GHz 相邻通道隔离度非相邻通道隔离度插入 A和B为相邻通道入-TA -- 入-T心 A和C为非相邻通道通道A 通道B 通道C 有效带宽有效带宽有效带宽图6相邻通道隔离度、非相邻通道隔离度定义示意图依次改变直通端口到2,3,,n端口,重复步骤c)d),得到相邻通道隔离度组合矩阵 ACI1好ACI1 ACI1劲 ACI223s ACI23 ACI228 ACI你2公ACI2 ACI萄和非相邻通道隔离度组合矩阵 NCI1NCI1s NCI1 NCI228 NCI2g22s NCIN22s * * NCI开NCI NCI你游 25 各取两个矩阵中的最大值为wS在常温十25C的相邻通道隔离度指标值和非相邻通道隔离度指标值分别设置温度试验箱为低温(一5C)和高温(十65C),恒温30min,重复步骤e)步骤e),完成测试,获取低温和高温时的相邻通道隔离度指标值、非相邻通道隔离度指标值取三个温度下的相邻通道隔离度和非相邻通道隔离度的最大值为wSs的相邻通道隔离度和 g 非相邻通道隔离度的指标值 6.7偏振相关损耗的测试 6.7.1测试原理测试原理框图如图7所示 11
GB/T34081一2017 参考功率温度试验箱光功率计可调谐激光器偏报控制器 wSss 控制单元图7偏振相关损耗测试原理框图 6.7.2测试步骤测试步骤如下如图7所示,将偏振控制器输出端接光功率计的输人端,存储可调谐激光器和偏振控制器的功 a 率为参考功率将待测wSS放人温度试验箱,连接偏振控制器和光功率计,控制wSS正常工作;固定栅格 b wSS的通道频率间隔取其固定栅格,灵活栅格wSs的通道频率间隔取最小频率间隔,并以 ITU-TG.694.1一2012标称的中心频率为准;将温度试验箱的温度设置为常温(+25),恒温30min后进行测试 DLe,为各通道的偏振相关损耗,其中:c.a、/、！的定义同6.4.2. c 设置wSs通道1直通输出端口1,衰减0dlB,其余通道全部关断,将激光器调谐至通道1对应 d 的ITU-T标准波长,控制偏振控制器随机改变激光的偏振态,取插人损耗的最大值和最小值的差值绝对值,作为偏振相关损耗D1 L1-0-1-25 依次设置通道1衰减5dlB,10dB,15dB记录偏振相关损耗值PDL PDL Ll515、 l-0-1-25、 PDL 和PDL 小10-125" 小15125 依次设置第2,3,,N通道直通输出端口1,重复步骤d)~e),得到偏振相关损耗组合矩阵， PD)L PDL PDL. l-0-1-25 2-0-1-25 N-0-1-25 PDL PDL PDLg512 1-5-1-25 N-5-125 PDL PDL PDL l1o15 g-10125 LN013s PDL PDL. PDL l-l5125 2-15125 N15125 取矩阵中的最大值为偏振相关损耗指标值分别设置通道1~N至输出端口P,(k=2,3,n),重复步骤d)~f,完成测试;取所有端口偏 g 振相关损耗最大值为常温时的偏振相关损耗指标值 h)分别设置温度试验箱为低温(一5C)和高温(十65C),恒温30nmin,重复步骤d)一步骤) 完成测试,获取低温和高温时的偏振相关损耗指标值取三个温度下偏振相关损耗的最大值为wSS的偏振相关损耗指标值 6.8偏振模色散的测试按GB/T204402006中5.4.5的要求和本标准6.4中的测试步骤进行,固定栅格wSS的通道频 12
GB/34081一2017 率间隔取其固定栅格,灵活栅格wSS的通道频率间隔取最小频率间隔,并以ITU-TG.694.1一2012标称的中心频率为准,需分别测试不同通道在不同端口,不同衰减(0dB5dB,10dB和15dB)及不同温度(一5C、十25C和+65)时的偏振模色散,取最大值为wSS的偏振模色散指标 6.9回波损耗的测试按GB/T20440一2006中5.4.6的要求和本标准6.4中的测试步骤进行,固定栅格wSS的通道频率间隔取其固定棚格,灵活栅格wSS的通道频率间隔取最小频率间隔,并以ITU-TG,694.1一2012标称的中心频率为准,需分别测试不同通道在不同端口及不同温度(一5C、十25C和十65C)时的回波损耗,取最小值为wSS的回波损耗指标 6.10方向性的测试按GB/T20440一2006中5.4.7的要求和本标准6.4中的测试步骤进行,固定栅格wsS的通道频率间隔取其固定栅格,灵活栅格wSss的通道频率间隔取最小频率间隔,并以ITU-TG.694.1一2012标称的中心频率为准,需分别测试不同通道在不同端口、不同衰减(0dB5dB,10dB和15dB)及不同温度(一5C、十25C和十65C)时的方向性,取最小值为wSs的方向性指标 6.11色散的测试按GB/T20440-2006中5.4.8的要求和本标准6.4的测试步骤进行,固定栅格wSS的通道频率间隔取其固定棚格,灵活栅格wSs的通道频率间隔取最小频率间隔,并以ITU-TG.694.1一2012标称的中心频率为准,需分别测试不同通道在不同端口,不同衰减(0dB,5dB、10dB和15dB)及不同温度 (一5C、十25C和十65C)时的色散值,取最大值为wSs的色散指标 6.12同一端口的插入损耗一致性、端口间的插入损耗一致性的测试 6.12.1测试原理测试原理框图如图5所示 6.12.2测试步骤测试步骤如下: 按照6.5.2中的测试步骤a)和b)放置并连接WSS,设定常温(+25C),恒温30min后进行测试 a b 按照6.5.2中c)定义IL为各通道的固有插人损耗 c 依次设置通道1N从端口1输出，记录各通道的固有插人损耗，得到组合矩阵 lIL1站II1为 LN1,取矩阵中最大值和最小值之差为端口1的同一端口的插人损耗一致性指标值依次设置通道1N从端口P.(k=2,3,n)输出,重复步骤c),得到组合矩阵 d 12 Il212 LN-12 IL122s L222 ILN L IL ILl那吧#25 lN片25 取矩阵中第k(k=1n)行的最大值和最小值之差为端口的同一端口的插人损耗一致性指标值,并取所有端口的最大值为常温时的同一端口的插人损耗一致性指标值;取矩阵中最大值和最小值之差为常温时的端口间的插人损耗一致性指标值分别设置温度试验箱为低温(一5C)和高温(十65C),恒温30min,重复步骤c)d),完成测试 13
GB/T34081一2017 获取低温和高温时的同一端口的插人损耗一致性指标值、端口间的插人损耗一致性指标值 f 取三个温度下的最大值为同一端口的插人损耗一致性指标值和端口间的插人损耗一致性指标值 6.13消光比的测试 6.13.1测试原理测试原理框图如图4所示 6.13.2测试步骤测试步骤如下按照6.4.2中的测试步骤a)和b)放置并连接wSS,设定常温(十25C),恒温30min后进行 a 测试 b ER.,为消光比,其中,.力的定义同6.4.2;ER.,的计算参见图8. dB 频半/被长 GHz 插 0dB衰减光谱消光比关断光谱通道有效带宽图8消光比定义示意图分别设置wsS的奇数通道和偶数通道至输出端口尸,衰减0dB,记录所有通道在有效带宽范围内的插人损耗最差值;设置所有通道关断记录在有效带宽范围内的插人损耗最佳值;根据图7定义,计算出所有通道的消光比值,得到组合矩阵|ER1ER;1劲 ERN1妈| d 分别设置wSS的所有通道至输出端口P(k=2,3,n),重复步骤c),完成测试,得到组合矩阵 ER1站ER;18 ER1 ER2ER2s ERv28 ER ER、 ERI开进 2"25 N 那-25 取矩阵中的最小值为常温时的消光比指标分别设置温度试验箱为低温(一5)和高温(十65),恒温30min,重复步骤e)d),完成测试,获取低温和高温时的消光比指标值 fD 取三个温度下消光比的最小值为wSs的消光比指标值 14
GB/34081一2017 6.14衰减范围,衰减精度和衰减分辨率的测试 6.14.1测试原理测试原理框图如图5所示 6.14.2测试步骤测试步骤如下: 按照6.5.2中的测试步骤a)和b)放置并连接wsS,设定常温+25C,恒温30min后进行 a 测试 b AR为衰减范围,AA.叶为衰减精度,ARR.为衰减分辨率,ARRL为衰减分辨率的标示值,其中,c,a、力、的定义同6.4.2. 将wSS的第1通道设置成直通输出端口1,其余通道全部关断,记录0dB衰减时的光功率 Pw,设置通道1的衰碱值为最大衰减值记录光功率Pw,衰减范围AR1s为|Pw一尸e|. 通道直通输出端口1，,重复步骤c)，得到衰减范围组合矩阵依次设置第2、3、 lAR1AR1 ARw1sl.取矩阵中的最小值为衰减范围指标设置通道1在输出端口1的衰减值为5dB,记录光功率值P，衰减精度AA18 为P一P一5 依次设置通道1的衰减值为10dB、15dB,记录光功率值P和Ps,衰减精度AA1站和 ;分别为P一P一10和P一P一15 AA11512s 依次设置第2、3,,N通道直通输出端口1,重复步骤e)~f),得到衰减精度组合矩阵， AA1o12 AA20126 AAN0125 AA1512 AA25126 AAN518 * AA1AA11 AAx1 AA AA . AA1 1-15125 N-15-125 取矩阵中的最大值为衰减精度指标分别设置wSS的第1通道衰减值为(0dB十ARRL、(5dB十ARRL)、(10dB十ARRL)和 h 15dB一ARRL),分别记录光功率Pow、Po,P和Pn,衰减分辨率ARRa1、ARR1、 ARRo1和ARR1s1分别为|P一P、|P一P一5、|Pm一Pw一1o 和 IP一P一15 依次设置第2,3,,N通道直通输出端口1,重复步骤h),得到衰减分辨率组合矩阵 ARR01ARRa1 ARR们18 ARRia ARRs -- ARRN5 5-1-25 -5-1-25 ARR1016 ARR ARR N-0-1-25 21015 ARR ARR + ARR、 115125 2-151-23 N-1s12s 取矩阵中的最大值为衰减分辨率指标分别设置wSS的所有通道至输出端口P(k=2,3,n),重复步骤c)步骤i),完成测试;取所有端口衰减范围的最小值为常温时的衰减范围指标值,取所有端口衰减精度、衰减分辨率的最大值为衰减精度、衰减分辨率的指标值 kk 分别设置温度试验箱为低温(一5C)和高温(十65C),恒温30min,重复步骤c)h),完成测试,获取低温和高温时的衰减范围指标值,衰减精度指标值、衰减分辨率指标值取三个温度下的衰减范围最小值为wSS的衰减范围指标值,衰减精度和衰减分辨率的最大值为wSS的衰减精度和衰减分辨率的指标值 15
GB/T34081一2017 6.15衰减量的时间稳定性的测试 6.15.1测试原理测试原理框图如图5所示 6.15.2测试步骤测试步骤如下按照6.5.2中的测试步骤a)和b)放置并连接wSS,设定常温十25C,恒温30nmin后进行测试 a LE为衰减15dB时的插人损耗.As为衰减量的时间稳定性,其中,c、力、的定义同6.4.2 b) c 将wSS的所有通道设置在端口1衰减15dB,调节可调谐激光器的输出波长,依次记录各通道在衰减15dB时的功率值IL1s1s(C=l d 保持所有通道在15dB衰减状态不变,24h后,再次调节可调谐激光器的输出波长,依次记录各通道在衰减15dB时的功率值IL'E(C=1一N) 根据公式AS.1= ,计算各通道的衰减量的时间漂移量,得到组合矩阵|As1As,1动 AsN -1-25 f 分别设置wSS的所有通道在端口P(k=2,3,n)衰减15dB,重复步骤c)e),得到组合矩阵， AS12s AS2125 ASN AS 22AS2s Asv各8 ASN， AS开AS 2-"-25 取矩阵中的最大值为常温时的衰减量的时间稳定性指标 min,重复步骤c)f),完成测分别设置温度试验箱为低温(-5C)和高温(十6c),恒温30 g 试,获取低温和高温时的衰减量的时间稳定性指标值 h)取三个温度下的衰减量的时间稳定性最大值为wSS的衰减量的时间稳定性指标值 6.16衰减响应时间、切换响应时间的测试 6.16.1测试原理测试原理框图如图9所示温度试验箱可调谐激光器 WSS 示波器祸合器控制单元图9衰减响应时间、切换响应时间测试原理框图 16
GB/34081一2017 6.16.2测试步骤测试步骤如下: 将待测wSs放人温度试验箱,控制wSS正常工作,将温度试验箱的温度设置为常温(十25C). aa 恒温30nmin后进行测试 b 将可调激光器的输出端口接wSS的输人端口,间隔最远的两个输出端口通过稠合器接人到示波器,示波器需带快速光电转换器探头 AT.为衰减咱应时间,ST.,为切换响应时间,其中,/ 的定义同6.42. c d)将wSs的第1通道设置成直通输出端口1、衰减0dB,设置在端口1衰减15dB,通过示波器捕捉并记录稳定的时间AT1站;哀减时间起点以初始功率的90%为准,时间终点以衰减后稳定功率的10%增加值为准 e 依次设置第2,3,N通道,重复步骤d),得到组合矩阵|AT1 NT1油 ATN1 fD 将端口1依次替换为端口P(k=2,3,n),重复步骤d)e),得到组合矩阵 AT13 AT213 AT N-1-25 AT1225 AT2g2 ATN22 AT 劲取矩阵中的最大值为常温时的衰减响应时间指标值将间隔最远的两个端口接在稠合器的两端,设置通道1在此两个端口之间切换,通过示波器捕捉并记录切换最后稳定的时间ST;切换时间起点以初始功率的90%为准,终点以切换稳定功率的90%为准 h 依次设置第2,3,N通道,重复步骤g),得到组合矩阵|sT1ST1s STN1sl,取组合中的最大值为常温时的切换响应时间指标值分别设置温度试验箱为低温(一5C)和高温(十65C),恒温30min,重复步骤d)h),完成测试,获取低温和高温时的衰减响应时间和切换响应时间指标值取三个温度下的最大值为wSS的衰减响应时间和切换响应时间指标值 6.17切换串扰的测试 6.17.1测试原理测试原理框图如图5所示 6.17.2测试步骤测试步骤如下按照6.5.2中的测试步骤a)和b)放置并连接wSS,设定常温(十25),恒温30min后进行测 a 试,此项指标测试中,功率计应为快速功率计,响应时间应小于1ms sI为切换串扰,其中,取值2~(n一1),代表切换过程中的非目标端口编号,其余参数同 b 6,4.2 控制wSS的通道1在间隔最远的两个端口之间切换,通过快速功率计,依次获取中间各个端口的串扰功率值依次设置2,3,,N通道在间隔最远的两个端口之间切换,重复步骤c),得到组合矩阵， SI SI2妇 SI2劲 l1-2-25 SI3劲 SI3热 SIv得 SIn12 Slg(n1)26 SIN):2 17
GB/T34081一2017 取矩阵中的最小值为常温时的切换串扰指标值分别设置温度试验箱为低温(一5C)和高温(十65),恒温30n min，重复步骤c)d),完成测试,获取低温和高温时的切换串扰指标值 fD 取三个温度下的切换串扰最小值为wSS的切换串扰指标值 6.18端口间隔离度的测试 6.18.1测试原理测试原理框图如图5所示 6.18.2测试步骤测试步骤如下按照6.5.2中的测试步骤a)和b)放置并连接wss,设定常温(十25C),恒温30min后进行 a) 测试 b PI声为端口间隔离度,其中e、力、的定义同6.4.2 将wSS的第1通道设置成直通输出端口1,衰减0dB,记录端口1此时的光功率值P,依次记录其余端口的光功率值,取最大值记为P.,端口间隔离度PI1为|P一P d PI 依次设置第2,3,,N通道,重复步骤c),得到组合矩阵|PI1Pl1公 IN-12s| 将端口1依次替换为端口P(k= =2.3,n),重复步骤c)d),得到组合矩阵 e PI12 PI212 PIN-123 PI2？ PI22 PI IN-225 + PI PI PI,公 I小5 l2"5 取矩阵中的最小值为常温时的端口间隔离度指标值分别设置温度试验箱为低温(一5C)和高温(十65C),恒温30min,重复步骤c)~e),完成测 fD 试,获取低温和高温时的端口间隔离度指标值取三个温度下端口间隔离度的最小值为wSS的端口间隔离度指标值日 6.19最小设置带宽、最大设置带宽、带宽设置分辨率的测试 6.19.1测试原理测试原理框图如图4所示 6.19.2测试步骤测试步骤如下 a 按照6,4.2中的测试步骤a)和b)放置并连接wSs,设定常温十25C,恒温30nmin后进行测试 D)mBww听为最小设置带宽,MBwe声为最大设置带宽,BwR为带宽设置分辨率,其中, ,a、 p、的定义同6.4.2,w代表波长区域,w=s代表工作波段的最短波长,w=m代表工作波段的中心波长,w=！代表工作波段的最长波长设置所有通道衰减0dB,输出至端口P,分别在最短波长、中心波长和最长波长最小设置带宽 mBW 进行测试,记录数据|mBw,a1 a15mBW1 d 分别设置所有通道衰减5dB,10dB和15dB,重复步骤c),得到组合矩阵 18
GB/34081一2017 mBw mBw mBw V'0125 0-1-25 V1 mBw.s1 mBw那1站mBwa -1-25 mBw mBw mBw V-10-1-25 m-1o-1-25 1-10-1-25 mBW mBW1616 mBW.15125 m-15-1-25 取矩阵中的最大值为最小设置带宽的指标值设置所有通道衰碱0dB,设置最大带宽输出至端口P,记录MEBw 0-1-2a 分别设置所有通道衰减5dB,10dB和15dB,重复步骤e),得到组合矩阵， IMBWo-1-25MBWs-1-3 MBW0-1-2 MBW5-12s 取矩阵中的最小值为最大设置带宽的指标值设置最大设置带宽的一半进行测试,得到带宽数值Bw,设置带宽Bw.(带宽Bw为Bw加一Bwl得到带宽设置分辨率BwR 上带宽设置分辨率)进行测试,通过计算BW o125 h 分别设置所有通道衰减5dB,10dB和15dB,重复步骤g),得到组合矩阵 BWRo1-25BWR-1 BWRo12s BWR5-125 取矩阵中的最大值为带宽设置分辨率的指标值设置WSS的所有通道至输出端口P,k=2,3,n),重复步骤c)步骤h),完成测试;取所有端口的最小设置带宽的最大值为最小设置带宽的指标值,取所有端口的最大设置带宽的最小值为最大设置带宽的指标值,取所有端口的带宽设置分辨率的最大值为带宽设置分辨率的指标值分别设置温度试验箱为低温(一5C)和高温(十65C),恒温30min,重复步骤)~步骤),完成测试;取所有温度的最小设置带宽的最大值为wss最小设置带宽的指标值,取所有温度的最大设置带宽的最小值为wsS最大设置带宽的指标值,取所有温度带宽设置分辨率的最大值为wsS带宽设置分辨率的指标值可靠性试验 7.1可靠性试验环境要求同6.1 7.2可靠性试验要求可靠性试验要求应符合表2的规定表2可靠性试验要求抽样要求试验试验项目引用标准试验条件类别 LTPD SS" aGR122-coRE:加速度500贾,脉冲持续时间m,5次每方 Telcordia 机械冲击 20 19996.2. 向,方向X1,X2、Y1、Y2、Z1、Z2 机械完整 g,4nmin/每 TdleordiaGR-1221coRE频率20Hz~2000H么,加速度20n 变频振动 20 性试循环,4循环/每轴向,方向x.Y、2 19996.2.2 验 TelcordiaGR-1209-CORE:负载4.41N,弯折180”,循环30次(2504m涂光纤弯折 20 11 20105.4.3.1 覆光纤和紧套光纤不要求 19
GB/T34081一2017 表2(续抽样要求试验试验项目引用标准试验条件类别 LTPD SS 负载4.41N,扭曲士180°,10个循环,距壳体 TelcordiaGR-1209-CORE: 光纤扭曲 22cm~28cm或光纤尾端起10cm处,取短者 20 1l 20105.4.3.2 2504m涂覆光纤和紧套光纤不要求) 机械松套光纤拉力负载4.41N除250Am涂覆光 GR-1209 coRE 完整 Telcordia 光纤侧拉 20 11 纤或紧套光纤的侧拉力负荷为2.25N外),侧性试 20105.4.3.3 拉90",时间5s,3次,距离壳体22cm一28cm 验负载;9.8N.(除250m涂覆光纤或紧套光纤 GR1209coRE 光纤光缆Telceordia 20 m 负载为4.4IN外)保持时间5s,3次,距离壳保持力 20105.4.3.4 体22cm一28cm TeleordiaGR-1221-CORE 高温贮存温度85C,相对湿度<40%,持续时间2000h 20 1l 19996,.2.4 温度75,相对湿度90%,温度85C,相对湿 TelcordiaGR-1221-coRE. 度 85%,气密性封装:co贮存时间 100h 恒定湿热 20 ll 19996.2.5 UNC贮存时间500h,非气密性封装:cO'贮环境存时间500h,UNC贮存时间20 000h 温度 TelcordiaGR-1221-coRE 耐久低温贮存" 温度一40C,贮存时间1000h 20 m 19996.2.6 性试验 CO',温度一40+70,极限温度下的维 TelordiaGR-1221coRE:持时间大于或等于15mim,100次循环; 温度循环 20 1m 19996.2.7 UNC,温度一40C十85,极限温度下的维持时间大于或等于15min,500次循环湿热循环TelcordiaGR-1221-cORE:温度65一25一10C，高温时湿度 20 906 ,低温湿度不控制,循环10次可选 19996.2.8 特殊 TelcordiaGR-1221-CORE: ESD HBM,至少500V 试验 19996.2.1o ”LTPD -批允许不合格品率,SS 最少样品数,C 允许失效数中心机房(室温)环境》CO UNC 非可控环境仅适用于UNC环境的产品 7.3失效判据各项试验完成后,出现下列故障中的任意一种情况即判定为不合格: 外壳破裂或有裂纹,wss内部元件发生脱落; a b) 在相同测试条件和测试方法下,试验前后,插人损耗变化量大于1.0dB c wSS的技术指标不满足表1的性能参数要求 20
GB/34081一2017 检验规则 8.1检验分类检验分为出厂检验和型式检验 8.2出厂检验 8.2.1常规检验常规检验应百分之百进行,检验项目如下性能检测按6.4规定的测试方法,对性能参数固有插人损耗、偏振相关损耗、衰碱精度、衰减 a 范围、-0.5dB通道带宽、一3.0dB通道带宽进行检测,检测结果符合表1的性能参数规定 b 高温电老化(适用时): 在最大工作温度下,wSs正常工作状态,老化时间至少24h -恢复;在正常大气条件下恢复1h后按6.4规定的测试方法进行测试 -失效判据:wSS的技术指标不满足表1的性能参数要求温度循环(适用时): -非工作状态,极限温度一40C、十85C,循环次数20次,高、低温维持时间30min,温度变化速率大于或等于10C/min; -恢复:在正常大气条件下恢复1h后按6.4规定的测试方法进行测试失效判据,wss的技术指标不满足表1的性能参数要求 8.2.2抽样检验从批量生产中生产的同批或若干批产品中,按GB/T2828.1一2012规定,取一般检查水平l,接收质量限(AQL)和检验项目如下外观 a -AQL取1.5; -检验方法;目测,表面无明显划痕,无各种污点,产品标识清晰牢固 b)外形尺寸 AQL取1.5; -检验方法:;用满足精度要求的量度工具测量,应符合产品技术条件规定性能检测 AQL取0.4; 检验方法;按6.4的规定进行测试,其结果符合表1规定 8.3型式检验 8.3.1检验条件 wss有下列情况之一时,应进行型式检验产品定型时或已转场; a 正式生产后,如结构、材料、工艺有较大改变,可能影响产品性能时 b 产品长期停产12个月后,恢复生产时 c d 出厂检验结果与鉴定时的型式检验有较大差别时; 正常生产24个月后; 21
GB/T34081一2017 国家质量监督机构提出进行型式检验要求时 8.3.2检验要求在进行型式检验前,按6.4~6.19的测试要求,对样品的性能参数进行测试,并记录测试结果 8.3.3检验项目及抽样方案型式检验的检验项目及抽样方案见表2 8.3.4样品的处理凡经受了型式检验的样品，一律不能作为合格品交付使用 8.3.5产品不合格的判定各项试验完成后,不合格的判定按7.3的规定执行,若其中任何一项试验不符合要求时,则判该批不合格 8.3.6不合格批的重新提交对不合格分组的产品,可进行返工,以纠正缺陷或筛除去失效产品,然后重新检验重新检验应采用加严抽样方案,如通过检验,判为合格但重新检验不得超过2次,并应清楚标明为重新检验批 8.3.7检验规则在不影响检验和试验结果的条件下,一组样品可用于其他分组的检验和试验 8.3.8检验批的构成提交检验的批,可由一个生产批构成,或由符合下述条件的几个生产批构成 -这些生产批是在相同材料、工艺、设备等条件下制造出来的若干个生产批构成一个检验批的时间不超过1个月标志、包装,运输和贮存 9.1标志 9.1.1标志内容每个产品应标明产品型号,规格、编号、批的识别代码及安全等标志 g.1.2标志要求进行全部试验后,标志应保持清晰标志损伤了的产品应重新打印标志,以保证发货之前标志的清晰 9.1.3污染控制标志产品的污染控制标志应按SJ/T11364一2014第5章规定,在包装盒或产品上打印上电子信息产品污染控制标志 9.2包装产品应有良好的包装及防静电措施,避免在运输过程中受到损坏包装盒上应标有产品名称、型号 22
GB/34081一2017 和规格、生产厂家、防静电标识等包装盒内应有产品说明书说明书内容包括wSs名称,型号,简要工作原理和主要技术指标,极限工作条件,安装尺寸和管脚排列,使用注意事项等 9.3运输包装好的产品使用常用的交通工具运输,运输中避免雨、雪的直接淋袭,烈日暴晒和猛烈撞击 9.4贮存产品应贮存在环境温度为-10C十45C,相对湿度不大于85%且无腐蚀性气体、液体的仓库里贮存期超过12个月的产品,出库前,应按6.4的规定进行指标测试,测试结果符合表1要求方可出库 23
GB/T34081一2017 附录 A 资料性附录) wSS外形图和引出端排列 1×2wSS外形图 A.1 1×2wSS外形图如图A.1所示单位为毫米 SAMTEC TMM-115-01.S-D-RA I30I PIN29 t 45 ToPVIEw BoTTOMVEw 4-M3亚7 20 110 100 图A.11×2wSs外形图 A.21×9wSs外形图 1×9WSS外形图如图A.2所示 24
GB/34081一2017 单位为毫米 SAMTEC PIN30PIN2 TMM-115-01-S-D-RA PIN1 PIN29 61.5士0.2 BOTTOMVIEW ToPVIEw 4M3 10士0.5 00士0.2 32土0.5 图A.21xgwSS外形图 A.3wSs引出端排列 WSS引出端排列及功能描述如表A.1所示表A.1wSS引出端排列引脚引脚引脚定义引脚定义编号编号 16 地(GND) 预留(Reserved 地(GND 17 软复位输人CSOFTRESETnputy RESETD 软复位输人[SOFT 5V供电C+5PowerS 18 19 V供电(十5VPowerSupply 告警输出[Alarm(Output I5V供电+5VowerSulC可选 20 告警输出[Alarm(Output) V供电(十15VPowerSupply)(可选硬复位输人/输出[HARDReset(Intput/Output) 预留(Reserved 22 硬复位输人/输出[HARDReset(Intput/Output 预留Reserved 23 预留(ReservedD RS232发送信号[TxofRS232(Output 24 预留(Reserved 10 RS232 发送信号[TxofRS232G 2 供电(十15VPowerSupply(可选) Output RS232接收信号[RxofRS232(Input). 26 +15V供电(+15VPowerSupply)(可选 12 RS232接收信号[RxofRS232(Input) 27 十5V供电(十5VPowerSupply 13预留Reserved 28 +5V供电(+5VPowerSupply 14 预留(Reserved 29 地(GND 15 预留Reserved 地(GND) 30
GB/T34081一2017 A.4wSSs外形图和引脚定义补充说明所有型号wSS的电接口均采用表A.1中的定义 1×N(2

了解波长选择开关GB/T34081-2017

随着光通信技术的发展，波长选择开关越来越受到人们的关注。波长选择开关是一种能够在多个通道中选择不同波长的设备，可广泛应用于光通信、光存储等领域。

1. 波长选择开关的定义

波长选择开关（Wavelength Selective Switch，WSS）是一种基于光学原理实现波长分路和波长转换的智能光学交换设备。它能够在输入端口和输出端口之间自由地调整光信号的波长。

2. 波长选择开关的分类

根据其结构和工作原理的不同，波长选择开关可分为静态波长选择开关和动态波长选择开关两大类。

静态波长选择开关：静态波长选择开关的波长通道数量固定，无法进行动态调整。它主要应用于光通信系统中的两路交叉互联、多路复用和解复用等领域。
动态波长选择开关：动态波长选择开关可根据需要在不同波长之间进行切换，具有高灵活性和可编程性。它主要应用于光网络中的波长路由、波长转换、光放大器等领域。

3. 波长选择开关的应用

波长选择开关可广泛应用于以下领域：

光通信：波长选择开关可用于实现波分复用（Wavelength Division Multiplexing，WDM）系统中的波长路由、波长转换、波长增益均衡等功能。
光存储：波长选择开关可用于光存储系统中的数据读取、写入和擦除等操作。
其他领域：波长选择开关还可应用于激光雷达、医学成像、光谱分析等领域。

以上就是对波长选择开关GB/T34081-2017相关知识的介绍。随着科技的不断进步，波长选择开关在各个领域的应用将会越来越广泛。