通信产品有害物质安全限值及测试方法第1部分：电信终端产品

通信产品有害物质安全限值及测试方法第1部分：电信终端产品

国家标准 GB/T22727.1一2008 通信产品有害物质安全限值及测试方法 第1部分电信终端产品 Limitsandmethodsofmeasurementofcertainhazardous substancesintelecommunicationproduct- Part1:Telecommunicationterminal 2008-12-30发布 2009-08-01实施 国家质量监督检验检疫总局 发布 国家标准化管蹬委员会国家标准
GB/T22727.1一2008 目 次 前言 引言 范围 规范性引用文件 术语和定义 通信产品有害物质安全限值技术要求 电信终端产品的组成单元分类 有害物质安全限值要求 合格判定 通信产品有害物质测试过程中的机械制样方法 测试方法 测试方法概述 用X射线荧光光谱仪对电信终端产品中有害物质进行筛选的测试方法 电信终端产品中多嗅联苯(PBB)和多嗅二苯哒(PBDE)的测试方法 电信终端产品中铅(Pb),铺(cd)以及乘(Hg)的测试方法 6 6.5电信终端产品中六价铬的测试方法 22 参考文献 29
GB/T22727.1一2008 前 言 GB/T22727《通信产品有害物质安全限值及测试方法》分为两个部分 -第1部分:电信终端产品; 第2部分;网络设备 本部分是GB/T22727的第1部分 本部分由工业和信息化部提出 本部分由通信标准化协会归口 本部分起草单位;信息产业部电信研究院,厦门科华恒盛股份有限公司、华为技术有限公司、中兴通 讯股份有限公司、,UT斯达康(重庆)通讯有限公司、联想移动通信科技有限公司,武汉邮电科学研究院、 上海贝尔阿尔卡特股份有限公司、深圳市华唯计量技术开发有限公司 本部分主要起草人;蒋京鑫、卢春阳、陈四雄朱永光、贾变芬、张毅、汪祖辉、孟溯、杨李锋、刘小东 业
GB/T22727.1一2008 引 言 目前,许多通信产品由于功能和生产技术的需要,仍含有大量如铅、永、锅六价铬、多澳联苯,多澳 二苯酰等有害物质 这些含有有害物质的电信终端产品在废弃之后,如处置不当,不仅会对环境造成污 染,也会造成资源的浪费 因此,以有害物质的减量化、替代为主要任务的通信产品有害物质限制使用 显得日益迫切 为了达到资源节约、环境保护的目的,从电信终端设备的研发、设计、生产,销售、进口等 环节限制或禁止使用上述6种有害物质,特制定本部分 本部分既考虑了电信终端产品的生产者从源头上控制有毒有害物质使用的需要,又考虑到监督检 查机构实施监管或测试的可行性,与国际相关要求相衔接，结合行业的现状、经济与技术上的可行性,特 制定针对通信产品中电信终端的有害物质安全限值及测试方法标准
GB/T22727.1一2008 通信产品有害物质安全限值及测试方法 第1部分:电信终端产品 范围 GB/T22727的本部分规定了电信终端产品中含有的铅(Pb)、汞(Hg)、锅(Cd)、六价铬[Cr(] 多澳联苯(PBB)和多次二苯腿(PEBDE)六种有害物质的安全限值及测试方法 本部分的安全限值要求适用于电子信息产品污染控制重点管理目录中列出的电信终端产品,本部 分的测试方法适用于电信终端产品 规范性引用文件 下列文件中的条款通过GB/T22727的本部分的引用而成为本部分的条款 凡是注日期的引用文 件,其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本部分,然而,鼓励根据本部分达成 协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本 凡是不注日期的引用文件,其最新版本适用于本 部分 GB18871电离辐射防护与辐射源安全基本标准 GB/Z20288电子电气产品中有害物质检测样品拆分通用要求 术语和定义 下列术语和定义适用于本部分 3.1 电信终端产品telecommunieationterminalprduets 连接在公共电信网未端,为用户提供发送和接收信息功能的电信设备,以及设计和预定直接连接到 通信网络的信息技术设备 2 33 筛选screening 初步量化被测物中待测元素浓度的一种方法 3.3 cialelectronicmaterials 专用电子材料spee 由金属材料、有机材料,无机非金属材料中两种或三种材料组成的混合物 注:如线路板集材、导电胶,半导体功能材料等 metallicmaterials 无机非金属材料 organie in0Ir n0nT 以某些元素的氧化物、碳化物、氮化物、棚化物以及硅酸盐、铝酸盐、磷酸盐等物质组成的材料 是 除有机高分子材料和金属材料以外的所有材料的统称 注，如玻璃、陶瓷等 3.5 基体matrix 含有或附有被分析物的材料或物质
GB/T22727.1一2008 3.6 均质材料homogeneousmaterials 由一种或多种物质组成的各部分均匀一致的材料 3.7 检测单元testunit 直接提交进行精确测试不需要进一步机械拆分的样品 通信产品有害物质安全限值技术要求 电信终端产品的组成单元分类 电信终端产品一般由零部件以及材料构成,其基本的构成单元则是材料 为了达到控制有害物质 使用的目的,首先将电信终端产品的这些组成单元进行分类,具体要求见表1 当分类有重合或矛盾 时,应依照A/B/C的顺序进行归类,即如果能按A归类的则不宜归为B类或C类 表1电信终端产品的组成单元分类 组成单元类别 组成单元定义 构成电信终端产品的各均匀材料 B 电信终端产品中各部件的金属镀层 电信终端产品中现有条件不能进一步拆分的小型零部件或材料，一般指规格小于或等于 4mm的产品 4.2有害物质安全限值要求 电信终端产品的生产者应对使用的材料按表1进行组成单元分类,构成电信终端产品的各材料或 部件均应分别符合相应的要求,具体要求见表2 表2有害物质的安全限值要求 单元类别 安全限值要求 在该类组成单元中,铅,汞,六价铬,多澳联苯,多澳二苯艇(不含十澳二苯髅)的含量不应 超过0.1%,的含量不应超过0.01% 在该类组成单元中,错,汞,锅,六价铬等有害物质不得有意添加 B 在该类组成单元中,铅、求.六价铬,多澳联苯,多澳二苯隧(不含十澳二苯腿)的含量不应 超过0.1%,的含量不应超过0.01% 注，生产者为使其产品达到某种性能指标所使用有害物质符合下列情况之一者,即视为有意添加 -按本部分中6.2所规定的xRF的方法检测样品中的铅、汞、锯,检测结果为不符合: -按本部分中6.5.1规定的方法检测样品,检测结果显示含有六价铬 4.3 合格判定 如果电信终端产品中任何一部分组成单元中的有害物质含量均满足表2的要求(豁免情况除 外),则该电信终端产品判为合格,否则判为不合格 通信产品有害物质测试过程中的机械制样方法 通信产品有害物质测试过程中的机械制样方法应符合GB/Z20288的规定 测试方法 测试方法概述 6 6.1.1测试方法的内容 各种有害物质的检测方法由以下6个部分组成
GB/T22727.1一2008 范围; 方法概要 仪器设备 试剂; 样品制备 -测试步骤 6.1.2测试方法流程 电信终端产品中有害物质测试方法流程见图1 其中,检测单元为表2中规定的ABc 检测单元 A/B/C 否 筛选? 是 样品均匀? 样品无损制备 样品有损制备 机械制样 筛选测试程序 各种方法精确测试 满足要求? 满足要求? 杏 不符合性结论 是 是 进 步精确测定? 不符合性结论 符合性结论 图1检测方法流程图 6.1.3筛选测试方法 用能量色散X射线荧光光谱仪(EDxXRF)或波长色散X射线荧光光谱仪(wDxXRF)对样品中铅、 汞、、总铬和总澳进行定性和初步半定量的一种测试手段 可以直接测量样品(不破坏样品),也可以 破坏样品使其达到"均质材料”(机械制样)后测试 很多有代表性的均质材料(如塑料、合金、玻璃等)样 品可以不破坏样品直接进行定性筛选,而由多种材料组成的复杂样品(如组装印制线路板)则须进行机 械破坏性样品制备 机械破坏性样品制备既适用于定性筛选也适用于精确测试方法 机械破坏性制样 的程序步骤应符合GB/Z20288的规定
GB/T22727.1一2008 注本部分6.2详细介绍的用XRF进行筛选的方法尽管是一种快且节省资源的分析手段,但这种分析技术在获得 结果的适用性和应用方面存在一定的局限性 对XRF提出相应的技术要求,并且在实际测量过程中对XRF 筛选测试方法的技术特点进行合理的应用,将有助于提高测量结果的准确性和可信度， 筛选测试可以把样品分成三个基本类别 合格(白色区域):样品中待测物的浓度低于允许值; 不合格(黑色区域)样品待测物的浓度高于允许值 -无定论(灰色区域);样品待测物的浓度在允许值附近，因为没有肯定的合格与否的结果而需要 进一步精确化学测试 通过筛选后,合格的样品即是符合要求;不合格的样品则不符合要求;而对于无定论的样品则需用 6.1.4的精确测试程序来验证该样品是否符合要求 6.1.4精确测试方法 运用多种分析方法来分析聚合物材料,金属材料,无机非金属材料以及专用电子材料中六种有害物 质的浓度 表3是精确测试方法的简单概要 表3精确测试方法简单概要 物 质 骤 金属材料 聚合物材料 无机非金属材料 专用电子材料 机械制样 破碎 破碎 破碎 破碎 微波消解 微波消解 微波消解 微波消解 酸消解 化学制样 酸消解 酸消解 酸消解 干灰化法 溶剂提取 溶剂提取 溶剂提取 气相色谱-质谱法 气相色谱-质谱法 PBB/PBDE 无 无 见6,3)y 见6.3 Pb/Cd 电感合等离子体原子发射光谱法、电感合等离子体质谱法、原子吸收光谱法(见6.4.1 电感棚合等离子体原子发射光谱法、电感棚合等离子体质谱法冷蒸汽原子吸收光谱 分析方法 Hg 法,原子荧光光谱法(见6.4.2) 斑点法(见6.5.1) 碱消解-比色法 碱消解-比色法 碱消解-比色法 Cr(V 沸水萃取法(见6.5.1 见6.5.2 见6.5.2) 见6.5.2 碱消解-比色法(见6.5.2) 6.2用x射线荧光光谱仪对电信终端产品中有害物质进行筛选的测试方法 6.2.1方法适用性 用x射线荧光光谱仪对电信终端产品按GB/Z20288机械制样后的各种部件和材料中有害元素 铅、,汞、总铬和总溴的测试 6.2.2方法概要 用适当方法制备好不同材料的样品放人x射线荧光光谱仪样品室内按所选定的测试模式对样品 进行X射线分析 根据不同样品不同元素的筛选限值判断样品中铅(Pb)、永(Hg)、(Cd)、总铬(Cr) 和总澳(EBr)的含量是否合格以及是否需要进行精确测试 6.2.3仪器设备 6.2.3.1X射线荧光光谱仪波长色散-X射线荧光光谱仪(wD-XRF)或能量色散-X射线荧光光谱仪 ED-XRF):主要由激发源、探测器、样品室以及数据分析系统组成 6.2.3.2附属设备:常用的附属设备有自动进样装置,试料切割机、研磨机、粉碎机、混匀机、压样机、熔
GB/T22727.1一2008 融机等,需要时性能应满足要求 6.2.3.3参数选择:推荐X射线分析线见表4 表4推荐X射线分析线 首选分析线 次分析线 有机样品分析线 金属类分析线 素 元 Lg La LB Ka Ka Ka 录 l0 La la 铬 Ka Ka Ka 澳 Ka KB Ka Ka 6.2.3.4设备安全性要求 X射线荧光光谱仪属于射线装置,其安全性要求应符合GB18871的规定 6.2.4试剂 D棚酸(HBo,);分析纯，105C烘1h,置于干燥器内储存 含铅、铺,汞、铬、澳五种元素的相应标准样品; b e)方法中所用到的其他试剂和材料都应不含待分析的、儡、汞、铬、溃等元索或化合物,制样过 程中也不能受到这些元素或化合物的污染 6.2.5样品制备 6.2.5.1概述 波长色散X射线荧光分析仪对样品有很严格的要求,这些要求因仪器样品室对样品形态不同要求 而异 一般情况下,能量色散x荧光分析仪虽然没有一定要求对所有被测量样品进行处理和制备,但 合理的样品制备过程有助于提高测量的精密度和准确度 6.2.5.2块状均质样品 对各种块、板或铸件等不定形样品,可用切割机,研磨机等加工成一定尺寸的样品 样品的被照射 面应能代表样品整体 在需要对单个的很小体积的样品(本部分中组成单元分类中的C类型)进行测量时,可采用具有聚 焦透镜完成微区分析功能的X荧光分析仪进行测量 6.2.5.3膜状材料 用薄膜材料制备膜状样品时要特别注意薄膜厚度的一致性及组成的均匀性 测量时为使薄膜平整 铺开,可加内衬材料作为支撑物(应避免内衬材料被人射x射线照射到),尽量选用背景低并且不对测 量元素产生干扰(即不含有铅、、汞、铬、澳等元素或化合物)的内衬材料 6.2.5.4专用电子材料 通常为非均质材料,可用切割机将样品切割破碎,然后用研磨机将破碎后的样品研磨成粒径不超过 0.5mm的粉末状样品(在可能的情况下,粉末应尽可能磨细),混合均匀后用酬酸衬底压片制样,厚度 不低于3mm 6.2.5.5液体样品 测定液体样品时要定量分取试液装人液杯并进行密封 测定时要注意避免试液挥发、泄漏,产生气 泡或沉淀等现象 也可取液体样品滴加到适当的载体(如滤纸)上干燥后测量 6.2.5.6防止样品污染 受到污染的样品将造成分析误差 X射线荧光分析中要特别注意样品表面的污染,制样过程中应 注意的污染有以下几个方面 来自粉碎机、研磨机材质的污染 a D)在溶解、熔融过程中来自容器的污染;
GB/T22727.1一2008 实验室工作环境的污染; d) 试剂的污染; e 用手触及样品表面时造成的污染; 内衬材料的污染; g 粉末样品加压成型时造成的污染 6.2.6测试步骤 6.2.6.1仪器的准备 按仪器厂家提供的说明书安装仪器,只要有可能,仪器应连续运转以保持最佳的稳定性 6.2.6.2绘制标准曲线 将含有铅(Pb)(Cd)、汞(Hg)、铬(Cr)以及嗅(Br)五种元素不同浓度的一组(不少于三个不同浓 度,标准样品的浓度范围应涵盖可能的含量范围)标准样品放人样品室,按仪器厂家推荐的测量时间对 该组标准样品测试,每个浓度的标样至少进行四次测试,取平均值,根据各元素的谱线强度和浓度绘制 标准曲线 6.2.6.3校验 在每次分析样品前,应用含有铅(Pb)、镐(Cd)、汞(Hg)、铬(C)和溴(Br)5种元素的标准样品对标 准曲线的有效性进行验证 注因pvC中的氧(Cl会吸收降低X射线强度,建议要有Pvc的标准样品 样品测试 6.2.6.4 将制备好的样品放人样品室内按绘制标准曲线时的分析时间对样品进行x射线分析,每个样品 至少进行三次测试,然后计算结果的平均值 6.2.6.5结果分析 6.2.6.5.1结果计算 将样品测得的各元素的谱线强度,按所选定的测试模式计算出样品中各元素的浓度 元素的筛选 6.2.6.5.2 根据表5中不同样品不同元素的筛选眼值,用x射线荧光分析对电信终端产品中受限制物质的筛 选测试结果有三种情况 -如果所有元素的分析结果都低于设定的最低限,则结果为合格 合格(P) 不合格(F) -如果所测元素中某个元索的测试结果高于设定的最高限值,则结果为不合格; 不确定(X 如果所测元素的测试结果在设定的最低限值和最高限值之间,则结果为不确定,需 要进行精确测试 表5电信终端产品中不同样品不同元素的筛选限值 单位为mg/kg 元素 金属材料 无机非金属材料 专用电子材料 聚合物材料 P<70-3aX P70-3aX P70一3aX一 X150十3F 镖 130十3 130十3F 130十3r P700一3rGB/T22727.1一2008 时要考虑系统偏差心,系统偏差可以由XRF的多次测量结果的平均值与精确化学分析测量值之差来获 得也可以由XRF设备制造厂来提供 表6电信终端产品中不同样品不同元素的筛选限值 单位为mg/kg 元 素 各种材料 锯 P<100一一3GB/T22727.1一2008 9口戴氏冷凝器; 沸石 纤维素套管30mlL，内径22" mm， 高80 mm; f 玻璃棉(450C去活性); 注，按如下方法去活性;将购买的在工厂经过去活的玻璃棉浸人含5%的二甲基二氯化硅的二氯甲烧或甲苯溶液 15min 用钳子取出来,晾干,将玻璃丝在二氯甲烧中浸泡三次以保证完全浸泡 再晾干,用净化抹布擦干 将其在甲醇中浸泡10~15)min 也反复脉干浸泡三次 用塑料洗瓶中的甲醉淋洗,然后用二氧甲烧淋洗 将 其放人真空电炉中,在110C吹氮气干燥至少15min 再干燥一次即可使用 加热套 g h 漏斗; 铝帛纸 用来加热索氏提取装置中用的烧瓶的加热套装置 微量进样器或自动移液管(1AL和5AL容量); 巴斯德(Pa ur)移液管; asteu 带螺纹塞和聚四氟乙烯垫圈的1.5ml样品瓶也可根据情况选择其他替代品; m n 小型振荡器(或称为摇床或摇床混合器); 粉碎装置:包括切割机或剪刀,研磨机、冷冻粉碎设施等装置,主要用于样品的粉碎; o 500pm筛子 p 6.3.3.2 仪器 a 气相色谱质谱联用仪;带有程序升温控制系统,建议使用自动进样器以保证结果的重复性 b 毛细管柱:非极性,(1030)m(长X0.25mm(内径)×0.1m膜厚)的熔融石英毛细管柱 DB5或其他经证明同样适用的色谱柱),一般15m的柱长即可有效分离多嗅联苯和多澳二 苯腿类化合物; 质谱仪:能产生能量为70eV的电子用于电离被分析物 准确识别十溴二苯酥和九祺二苯醛需 要很高的质量范围，因此质谱检测器要能够进行选择性离子监测并且质量范围要至少为 l1000m/z; 数据分析系统;能采集、记录,储存以及处理Ms数据 dD 6.3.4 试剂 溶剂,丙酮、甲苯、环己烧、正已婉、甲醉、二氧甲婉、异辛婉、壬烧,分析纯或更高纯度 a 标准储备液100mg/L).PBB相PBDE同分异构体的混合标准游液,目前能买到的市售校 b 准同族物见表7; 表7适合本分析方法使用的市售校准同族物举例 PBB多澳联苯 CompoumdName化合物名称 BB003 4-Bromobiphenyl,4-澳联苯 4,4'-Dbromobiphenyl，4,4'-二澳联苯 BB015 BB029 2,4,5-Tribromobiphenyl,2,4,5-三澳联苯 ,4,5'-Tetrabromobiphenyl,2,2',4,'-四澳联苯 BB049 BB077 -四澳联苯 -Tetrabromobiphenyl.3,3',4,4- BB103 ,6-Pentabromobiphenyl,2.2',4,5',6-五澳联苯 BB-153 ,5,5'-Hexabromobiphenyl.2.2',4,!',5,5'-六澳联苯 2,2 BB169 ,5,5'-Hexabromoipheny,3,3',4,4',5,5'-六嗅联苯
GB/T22727.1一2008 表7(续 PBB多澳联苯 CompoundName化合物名称 Technicalnmixtureofnonabromobipheny，octabronmobipheny80%andheptabromo DowFR-250 biphenyl，九澳联苯、八澳联苯以及七澳联苯的理论混合物 BB209 Dcabromobiphenyl,十澳联苯 PBDE多澳二苯眯 CompoundName化合物名称 BDE-003 4-Bromodiphenylether,4-澳二苯酥 BDE-015 -Dibromodiphenylether,4,4'-二澳二苯继 BDE-033 ,3,4-Tribromodiphenylether,2',3,4-三嗅二苯谜 BDE-028 2,4,4-Tribromodiphenylether,2,4,4'-三澳二苯献 BDE047 Tetrabromodiphenylether,2,2',4,4'-四澳二苯腿 BDE-099 5-Pentabromodiphenvether,2,2 ',4,4',5-五澳二苯隧 BDE-100 2entabromodiphenylether.2,2 r,2,2',4,4',6-五澳二苯随 BDE-153 2,2 -Hexabromodiphenylether,2,2',4,4',5,5'-六二苯腿 Hexabromodiphenylether,2,2',4,4',5,6'-六澳二苯腿 BDE-154 BDE-183 6-IHeptabromodiphenylether,2,2',3,4,4',5',6-七澳二苯腿 BDE-203 ,6-Oetabromodiphenylether,2,2',3,4,4',5,5',6-八漠二苯谜 BDE-206 5,5',6-Nonabromodiphenylether.2.2',3,3',4.4'.5.5',6-九潦二苯醒 BDE-209 十澳二苯醒 Decabromodiphenylether 注，PEB和PEBDE的分类方法使用了Ballehmiter和Zell分类方法 校准标准溶液;用标准储备液至少需配制五种不同浓度的校准标准溶液,其中最低浓度应稍高 于本测试方法的检测限 内标溶液;对于PBDE的分析,可把碳-13标记的BDE、或4,4'-二澳八氟联苯或十爪代菲(Pe nathreneD10)或十氯联苯作为内标物质;对于PBB的分析,可把碳-13标记的PBB或4,4'-二 澳八氟联苯或十冗代菲(PenathreneD10)或十氯联苯作为内标物质 注，这些标准物质适合测定一澳二辈酵到八澳二苯髅的浓度 由于分子量小,挥发性高,这些标准物质不适 合测定十澳二苯雕和九误二苯继的浓度 到目前为止.对于这些特殊的被分析物-最好的定量标准物是 碳-13标记的十澳二苯酿和九澳二苯雕 基于高分析量低成本的原则,有些实验室发现这些标准物质从 商业的角度来说,费用太高 -种可能的低成本的替代物是十嗅联苯(BB209),BB209有很高的分子量 943.1g/mol,十祺二苯隧是959.1g/mol而九祺二苯酣为864.2g jDB5的柱子上,它的 2g/mo,在典型的 出峰正好在三种九澳二苯腿之前 样品中大量十澳联苯的存在可以很容易用这种标准物的峰面积的检 测测定,比较测定的峰面积同十澳联苯加人量的差值 如果只对被分析物中的十渎二苯谜或九澳二苯 感兴趣,则应限制使用示踪标准物或十澳联苯 做附加试验可能确定对十澳二苯腿或九澳二苯髅进行定 值的大分子量低挥发性的标准物 e)液氨:工业级 f氨气;纯度大于99.99%u/w). 6.3.5样品制备 6.3.5.1样品的粉碎 将电信终端产品按GB/Z20288规定的要求拆分后得到的聚合物材料和专用电子材料样品,用剪 1×l10mm×l0mm 刀或切割机将样品剪切成10mm 的小块,用液氮冷却后低温研磨,再过500Am筛
GB/T22727.1一2008 子,混合均匀 6.3.5.2样品液的提取 称取上述混匀的样品(0.10.2)g,精确到0.001g,用漏斗将样品转移到索氏提取纤维素套管中 为了保证定量转移完全,漏斗用大约10mL溶剂进行淋洗 为了防止样品漂浮,可用玻璃棉盖住纤维 素套管 在100ml圆底烧瓶中加人约60ml 甲苯或其他溶剂[见6.3.4a)],同时加人内标溶液 [见6.3.4d]，然后加人(12)粒沸石,安装好索氏提取装置,可用铝帛纸盖住避光 加热提取(4一 24)h,每个循环为(2 待溶液冷却后,定容到适当体积的容量瓶中 该溶液可以直接用于测试 3)min 步骤 如果样品中待测物的浓度超过校正曲线的范围,适当稀释后再测定 注，根据不同的聚合物类型， ,用不同的浴剂从聚合物中提取多澳联苯和多澳二苯麟 聚合物的类型可以用红外或 类似方法确认 如果聚合物的本性未知,可以用甲苯作为通用试剂 对于特定的聚合物,可以用下列的溶剂 ABS、,HIPS,PC/AIBS聚合物用甲苯进行提取; 聚酰胶和聚酯用丙醉进行提取 聚烯泾用二氯甲烧/环己婉混合物体积比为5/25,沸点40C/81C)进行提取 6.3.6测试步骤 6.3.6.1气相色谱分析条件 a)进样口温度:(250一320)C; b) 柱温箱起始温度及保持时间:100C,保持(1~3)min; 柱温程序升温条件;由(100一320)C以(5一20)C/min程序升温,最后恒温5nmin 载气:氨气流量:(1一2)mL/min; d 气相色谱-质谱接口温度;320C 进样方式:(脉冲)不分流进样 fD 旦进样量(Q一2)gL 6.3.6.2质谱分析条件 a)电离方式;EI b) 电子能量;70eV; c)离子源温度:(250一300)C; d 分辨率;大于800(最好大于1000); e)分析模式;选择离子监测(sIM),监测的离子分别见表8和表9 6.3.6.3样品分析 启动仪器,待仪器稳定; a) b) 根据仪器要求,用仪器校准样品对仪器进行校准 建立标准曲线;依次将不同浓度的校准溶液[见6.3.4e)]注人气相色谱-质谱仪中,以校准溶液 c 浓度为横坐标,以校准样的色谱峰面积为纵坐标建立标准曲线 样品测定;按建立标准曲线时注人的体积将样品提取液注人气相色谱-质谐仪中,根据表8和 表9给定的离子峰来确定样品中含有的PBB和PBDE 然后根据峰面积,从标准曲线上计算 出相对应的PBB和PBDE的含量 表8多澳联苯的分子量以及定性离子峰 序 号 分子式 分子量 化学名称 定量离子 定性离子峰 一联苯 CH,Br 233.1 234.0 236.0 232.0o 152.2" 二澳联苯 CHBr 312.0 312.0 314.0 310.o 152.2" 三澳联苯 CH,Br 390.9 391.8 393.8 389.8 230.0 四嗅联苯 CH,Br 469.8 469.8 467.8 309.9 307.9 10
GB/T22727.1一2008 表8(续 分子量 定性离子峰 序 号 化学名称 分子式 定量离子 五澳联苯 CHBr 389.8 387.8 548.7 549.6 547.6 CH比 627.6 627.6 625.6 467.7 465.7 六澳联苯 CHBr 706,5 705.5 703.5 545， 6 543.6 七澳联苯 八渎联苯 CHBr 785.4 785.4 783.4 625.5 627.5 九澳联苯 CHBr 864.3 703.4 863.2 705.4 703.4 10 十澳联苯 CBrio 943.2 781.3 943.2 783.3 781.3 表9多澳二苯腿的分子量以及定性离子峰 化学名称 分子式 分子量 定量离子 定性离子峰 号 序 CH,BrO 249.1 250,0 252.o 248.o 41.o -澳二苯麟 H,Br.0 328.0 328.0 330.0 325.9 168.0 二澳二苯腿 三澳二苯 CH,Br.O 406.9 405,8 403.8 246.o 123.0 四澳二苯腿 CHBrO 485.8 485.7 483.7 325.9 162.9 五澳二苯隧 201.9 CgHBr,(O 564.7 564.6 562.6 403.8 六澳二苯隧 CHBr,O 643.6 483.7 643.5 483." 241.9 21.5 七澳二苯醛 C2H,Br,0 722.5 561.6 561.6 563.6 ,H.Br.O 641.5 641.5 八澳二苯醒 80l，4小 801，4 320.8 C！ CHBr,o 880.3 881.3 360.7" 719.4 719.4 九澳二苯献 CBr 十澳二苯酥 959.2 799.3 959.2 799.3 400.3 6.3.6.4结果计算 样品中多溴联苯(PBB)和多溴二苯酥(PBDE)的结果按式(1)计算 Gxx X ×10" nn 式中: X -样品中多溴联苯和多溴二苯酥i的含量,单位为质量分数(mg/kg); C 样品提取液中多漠联苯和多澳二苯醛i的含量,单位为毫克每升(mg/L.) 样品提取液定容体积,单位为升(L); 提取液的稀释倍数 样品量,单位为毫克(mg) 71 6.3.6.5精密度 在重复性条件下获得的两次独立测定结果的绝对差值不得超过算术平均值的20% 6.4电信终端产品中铅(Pb、(cCd)以及汞(Hg)的测试方法 6 4.1电信终端产品中铅(PD),辐(Cu)的测试方法 4.1.1方法适用性 6d 电信终端产品中所使用的聚合物材料、金属材料、专用电子材料以及无机非金属材料中铅和含量 的测试 6.4.1.2方法概要 称取适量样品,以微波消解、酸消解和灰化等方法处理后配成溶液 利用电感耦合等离子体原子发 射光谱法(ICPAES/OES)电感耦合等离子体质谱法(ICPMS)或原子吸收光谱法(AAs)测定样品溶 ll
GB/T22727.1一2008 液中的铅(Pb)和镐(Cd)的浓度 6.4.1.3仪器设备 a)原子吸收光谱仪(AAS); D 电感耦合等离子体发射光谱仪(ICPAES/OES); c电感稠合等离子体质谱仪(ICPMS); d)实验室用各种玻璃器皿; 加热装置; f 马弗炉; g微波消解系统,配有高压消解罐 h 分析天平,精确到0.0001g; iD 堆塌,50ml或150mL j 耐氢氟酸容器; k)本生喷灯或相似的酒精喷灯 试剂 除非另有说明,在分析中仅使用认可的高纯试剂和18MnAsTMTypel型水或相当纯度的水 a)硝酸:约l.4g/ml，65%; b)盐酸:o约1.16g/mL，37%; 过氧化氢:p约1.10g/mL30% 硫酸:约1.84g/mL,98%; 氢氟酸:p约(4042)%IS(O); 氢澳酸:p约1.48g/mL.(4749)%; 高氯酸:约1.67g/mL,70%; h)磷酸;p约1.69g/mL,大于85%; 棚酸; 混合酸1(3份盐酸和1份硝酸); k)混合酸2(3份盐酸和1份过氧化氢); 混合酸3(1份硝酸和3份氢氟酸); m混合酸4(2份氢氟酸,l份硝酸,2份水); 铅标准溶液,浓度为10004g/mL n 俪标准溶液,浓度为10004g/mL p航标准溶液,浓度为1000ug/mL; p忆标准溶液,浓度为1000"g/ml 姥标准溶液,浓度为1000g/mL 6 .4.1.5样品制备 6. .4.1.5.1样品的粉碎 将电信终端产品按GB/Z20288规定的要求拆分成为符合其要求的各种材料样品,对于金属材料 样品和易消解的材料,在满足可以达到完全消解的前提下,粉碎后样品的粒度要求可适当放大到 10mm×101 ×10 mm 对聚合物材料和专用电子材料,需继续粉碎成粒径小于1mm的颗粒或粉 mm 末,混合均匀 6.4.1.5.2金属材料样品的制备 6.4.1.5.2.1酸消解法 称取(0.10.5)g(可根据待测元素的含量调整称样量)样品于烧杯中,精确至0,000lg 根据金 属材料基体的不同,加人适量6.4.1.4中指定的酸(或适当比例的混合酸),置于通风橱中,加热至样品 12
GB/T22727.1一2008 完全溶解 冷却后转移至50mL容量瓶,用水定容至刻度以备分析 推荐采用盐酸,硝酸或其混合酸溶液[见6.4.1.4m)] 当样品难以消解时,需采用氢氟酸、高氯酸 或硫酸等进一步溶解 在用氢氟酸时,需使用PTFE/PFA烧杯和其他耐氢氟酸的装置 注，在溶解过程中,可能会产生沉淀(碗酸错,碗酸俱,氯化银,三氧化二铝或氢氧化铝等),因此需确定所选用的浴 解方法不会造成待测元素的损失 若残留物中含有目标分析物,需采用其他方法进行样品溶解如碱熔法或 密封压力容器法》. 一般合金方法 称取(0.10.5)g可根据待测元素的含量调整称样量)样品于烧杯中,精确至0.0001g 缓 缓加人10ml盐酸与硝酸的混合酸1(可根据基体成分进行适当调整),低温加热使之溶解完 全 冷却至室温,转移至50mL的容量瓶中,用水定容至刻度以备分析 根据所采用的分析 方法,稀释成相应浓度的样品溶液 当样品中含硅(Si),错(Zr),(Hf),钛(Ti),钮(Ta),锯(Nb),钨(w时(该信息可从6.2的 筛选试验中获得),需再加人1ml氢氟酸以保证样品消解完全 b 锡合金方法 称取(0.1~0.5)g(可根据待测元素的含量调整称样量)样品于烧杯中,精确至0.0001g 缓 缓加人10ml盐酸与硝酸的混合酸1(可根据基体成分进行适当调整),盖上表面皿,待剧烈反 应后,微热至样品完全溶解 稍冷,移去表面皿,沿杯壁加人10mL硫酸,加热蒸发至刚冒 SO白烟,冷却 沿杯壁加人20ml.氢澳酸,充分混匀,加热至刚冒sO白烟 重复3次 冷 却至室温,加人10ml 硝酸溶解盐类 冷却,转移至50 ml 的容量瓶中,用水定容至刻度以备 分析 根据所采用的分析方法,稀释成相应的浓度 或者,称取0.20g样品,加人10ml盐酸 与过氧化氢的混合酸2(可根据基体成分进行适当调整)溶解样品 当样品中含硅(Si),错(Zr),(Hf),钛(Ti),钮(Ta),锯(Nb),鹤w时(该信息可从6.2的 筛选试验中获得),需再加人1ml.氢氟酸以保证样品消解完全 6.4.1.5.2.2微波消解法 称取0..10尽样品,精确至0.0001g，置于消解罐中,加人5mL适宜比例的盐酸与硝酸的混合酸1 所用酸的体积和配比可根据基体成分进行适当调整) 当样品中含硅(Si),错(Zr),(Hf),钛(Ti),钮 Ta),锯(Nb),钨(w)时(该信息可从6.2的筛选试验中获得),再加1ml浓氢氟酸 待样品反应稳定后,将整个消解罐置于微波消解装置中,按照仪器操作方法对样品进行微波消解 直至样品被完全溶解 将消解罐取出,冷却至室温,加人适量的碉酸络合过量的氢氟酸(若采用耐氢氟 酸的雾化器,可不加碉酸) 转移至50ml的容量瓶中,用水定容至刻度以备分析 根据所采用的分析 方法,稀释成相应浓度的样品溶液 6.4.1.5.3无机非金属样品的制备 通常无机非金属样品中含有硅等非金属元素,在样品制备过程中需加人强腐蚀性的氢氟酸,应采用 耐氢氟酸器皿 称取0.10g样品,精确至0,0001g，置于消解罐中 加人3ml适宜比例的浓盐酸与浓硝酸的混 合酸1(所用酸的体积和配比可根据基体成分进行适当调整)和3mL浓氢氟酸 待样品反应稳定后,将 整个消解罐放人微波消解仪中,按照仪器操作方法对样品进行微波消解,直至样品被完全溶解 将消解 罐取出,冷却至室温,加人适量的酬酸络合过量的氢氟酸(若采用耐氢氟酸的雾化器,可不加碉酸) 转 移至50ml的容量瓶中,用水定容至刻度以备分析 根据所采用的分析方法,稀释成相应的浓度 随同样品做试剂空白 6.4.1.5.4聚合材料样品的制备 6.4.1.5.4.1干法灰化法 当样品中不含卤素化合物时(该信息可从6.2的筛选测试方法中获得) a 13
GB/T22727.1一2008 称取(0.1一0.5)g(可根据基体成分进行适当调整)经粉碎后的样品于堆蜗中,精确至0.0001g 堆塌置于耐热绝热板的孔中,缓慢加热至焦化状态,逐渐加温直至挥发的消解产物被充分排 出,仅剩余碳化物残渣 将堆蜗移人(450士25)C的马弗炉中,炉门轻微开启以提供足够的空 气来氧化碳,直至剩余干净的灰分 将堆蜗及其里面的物质从炉中取出,冷却至室温 加人 5mL硝酸,溶解,转移至50mL容量瓶中,用水定容至刻度以备分析 根据所采用的分析方 法,稀释成相应浓度的样品溶液 当样品中含有卤素化合物时(见6.2中的筛选测试方法). 称取(0.1~0.5)g(可根据基体成分进行适当调整)经粉碎后的样品于堆蜗中,精确至0.0001g 加人(10~15)m的硫酸,将堆蜗置于电热板或砂浴上缓慢加热,直到塑料熔化并变黑 再加 人5mL硝酸,继续加热至塑料完全降解并产生白烟 冷却,将堆蜗移人(450土25)C的马弗 炉中,样品被蒸发、干燥和灰化,直至碳被完全燃烧 将堆蜗及其里面的物质从炉中取出冷 却至室温 加人5ml硝酸,溶解,转移至50ml容量瓶中,用水定容至刻度以备分析 根据 所采用的分析方法,稀释成相应浓度的样品溶液 6.4.1.5.4.2湿酸消解法 只适用于的测定 注因在使用硫酸时会生成硫酸铅沉淀而导致铅的损失,所以湿酸消解法不适用于铅的测试 a -般溶解方法 称取(0.1I-0.5)g(可根据基体成分进行适当调整)经粉碎后的样品于烧瓶中,精确至0.001g 加人5mL硫酸和1ml硝酸,加热烧瓶至样品灰化并产生白烟 停止加热,加人少量硝酸(约 0.5mL),继续加热至产生白烟 重复以上加热过程,直至消解液变为浅黄色 冷却10min后,分若干次加人过氧化氢,总量不超过10mL,再次加热至产生白烟 冷却,转 移至50mL容量瓶中,用水定容至刻度以备分析 根据所采用的分析方法,稀释成相应浓度 的样品溶液 当样品消解不完全或样品中含有二氧化硅、钛等元素时(该信息可从6.2的筛选测试方法中获 b 得). 称取(0.1~0.5)g(可根据基体成分进行适当调整)经粉碎后的样品于烧瓶中,精确至0.0001g 加人5mL硫酸和1mL硝酸,加热烧瓶至样品灰化并产生白烟 停止加热,加人少量硝酸(约 0.5mL),继续加热至产生白烟 重复以上加热过程,直至消解液变为浅黄色 冷却10mm后,分若干次加人过氧化氢,总量不超过10ml再次加热至产生白烟 冷却,将 溶液移人氟碳树脂罐中 加人5ml氢氟酸,并加热直至产生白烟 将消解罐取出,冷却至室 温,加人适量的碉酸络合过量的氢氟酸(若采用耐氢氟酸的雾化器,可不加碉酸) 转移至 50mL容量瓶中,用水定容至刻度以备分析 根据所采用的分析方法,稀释成相应浓度的样 品溶液 6.4.1.5.4.3微波消解法 称取0.10g经粉碎后的样品,精确至0.0001g，置于消解罐中,加人5mL硝酸、1tmL过氧化氢 当样品中含硅(Si),错(Zr),铅(Hf),钛(Ti),钮(Ta),锯(Nb),鸽(w)时(该信息可从6.2的筛选测试方 法中获得),再加人1ml氢氟酸 将整个消解罐置于微波消解装置中,按照仪器操作方法对样品进行 微波消解,直至样品被完全溶解 将消解罐取出,冷却至室温,加人适量的碉酸络合过量的氢氟酸(若采 用耐氢氟酸的雾化器,可不加棚酸) 转移至50mL的容量瓶中,用水定容至刻度以备分析 根据所采 用的分析方法,稀释成相应浓度的样品溶液 过氧化氢可与易氧化材料发生快速而猛烈的反应 当样 品中可能含有大量易氧化有机成分时,不宜添加过氧化氢 14
GB/T22727.1一2008 6.4.1.5.5专用电子材料样品的制备 称取0.10g经粉碎后的样品精确到0.0001g,置于消解罐中,加人5ml适宜比例的盐酸与硝酸 的混合酸1(可根据基体成分进行适当调整) 当样品中含硅(si).错(Z).铅(Hn)钛(T).钮(Ta).锯 Nb),钨(w)时(见5中的筛选试验),再加人1mL氢氟酸 待样品反应稳定后,将整个消解罐置于微 波消解装置中,按照仪器操作方法对样品进行微波消解,直至样品被完全溶解 将消解罐取出,冷却至 室温,加人适量的碉酸络合过量的氢氟酸(若采用耐氢氟酸的雾化器,可不加棚酸) 转移至50mL的 容量瓶中,用水定容至刻度以备分析 根据所采用的分析方法,稀释成相应浓度的样品溶液 6.4.1.5.6未完全消解样品的处理方式 如果样品通过以上各种消解方法均无法完全消解,则采用XRF等设备进行物理筛查,如果筛查结 果显示不含有待测物质,则将消解剩余物按废弃物处理;如果筛查结果显示含有待测物质,则采用以上 的方法再次处理样品 6.4.1.6测试步骤 6.4.1.6.1空白溶液的配制 随同6.4.1.5中样品的制备一起全程制备空白溶液 6.4.1.6.2铅和校准溶液的配制 因各种分析仅器存在不同程度的基体效应问题,在配制校准溶液时应根据待测材料的种类分别采 用外标法(基体匹配,内标法或标准加人法配制校准溶液 制备空白校准溶液与至少三种浓度的校准溶液 当采用内标法时,可在配制时向溶液中加人内标元素,或在测定过程中采用仪器在线加人内标 对 于IcCPAES/OES法,可选取航(Se)或亿(Y)元素作内标;对于1ICPMS法,可选取佬(Rh)元素作内标 内标元素的浓度与待测元素的浓度相当 6.4.1.6.3铅和校准曲线的绘制 ICPAEs/OES方法 按浓度由低到高的顺序测量校准系列溶液中目标元素的光谐发射强度读数 根据需要,测定 内标元素的发射强度读数 采用外标法时,以校准溶液的浓度为横坐标,以信号强度为纵坐标绘制校准曲线 呆用内标法 时,以校准溶液的浓度为横坐标,以待测元素的信号强度与内标元素的信号强度比为纵坐标绘 制校准曲线 分析时所选择的谱线及可能存在的干扰见表1o 表10Pb与Cd的谱线及可能存在的干扰 谱线/nm 干扰元素 C Cd Cd Pb Pb Pb P Cd 217.000 226502 228.802 220.353 214.439 361.051 261.417 283.305 Ag As 十十 十十十 十 + 一 + Au X 十十 十 十十十 十十 十+ B × CC 十十十 十十十 十十十 Cc 十十十 15
GB/T22727.1一2008 表10(续 谱线/nm Ca Cd Cc Cd P Pb P PD 干扰元素 214.439 226.502 228.802 361.051 217.000 220.353 261.417 283.305 Cu Eu 十十十 -十十 十十 Ga X Ge 十 十 In Ir 十 十十十 x +十十 十十 十十 十十 Mg × Mn 十十+ 十十 十十十 Mo N 十十 十十十 十十十 十十 Pa P 十 Re Ru 十+ 十十 + 十 si Sc X 十+十 十+ 十十 十十 十十十 Sn 十 十十 十 十 十十+ + 十十 十十 w Zn A 十 十十 十十一 T F 十十十 十十十 十十十 十 ND Hf TT Pm1 Cd 注 无干扰或干扰较小[1000×106(1000mg/kg)的基体所产生的干扰通常小于0.05×10(0.05mg/kg] 干扰程度中等[1000X10-1000 nmg/ke)的基体所产生的干扰约为0.05X10-~0.2X10"(0.05" 十十 mg kg一0.2mg/kg] 十十十干扰较为严重[l00X10-"(1000mg/ke)的基体所产生的干扰高于0.2X10-(0.2m/kg) 当存在共存物质干扰时,应选取不会干扰测定的任一波长,或采用适当的方法消除干扰 CP-MS方法 b 按浓度由低到高的顺序测量校准系列溶液中待测元素同位素的计数 根据需要,测定内标元 素同位素的计数 16
GB/T22727.1一2008 采用外标法时,以校准溶液的浓度为横坐标,以信号强度为纵坐标绘制校准曲线 采用内标法时,以校准溶液的浓度为横坐标,以待测元素的信号强度与内标元素的信号强度 比为纵坐标绘制校准曲线 分析时所选择的同位素及可能存在的干扰见表11 表11铅、辐的同位素及可能存在的干扰 元 素 同位素 潜在的同质异位素干扰 潜在的分子离子干扰 l1 MoO，MoOH，ZrOH l12 Sn MoO，MoOH Cd MooH,zroH. Mo(O， RuO l13 In 114 Sn MoOMooH.Ruo 204 206 PO Pb 207 lrO 208 PtO 当存在共存物质干扰时,应选取不会干扰测定的任一同位素,或采用适当的方法消除干扰 AAs方法 按浓度由低到高的顺序测量校准系列溶液中目标元素的光谱吸收强度读数 以校准溶液的浓 度为横坐标,以吸收强度为纵坐标绘制校准曲线 分析线锅(Cd)228.8nm;铅(Pb)217.0nm或283.3nm; 吸光度读数范围;为了减少光度测量的误差,吸光度读数一般选在0.1~0.6之间,必要时可调 节溶液的浓度或光程长度或扩展量程 当存在共存物质干扰时,应选取不会干扰测定的任一波长,或采用适当的方法消除干扰 6.4.1.6.4样品分析 校准曲线建立后,测定空白溶液、样品溶液 依据每个样品的信号读数,由校准曲线查得所对应的 浓度 每个样品应平行分析两次,且两次结果的相对标准偏差不应高于10%,加标样品的回收率应为 90%l10% 对于AAs法而言,若样品溶液的浓度高于校准溶液的最高点,应将样品进一步稀释,使其浓度在 校准溶液的浓度范围内 将标准物质或校准溶液作为质控样品,每10个样品测定一次,计算测量的精密度 如若需要,应重 新绘制校准曲线 6.4.1.6.5结果计算 被测元素含量以质量分数w计,数值以百分比(%)表示,按式(2)计算 C-C)×V×d×10" W= -×100 m 式中 w 被测元素含量,以百分比(%)表示 -在校准曲线上查得试液中被刹元素浓度的数值-单位为微克每毫升(g/mL) -在校准曲线上查得试剂空白液中被测元素浓度的数值单位为微克每毫升(4g/ml); 试液的体积,单位为毫升(mL); 样品溶液的稀释倍数; 样品量,单位为克(g) n 17
GB/T22727.1一2008 取两次测试结果的算术平均值,报告结果 6.4.1.6.6精密度 在重复性条件下获得的两次独立测定结果的绝对差值不得超过算术平均值的10% 6. .4.2电信终端产品中乘(HHg)的测试方法 6.4.2.1方法适用性 电信终端产品中所使用的聚合物材料.金属材料专用电子材料以及无机非金属材料中汞含量 测试 6.4.2.2方法概要 称取适量样品,以微波消解、酸消解的方法处理后制成均匀样品溶液 为了长期贮存汞溶液,建议 采用5.0%硝酸+0.05%高镯酸钾的介质 因汞极易被污染,实验中的每一个步骤都要求极其小心 所有的取样、储存与操作装置都要求无 汞 所有的器皿在室温下以稀硝酸浸泡24h,再以18MQ去离子水彻底清洗 利用冷燕气原子吸收法(CVAAs)、原子荧光法(AFs)、电感合等离子体原子发射光谱法 电感稠合等离子体质谱法(CP\Ms)或原子荧光光谱法(AAs)测定样品溶液中的汞 (ICP-AES/OES)、 浓度 采用cVAAs与AFS时,在分析之前求(Hg)被还原成原子状态 6.4.2.3仪器设备 冷蒸气原子吸收光谱议(CVAAS); a b)电感耦合等离子体原子发射光谱仪(ICPAES/OES); 电感耦合等离子体质谱仪(ICPMS); c 原子荧光光谱法(AFS); 加热回流装置:配有反应瓶、回流冷凝装置和吸收装置; 实验室用各种玻璃器皿; g)耐氢氟酸的容器; h加热装置 i 微波消解装置,配有高压消解罐; 分析天平,精确到0.0001g 6.4.2.4试剂 除非另有说明,在分析中仅使用认可的高纯试剂和18MQ去离子水或相当纯度的水 a)硝酸;p约1.40g/mL,65%; b) 盐酸:约1.19g/mL,37% 过氧化叙p约1.10g/ml,.30% c) D 氢氟酸:p约(4042)%(IsO); 碗酸;p约1,.81g/ml,95% 碉酸:分析纯 汞标准溶液:浓度为1000g/mL; 氯化钠-盐酸胫胺溶液;每100nmL水溶解12g氯化钠及12只盐酸胫胺， 高铺酸钾;5%水溶液,每100m水溶解5只高酸钾， 氢氧化钠;分析纯 砌氢化钠 k 1%棚氢化钠-0.05%氢氧化钠溶液;向1000mL的容量瓶中加水至接近刻度 再加0.5g氢 氧化钠,溶解后,加10.0g碉氢化钠,搅拌、溶解,以水定容至刻度,现配现用; BCR-680,BCR-681:塑料包装和包装材料中的认证参照材料 m 18
GB/T22727.1一2008 6.4.2.5样品制备 6.4.2.5.1样品的粉碎 将电信终端产品按GBZ20288规定的要求拆分成为符合其要求的各种材料样品对于金属材料样 品和易消解的材料,在满足可以达到完全消解的前提下,粉碎后样品的粒度要求可适当放大到 10mm×10mm×10mmm 对聚合物材料和专用电子材料,需继续粉碎成粒径小于1 mm 的颗粒或粉 末,混合均匀 6.4.2.5.2金属材料样品的制备 6.4.2.5.2.1 酸消解法 样品制备的一般方法 称取约1.0g样品于洁净反应瓶中,精确至0.0001g 加30mL浓硝酸 反应瓶装有回流冷 凝装置及含有10mL0.5mol/硝酸溶液的吸收装置 室温下消解1h,升温至90C,恒温消 解2h 冷却至室温,将吸收管内的溶液合并于消解液中 转移至250ml容量瓶,以5%的硝 酸定容至刻度配成样品溶液; 含有错(Zr)(Hf)、钛(Ti),铜(Cu),银(Ag),钮(Ta),锯(Nb)或鸽(W)的材料的溶解 称取约1g样品于洁净反应瓶中,加人20mL浓盐酸和10mL浓硝酸 反应瓶装有回流冷凝 装置及含有10ml.0.5mol/儿硝酸溶液的吸收装置 室温下消解lh 升温至(95士5)C,消 解15min 取下,冷却 若样品未被完全消解 反复加王水并加热,直至样品消解完全 每次加酸时,都应沿器壁加 人,以将粘在壁上的样品重新冲洗至溶液中 待样品完全消解后,向反应瓶中加人20mL 水与15mLKMnO溶液 充分混匀,并在 95土5)c加热回流30min 冷却到室温过滤转移至100mL容量瓶中 用水反复清洗反 应瓶、冷凝器与吸收装置 将清洗液并人容量瓶中 可加人6ml氯化钠盐酸胫胺溶液还原 多余的高孟酸钾 用水稀释至刻度,混匀制备成样品溶液 6.4.2.5.2.2微波消解法 称取0.10样品,精确至0.0001g，置于PTFE/PFA消解罐中,加人5m适宜比例的盐酸与硝 酸的混合酸(盐酸与硝酸比例通常为3:1,可根据基体成分进行适当调整) 当样品中含硅(Si)、错 (Zr),、(Hf)、钛(T),钯(Nb)或鹤(w)时(见6.2中的筛选方法),再加1ml.浓氢氟酸 待样品反应稳定后,将整个消解罐置于微波消解装置中,按照仪器操作方法对样品进行微波消解， 直至样品被完全溶解 将消解罐取出,冷却至室温,加人适量的碉酸络合过量的氢氟酸(若采用耐氢氟 酸的雾化器,可不加棚酸) 转移至50mL的容量瓶中,用水定容至刻度以备分析 根据所采用的分析 方法,稀释成相应的浓度制备成样品溶液 6. .4.2.5.3无机非金属样品的制备 通常无机非金属样品中含有硅等非金属元素,在样品制备过程中需加人强腐蚀性的氢氟酸,因此要 求采用耐氢氟酸器皿 称取0.10g样品,精确至0.0001g，置于消解罐中 加人3mL适宜比例的浓盐酸与浓硝酸的混 合酸(盐酸与硝酸比例通常为3:1,可根据基体成分进行适当调整、3mL浓氢氟酸 待样品反应稳定 后,将整个消解罐放人微波消解装置中,按照仪器操作方法对样品进行微波消解,直至样品被完全溶解 将消解罐取出,冷却至室温,加人适量的碉酸络合过量的氢氟酸(若采用耐氢氟酸的雾化器,可不加绷 酸) 转移至50ml的容量瓶中,用水定容至刻度以备分析 根据所采用的分析方法,稀释成相应的浓 度制备成样品溶液 6.4.2.5.4聚合材料样品的制备 称取0.10g样品,精确至0.0001g，置于消解罐中,加人5ml硝酸、lml过氧化氢 当样品中含 Si,Zr,Hf,Ti,Ta,Nb,w时(见6.2中的筛选测试方法),再加人lmL浓氢氟酸 将整个消解罐置于微 19
GB/T22727.1一2008 波消解仪中,按照仪器操作方法对样品进行微波消解,直至样品被完全溶解 将消解罐取出,冷却至室 温,加人适量的棚酸络合过量的氢氟酸(若采用耐氢氟酸的雾化器,可不加碉酸) 转移至50ml的容 量瓶中,用水定容至刻度以备分析 根据所采用的分析方法,稀释成相应的浓度制备成样品溶液 注，过氧化氢可与易氧化材料发生快速而猛烈的反应 当样品中可能含有大量易氧化有机成分时,不宜漆加过氧 化氢 6.4.2.5.5专用电子材料样品的制备 称取0.10只样品,精确到o.0001g，置于PTFE/PFA消解罐中,加人5m适宜比例的浓盐酸与 浓硝酸的混合酸(盐酸与硝酸比例通常为3:1,可根据基体成分进行适当调整) 当样品中含硅(Si))、 错(Zr),铃(Hf),钛(T),钯(Nb)或鹤(w)时见6.2中的筛选测试方法),再加人1mL浓氢氟酸 待 样品反应稳定后,将整个消解罐置于微波消解仪中,按照仪器操作方法对样品进行微波消解,直至样品 被完全溶解 将消解罐取出,冷却至室温,加人适量的棚酸络合过量的氢氟酸(若采用耐氢氟酸的雾化 器,可不加础酸) 转移至50nmL的容量瓶中,用水定容至刻度以备分析 根据所采用的分析方法,稀 释成相应的浓度制备成样品溶液 6. 4.2.5.6未完全消解样品的处理方式 如果样品通过以上各种消解方法均无法完全消解,则采用XRF等设备进行物理筛查,如果筛查结 果显示不含有待测物质,则将消解剩余物按废弃物处理;如果筛查结果显示含有待测物质,则采用以上 的方法再次处理样品 6. 4.2.6测试步骤 6. 4.2.6.1空白溶液的制备 随同6.4.2.5中样品的制备一起全程制备空白溶液 6.4.2.6.2汞标准溶液的配制 汞标准溶液应贮存于惰性塑料容器中 浓度小于1g/L的溶液应现用现配 汞易被吸附在容器内壁,建议加人儿滴5%的KMnO溶液以稳定该标准溶液 因各种分析仪器存在不同程度的基体效应问题,在配制校准溶液时应根据待测材料的种类分别采 用外标法(基体匹配),内标法或标准加人法配制校准溶液 制备空白校准溶液与至少三个校准标准溶液 当采用内标法时,可在配制时向溶液中加人内标元素,或在测定过程中采用仪器在线加人内标 对 于ICPAEs/OES法,可选取冗或亿元素作内标;对于ICPMS法,可选取姥元素作内标 内标元素的 浓度与待测元素的浓度相当 6.4.2.6.3汞校准曲线的绘制 ICPAES/OES方法 a 按浓度由低到高的顺序测量校准系列溶液中汞的光谱发射强度读数 根据需要,测定内标元 素的发射强度读数 采用外标法时,以校准溶液的浓度为横坐标,以信号强度为纵坐标绘制校准曲线 采用内标法时,以校准溶液的浓度为横坐标,以汞的信号强度与内标元素的信号强度比为纵坐 标绘制校准曲线 分析时所选择的汞的谱线:194.227 nm b CPMS方法 按浓度由低到高的顺序测量校准系列溶液中汞同位素的计数 根据需要,测定内标元素同位 素的计数 采用外标法时,以校准溶液的浓度为横坐标,以信号强度为纵坐标绘制校准曲线 采用内标法时,以校准溶液的浓度为横坐标,以汞的信号强度与内标元素的信号强度比为纵 坐标绘制校准曲线 20
GB/T22727.1一2008 标法或标准加人法配制分析时所选择汞的同位素:202m/2 CVAAs方法 按浓度由低到高的顺序测量校准系列溶液中汞的吸收强度读数 以校准溶液的浓度为横坐 标,以汞的吸收强度为纵坐标绘制校准曲线 吸光度读数范围:为了减少光度测量的误差,吸光度读数一般选在0.10.6之间,必要时可调 节溶液的浓度或光程长度或扩展量程 仪器参数 光源:Hg无极放电灯或空心阴极灯; 波长;253.7 nm; 光谱狭缝宽度:0.7nm 吹扫气:氮气或氧气; 还原剂:3%NalBH一0.5%Na(OH溶液(可根据需要适当调节浓度. AFs方法 按浓度由低到高的顺序测量校准系列溶液中汞的荧光强度读数 以校准溶液的浓度为横坐 标,以荧光强度为纵坐标绘制校准曲线 荧光强度读数范围:为了减少测量的误差,荧光强度读数应落于仪器的线性范围内,必要时可 调节溶液的浓度 仪器参数 光源;Hg空心阴极灯; 电流:30mA: 波长;253.7 nm; 负高压:360V; 炉温:800C; 氧气流量载气:600ml/ min# 屏蔽气:1000ml/min; 还原剂3%NalBH，溶于1%NaOH溶液中(可根据需要适当调节浓度) 6.4.2.6.4样品分析 校准曲线建立后,测定空白溶液、样品溶液 依据每个样品的信号读数,由校准曲线查得所对应的 浓度 每个样品应平行分析两次,且两次结果的相对标准偏差不应高于20%,加标样品的回收率应在 70130)%之间 对于CVAAs方法与AFS方法而言,若样品溶液的浓度高于校准溶液的最高点,应将样品进一步 稀释,使其浓度落于校准溶液的浓度范围内 当采用CVAAS方法与AFS方法时,应考虑到基体成分对氧化-还原反应的影响 AFS法将标准物质或校准溶液作为质控样品,每10个样品测定一次,计算测量的精密度 如若需 要,应重新绘制校准曲线 6.4.2.6.5结果计算 被测元素含量以质量分数W计,数值以百分比%)表示,按式(3)计算 C-Ga)XVXdX10 ×100 w= 3 7 式中: 被测元素含量,以百分比(%)表示; Wn 在校准曲线上查得试液中被测元素浓度的数值,单位为微克每毫升(ag/mL) 在校准曲线上查得试剂空白液中被测元素浓度的数值,单位为微克每毫升 /ml); G4g/ 21
GB/T22727.1一2008 试液的体积,单位为毫升(ml). 样品溶液的稀释倍数; 样品量,单位为克(g) n 6.4.2.6.6防止汞污染 在使用各种方法或者器皿时须十分小心,从而将污染降至最低 以下预处理可在一定程度上避免 样品的污染: 仅采用蒸榴水或者去离子水,与水接触的惰性塑料材料须小心处理,纯水即使贮存于聚四氟乙 烯容器(PTFE)中,也会在很短时间内从容器中浸出杂质; b)制备样品用的化学试剂是污染的主要来源,应使用不含汞的试剂 样品制备所需的化学试剂与还原剂在使用前,均应测量其空白值; c d)烧杯滴管及容量瓶是金属污染的主要来源,处理样品时宜使用惰性塑料 e 采用ICP-AES/OESs,ICP-MS,AFS法时,当汞的浓度很高时,易产生记忆效应 因此在测定 汞浓度较高的溶液时应尽量采用选择记忆效应小的进样系统,或将溶液稀释 测量后应彻底 请洗进样系统 6.4.2.6.7精密度 在重复性条件下获得的两次独立测定结果的绝对差值不得超过算术平均值的20% 6.5电信终端产品中六价铬的测试方法 6.5.1有色或无色防腐金属镀层中是否存在六价铬的定性测试 方法适用性 金属样品有色或无色镀层中是否存在六价铬的定性测试 因为六价铬对人类有毒,因此本方法中 所用到的所有可能含有六价铬的样品和试剂都应适当处理 由于六价铬自身的活性比较强,防腐镀层中的六价铬含量可能随时间和存储条件而有很大改变 因此,本方法为定性测定镀层中是否存在六价铬提供了一个实用而有效的方法 待测样品应存储在室 温的环境下,室温是指相对湿度为(45一75)%,温度为(1535)C 6.5.1.2方法概要 本方法包括两个主要测试过程;斑点法和沸水萃取法 因斑点法使用起来比较简单,可先采用斑点 法 当斑点法测试结果为否定,或者测试人员不能确定斑点法的结果时,或者背景有有色干扰时,可采 用沸水萃取法进行验证 在有色防腐镀层中经常能发现有色干扰并导致错误的测试结果 如果用斑点 法或者沸水萃取法检测到样品中含有六价铬,那么这个样品认为含有六价铬镀层 含六价铬的溶液或废弃物应适当处理 例如;抗坏血酸或其他试剂可还原六价铬为三价铬 6.5.1.3仪器设备 a)分析天平;精确到0.0001lg D) 温度计或电热调节器或其他温度测量装置;测量范围可达到100C; 比色仪器;可产生1cm或更长光程,能在540nm使用的分光光度计;或者可产生lcm或更长 光程,装有绿-黄滤色器且最大透射比在540nm附近的滤色光度计 实验室用玻璃器具:所有可重复使用的玻璃器具(玻璃、石英、聚乙烯、聚四氟乙烯等)包括放 d 样品的容器都应用实验室级清洁剂和水浸泡过夜,用水淋洗,用稀释的混酸((HNO;HCl 1:2:9体积比)浸泡4h后再用去离子水淋洗 只要能达到同样的洁净度和方法空 白,也可使用其他清洗程序 刻度量简:A级玻璃器具,100ml,或者其他等同精度的量具,如等同精度的自动稀释计; 系列校准移液管:A级玻璃器具或其他等同精度器具 g萃取装置:250ml 碉硅酸盐玻璃或石英烧杯; h)加热装置;能使萃取液保持沸腾; 22
GB/T22727.1一2008 滤膜:;0.45Am，最好是纤维素滤膜或聚碳酸酯滤膜 6.5.1.4试剂 所用试剂均为分析纯 1,5-二苯卡巴阱; a b)K.Cr.O标液总铬浓度为400mg/kg):在一玻璃容器中,用去离子水溶解0.l13g K.Cr.(O,用去离子水稀释至100g,盖紧或塞紧容器,可保存使用大约1年左右 K.Cr.(O标液(总铬浓度为1mg/kg):在一玻璃容器中,取0.25g上述b)溶液,用去离子水 稀释至100g,盖紧或塞紧容器; d) 丙酮 e 乙醇(96%u/)); f正磷酸溶液(75%m/m)); g 去离子水 6.5.1.5样品制备 测试前,样品表面不能有任何污染物、指印或其他外来污点 如果表面涂有薄油,测试前需在室淋 下(不超过5c)用清洁剂软布或适合的溶剂去除 样品不能在高于5C条件下强制干燥 因助腐 镀层会被碱分解,故不能用碱性溶剂处理样品 若样品表面含有聚合物涂层,可用细砂纸如800井的sic砂纸轻轻摩擦除去,还可以选用其他更有 效的方法去除表面涂层 注意不能将样品表面的防腐镀层也一起摩擦掉 6.5.1.6测试步骤 6.5.1.6.1斑点法测试步骤 将0.4g二苯卡巴阱溶于20ml丙酮和20ml乙醉(96%(w/))的混合液中 溶解后,加人 a 20ml正磷酸溶液(75%(m/m))和20mL去离子水 该溶液应在使用前8h内配制 对于金属板样品,在样品表面滴加(1一5)滴上述配好的a)溶液 如果存在六价铬,几分钟内 b 样品表面出现红色至紫色的颜色变化 忽略之后再出现的其他颜色,如变干后颜色变化 对于紧固样品,如一个小螺丝,将样品放人像试管这样的容器内,滴加1一5滴测试溶液(见 6.5.1.6.la)步骤所配溶液) 如果存在六价铬,几分钟内出现红色至紫色的颜色变化 将螺 丝从容器中取出后将容器放在白色背景下更能容易观察到测试溶液的颜色 如果样品表面出现颜色变化,那么该样品就被认为在镀层中含有六价铬 不再需要进一步的 分析 如果样品表面没有出现颜色变化,应进行以下操作步骤: 在金属板表面选择一块儿未测区域,或者选择另一个同样的螺丝样品,用砂纸如800井的 SiC砂纸轻轻摩擦,摩擦可能的铬镀层,但不要彻底除去整个镀层 在新刮擦的表面,重复6.5.1.6.1b)步骤 如果出现颜色变化,那么样品就被认为含有六 价铬镀层 -如果还没有出现颜色变化,稍用力刮擦样品表面至涂层深处,再重复6.5.1.6.1b)步骤 如果直到刮擦到样品基体,颜色仍然没有变化,那么认为样品低于六价铬的检出限; -如果分析者很难判断测试中的颜色变化在新抛光的样品裸露基体表面滴加一滴 kg,6.5.1.de)所配溶液),再滴加1滴测试溶液 K.Cr,O标液总铬浓度为 mg/ 见6.5.1.6.la)所配溶液)进行混合 作为另一种备选方式,在一个小容器内如试管中 将等量的K.Cr:O标液总铬浓度为1mg/kg,6.5.1.4e)所配溶液和测试溶液 见6.5.1.6.la所配溶液)进行混合; -将从样品得到的颜色和从K.Cr.O标液得到的颜色进行比较 如果从样品得到的颜色 与从标液得到的颜色相同,或者从样品得到的颜色更红,那么样品镀层含有六价铬 如 23
GB/T22727.1一2008 果从样品得到的颜色是清亮的无色),那么样品镀层不含有六价铬 如果从样品得到的 红颜色比标液得到的红颜色浅,但也不是清亮无色,那么按照6.5.1.6.2进行操作 -斑点法测试出现颜色变化,表明存在六价铬镀层 斑点法测得的六价铬浓度等于或高于 mg/kg 但是,这不能解释为样品镀层中六价铬的浓度,也不宜用于该定性测试方法的 检出限 为了用于比较,也可采用类似方法测样品的基体 除去样品所有的涂层即可得到样品的基体 如,用砂质或挫摩擦,或者用酸脱去涂层 如果斑点法测试没有出现颜色变化,或者分析者不能肯定斑点法测试结果的情况下,可采用下 面的沸水萃取法进行进一步的验证 6.5.1.6.2沸水萃取法测试步骤 上述6. 5. 1 .6.la)所配的测试溶液可直接用于本测试过程 本方法也可以用另外一种储存期 a 更长的测试溶液,配制方法如下;将0.5g二苯卡巴胁溶于50mL丙酮中 用50ml去离子 水边搅拌边缓慢稀释(快速混合可能导致二苯卡巴阱生成沉淀),如果该溶液脱色,即应废弃 不用 被测样品的表面应至少(50士5)cm 如果像螺丝之类很小的样品,或者样品表面形状不规 则,可适当选取更多样品来达到要求的面积(50士5)em 注l:于形状复杂的样品,可以根据制造说明书,或者用尺寸和形状来估算表面积 注2:对于一些小的电子零部件,可能很难得到总表面积为(50士5)cm的样品 在这种情况下,可适当缩小所用的 总表面积,并相应地调整稀释因子 分析报告中需要记录调整情况. ,在分 示例:平顶埋头螺丝可认为是一个金属圆柱螺丝柱体)连接了一个金属锥体螺丝头) 估算螺丝柱体的表面积: S=2×开×R×H十2×开×(R9 式中 S 估算的螺丝柱体的表面积; R 螺丝柱体的半径 H -螺丝柱体的高度 估算螺丝头的表面积: S，=开×(R十R)×H十其x(R.9 式中 估算的螺丝头表面积 S R 螺丝头的半径; H 螺丝头的高度 总的估算螺丝表面积 S = S S一2×开×R 式中: S -总的估算螺丝表面积 6.5.2 比色法定量测定六价铬 6.5.2.1方法适用性 描述了在聚合物以及电子元器件中定量测定六价铬的程序 利用碱溶法从样品中萃取六价铬 研 究已证明碱性溶液比酸性溶液能够更有效的从水溶性和非水溶性的样品中萃取六价铭 在碱性萃取液 中极少发生Cr()转变成Cr(皿)的还原作用或Cr(I)转变为Cr()的氧化作用 6.5.2.2方法概要 利用碱溶法从样品中萃取六价铬 碱性萃取液是0.28mol/LNa,CO和0.5mol/LNaOH的混合物 样品在(9095)C的溶液中 214
GB/T22727.1一2008 萃取3h 萃取液中六价铬的浓度是通过在酸性条件下与1,5-二苯卡巴阱反应测得 六价铬与1,5-二 苯卡巴阱的反应中被还原成三价铬,而二苯卡巴阱被氧化成二苯卡巴脉,三价铬同二苯卡巴朦进一步形 成红紫色的络合物 然后在540nm波长处用比色计或分光光度计对络合物溶液进行定量测定 为了降低六价铬的化学活性,分析前样品及其提取物应保存在相对湿度(4575)%、温度(15~ 35)C的环境条件 由于目前对萃取物中的六价铬的稳定性尚未完全了解,分析应在萃取后尽快完成 样品来源或其基体对Cr(VI)的萃取有很大的影响 每个样品应使用6.5.2.6.5.1描述的示踪程 序进行评估来决定一个方法是否适合这个样品的检测以及分析结果是否要根据示踪回收率进行校正 本方法适合某些聚合物样品包括聚氯乙稀(PVC)以及丙烯睛-丁二烯-苯乙烯(ABS)的检测,而不适合 乙烯-醋酸乙烯酯/聚乙烯共聚物(EVA/PE)的检测 利用6.4所描述的ICPOES方法能够定量检测聚合物和电子元器件中的总铬(包括六价铬),这是 个很实用的方法 然而,ICP-OES不能检测出六价铬的含量,只是检测样品中的所有价态的铬的总 含量 在比色法中潜在的干扰可以导致六价铬的还原、三价铬的氧化或在比色测定时颜色干扰 干扰因 素包括但不限于pH值、铁离子,硫离子、六价钼以及汞盐等的影响 注所有在本方法中使用的可能含有六价铬的样品以及试剂应采取适当的预防措施处理 含有六价铬的溶液或废 物应正确处置 例如维生素C或其他的还原剂能够将六价铬还原成三价铬 6.5.2.3仪器设备 真空过滤器" a D) 加热搅拌装置;能够在(90~95)C持续搅拌溶液 聚四氟乙烯磁性搅拌子可用于聚合物样品 的搅拌 但不建议用于铁磁性样品,包括金属样品以及电子样品 在此情况下,建议使用聚四 氟轴和搅拌叶的搅拌; pH计;其精度应在士0.03,测量范围在0~14; d分析天平;精确到o.0001 温度计;温度计或电热调节器或其他的,测量范围应达到100C 比色仪:可提供1cm光程且可在540nm范围使用的分光光度计,或者可产生1cm或更长光 程,装有绿-黄滤色器且最大透射比在540nm附近的滤色光度计; g具有或者无液氮冷却的研磨机,具有研磨聚合物样品以及电子配件的能力; h)实验器具:包括样品容器在内的所有可以重复使用的器皿(玻璃、石英、聚乙烯、聚四氟乙烯 等),要求浸泡在实验室级的去污剂和水过夜,然后用水清洗,接着用稀硝酸和盐酸的混合液 硝酸盐酸:水=1;2:9,(体积比)浸泡4h之后用去离子水淋洗 经由方法空白分析证 明玻璃器皿相当干净时,清洗过程允许选择性进行; 容量瓶和量简:有塞子的10001 000ml和100ml的A级玻璃容器或精确度和精密度可接受的同 级品 如达到可接受的精确度和精密度,也可选用其他的容量测定装置如自动稀释仪; 移液管:具可接受精确度和准确度的各种合适型号 k)提取瓶:具250ml刻度的棚硅酸盐玻璃或石英烧杯或其他同级品; D 滤膜(0.45Am) 最好是纤维素或聚碳酸酯膜; m碳-18注射过滤筒 6.5.2.4试剂 硝酸;分析纯,(2025)C避光保存 不要使用已经变黄的浓硝酸,这是由于其中的硝酸根被 a 光致还原成二氧化氮,而后者可把六价铬还原 b)碳酸钠;Na,cO.,无水,分析纯,(2025)C保存于封闭的容器中; c)氢氧化钠:NaOH,分析纯,(20~25)C保存于封闭的容器中; 叙化镁MgCl.(无水),分析纯,400mg的氧化镁相当于100mg镁离子;(20一25)C保存于封 d 25
GB/T22727.1一2008 闭的容器中 磷酸盐缓冲液;配制pH值为7的缓冲液,将87.09gK;HPO(分析纯)和68.04gKHPO 分析纯)溶解于700ml去离子水中,然后移至1.0L的容量瓶中稀释至刻度线;配制好的缓 冲液含有0.5MK,HPO和0.5MKH,PO; 铬酸铅PbCrO;分析纯,(20~25)C保存于封闭的容器中,这是固体示踪剂; fD 提取液;用去离子水溶解(20.00士0.05)g氢氧化钠和(30.00士0.05)g碳酸销,定容到1.0L. (2025)C密封保存于聚乙烯瓶中,每月要重新制备 使用前其pH值应在11.5以上含 11.5)，如果不符合要求,应重新配制 h)重铬酸钾储备液;将141.4mg干燥的重铬酸伊K,Cr,O,(分析纯)溶解于去离子水中,然后稀 释至1.0L.1mL含 504gCr) 重铬酸钾标准液;将上述配制的10mL的重铬酸钾溶液稀释至100ml.(1ml含54gCr); 硫酸10%u/uD) );将1 0mL 硫酸(试剂纯或色谱纯)用去离子水稀释至100mL 1,5-二苯卡巴耕溶液:在50 丙酮中溶解250mg1,5-二苯卡巴耕,保存在棕色瓶中 使用 ml 前检查溶液的颜色,如果变色则丢弃重新配制 重铬酸钾示踪储备液[1000mg/LCr(I];将于105C干燥至恒重的2.829gK.,Cr.O用去 离子水溶解于1.01的容量瓶中,然后稀释至刻度线 也可使用经认证的1000mg/L.Cr( 标准液 此溶液应在(2025)C保存于封闭的容器中,六个月内使用 m重铬酸钾K.,Cr,O示踪溶液[100g/L.Cr(V]:从上述制备的1000g/L 的K,Cr,O示 踪剂中取10.0ml移人100ml.的容量瓶,用去离子水稀释至刻度线,混合均匀; n)去离子水,去离子水应不含干扰物 6.5.2.5样品制备 样品收集和储存应使用不含不锈钢的设备和容器 提取前,聚合物样品和电子元器件应研磨成能够100%通过250Am滤网(如#60ASTM标准滤 网)的粉末 6.5.2.6测试步骤 6.5.2.6.1萃取 准确称取2.500g样品,放人干净的提取瓶中; 注，如果样品中六价铬的含量过低或过高也可以称取不同重量的样品 b)为了进行示踪回收率测定,准确称取第二份2.500g样品(或其他选用的重量),放人第二个干 净的提取瓶中 选择一种示踪溶液[见6.5.2.4l)或6.5.2.4m)]直接加人样品中 用量筒向每一个样品中加人50ml提取液见6.5.2.4g)); 然后每一个样品中加人溶有400mgMgCl 的1.0mol/L的磷酸缓冲液中[见6.5.2.4e) 0.5ml 如果分析技术能够修正方法可能导致铬的诱导氧化还原,也可以对溶液选择性加人 MgCl; 注:对于那些易“漂浮”在提取液面上的聚合物,可加人1一2滴润湿剂如曲拉通X-100以增加提取过程中 样品的润湿性 用表玻璃或塑料盖盖住所有的提取瓶 将样品加热至(90~95)C,并不断搅拌,至少保持3h,不断搅拌冷却至室温; e 用0.454m的滤膜过滤 用去离子水淋洗提取瓶三次并将淋洗水移至过滤器 如果0.45Am 的滤膜过滤器阻塞,可以用大孔滤纸(Whe hatmanGFBorGFF)将样品进行预过滤; 用去离子水冲洗吸滤瓶和滤网,然后将滤液和洗涤液移至一干净的250ml容器中 将过滤 器上的固体收集保存,在评估低Cr()基体示踪回收率时可能会使用,将过滤固体保存在 4士2)C; h)在检测pH值时不断搅拌,将浓硝酸[见6.5.2.4a)]缓慢滴加到该250mL的容器中,调节溶 26