GB/T16143-1995

建筑物表面氡析出率的活性炭测量方法

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本文分享国家标准建筑物表面氡析出率的活性炭测量方法的全文阅读和高清PDF的下载,建筑物表面氡析出率的活性炭测量方法的编号:GB/T16143-1995。建筑物表面氡析出率的活性炭测量方法共有6页,发布于1996-07-011996-07-01实施
  • 中国标准分类号(CCS)C57
  • 国际标准分类号(ICS)13.280
  • 实施日期1996-07-01
  • 文件格式PDF
  • 文本页数6页
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建筑物表面氡析出率的活性炭测量方法


国家标准 GB/T16143一1995 建筑物表面氨析出率的活性炭测量方法 Charcoalcanistermethodformeasuring zRnehalationrtefromn bldtngsurface 1996-01-23发布 1996-07-01实施 监督 局 旱委 发布 i卫生部国家标准
国家标准 建筑物表面氨析出率的活性炭测量方法 GB/T16143一1995 lcanistermethodtormeasurtns Charcoal 2Rnexhalattonratetrom bundhngsrtae 主题内容与适用范围 本标准规定了用活性炭累积吸附,丫能谱分析测定建筑物表面氧析出率的方法 本标准适用于建筑物(含建筑构件)平整表面的氧析出率的测定.各种土壤、岩石表面的氧析出率的 测定可参照使用 术语 2.1建筑物表面buidingsurface 本标准中建筑物表面是指建筑物的天花板、楼面、地面、内墙和外墙等平整表面 22氧及子体radonandisdaughtrs 本标准中氧仅指"*Rn,氧子体是指Rn的短寿命衰变产物Po,Pb,B和#tPo. 23面积氧析出率 arearadonexhalationrate 在单位时间内自单位建筑物表面析出并进入空气的氧活度,其单位用Bm-s s-'表示 仪器和设备 3.1活性炭盒 3.1.1容器 活性炭盒系采用低放射性材料(如聚乙希,有机玻璃,不锈钢等)制成的内装活性炭的圆柱形容器, 其底部直径应等于或稍小于?探测器的直径,高度以直径的三分之一到三分之二为宜 3.1.2活性炭 选用微孔结构发达,比表面积大、粒径为18一28目的优质椰壳颗粒状活性炭 313网跟 选用具有良好透气性的材料,例如,尼龙纱网,金属师网或纱布,罩于活性炭盘开口表面,网罩栅孔 密度应与活性炭粒径相匹配 真空封泥 3.1.4 用于密封活性炭盒和待测介质表面之间的缝隙,固定它们之间的相对位置 3.2丫能谱仪 3.2.1探测器 闪烁探测器Na(TT)由不小于凯.5cmn n×7.5cm的圆柱形Nal(Tl)晶体和低嗓声光电倍增管 组成 探测器对rCs的661.6kev?射线的分辨率应优于9% 半导体探测器CeL)或高纯错(GHPce》其灵敏体积大于50.cm',对c的132.5kev的特 征丫射线的分辨率应优于2.2kev. 国家技术监督局1995-12-15批准 1996-07-01实施
16143-1995 GB/T 3.2.2屏蔽室 应选用放射性核素含量低且无表面污染的屏蔽材料,探测器应置于壁厚不小于10cm铅当量的屏 蔽室中央,屏蔽室内壁距探测器表面的最小距离应大于13cm,铅室的内衬应由原子序数逐渐递减的多 层屏蔽材料组成,从外向里可依次由L.6mn的幅,0.4mm的铜及2一了mm厚的有机技璃材料等组 成 屏蔽室应有便于取放样品的门 3.2.3高压电源 应有保证探测器稳定工作的高压电源,其纹渡电压不大于士0.1%,对半导体探测器高压应在0~ 5kV范围内连续可调 3.2.4谱放大器 应有与前置放大器及脉冲高度分析器匹配的具有波形调节的敢大器 3.2.5脉冲高度分析器 Nal(TY谱仪的道数应不少于256道 对于高分辨半导体丫谱仪其道数应不小于4096道 3.2.6谱数据打印机 3.2.7数据处理装置 谱仪可以与专用或通用微机联接,进行计算机在线能谱数据处理,亦可以用计算器人工处理 析出额的收集和测量 4.1活性炭盒的制备 41.1将活性炭置于烘箱内,在120c下烘烤7一8h,以去除活性炭中残存的银气 4 1.2将烘烤过的活性炭装满活性炭盘容器,称里,各炭盘间重量差应小O3%,然后加网罩.加盖 密封待用 413留1一2个新制备的,没有暴露于银和子体的话性炭盘(简称"新鲜"关盘)于实验室中,作为本底 计数测量用 4.2析出氧的收集 42.1去除实际欲测建筑物表面的灰尘和砂粒.打开活性炭盒,倒扣于该表面,周围用真空泥固定和封 严,记下开始收集析出氧的时刻 析出氧收集持续5一7天 42.2收集结束时,除去真空泥,小心取下活性炭盒,加盖密封,记录结束时刻,带回实验室 43氧的测量 43.1用Ra检验源检查和调整?谱仪使之处于正常工作状态 43.2在与样品测重相同的条件下,在Y谱仪上测量“新鲜”活性炭盒的本底丫能谱 433收集结束后的活性炭盒放量3h以上 当用高分辨》谱仪时,测量"B的0.609Mev.P的 0.241,0.295和0.352MeV其中的一个或几个丫射线峰计数率;当用NaI(TD)?谱仪时,测量上述能量 相应能区的计数率 氨析出率的计算 建筑物表面氧析出率按式(a)计算 二")R" 1 R-造 exp(一1 式中,R氧的面积析出率,B”m- -活性炭盒内所选定的氧子体丫射线峰或能区的计数率,s-, -与n相对应的“新鲜”活性炭盒的计数率,s-; 活性炭盒收集析出氧的时间,s -收集结束时刻到测量开始时刻的时间间隔,s
GB/T16143-1995 -与儿相应的丫射线峰能量或能区处的探测效率; S 被测表面的面积,m -氧的放射性衰变常数,2.1×10-s-1 深测效车刻度 6 6.1体标准源的制备 6.1.1标准源基质与活性炭盒所用的活性炭种类相同且等重 6.12用万分之一天平准确称取由国家法定计量部门认定的已知比活崖的碳酸惧霜标准粉末,其总活 度应在50~500B范围内,比活度的相对标准偏差不大于4% 6.13将标准粉末置于500mL烧杯中,以1mol盐酸溶液溶解,再用0.1mal的盐酸稀释到所需体积 应足以使活性炭基质全部漫入),倒入活性炭颗粒,并不断搅拌 将活性炭在红外灯下烘烤,使其水分不断蒸发,在将近恒重时,转移到另一干净烧杯中,用少量 0.1mol盐酸洗液清洗用过的500mL烧杯,将清洗液倒入活性炭中(注意不要与目前盛放活性炭的干 净烧杯壁接触),再用红外灯烘烤,不断搅匀,直至恒重 6.1.5将活性炭转入空的活性炭盒炫,铺平,加盖,峦封,放置30天 待Ra与气及其子体处于放射性 平衡后备用 6.1.6标准谋的综合不确定度(一倍标准偏差)应控制在士5%以内 6.2刻度 6.21按照使用说明书的要求正确安装和调整'谱仪系统,包括探测器,电源,前置放大器、谱仪放大 器、脉冲高度分析器和计算机系统,使其处于最佳工作状态, 6.2.2在与样品测量相同条件下,分别获取上述已知Ra活度的体标准源丫能谱和“新鲜”活性炭盒 本底谱 6.2.3从净谱中选择氧的子体uP的0.241,0.295,0.352Mev以及"i的0.609Mev中的一个或 几个丫射线的全能峰,并计算其净蜂计数率 如果使用Nal(T)闪烁探测器,在上述几个7射线蜂不能 清楚分开时,亦可计算包含上述一个以上峰的能区净计数 6.2.4根据所选》射线的全能峰(或所选能区)净计数率,计算探测效率 测量的相对标准偏差 面积氧析出率测量结果的相对标准偏差为 aan=Vf的十咕 式中:ow-总相对标准偏差,%; -效率刻度的相对标准偏差,%; olt 测量计数相对标准偏差,% dt 可用下式计算 N.土M4 d= 3 N,=MA 式中:N 活性炭盒内选定的氧子体丫射线峰或能区的积分计数; N 与N,相对应的“新鲜"活性炭盒的积分计数; -样品计数时间; 本底计数时间 8 干扰和影响因素 B.1活性炭盆倒扣于建筑物表面,所得结果不代表自然状态下氧的析出率,而相当于外界空气中氧浓
GB/T16143一1995 度为0时氧的析出率,即最大析出率 这种方法不考虑外界空气风速、交换率的影响 但可能引起活性 炭盒所扣处被测材料局部含水量的变化,对氧的析出率产生微小干扰 8.2在收集析出氧期间,面积氧析出率实际上受周围环境的气象、温度、湿度、气压、风速变化等影响, 因此,测量结果只代表在对应的环境条件下收集期间内面积氧析出率的平均值 8.3在用NaI(TI)Y谱仪确定活性炭盒所收集的氧活度时,氧子体'P的0.242Mev丫射线峰受Th 射气子体P的0.238MeV?射线峰的干扰,该干扰对测量结果的影响小于1%,用高分辨率的半导 体探测器测量,不存在这种干扰 8.4本方法的探测下限主要取决于所用丫谱仪探测下限,参见附录件A(参考件.
GB/T16143一1995 附 录 建筑物表面葱析出率的探测下限 参考件 建筑物表面氧析出率的探测下限主要取决于所用了谱仪的探测下限,该探测下限是在给定置信度 A1 情况下该系统可以测到的最低活度 以计数为单位的探测下限可表示为 A2 LLD~(K 十K,, A1 式中;LLD- 探测下限; K,-与预选的错误判断放射性存在的风险几率(e)相应的标准正态变量的上限百分位数值 K 与探测放射性存在的预选置信度(1-)相应的值, -净样品放射性测量的计数统计标准偏差 d 对于各种a和月水平,K值如表A1所示 表A1 1-8 K 22K 0.01 0.99 2.327 6.59 0.02 0.98 2.054 5.81 0.05 0.95 1.645 4.66 0.10 0.90 1.282 3.63 0.20 0.80 0.842 2.38 0.50 0.50 如果a和8值在同一水平上,则K =K,=K LLD~2Ko (A2 A3以计数率为单位的探测下限,是在给定条件下,最小可探测的计数率 如果活性炭盒内氧的放射性 活度与本底接近时,最小可探测计数率为 LD=2万.K/N/A A3 式中,LLDi 最小可探测计数率; -本底谱测量时间, t- -本底谱中相应于某一全能蜂或能区的本底计数 N A4根据最小可探测计数率,按式(1)可以计算出最小可探测表面氧析出率 附加说明, 本标准由卫生部提出 本标准由北京市敢射卫生防护所负责起草 本标准主要起草人林莲卿 本标准由卫生部委托技术归口单位卫生部工业卫生实验所负贵解释

放射性核素的α能谱分析方法
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空气中氡浓度的闪烁瓶测量方法
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