珍珠珠层厚度测定方法光学相干层析法

珍珠珠层厚度测定方法光学相干层析法

国家标准 GB/T23886一2009 珍珠珠层厚度测定方法 光学相干层析法 Determinationofnacrethickness Optiecalcoherencetomography 2009-06-01发布 2010-01-01实施 国家质量监督检验检疫总局 发布 国家标准化管蹬委员会国家标准
GB/T23886一2009 珍珠珠层厚度测定方法 光学相干层析法 范围 本标准规定了使用光学相干层析技术无损测量珍珠珠层厚度的方法 本标准适用于珍珠珠层厚度的测定 规范性引用文件 下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款 凡是注日期的引用文件,其随后所有 的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本标准,然而,鼓励根据本标准达成协议的各方研究 是否可使用这些文件的最新版本 凡是不注日期的引用文件,其最新版本适用于本标准 GB/T16552珠宝玉石名称 GB/T16553珠宝玉石鉴定 GB/T18781珍珠分级 术语和定义 下列术语和定义适用于本标准 3.1 光学相干层析optiealcoherencetomography(ocT) 种对光的背向散射信号经过相干处理后获得透明或半透明物质内部结构图像的成像技术 3.2 相干光eoherentlight 两束满足相干条件的光 低相干光 entlight low-cohere 相干长度短的相干光 背向散射backscatterimg 光波进人物体后产生的向光源方向传播的散射,也称后散射 3.5 光程opticalpath 光在媒质中所经历的几何路径折合成光在真空中的路程,光程的大小等于光在媒质中经历的几何 路程与媒质折射率的乘积 原理 利用光学相干层析仪获得珍珠内部结构图像,用计算机技术对图像进行测量得到珠层厚度的光程， 通过计算获得珠层厚度值 仪器 5 光学相干层析仪 -珍珠珠层厚度无损检测仪,仪器纵向分辨力优于0.015n mm
GB/T23886一2009 5.2已知厚度及折射率的载玻片 测试方法及要求 6.1校准 6.1.1用已知厚度及折射率的载玻片作为校准标准片 6 使用中每隔一定时间以及怀疑校准有变化时,应进行重复校准 操作步骤 6 2 遵照制造商的说明操作仪器,要特别注意第7章中阐述的影响测量准确度的因素 6.2.2将样品放置在样品台上 6.2.3调整光源与样品间的位置、距离 6 根据获得的珍珠层扫描图像计算珠层厚度值 要求 6 测量时应选择光滑弧面,并使光源光线在珍珠的弧面顶部聚焦 6.3.2 至少测量珍珠三个互相垂直方向的珠层厚度值并计算平均值， 6 3.3对非圆形珍珠以及当获得的最大值与最小值之差不小于0.1mm时,增加测量次数 6.3. 珠层厚度均匀度值可用于正圆形,圆形、近圆形有核珍珠的质量评价 影响测量结果的因素 仪器分辨力 测量结果准确度受限于仪器的纵向分辨力 7.2表面缺陷 珍珠表面缺陷如凹坑、突起等位置的珠层厚度变化大在该位置获得的数据不应作为有效数据 7.3 图像取值 珠层厚度的测量是由人工或计算机根据扫描获得的珍珠层图像进行 当图像不清晰或取值不恰当 时可能会影响测量的准确性 测量次数 非圆形珍珠以及珠层厚度不均匀的珍珠,多方向多次测量可提高结果的准确度 7.5折射率 本方法中折射率值为引用数据,获得的珠层厚度值受折射率测量设备及测量者的操作影响 7.6电磁干扰 各种电器设备产生的强磁场,可能干扰仪器的正常工作,或使光源光线发生偏移 为获得可靠的结 果,仪器周围不要放置手机等电磁干扰源 结果计算及表示 珠层厚度值 8 按式(1)计算珠层厚度值d d=/n 式中 珠层厚度,单位为毫米(mm); 光程,单位为毫米(mm); 珍珠的折射率,见7.5 计算结果保留到小数点后二位
GB/T23886一2009 8.2珠层厚度平均值 按式(2)计算珠层厚度平均值a a= >u" 式中: -珠层厚度平均值,单位为毫米(mm); -第i次测量得到的珠层厚度,单位为毫米(n d mm; -测量次数 计算结果保留到小数点后二位 3 8. 珠层厚度均匀度 按式(3)计算珠层厚度均匀度o: cma3 d)x 100 3 1 式中: -珠层厚度均匀度,%; 最大珠层厚度,单位为毫米(mm); dmas 最小珠层厚度,单位为毫米(mm); dlmm -珠层厚度平均值,单位为毫米(mm). d 计算结果保留整数 准确度 测量准确度取决于仪器的性能、操作和校准等情况 采用正确的校准和操作应使珠层厚度能测准 到真实厚度的士5%或士0.015mm范围内,两个值取较大者