GB/T5594.3-2015
电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法第3部分：平均线膨胀系数测试方法
Testmethodsforpropertiesofstructureceramicusedinelectroniccomponentsanddevice—Part3:Testmethodformeancoefficientoflinearexpansion
- 中国标准分类号（CCS）L90
- 国际标准分类号（ICS）31-030
- 实施日期2016-01-01
- 文件格式PDF
- 文本页数4页
- 文件大小247.04KB
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电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法第3部分：平均线膨胀系数测试方法
国家标准 GB/T5594.3一2015 代替GB/T5594.3一1985 电子元器件结构陶瓷材料 性能测试方法 第3部分平均线膨胀系数测试方法 Testmethodsforpropertiesofstruetureceramice usedinelectroniccomponentsanddevice Part3:Testethodformeancoefficientoflinearexpansion 2015-05-15发布 2016-01-01实施 国家质量监督检验检疫总局 发布 国家标准化管理委员会国家标准
GB/5594.3一2015 前 言 GB/T5594《电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法》的结构如下 气密性测试方法(GB/T5594.1); -杨氏弹性模量泊松比测试方法(GB/T5594.2); -第3部分平均线膨胀系数测试方法(GB/T5594.3); -第4部分:介电常数和介质损耗角正切值测试方法(GB/T5594.4); -体积电阻率测试方法(GB/T5594.5); -第6部分:化学稳定性测试方法(GB/T5594.6) 第7部分:透液性测定方法(GB/T5594.7); 第8部分显微结构测定方法(GB/T5594.8) 电击穿强度测试方法(GB/T5594.9)
本部分为GB/T5594的第3部分
本部分按照GB/T1.1-2009给出的规则起草
本部分代替GB/T5594.3一1985《电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法平均线膨胀系数测试 方法》
本部分与GB/T5594.31985相比,主要有下列变化 -标准名称改为;“电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法第3部分;平均线膨胀系数测试方 法”; -A1渊试样品改为3.5X;0 mm; 4.2套管和传递杆的材料从石英玻璃少化为石英玻璃或高温氧化铝陶瓷; -4.4测量范围从室温至800C变化为室温至1200C; 4.5线膨胀系数单位改为K-" 请注意本文件的某些内容可能涉及专利,本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任
本部分由工业和信息化部提出
本部分由电子技术标准化研究院归口 本部分起草单位:;电子科技集团公司第十二研究所、河南济源兄弟材料有限公司、浙江温岭特 种陶瓷厂 本部分主要起草人:高陇桥、黄国立,胡菊飞
本部分所代替标准的历次版本发布情况为 -GB/T5594.3一1985
GB/5594.3一2015 电子元器件结构陶瓷材料 性能测试方法 第3部分平均线膨胀系数测试方法 范围 GB/T5594的本部分规定了陶瓷材料平均线膨胀系数测试的样品、测试设备、测试方法及报告 格式
本部分适用于电子元器件结构陶瓷材料的平均线膨胀系数的测试
规范性引用文件 下列文件对于本文件的应用是必不可少的
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凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件 GB/T55932015电子元器件结构陶瓷材料 GB/T9530一1988电子陶瓷名词术语 术语和定义 GB/T9530一1988界定的以及下列术语和定义适用于本文件
3.1 线膨胀系数coerrieientoflinearexpansionm 在一定温度范围内,温度变化1K试样线性尺寸的相对变化值
常用式(1)表示: l(t一l) 式中: 线膨胀系数; -最初温度t
时试样的长度,单位为毫米(mm); 加热温度至!时试样的长度,单位为毫米( mm 测试方法 4.1样品应符合GB/T5593一2015中表2的要求并用精确度为0.02mm的卡尺测量试样长度Lo 4.2试样装人石英玻璃或高温Al.O陶瓷套管中,应保持平直和稳定,并和石英玻璃或高温Al.O陶 瓷传递杆接触良好
用10倍放大镜观察,不应有可见裂纹和气孔
4.3接通电源,加热并均匀升温
试样升温速度不大于5/ min
记录各点温度和伸长值-L..直至测试到所需温度为止(测量范围可从室温至1200C) 4.4 4.5根据仪器类型不同,测试结果可直接在计算机屏上显示,或按式(2)计算a值
L 2 a 十a介质" M又L
又T
GB/T5594.3一2015 式中: 平均线膨胀系数,单位为每开尔文(K-'); -室温至所测温度测得试样被放大M倍的伸长量,单位为毫米(n mm; Al M 测量系统的放大倍数; L
-试样在室温下的长度,单位为毫米(mm); T -室温至所测温度的温度差,单位为开尔文(K); 石英玻璃或陶瓷传递杆的平均线膨胀系数,如无标样数据,可自行测定
a介质 结果评定 平均线膨胀系数以10-"K'数量级表示,报告数据准确到小数点后两位
试样平行误差不大于 0.1×10-K-',最后结果为两个试样的平均值
报告 平均线膨胀系数技术指标的测试报告应包括以下内容 受检单位名称 a) b)送样日期 e)送样者; d)测试样品编号 e使用的仪器,操作者,测试日期" 检测项目和检测结果
f
电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法第3部分：平均线膨胀系数测试方法GB/T5594.3-2015
电子元器件结构陶瓷材料在使用过程中，由于受到温度变化的影响，其尺寸也会发生变化。为了保证电子元器件的性能和可靠性，需要进行平均线膨胀系数测试。本文将详细介绍该测试方法。
1. 测试原理
平均线膨胀系数是指材料在温度变化时，单位温度下长度增加或缩短的比例。测量平均线膨胀系数的方法有很多种，但最常用的是线膨胀仪法。
线膨胀仪法的基本原理是：用一根样品棒材，通过样品架和测量系统，使其在恒定的温度下自由膨胀或收缩，同时用电阻应变仪测量样品棒材的伸长或缩短，然后计算平均线膨胀系数。
2. 测试步骤
平均线膨胀系数测试方法GB/T5594.3-2015规定了以下测试步骤：
- 准备工作：将样品切成标准尺寸，并进行表面处理。将线膨胀仪安装好，根据要求调整温度、采样速率等参数。
- 安装样品：将样品固定在样品架上，并将测量电极与样品棒接触。
- 调整测量电路：通过电桥平衡方式进行电路调整，确保电路正常工作。
- 进行测试：升温到设定温度，然后开始测试。测试过程中需要记录温度和电阻应变值，并计算平均线膨胀系数。
- 数据处理：将测试结果进行统计处理，并计算平均值、标准差等指标。
3. 结论
通过以上测试步骤，可以得到电子元器件结构陶瓷材料的平均线膨胀系数。这个参数对于设计和制造具有重要意义的电子元器件结构陶瓷材料来说是非常关键的。
