半导体发光数码管空白详细规范

半导体发光数码管空白详细规范

国家标准 GB/T15529一1995 半导体发光数码管空白详细规范 BankdetailspecfieationforLED numericdisplays 1995-04-06发布 1995-11-01实施 发布 国家技术监督局国家标准
国家标准 GB/T.155291995 半导体发光数码管空白详细规范 BlankdetailspeciricationforLEDnunericdisplays 本空白详细规范规定了制定半导体发光数码管详细规范的基本原则 制定该规范范围内的所有详 细规花应尽可能与本空白详细规范相 一致 本标准是与GB4589.1(半导体器件分立器件和集成电路总规范》和GB12565(半导体器件 光 电子器件分规范>有关的一系列空白详细规范中的 要求资料 下列所要求的各项内容,应列入首页规定的相应空栏中 详细规范的识别 I)授权发布详细规范的国家机构名称 2IECQ详细规范号 (3总规范和分规范号 (4详细规范号、发布日期和国家体系要求的任何更多的资料 器件的识别 (5器件类型的简明说明 (6典型结构和应用资料 如果设计一种器件满足几种应用,则应在详细规花中明确指出 其应用特性、极限值和检验要求均 应予以满足 7)外形图和(或)引用有关的外形标准 质量评定类别 8 能在器件型号之间比较的最重要特性的参考数据 9) [整个空白详细规范中,在方括号内给出的内容仅供指导制定详细规范时用,而不包括在详细规范 [在极限值和特性的“数值"栏中,“×”表示在详细规范中应给出的具体值 ] 1995-11-01实施 国家技术监督局1995-04-06批准
GB/T15529-1995 [授权发布详细规范的国家机构名称] 1[IEcQ详细规范号] 评定器件质址的根据 (3[详细规范号和发布日期 (4 GB4589.1《半导体器件分立器件和集成电|如果详细规范号与IEcQ号重复,则本栏可以不 路总规范》 用] GB12565《半导体器件光电子器件分规范》 [器件型号] (5 订货资料:见本规范第7章 6 机械说明 (7 简略说明 外形标准; 材料: S2684《半导体发光(可见光)器件外形尺 封装;空封或非空封 寸》 用途: 外形图和电原理图及引出端识别 [可在第10章给出更多的细节] 标志: 根据GB4589.1的第2.5条或本规范第6章 的规定,[详细规范应规定在器件上标出的最 少项目 质量评定类别 [根据GB4589.1第2.6条] 参考数据 按本规范鉴定合格的器件的有关制造单位的资料,可在现行合格产品一栏表中查到
GB/T155291995 极限值(绝对最大额定值 除非另有规定,下列极限值在整个工作温度范围内适用 [只重复使用带标题的条文号,任何附加值在适当的地方给出,但没有条文号 曲线最好在本规范第 10章给出. 数 值 条文号 名 符号 单位 最小值 最大值 工作环境温度 T 41 mb 贮存温度 T v V 反向电压(每段 mA 正向电流(每段 I mA 脉冲条件下正向峰值电流'(每段 IM 4.6耗散功率《显示器全亮 P mw 注:1应规定脉冲宽度、占空因数 光电特性 检验要求见本规范第8章 [只重复使用带标题的条文号,任何附加特性应在适当地方给出,但没有条文号.] [当在同一详细规范中规定几种规格的器件时,有关的数值应以连续方式给出,以免相同值的重 复 ] [曲线最好在第10章给出 .. 数 值 特性和条件 条文号 符号 单位 检验分组 -25C 除非另有规定,Tm- 最小值 最大值 A2b 5.1 正向电压(每段 7, X 在规定的I,下 A2b 5.2 反向电流(每段 A X 在4.3条规定的v 下 mcd A2b 5.3 发光强度(每段 X 在规定的I下 X A2b 5.4 发光强度均匀度 M 在规定的I下 X X C2a 5.5 峰值发射波长 nm 在规定的弄下 x A C2a 5.6 光谱幅射带宽(适用时 nm 在规定的I下 C2a 5.7 开关时间(适用时 t. Hs C2a s tad 在规定的直流偏置电流、脉冲 宽度和占空因数下 注:1小数点除外
GB/T15529-1995 6 标志 [除在本规范第1章第(7)栏和(或)GB4589.1第2.5条所给出的标志外,任何其他资料应在本章 具体给出 ] 订货资料 [除非另有规定,订购一种具体器件至少箭要以下资料 型号 详细规范号和版本号，" 按GB489.1第2. 条规定的质量评定类别和(或按G81585第3.6条规定的筛选等级 任何其他细节司 8 试验条件和检验要求 [在以下各表中给出的试验条件和检验要求,其所用数值和确切的条件,应按给定型号的要求和有 关规范中规定的有关试验予以规定 ] [制定详细规范时,对于二种以上的替换试验或试验方法要加以选择 ] [[当在同一详细规范中包括几种规格的器件时,有关的条件和(或)数值应以连续方式给出,以尽可 能避免相同的条件和(或)数值的重复 ] 除非另有规定,本章中引用的条文号对应于GB4589.1的条文号 本章中所用测试方法引用的条 文号与GB12565一致 [根据适用的质量评定类别,抽样要求可从GB12565第3.7条查得 对于A组检验,制定详细规范 时应选定AQL或1.TPD方案 ] A组--逐批 LSL规范下限值 根据本规范第5章 USL规范上限值 全部试验都是非破坏性的(见第3.6.6条 检验要求 条件 梭验或试验 符号 引用标准 除非另有规定 极 单位 Tmb一25C 最小值 最大值 A1分组 外部目检 4，2.1.1 A2a分组 不工作器件 发光强度(每段 [在规定的1,下 med 本规范附录A 0.1LSL w 正向电压(每段 [在规定的,下] 2UsL -006 V I L-007 5oUsL 反向电流(每段 [在规定的v下 A
GB/T15529一1995 续表 检验要求 条件 引用标准 除非另有规定 极 检验或试验 符号 限 单位 Th=25 最小值 最大值 A2b分组 光电特性 I、 发光强度每段 本规范附录A [在规定的I，下] LSL mcd [在规定的I下 y 正向电压(每段 L-006 USL UsL 反向电流(每段 1. L-007 [在规定的v下 A M USL 发光强度均匀度 [在规定的下] 本规范附录A B组 逐批 LL规范下限值 根据本规范第5章 UsL规范上限值 只有标明(D)的试验是破坏性的(见第3.6.6条 检验要求 条件 符号 除非另有规定 限 检验或试验 引用标准 极 单位 T=25c 最小值 最大值 B分组 尺寸 GB12565附录B 见本规范第1章 B3分组 GB4937',2.1.2[在详细规范中具体规 引出端强度弯曲(D 无损坏 定] B4分组 GB4937,2.2.1 可焊性 [在详细规范中具体规 润湿良好 定,优先果用焊槽法] B5分组 GB4937,3.1.1 温度快速变化 外观颜色无明显变化 继之以 S/z9016,I.4严酷度 循环湿热(D 温度55C 循环数2 (对非空封器件 或 GB4937,3.7 密封(适用时 对空封器件 最后测试 本规范附录A [在规定的l,下] LSL med 发光强度(每段
GB/T1552g一1995 续表 检验要求 条件 检验或试验 符号 引用标准 除非另有规定 单位 Tm=25C 最小值 最大值 正向电压每段 V L-006 [在规定的I，下] USL [在规定的v下 UsL 反向电流(每段 IR L-007 A B8分组 工作寿命 电耐久性 GB4938"和 本规范附录 时间:l68h 显示器全亮 B2或B3 最后测试 0.7LsL 发光强度(每段》 本规范附录A [[在规定的,下 mcd L-006 .IUSL 正向电压(每段 v [在规定的下] L-007 2USL uA [[在规定的v下 反向电流(每段 I B9分组 高贮存 GB4937,3.2 温度:最高T 外观颜色无明显变 时间168h 最后测试 同B5分组 同B分组 同B5分组 同B5分组 CRRI.分组 提供B3、B4、B5,B6、,B9的计数数据,提供B8分组前后的计量数据 注:1GB4937《半导体分立器件机械和气候试验方法》 2)s/z9016(半导体器件机械和气候试验方法 3GB4938(《半导体分立器件接收和可靠性》 C组- 周期 LSL规范下限值 根据本规范第5章 USL规范上限值 只有标明(D)的试验是破坏性的(见第3.6.6条 检验要求 条件 除非另有规定 检验或试验 符号 引用标准 极 单位 T'mb=25C 最小值 最大值 C1分组 尺寸 GB12565附录B 见本规范第1章 C2a分组 光电特性
GB/T15529一1995 续表 检验要求 条件 检验或试验 符号 引用标准 除非另有规定 限 单位 =25C T, 最小值 最大值 开关时间(适用时 [在规定的直流偏置电 L-005 t. USL 4s 流、脉冲宽度和占空因数 USL d 4s 颇值发射波长 L-003 5.5条规定的l,下 LSL USL nm 光谱发射带宽(适用时 A L-003 5.5条规定的I下 USL nm C3分组 GB4937,2.1.1 引出端强度拉力(D [在详细规花中具体规定 无 损坏 C4分组 GB4937,2.2.2 耐焊接热(D) 方法1A 最后测试 同B5分组 同B5分组 同B5分组 同B5分组 C6分组 (对空封器件 GB4937,2.4 机械冲击 在详细规范中具体规定 或 GB4937,2.3 振动 继之以 GB4937,2.5 恒定加速度 最后测试 同B5分组 同B5分组 同B5分组 同B5分组 C7分组 GB4937,3.5 稳态湿热(D) 严格度4d 对空封器件 或 S/亿9016，I.4 循环湿热(D 严酷度55c 对非空封器件 循环数; 最后测试 同B8分组 同B8分组 同B8分组 同BB8分组 C8分组 电耐久性 GB4938和本规花工作寿命 附录B2或B3 时间:l000h 显示器全亮 最后测试 同B8分组 同8分组 同8分组 同B8分组
GB/T15529-1995 续表 检验要求 条件 检验或试脸 符号 引用标准 除非另有规定 极 单位 Tmb=25C 最小值 最大值 c9分组 高温贮存 溢度;最高T 外观颜色无明显变化 GB4937,3.2 时间:1000h 外形无明显形变 最后测试 同B8分组 同B8分组 |同B8分组 同B8分组 C11分组 标志的耐久性 本规范附录C 标志应保持清晰 CRRL分组 提供c3.C4.c6.c7、.B9的计数数据,提供8分组前后的计量数据 D组 -鉴定批准试验 [当要求时,本试验应在详细规范中规定(只供鉴定批准用).] 10 附加资料(不做检验用 [只要器件规范和使用需要,就应给出附加资料 例如 有关极限值的温度降额曲线; 测试电路或补充的完整说明; 详细的外形图和电原理图及引出端识别.]
GB/T15529一1995 附 最 半导体发光数码管发光强度(,)和发光强度均匀度(M)的测试方法 补充件 A1发光强度(,)测试方法 A1.1目的 在规定工作条件下,测试数码管发光段法线方向辐射出的发光强度 A1.2测试原理图 测试原理图如图A1 光强州试仪 图AI测试尿倒 数码管发光段平面与光强测试仪接收面的距离l数码管发光段长度 A1.3测试步骤 将被测数码管与发光强度测试仪置于暗箱内,并使L/D<1/10; b 调节数码管位置,使被测发光段中心与光强测试仪接收面中心置于同一轴线上; 接通测试电源,施加规定的工作条件使被测发光段发光,并记录光强测试仪读数 重复上述步骤,逐次测试数码管各段发光强度 A2发光强度均匀度(M)的测试方法 A2.1目的 在规定条件下,测试半导体发光数码管各发光段中发光强度最大的发光段光强值1.与发光强度 最小的发光段光强值1之比. A2.2测试原理图 测试原理图同图A！ A2.3测试步骤 按图A1和A1.3条逐次测试数码管各段发光强度,找出发光强度最大的发光段光强值1.和发光 强度最小的发光段光强值1..,并按下面公式计算数码管发光强度均匀度(M. M =Im/Imtd (A1 式中:Im -发光强度最大的发光段的光强值 发光强度最小的发光段的光强值 Imn
GB/T15529-1995 B 附 录 电耐久性试验方法 (补充件 B 总则 电耐久性试验采用GB4938标准中的有关规定,并对工作寿命试验条件作如下规定 B2直流电耐久性试验方法 直流电耐久性试验方法的电原理图见图B1 R. 域试器件 图B1直流电耐久性试验方法的电原理图 试验条件;电流按本规范第4.4条的规定,温度按GB4938第2.2.1.3条的规定 B3动态电耐久性试验方法 动态电耐久性试验的电原理图见图B2. 被试器件 图B2动态电耐久性试验的电原理图 试验条件电流按本规范第4.5条的规定,温度按GB4938第2.2.1.3条的规定 10
GB/T15529一1995 附 录 标志耐久性的试验方法 (补充件 目的 C1 本试验的目的是要检验器件标志的耐久性 方法 C2 应用浸湿无水乙胖溶液的棉布或棉球把器件标志擦三次,采用与初始检查相同的条件下,标志应保 持清晰 附加说明 本标准由中毕人民共和国电子工业部提出 本标准由电子工业部电子标准化研究所归口 本标准由苏州半导体总厂负责起草 本标准主要起草人周慈平、陈锡萍 1l