GB/T31768.4-2015
无损检测闪光灯激励红外热像法第4部分：检测系统
Non-destructivetesting—Infraredflashthermography—Part4:System
- 中国标准分类号（CCS）J04
- 国际标准分类号（ICS）19.100
- 实施日期2016-03-01
- 文件格式PDF
- 文本页数5页
- 文件大小290.73KB
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无损检测闪光灯激励红外热像法第4部分：检测系统
国家标准 GB/T31768.4一2015 无损检测闪光灯激励红外热像法 第4部分:检测系统 Non-dlestruetivetesting一Infrarednashthermgraphy一Part4.Systemm 2015-06-02发布 2016-03-01实施 国家质量监督检验检疫总局 发布 国家标准化管理委员会国家标准
GB/T31768.4一2015 前 言 GB/T31768(无损检测闪光灯激励红外热像法》分为以下几个部分 -第1部分:导则; 第2部分;检测规范; 第3部分:参考试块; 第4部分,检测系统
本部分为GB/T31768的第4部分
本部分按照GBy/T1.1一2009给出的规则起草 本部分由全国无损检测标准化技术委员会(SAC/TC56)提出并归口
本部分起草单位;北京维泰凯信新技术有限公司、首都师范大学,特种设备检测研究院、航天科 工三院8358所、广州飒特红外股份有限公司,南京诺威尔光电系统有限公司、重庆师范大学
本部分主要起草人;冯立春,王迅.沈功田,杨贺,吴涛、,陈力,曾智
GB/T31768.4一2015 无损检测闪光灯激励红外热像法 第4部分:检测系统 范围 GB/T31768的本部分规定了闪光灯激励红外热像法检测系统及其校准和安全性要求
本部分适用于闪光灯激励红外热像法无损检测系统的设备选型和使用
规范性引用文件 下列文件对于本文件的应用是必不可少的
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凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件
GB/T12604.9无损检测术语红外检测 GB19517国家电气设备安全技术规范 无损检测通用术语和定义 GB/T20737 术语和定义 GB/T12604.9和GB/T20737界定的以及下列术语和定义适用于本文件 3.1 全局快门 globalshutter 全局积分 snapshotshutter 同步积分 synehronousshutter;synchronousexposure 成像传感器阵列中各像素的积分开始及结束时间一致的积分方式
3.2 卷帘式快门rolingshutter 卷帘式积分rolingexposure 成像传感器阵列中像素积分开始及结束的时间按行所在的位置依次落后于第一行的积分方式
3.3 自动校准快门anto-shuter 内置校准遮挡片 热像仪用来对探测器进行非均匀校正的内置遮挡片
检测系统 4.1系统的组成 闪光灯激励红外热像检测系统由闪光灯(阵列,热像仪(包括镜头及附件,控制和数据处理系统 采集控制系统及处理软件组成)
见图1
GB/I31768.4一2015 热像仪 闪光灯 控制和数据处理系统 被测物体 检测系统组成示意图 闪光灯阵列及附件 4.2 包括 由一只或多只闪光灯组成,闪光灯宜为同型号; a 可为被检物表面提供均匀的光脉冲照射 b 闪光能量应满足加热激励的要求,输出能量宜可调整; es 闪光脉冲的半高宽宜小于或等于5ms D 闪光灯阵列的放置应避免闪光能量直接人射到热像仪镜头; 阵列周围宜放置遮光设施,防止现场检测人员直接暴露在闪光中; 闪光灯前宜放置可透过闪光,不透过热像仪工作波段辐射的窗口材料,以避免闪光灯管的热辐 射经被检物体表面反射进人热像仪视场
4.3热像仪、镜头及其他附件 4.3.1热像仪的工作波段宜处于34m一5Am或8m14Am大气窗口内,应根据被检物的红外光谱 吸收及透射特性进行选择,如被检物在热像仪工作波段内透明,则应考虑更换不同波段热像仪或对被检 物表面进行如涂漆或者覆膜等处理 4.3.2应根据检测对空间分辨力及视场的需求选择热像仪及镜头,热像仪探测器像元数不宜少于 320×240,热像仪、镜头与工作距离的选择与设置应满足需检测到的最小缺陷在探测器上成像至少覆盖 3×3个相邻像素
4.3.3热像仪的测温范围应覆盖闪光灯激励后被检物的温度变化范围
4.3.4热像仪探测器的温度分辨力应满足检测要求,NETD不宜大于100mK
4.3.5热像仪探测器宜为全局快门类型,如使用的热像仪为卷帘式快门探测器,则应考虑卷帘式快门 对检测结果的影响,并通过实验确定热像仪是否满足检测要求 4.3.6热像仪全帧输出帧频不宜小于25Hz,宜可调整;被检物温度变化较快时,宜选择更高的赖频
4.3.7热像仪积分时间宜可调整,信号饱和时,应减少积分时间,需注意减少积分时间后,热像仪温度 分辨力可能会下降
4.3.8热像仪如果有自动校准快门,在检测采集过程中应关闭此功能
GB/T31768.4一2015 4.3.9热像仪应能实时输出采集的数据或把数据记录到存储器中
4.4采集控制系统 4.4.1应能控制闪光灯阵列的触发,热像仪的采集开始、热像仪的采集持续时间或采集总赖数等
4.4.2应能采集闪光前及闪光后数据
4.4.3应能采集热像仪的数字输出并进行记录,采集记录设备可以是计算机,也可以是热像仪自带的 存储器
4.5数据处理软件 4.5.1应能读取已存储的数据,连续或逐帧播放采集到的热图序列;能观察任意像素的温度变化曲线
宜能进行适当的图像数据处理,如平均、平滑,图像相减,曲线拟合、一阶微分及二阶微分等 4.5.2 功能
系统的校正与校准 5.1 校正 5.1.1热像仪在使用前,应按使用要求进行非均匀性校正,可根据需要进行平面视场校正;当使用替换 镜头、重新调焦时,应重新进行非均匀性校正;在改变温度范围或改变积分时间时,应根据设备制造商的 要求确定是否需要重新进行非均匀性校正
5.1.2闪光灯阵列宜使用热激励均匀性试件进行检验以满足检测对激励均匀性的要求
5.1.3检测系统可定期或在需要时使用检测能力试件进行系统检测能力校验
5.2校准 热像仪宜具有图像冻结及温度读出功能以便实现热像仪的温度校准
安全性 系统电气安全应符合GB19517及相关标准
闪光灯激励红外热像检测系统中包含了蓄能设备、大电流放电设备,使用中应注意绝缘及电磁兼容 性要求,应在确认电容充分放电后再操作连接电缆等
不允许在易燃易爆环境中操作闪光灯
无损检测闪光灯激励红外热像法第4部分：检测系统GB/T31768.4-2015
无损检测是现代工业生产中不可缺少的一项技术，它可以在不破坏材料或构件的前提下，对其进行内部和表面缺陷的检测。而闪光灯激励红外热像法作为一种比较常见的无损检测方法，被广泛应用于机械、电力、航空航天等领域。
GB/T31768.4-2015是国家标准中规定的无损检测闪光灯激励红外热像法的检测系统标准，该标准规定了检测系统的要求、定义、分类、检测方式、设备、校验、记录和报告等内容。
根据标准，这种无损检测方法主要是基于闪光灯的激励和红外热像仪的感应，通过对被测物体表面进行扫描，采集其辐射热信号并转换成温度图像。这样就可以清晰地显示被测物体的内部和表面缺陷，如裂纹、气孔、夹层等。
在GB/T31768.4-2015标准中，要求检测系统必须具备一定的技术性能指标，如空间分辨率、温度灵敏度、噪声等。此外，还需要对系统进行校验和质量控制，并记录和报告检测结果。
总之，无损检测闪光灯激励红外热像法已经成为工业生产中非常重要的一项技术，而GB/T31768.4-2015标准则为这种技术提供了一个规范，从而保证了检测结果的准确性和可靠性。
