GB/T35033-2018
30MHz～1GHz电磁屏蔽材料导电性能和金属材料搭接阻抗测量方法
Measurementmethodonconductivepropertiesofelectromagneticshieldingmaterialandbondingimpedanceofmetalmaterialfor30MHzto1GHz
- 中国标准分类号（CCS）L06
- 国际标准分类号（ICS）33.100
- 实施日期2018-12-01
- 文件格式PDF
- 文本页数25页
- 文件大小8.79M
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30MHz～1GHz电磁屏蔽材料导电性能和金属材料搭接阻抗测量方法
国家标准 GB/T35033一2018 30MHz~1GHz电磁屏蔽材料导电性能 和金属材料搭接阻抗测量方法 Measurementmethodonconduetivepropertiesofeleetromagneticshielding materialandbomdingimpedaneeofmetalmaterialtor30Mlato1GHn 2018-05-14发布 2018-12-01实施 国家市场监督管理总局 发布 币国国家标准化管理委员会国家标准
GB/T35033一2018 次 目 前言 范围 2 规范性引用文件 术语和定义 阻抗 S 参数 5.1 概述 5.2 二端口 参数 测量要求 6.1测量环境要求 6.2测试样品要求 测试系统要求 7.1系统构成 7.2测量设备 7.3测量装置 测试系统的校准和有效性确认 8.1概述 8.2测试系统的校准 8.3测试系统有效性的确认 测量方法 9.1测试布置 9.2电磁屏蔽材料导电性能的测量方法 9.3金属材料的搭接阻抗的测量方法 10报告要求 10 附录A(规范性附录搭接阻抗Z，的计算公式 附录B(规范性附录测量装置指标校验程序及示例 14 附录c资料性附录)电磁屏蔽材料导电性能和金属材料搭接阻抗测量示例 21
GB/35033一2018 前 言 本标准按照GB/T1.1一2009给出的规则起草
本标准由全国无线电干扰标准化技术委员会(SAC/TC79)提出并归口
本标准起草单位:上海电器科学研究院、华为技术有限公司、上海添唯认证技术有限公司、上海市计 量测试技术研究院
本标准主要起草人:;袁书传、王庆海,郑军奇,陈濒、陈超蝉,刘媛,邢琳、许帅
GB/35033一2018 30MHz1GHz电磁屏蔽材料导电性能 和金属材料搭接阻抗测量方法 范围 本标准规定了电磁屏蔽材料导电性能和金属材料搭接阻抗测量要求、,测试系统要求、测试系统的校 准和有效性确认,测量方法
电磁屏蔽材料可以包括,但不限于导电泡棉、簧片、金属丝网、导电布、导电橡胶(屏蔽体本身除 外)等
本标准适用于30MHz1GHz的频率范围内电磁屏蔽材料导电性能和金属材料搭接阻抗的 测量
规范性引用文件 下列文件对于本文件的应用是必不可少的
凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文 件
凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件
GB/T26667一201l电磁屏蔽材料术语 术语和定义 GB/T266672011界定的以及下列术语和定义适用于本文件
为了便于使用,以下重复列出了 GB/T26667201l中的一些术语和定义 3.1 电磁屏蔽eleetromagnetieshieding 用导电或导磁材料减少或阻断电磁场向指定区域的传播
[[GB/T26667一2011,定义2.1.6 3.2 电磁屏蔽材料electromagneticshiedingmaterials 具有减少或阻断电磁场向指定区域传播功能的材料
3.3 电磁屏蔽材料导电性能conduetiepropertiesofeeetromagneticshiedingmaterial 电磁屏蔽材料导电的能力
注1，电磁屏蔽材料可用于填充在两个导电表面之间,以保证屏敞体的电连续性,其导电性能可以通过对电磁屏敞 材料阻抗的测量来实现
注2;当电磁屏蔽材料用于填充材料放置在两导电表面之间时,如图1所示,图中电磁屏蔽材料的阻抗是上金属表 面与电磁屏蔽材料之间的阻抗Z、电磁屏蔽材料固有阻抗Z、下金属表面与电磁屏蔽材料之间的阻抗Z三 者的矢量之和
当上下金属与电磁屏蔽材料接触面的特性(例如材料、表面平整度、表面镀层等)固定时,可用 Z来表达该电磁屏蔽材料导电性能
且材料的导电性能与压缩量(见3.4)有关
注3:电磁屏蔽材料导电性能用阻抗Z表示
GB/T35033一2018 上金属表面 电磁屏蔽材料 下金属表面 电磁屏蔽材料科阻抗Z=Z+z+Z， 图1电磁屏蔽材料的阻抗构成 3.4 电磁屏蔽材料的压缩量amuntofeompresiofreletrmagnetieshiedingmaterial 电磁屏蔽填充材料尺寸会由于压缩而减小,在垂直方向上(厚度)压缩后与未压缩的比值
3.5 阻抗impedance 交流电压V与交流电流1之比在频率时),以复数表示为;Z-V/I1,用以表明针对交流电流的 总阻碍作用;作为如二端口电路,如电感、电容,电阻的一个特性参数
注;阻抗由电阻R和电抗X组成,通常用复数形式表示为;Z=R十jX;或者可用极坐标表示为lzlexp(i)(绝对 值|Z|和相位角);用作EMC滤波器件的性能参数;Z的单位用Q表示
3.6 测试电路的阻抗impedancesofthetesteireut 未连DUT时测试电路的终端阻抗
3.7 金属材料搭接阻抗immpedanceofbondingformetalicmateria 两金属材料相互搭接时,接触面之间的阻抗值
注:搭接示意图如图2,两金属材料搭接阻抗会随两金属材料之间的搭接状况改变而变化,通常搭接状况与金属材 料表面加工工艺和金属材料类型有关
金属表面 金属体 金属表面 局部放大 金属体 图2两金属材料搭接示意图 3.8 s参数s- -parameter 散射参数
GB/35033一2018 S, 散射矩阵中的一个元素,用以表示某一电路的传输和反射系数
注1:作为最常用的情况,每一个S参数将人射波与反射波或传输波的复电场强度(或电压)联系在一起
一个典型 的S参数s,,的下标表示该s参数相关的输出和输人端口
在给定输人输出参考平面的情况下,s参数会随 着频率的变化而变化
该参数可反映金属之间及电磁屏蔽材料的导电性能
举例;一个二端口电路的s参数定义如下 「S1S2" LS s 式中. S和Sz分别是对应端口端接参考阻抗如50Q)时电路元件端口1或2的反射系数; s;和s往;传输系数,分别表示端口1到端口2和端口2到端口1的传输率
阻抗 本标准中涉及的被测样品的阻抗特性会随着频率、压力的变化而变化
因此,阻抗的测量应在各种 不同频率、压力下进行
阻抗测量可在30MHz1GHz的频率范围内进行
5 s参数 S 5.1概述 电磁屏蔽材料导电性能和金属材料搭接阻抗由其s散射)参数来决定
被测样品的S参数随着频率、压缩量等的变化而变化
因此,S参数的测量应在不同的频率下进 行测量
这种频率相关性被用于样品导电性能或样品搭接阻抗测试的设计
s参数的测量可在大约 30MHz~1GHz频率范围内进行
5.2二端口S参数 电磁屏蔽材料导电性能和金属材料搭接阻抗的测量回路可以认为是一个二端口电路,其特性可用 图3所示的测试装置的二端口S参数来评估
通过二端口电路S参数测量,可以推导出二端口电路的 阻抗
端口2 端口1 1'地 2'地 图3二端口器件s参数的测试布置(DuU相对50n为低阻抗 S参数测试装置的阻抗特性应与矢量网络分析仪的端口阻抗(50Q)相匹配
测量要求 6.1测量环境要求 为了尽量减小环境参数对测量结果的影响,确保测量结果的准确和一致性,电磁屏蔽材料导电性能
GB/T35033一2018 和金属材料搭接阻抗的测量应在一个免于遭受明显温度变化和外部电磁场影响的环境中进行(推荐以 下气候条件和电磁条件),除非制造商有其他特殊规定 气候条件 a 温度;23C士5; 相对湿度:30%60% 气压;86kPa一106kPa b)电磁条件 为了不影响试验结果,实验室的电磁条件应能保证试验设备的正常工作,建议在屏蔽室内
应记录测量时的环境条件和测量设备的设置,如温度、相对湿度、气压、频率范围等
6.2测试样品要求 6.2.1金属材料 样品表面处理;测试前被测件应进行表面清洁处理,如用98%酒精擦拭
样品个数:2片
样品尺寸;直径为100mm士1m圆形样品，1 n<厚度<10 mm 0mm
下金属片中心需开孔.开孔直径为4mm士1mm,便于放人测量装置中
6.2.2电磁屏蔽材料(导电衬垫 样品尺寸;l0mm<外形尺寸<100mm,0.2mm<厚度<101 mm; 样品个数:;l片
测试系统要求 7.1系统构成 测试系统通常由测量设备和测量装置构成,测量回路阻抗应为50Q.
测量设备主要为信号发生器和接收机或矢量网络分析仪,测量装置见7.3所述
测试系统应有足够的信噪比(不小于30dB)
7.2测量设备 7.2.1信号发生器 可采用正弦波信号发生器
如果其他类型的信号发生器在其所使用的频段内能够输出均匀恒定的 频谱,也可以使用之(如噪声信号发生器或者脉冲信号发生器),但此时,所使用的接收机应具有良好的 选择性和杂散抑制能力
信号发生器的阻抗应为50Q
7.2.2接收机 可使用有“选择性”的接收机(应至少在第一级放大前有一个谐振电路)
如果测试用信号发生器输 出的谐波和非期望的频率成分足够小、且在评估测量不确定度中加以考虑的情况下,也可以使用“无选 择性”的接收机
接收机的阻抗应为50Q
7.2.3矢量网络分析仪 推荐使用具有以下参数的矢量网络分析仪作为测量设备以代替7.2.1和7.2.2所述的信号发生器 和接收机,具体参数要求如下
GB/35033一2018 -频率范围;30MHz~1GHz 特性阻抗:50Q; 应有足够的动态范围来进行测量,推荐显示动态范围:>80dB:; -动态范围:在开路状态下,矢量网络分析仪在中频带宽10Hz时,动态范围>90dB 应能选择适于测量频率范围内使用的线缆、连接器、适配器等,应按规定扭矩固定连接器
注:使用合适的扫描信号发生器以及同步调谐的接收机或者矢量网络分析仪可以大大地简化测量程序
S参数的 特性可以在显示器上观测得到或自动记录
7.3测量装置 7.3.1测量装置的基本要求 测量装置应满足以下要求: 测量装置需能实现附录A原理的测量; a b 测量装置应满足附录B中校准程序的要求 测量装置能在没有样品的情况下实现附录A中图A.2测量原理等效电路图中的A、B(代表 图4测量装置的上金属片和下金属片)两点之间的短路 测量装置的屏蔽测量腔体可为空心屏蔽圆柱体,并可实现样品放人测量部分 d 测量装置中实现测量部分的圆柱体尺寸,可根据测量装置实现的样品尺寸范围而定 e 可将样品放人附录A原理图A.2中的A、B两点之间实现测量,并可以将测量信号注人在A、B f 两点之间,同时也可实现A、B两点之间的电平测量; 测量装置需要有压力施加装置,可以实现测量时的压力调节和压缩位移量的读取 g h)压力范围:0N一30N
7.3.2测量装置示例 测量装置主要由压力部件、机械支撑部件和测量部件组成
压力部件主要实现测量时的压力调节和压缩位移量的读取
压力测量装置和压力杆组成压力部 件,可进行压力调节
以便测量在确定的压力下的材料接触阻抗,增加测试的准确性和一致性
机械支撑部件用于是实现整个测量装置的机械支撑
测量部件的组成部分见图4(测量金属材料)与图5(测量金属屏蔽材料)
其主要功能如下 上屏蔽腔体和下屏蔽腔体两部分构成屏蔽测量腔体,屏蔽腔体用于屏蔽外界电磁干扰,防止对 测试结果产生影响,提高测试一致性; 5 注人探针和接收探针应与上金属片搭接
注人探针、信号注人端口和接收探针、信号接收端 用于传输测量信号实现阻抗测量; 上金属片固定在上屏蔽测量腔体下表面
下金属片固定在下屏蔽测量腔体上表面,且中心位 置穿孔
该测量装置可分为注人回路和测量回路
注人回路由信号注人端口注人探针、上金属片、被测试 样、下金属片、上屏蔽腔体和下屏蔽腔体组成,测量回路由信号接收端口、接收探针、下金属片、上屏蔽腔 体和下屏蔽腔体组成
该测量装置能有效的解决注人回路与测量回路之间的感性耦合、上屏蔽腔体和下屏蔽腔体之间的 低阻抗连接、探针与屏蔽测量腔体之间的低阻抗连接
GB/T35033一2018 信号接收端口 上屏敲腔体 接收探针 上金属片 下金属片 搭接衬热 下屏蔽腔体 注入探针 信号注入端口 图4搭接阻抗测量装置示意图 信号按收端口 上屏蔽腔体 按收探针 上金属片 被测屏蔽材料 下金属片 搭接村垫 下屏蔽腔体 注入探针 信号注入端口 图5屏蔽材料导电性能测量装置示意图 8 测试系统的校准和有效性确认 8.1概述 本标准仅规定了50Q/50系统的测试方法
这意味着所有测试电路的阻抗,包括信号源阻抗、传 输线阻抗、接收机阻抗或矢量网络分析仪阻抗均应为50Q. 测量装置指标校验程序见附录B. 在电磁屏蔽材料测量时,测量装置中上金属片和下金属片可使用黄铜片或导电性能更好、稳定性更 高的金属材料
连接至信号发生器、接收机或矢量网络分析仪的线缆和测量装置会影响测量结果,应通过校准以消 除这些影响
可通过8.2所述的方法对测试系统进行校准
所有的测试设备(矢量网络分析仪信号发生器,接收机,线缆等)均应进行校准且能溯源到国家校 准基准
应对电磁屏蔽材料导电性能和金属材料搭接阻抗测量测试系统进行整体评估,以证明其满足相关 要求
该测试系统包括测量装置(用来放置被测样品的屏蔽壳体,压力测量装置、机械固定装置、测量
GB/35033一2018 设备、线缆等
当被测样品不具有50Q的阻抗,对阻抗不匹配的DUT,需要通过必要的验证来确认该测试系统的 有效性
8.2测试系统的校准 测试系统校准应按照以下程序进行 将端口1的电缆按照图6a)的连接方式连接标准校准件,按下校准键按钮,开始校准后选择 50Q端口,进人测试校准界面,标准校准件需在开路、短路和匹配三种模式下校准,校准完成 后将标准校准件取下; 矢量网络分析仪的端口l电缆及端口2电缆按照图6b)的连接方式连接,为避免测试电缆及 相关附件对测试结果的影响,测试系统的校准应校准到测量装置的信号注人端口与信号接收 端口
选择矢量网络分析仪的直通模式,曲线显示值为零(即将两条电缆的衰减值归零),校 准完成
矢量网络分析仪 显示屏 9端口1 o端口2 ]50Q标准校准件 标准校准件连接示意图 欠量网络分析仪 显示屏 o端口1 端口2 连接器 连接器 矢量网络分析仪端口电缆连接示意图 注:图中两连接器之间电缆部分为测量装置中安装的同轴电缆
图6测试系统校准示意图
GB/T35033一2018 8.3测试系统有效性的确认 测试系统的有效性应通过对规定阻值(Q)的测试电路进行一系列的测量来加以确认,如图7所示
测试A的测量结果可以表明:当端接50Q阻抗(测量接收机提供的阻抗)时,射频信号发生器输出 电压是否等于开路电压的一半 测试B的测量结果可以表明射频信号发生器具有向低阻抗DU是否能够提供足够输出电流的 能力
测试C的测量结果可以表明:测量接收机是否具有足够的动态范围 对于上述的每一项测试,测量结果均应在表1规定的允差范围内
测量装置 测试N 测量装置 测试B 测量装置 测试C 说明: 信号发生器; G 接收机
注;G和R可由矢量网络分析仪代替
图7验证测试系统有效性的测试电路框图 表1测试系统的有效性确认的条件和要求值 V./ 测试 Q 直通 0.5×V -6dB士0.5dB R=0.1n B 0.002×V
一54dB士1dB R,=100kn 0.0005× 66dB士1d R和R的允差:士1%
GB/35033一2018 测试系统应在确认结果满足表1要求的频率范围内使用,此时,V
是信号发生器G的电动势 [e,m.,单位为伏特(V)];V，是测量接收机的终端电压
R和R，的值可能会随着频率和DUT的不 同而变化. 测量方法 g.1测试布置 测试布置示意图见图8. 网络分析仪 口口 端口1 端口2 测量装置 DUT 图8测试布置示意图 9.2电磁屏蔽材料导电性能的测量方法 电磁屏蔽材料导电性能测量步骤包括 将矢量网络分析仪的两条同轴的其中一条的一端连接至测量装置的信号注人端,另外一端连 a 接至端口1(见图8); 将矢量网络分析仪上两条同轴的另一条的一端连接至测量装置的信号测量端,另外一端连接 至端口2(见图8) 将电磁屏蔽材料样品放在上金属片和下金属片之间(见图4) d 注人探针从下金属片中心孔伸出来,形成注人回路 将上屏蔽腔体和下屏蔽腔体固定; e 将测量装置压力调为零,并记下此时测试装置上的位移刻度值,此刻度值时代表压缩位移量 为零; 调整电磁屏蔽材料的压缩位移量,并保存Sa曲线读值; g 根据附录A给出的Z，的计算公式计算得出Z
h
电磁屏蔽材料导电性能测量示例参见附录C中c.1 9.3金属材料的搭接阻抗的测量方法 金属材料的搭接阻抗的测量过程包括 将矢量网络分析仪的两条同轴的其中一条的一端连接至测量装置的信号注人端,另外一端连 a 接至端口1(见图8); 将矢量网络分析仪上两条同轴的另一条的一端连接至测量装置的信号测量端,另外一端连接 b 至端口2(见图8); 金属材料样品,应替换图4中的上金属片和下金属片;
GB/T35033一2018 d 注人探针从下金属片中心孔伸出来,形成注人回路" 将上屏蔽腔体和下屏蔽腔体固定; e fD 施加压力,并保存S曲线读值; 根据附录A给出的Z的计算公式,计算得Za 8 金属材料搭接阻抗测量示例参见附录C中C.2
10报告要求 试验报告应包括能重现试验的全部信息,应至少包含以下内容 -测试系统(测量设备和测试装置); -环境条件:温度,湿度等; -所选择的校准/确认方法; 待测样品详尽的描述如制造商信息和辅助设备的标识(如有),例如商标名称产品型号,序列 号材料、规格; -确保实验进行所需的任何特定条件 测量前样品照片,并标注外形尺寸、厚度" 测试压力和电磁屏蔽材料的压缩量; 测试S曲线; 计算结果Z; 测试日期和时间; 测试人员的姓名和职位; 测试所依据的技术标准和/或规范
0
GB/35033一2018 录 附 A 规范性附录 搭接阻抗Z的计算公式 A.1矢量网络分析仪示意图 矢量网络分析仪由信号源,定向稠合器、接收机三部分构成,如图A.1所示
信号源发出信号,通 过定向耦合器,通过端口1将信号注人到被测试验,接收机可测量该电路中的各个节点的信号
如果将 接收机连至定向合器正向输出(a),则测出注人到样品的信号V.;如果将接收机连至定向稠合器反向 输出端(e),则测出样品反射的信号V.;如果接收机连至端口2(b),则测出经样品衰减后的信号V 矢量网络分析仪所测得的Sa为V与V.之比
定向枞合器 信号x 端口1 矢量网络分析仪 测量帖置 端口2 接收机 图A.1矢量网络分析仪示意图 A.2搭接阻抗Z，的计算公式 电磁屏蔽材料导电性能(即电磁屏蔽材料阻抗)和金属材料的搭接阻抗的测量原理等效电路图如 图A.2所示: 11
GB/T35033一2018 50 50Q2 说明: 信号源的内阻50; 接收机的测试阻抗50a 2. 被测样品阻抗(远小于50Q); V 信号源电压
图A.2测量原理等效电路图 由测量原理等效电路图可知,当测试系统阻抗为50Q时,V
可认为是V的一半,见式(A.l): V (A.l Zx 云干云 V，= -V，= -V (A.2) Z×Z 0+2z
Z十 Z十Z 将式(A.1)和式(A.2)代人Sa的计算公式可得式(A.3) 502Z S (A.3) V 25十Z 通过式(A.3)的推导可得式(A.4): 25S (A.4 S 按图A.2原理实现的测量装置,要实现测量界面在测量频段范围内为电小尺寸,若无法实现,则可 在被测样品阻抗前串联50Q匹配电阻(如图A.3所示),以实现被测样品阻抗的测量,该原理所示的测 量装置,其所测得的S比图A.2原理所示测量装置所测得的S小6dB
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GB/35033一2018 50Q 50n 50Q 说明 信号源的内阻50n:; 乙 接收机的测试阻抗50Q 2 被测样品阻抗(远小于50Q); V 信号源电压
图A.3串联50Q之后测量原理等效电路图 13
GB/T35033一2018 录 附 B 规范性附录) 测量装置指标校验程序及示例 B.1概述 本附录B.2~B.7规定了测量装置的相关指标的校验程序,包含短路性能、开路性能、压力测试精度 和测量一致性
B.2短路性能校验程序 B.2.1校验目的 短路性能校验的目的,是为了验证上金属板与下金属板直接短路时,测量装置及测量仪器所组成的 测试系统背景噪声足够低
B.2.2校验过程 短路性能校验程序应按照以下步骤进行 按8.2进行测量仪器校准; a b 直接读取矢量网络分析仪自身的背景噪声并保存; 将短路测试校准件(厚度2mm,直径100mm的黄铜件,中心位置处开槽,开槽深度1mm,开 槽直径4mm,见图B.1)放人屏蔽测量腔体内,代替图4中的上金属片和下金属片,并使得注 人探针处于开槽位置; 注:测试校准件可视为两个厚度为1mm,直径100mm的黄铜件上下处于理想短路状态
将矢量网络分析仪的两条同轴的其中一条的一端连接至测量装置的信号注人端,另外一端连 接至端口1(见图8) 将矢量网络分析仪上两条同轴的另一条的一端连接至测量装置的信号测量端,另外一端连接 至端口2(见图8); 记录测试结果S
正视图 金属片 S 100 6 金属片 俯视图 图B.1短路测试用标准件金属样片结构图 14
GB/35033一2018 B.2.3校验结果要求 按照B.2.2的校准程序得到测量值与背景值的差值不超过10dB,图B.2和图B.3是短路性能校验 结果的示例
-60 .mm假表 -70- 面干净，短路 一80- 结果与背景之间 差值小10.校 骏结果符合要求 一90 一100- -110 -120- 背景 -130 -140 -150- 月 号 导 巴 器 " " 期 " 8 虽 发 F " 频率/MHz 图B.2短路性能校验结果符合要求的一个示例 -60 -7o 个m蝌表 面未清洗，短 -80 路，测试结果 写背珠差锁大 于10dB,校验 -90 结果不符合要求 -100 -1i0 NW军 -120 背景 -130 -140 150- '客 " 9 早 9 迟 品 导 姿 8 8 8 美 尊 频率/MHHz 图B.3短路性能校验结果不符合要求的一个示例 B.3开路性能校验程序 B.3.1 校验目的 开路性能校验的目的是为了验证测量装置中的上金属板与下金属板不直接接触时,测量结果随着 上金属板与下金属板距离的变化而变化(上金属片与下金属片之间产生的寄生电容,容值随距离成反比 关系
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GB/T35033一2018 B.3.2校验过程 开路性能校验程序应按照以下步骤进行 根据8.2进行测量仪器校准 a b)将厚度为0.2 mm 的开路校准件放人屏蔽测量腔体内,位于上金属片与下金属片之间,测量装 置的注人探针针头需刺破绝缘垫与上金属片接触 注:开路校准件为直径100mm,中间开孔,开孔直径4mm的圆形绝缘体,如聚四氟乙烯
将矢量网络分析仪的两条同轴的其中一条的一端连接至测量装置的信号注人端,另外一端连 接至端口1(见图8); 将矢量网络分析仪上两条同轴的另一条的一端连接至测量装置的信号测量端,另外一端连接 至端口2(见图8); 调整测量装置的压力部分,使得测试压力为10N; e f 读取并保存数据Sa 按照测试方法e)f),用厚度为0.4nmm的开路校准件替换c)中的厚度为0.2nmm的开路校 日 准件 h) 按照测试方法c)f),用厚度为0.6mm的开路校准件替换c)中的厚度为0.2mm的开路校 准件
B.3.3校验结果要求 开路校准件厚度越厚,其上金属板与下金属板的电容值就越小,其容抗就越高,因此,测量得到的 Sa就越大
按照B.3.2的校准程序得到测量值需反应这一规律
图B.4是开路性能校验结果的一个 示例
-10NO.2mm -10 开路校准件 -15 10N0.4mm -20 开路校准件 -25 -30 10NO.6m 开路校准件 -35 -40 -45 g 8 8 战 员 8 " 8 员 盗 岂 品 蛋 图B.4开路性能校验结果的一个示例 B.4电磁屏蔽材料压缩量与导电性能相关性校验程序 B4.1校验目的 电磁屏敞材料压缩量与导电性能相关性校验的目的是为了验证测量装置在测量电磁屎敞材料导电 性能时,其他测量条件一致的情况下,测量结果随着电磁屏蔽材料压缩量的变化而变化从而验证电磁 屏蔽材料压缩量与其导电性能的关系
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GB/35033一2018 B.4.2校验过程 电磁屏蔽材料压缩量与导电性能相关性校验程序应按照以下步骤进行 根据8.2进行测量仪器校准 a b 在屏蔽测试腔体内放置电磁屏蔽材料(本示例样品厚为3mm,长为120mm的泡棉),位于上 金属片与下金属片之间,位于装置正中心成正方形摆放; 将矢量网络分析仪的两条同轴的其中一条的一端连接至测量装置的信号注人端,另外一端连 接至端口1(见图8); d 将矢量网络分析仪上两条同轴的另一条的一端连接至测量装置的信号测量端,另外一端连按 至端口2(见图8); 调整测量装置的压力部分,使得压缩位移量分别为0.3mm、lmm,2mm; f 记录在不同压缩位移量下的测量结果S B,4.3校验结果要求 压缩位移量越大,电磁屏蔽材料与上金属片、下金属片之间的接触面越大-测量得到的s;就越小 按照B.4.2的校准程序得到测量值需反映这一规律
图B.5是电磁屏蔽材料压缩量与导电性能相关性 校验结果的一个示例
正方形泡棉 -20 压缩量为 -40 0.3mm -60 正方形袍桃 导 -80 ， 压缩量为 Tmm -100 -120 正方形泡棉 --140 压缩量为 2mm -160- 8 " 战 3 频率/MHiz 图B.5电磁屏蔽材料压缩量与导电性能相关性校验结果的一个示例 B.5金属材料接触阻抗与压力相关性校验程序 B.5.1 校验目的 金属材料接触阻抗与压力相关性校验的目的是为了验证测量装置在测量金属材料接触阻抗时,其 他测量条件一致的情况下,测量结果随着压力的变化而变化,从而验证金属材料接触阻抗与压力的 关系
B.5.2校验过程 金属材料接触阻抗与压力相关性校验程序应按照以下步骤进行 根据8.2进行测量仪器校准， a b 将金属材料接触阻抗与压力相关性校验的标准校准件代替图4测量装置中的上金属片和下金 属片; 17
GB/T35033一2018 注:金属材料接触阻抗与压力相关性校验的标准校准件厚度为1mm,直径100mm的两种金属件,材质分别 为铜和镍,其中镍材质金属片为下金属片,中心开有直径为4mm的孔,铜材金属片为上金属片
将矢量网络分析仪的两条同轴的其中一条的一端连接至测量装置的信号注人端,另外一端连 接至端口1(见图8); 将矢量网络分析仪上两条同轴的另一条的一端连接至测量装置的信号测量端,另外一端连接 至端口2(见图8); 调整测量装置的压力部分,使得测试压力分别为0N、10N、20N压力 记录在不同压力下的测量结果Sa
B.5.3校验结果要求 测试压力越大,上金属片和下金属片间的接触点越多,两者之间测量得到的S越小,按照B.5.2的 校准程序得到测量值需反映这一规律,图B.6是金属材料接触阻抗与压力相关性校验结果的一个示例
一60 下全属片为银 一65 上金属片为割， -70 压力0N -5 下金属片为健 上金属片为铜， " 一80 压力10N 满 一85 下金属片为镍 一90 金属片为俐， 压力2DN -5 一100 菜 蒙 频来/M 图B.6金属材料接触阻抗与压力相关性校验结果的一个示例 B.6电磁屏蔽材料导电性能测量结果一致性校验程序 B.6.1校验目的 电磁屏蔽材料导电性能测量结果一致性校验的目的是为了验证测量装置在测量同一个样品时,测 量条件一致的情况下,测量结果偏差不超过6dB B.6.2测试过程 电磁屏蔽材料导电性能测量结果一致性校验程序应按照以下步骤进行: 根据8.2进行测量仪器校准 a 在屏蔽测试腔体内放置电磁屏蔽材料(本示例样品厚为3mm,长为120mm的泡棉),位于上 b 金属片与下金属片之间,位于装置正中心成正方形摆放 将矢量网络分析仪的两条同轴的其中一条的一端连接至测量装置的信号注人端,另外一端连 接至端口1(见图8); 将矢量网络分析仪上两条同轴的另一条的一端连接至测量装置的信号测量端,另外一端连接 至端口2(见图8); 将测量装置的压力调整为10N; 18
GB/35033一2018 fD 重复以上测量过程5次,分别记录测试结果
B.6.3测试结果要求 按照B.6.2的一致性校验程序得到的测量结果偏差不超过6dB测量结果最大值与最小值之间的 差值,见图B.8),图B.7是电磁屏蔽材料导电性能测量结果一致性校验的一个示例 -20 -40 一60 -80 -100 -120 -140- 8 品 8 品 品 8 8 " 品 " 夏 婆 路 善 巨 频率/MIHz 图B.7电磁屏蔽材料导电性能测试结果一致性示例 -6dB 线 差值 小 男 岂 " 没 月 品 8 员 器 " 鲁 票 自 套 复 频来/Mz 图B.8电磁屏蔽材料导电性能测量结果最大值与最小值之间的差值 B.7金属材料搭接阻抗测量结果一致性校验程序 B.7.1 校验目的 金属材料搭接阻抗测量结果一致性校验的目的是为了验证测量装置在测量金属材料搭接阻抗时 测量条件一致的情况下,测量结果偏差不超过6dB. B.7.2测试过程 金属材料搭接阻抗测量结果一致性校验程序应按照以下步骤进行: 19
GB/T35033一2018 根据8.2进行测量仪器校准; a D)将金属材料接触阻抗一致性校验的标准校准件代替图4测量装置中的上金属片和下金属片; 注:金属材料接触阻抗与压力相关性校验的标准校准件厚度为1mm,直径100mm的两种金属件,其中上金 属片为铜金属片,下金属片为电解板片,电解板片中心开有直径为4mm的孔 将矢量网络分析仪的两条同轴的其中一条的一端连接至测量装置的信号注人端,另外一端连 接至端口1(见图8); 将矢量网络分析仪上两条同轴的另一条的一端连接至测量装置的信号测量端,另外一端连接 至端口2(见图8); 将测量装置的压力调整为10N; f 重复以上测量过程5次,分别记录测试结果Sa1
B.7.3测试结果要求 图B.9是金属材料接触阻抗测量结果一致性校验的一个示例,按照B.7.2的一致性校验程序得到 测量结果偏差不超过6dB测量结果最大值与最小值之间的差值,见图B.10)
一40 一45 -50 -55 -60 --65 -70 另 3 e 8 8 发 " 没 品 员 9 8 因 真 婆 英 器 型 E 窗 频率/MHz 图B.9金属材料接触阻抗测量结果一致性校验的一个示例 .6d旧线 最大值与 最小值的 差值 品 岛 3 岛 岛 8 F 至 " g 频率/MHz 图B.10金属材料接触阻抗测量结果最大值与最小值之间的差值 20
GB/35033一2018 附录 C 资料性附录 电磁屏蔽材料导电性能和金属材料搭接阻抗测量示例 电磁屏蔽材料导电性能测量示例 C.1 以下是两种电磁屏蔽材料的导电性能测试结果示例,图C.1是一种导电泡棉的导电性能测试结果 示例,图C.2是一种金属簧片的导电性能测试结果示例
0.002 0.001 S 导电泡棉， 压1oN 0.001 N 0.0005 N 路 员 浆宗因 没 导只男 8 ？ H用 g 意普童 兰 营 养 售套 美 频来/MI 图C.1一种导电泡棉的导电性能测试结果示例 0.002 0.0015 金属资片， 压力I0N 0.001 0.0005- o 8 房 T 员 尊 菜 真 乐 频率/Mz 图C.2一种金属簧片的导电性能测试结果示例 C.2金属材料搭接阻抗测量示例 以下是两种金属材料搭接阻抗测试结果示例,图C.3是电解板和铜的搭接阻抗测试结果示例， 图C.4是彩锌和铜的搭接阻抗测试结果示例
21
GB/T35033一2018 0.002 0.0015 上金属样片 楼 下金属片 ，压分 0.001 0N 0.0005 品 吕 品 8 " 8 真 频率/AMlHz 图c.3电解板和铜的搭接阻抗测试结果示例 0,002 0.0015 上金属样 片为彩锌， 全属样片 0.001 为铜，压力 N 10N 0.0005 冒 品 家
频率/MlH2 图C.4彩锌和铜的搭接阻抗测试结果示例 22
30MHz～1GHz电磁屏蔽材料导电性能和金属材料搭接阻抗测量方法GB/T35033-2018
介绍
电磁屏蔽技术是指采用各种材料和结构，以达到限制电磁波在一定空间内传播的目的。电磁屏蔽材料的导电性能是衡量其屏蔽效果的重要指标。
电磁屏蔽材料导电性能
电磁屏蔽材料的导电性能是指该材料对电流的导通能力。常见的电磁屏蔽材料有金属材料和非金属材料两种。金属材料的导电性能较好，但成本较高，而非金属材料的导电性能相对较差，但成本较低。
金属材料搭接阻抗测量方法
金属材料与电磁屏蔽材料之间的搭接是影响电磁屏蔽效果的重要因素。GB/T35033-2018标准规定了金属材料搭接阻抗的测量方法。该方法利用电感式测量装置测量金属材料与电磁屏蔽材料之间的接触面积和接触电阻，进而计算出金属材料搭接阻抗。
结论
30MHz～1GHz电磁屏蔽材料导电性能和金属材料搭接阻抗测量方法GB/T35033-2018提供了一种有效的电磁屏蔽技术解决方案。在实际应用中，可以根据具体需求选择合适的电磁屏蔽材料和金属搭接方式，以达到最佳的屏蔽效果。
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