无损检测金属管道熔化焊环向对接接头射线照相检测方法

无损检测金属管道熔化焊环向对接接头射线照相检测方法

国家标准 GB/12605一2008 代替GB/T12605一1990 无损检测金属管道熔化焊环向 对接接头射线照相检测方法 Non-destruetivetesting一Iestmethodsforradiographiectestingof eircumferentialfusion-weldedbuttjointsinmetallicpipesandtubes 2008-05-13发布 2008-11-01实施 国家质量监督检验检疫总局 发布 国家标准化管蹬委员会国家标准

GB/12605一2008 目 次 前言 范围 规范性引用文件 术语和定义 射线检测人员 辐射防护 透照工艺 12 底片质量和观察 13 质量分级 19 底片保存及检测报告 20 附录A资料性附录源最大尺寸计算方法 附录B(规范性附录》单丝像质计 22 附录c(规范性附录专用对比块 24 附录D(资料性附录》管道环向对接接头透照次数确定方法 26 附录E(资料性附录》小径管椭圆透照一次成像检出范围的近似计算方法 31

GB/12605一2008 前 言 本标准代替GB/T12605一1990钢管环缝熔化焊对接接头射线透照工艺和质量分级》 本标准与GB/T12605一1990相比主要变化如下 -对射线照相技术等级对指标进行了划定,增加了不同情况下选择射线照相技术等级的规定 增加 工业射线胶片系统分类的内容,将胶片分为T1、T2、T3、T4四类; 射线源应用的规定; 材料的适用范围,将钢管环缝改为金属管道环向 对钢、铜及铜合金,铝及铝合金、钛及钛合金不同厚度的最高管电压图进行了修改; 增加了镍及镍合金、铜及铜合金制承压设备对接接头射线检测质量分级内容; 增加了附录A射线源最大尺寸d的计算方法; -附录B单丝像质计中增加了不同材料的像质计的要求; 增加了附录D管道环向对接接头透照次数确定方法; 增加了附录E小径管椭圆透照一次成像检出范围的近似计算方法 本标准的附录B,附录c为规范性附录,附录A、附录D,附录E为资料性附录 本标准由机械工业联合会提出 本标准由全国无损检测标准化技术委员会(sAc/Tc56)归口 本标准起草单位;国网北京电力建设研究院、天津电力建设公司,浙江省火电建设公司,云南电力试 验研究院(集团)有限公司电力研究院、山东电力研究院、海门探伤设备联营厂 本标准主要起草人:包乐庆、严正、张学锋、吴章勤、肖世荣、郑世才、武英利、何正兵 本标准所代替标准的历次版本发布情况为 -GB/T126051990 业

GB/12605一2008 无损检测金属管道熔化焊环向 对接接头射线照相检测方法 范围 本标准规定了金属管道熔化焊环向对接接头射线照相检测方法及质量评定分级 mm的金属管子及管道的环向对接接头 对焊制管伴(三通、考 本标准适用于壁厚为(2175 头、焊管(纵缝、螺旋缝)焊接接头也可参照使用 本标准不适用于摩擦焊、闪光焊等机械方法施焊的对接接头 规范性引用文件 下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标淮的条款 凡是注日期的引用文件,其随后所有 的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本标准,然而,鼓励根据本标准达成协议的各方研究 是否可使用这些文件的最新版本 凡是不注日期的引用文件,其最新版本适用于本标准 GB/T9445无损检测人员资格鉴定与认证(GB/T9445-2008,ISo9712;2005,IDT GB11533一1989标准对数视力表 GB/T12604.2无损检测术语射线照相检测(GB/T12604.2一2005,IsO5576:1997,IDT GB18871一2002电离辐射防护与辐射源安全基本标准(neqIAEA安全系列 GB/T19348.12003无损检测工业射线照相胶片第1部分:工业射线照相胶片系统的分类 ISO11699-l:1998,IDT GBZ98一2002放射工作人员健康标准 GBZ117一2002工业X射线探伤卫生防护标准 GBz1322002工业7射线探伤卫生防护标准 JB/T7902-2006无损检测射线照相检测用线型像质计 术语和定义 GB/T12604.2确立的以及下列术语和定义适用于本标准 3.1 公称厚度nominalthickness 指母材的公称壁厚 不考虑制造偏差 3.2 透照厚度 penetratedthickness W 以公称厚度为基础算出的射线(透照)方向上材料的厚度 3.3 工件至胶片距离objeet-to-filmdistance 射线方向上被检工件射线源一侧至胶片表面之间的距离
GB/T12605一2008 3.4 源尺寸 SOurcesize 射线源的尺寸 3.5 sourceto-filmdistance 源至胶片距离 射线方向上射线源至胶片之间的距离 3.6 souree-to-objeetdistance 源至工件距离 射线方向上射线源至射线源一侧的被检工件之间的距离 3.7 diameer 直径 D 管子或管道的公称外径 3.8 小径管smalldiametertube D小于或等于100mm的管子 3.9 透照厚度比 ratioofmaxandminpenetratedthickness K -次透照长度范围内,射线束穿过母材的最大厚度与最小厚度之比 射线检测人员 4.1射线检测人员应按GB/T9445或其他相关标准进行相应工业门类及级别的培训、考核,并持有相 应考核机构颁发的与其级别相适应的资格证书 4.2射线检测人员上岗前应进行辐射安全知识的培训,并取得放射工作人员证 4.3射线检测人员应按GBZ98一2002的规定进行身体检查,并符合要求 4.4从事评片的人员必须具有中,高级资格证书,其校正视力不低于5.0,测试方法应符合GB11533 的规定 辐射防护 5.1放射卫生防护应符合GB18871一2002,GBZ117一2002和GBZ132一2002的有关规定 5. 2 现场进行X射线检测时,应按GBz117一2002的规定划定控制区和管理区、设置警告标志 5.3现场进行y射线检测时,应按GBZ132一2002的规定划定控制区和监督区、设置警告标志 检测 作业时,应围绕控制区边界测定辐射水平 5 现场检测时,检测工作人员应佩带个人剂量计,并携带剂量报警仪 透照工艺 6 射线透照工艺分级 6 本标准的射线检测技术分为两级:A级 -中灵敏度技术;B级 -高灵敏度技术 2 6.1. 射线检测技术等级选择应符合制造、安装、检修等有关标准及设计图样规定 金属管道对接接
GB/12605一2008 头的射线检测,一般采用A级技术进行检测 有较高或特殊要求时,可采用B级技术进行检测 6.1.3由于结构,环境条件,射线设备等方面限制,检测的某些条件不能满足A级(或B级)射线检测 技术的要求时,经合同双方协商,在采取有效补偿措施例如选用更高类别的胶片)的前提下,若底片的 像质计灵敏度达到了A级(或B级)射线检测技术的规定,则可认为按A级(或B级)射线检测技术进 行了检测 6.2表面要求和射线检测时机 6.2.1在射线检测之前,对接接头的表面质量应经外观检查合格 表面的不规则状态在底片上的图像 应不掩盖焊缝中的缺欠或与之相混淆,否则应做适当的修整 6.2.2除非另有规定,射线检测应在焊接全部完成后进行 对有延迟裂纹倾向的材料,至少应在焊接 全部完成后24h再进行射线检测;对有再热裂纹倾向的材料应在热处理后进行或增加一次检测 6.3透照方式 6.3.1内透法 6.3.1.1 中心全周透照法 射线源置于管道的中心胶片放置在管道环缝外表面上,并与之贴紧(见图1. 图1中心全周透照法 6.3.1.2偏心透照法 射线源置于管道中心以外的位置上,胶片放置在管道外表面相应环缝的区域上,并与之贴紧(见 图2) 图2偏心透照法 6.3.2外透法 6.3.2.1单壁外透法 射线源置于管道外,胶片放置在离射线源最近一侧管内壁相应焊缝的区域上,并与焊缝贴紧(见图3).
GB/T12605一2008 图3单壁外透法 6.3.2.2双壁单影法 射线源置于管道外,胶片放置在远离射线源一侧的管外表面相应焊缝的区域上,并与焊缝贴紧见 图4) b 图4双壁单影法
GB/12605一2008 6.3.2.3双壁双影法 6.3.2.3.1椭圆成像 射线源置于管道外,且使射线的透照方向与环形焊缝平面成适当的夹角,使上下两焊缝在底片上的 影象呈椭圆形显示,胶片放置在远离射线源一侧的管道外表面相应焊缝的区域上,并与焊缝贴紧[见图 5a)] 6.3.2.3.2重叠成像 射线源置于管道外,使射线垂直于焊缝,胶片放置在远离射线源一侧的管道外表面相应焊缝的区域 上,并与焊缝贴紧[见图5b)] 6.3.2.3.3小径管双壁双影透照 小径管采用双壁双影透照,当同时满足下列两条件时可采用椭圆成像方法透照: T(壁厚)<8mm:; a b)g(焊缝宽度)GB/T12605一2008 透照区中心,需要时也可选用有利于发现缺欠的方向透照 6 .4.2为提高横向裂纹检出率,应优先采用中心全周透照法 6.5100%透照时最少曝光次数 6.5.1双壁单影法的最少曝光次数 技术等级为A级时;射线源至管道外表面的距离,当小于或等于15mm时,至少分8段透照;当大 于15mm时,至少分4段透照 技术等级为B级时:分段透照的次数应控制透照厚度比K<1.1 整条环向对接接头所需的透照次数可参照附录D的曲线图确定 6.5.2单壁透照法(不含中心全周透照法)的最少曝光次数 技术等级为A级时:分段透照的次数应控制透照厚度比K<1.2 技术等级为B级时;分段透照的次数应控制透照厚度比K<1.1 整条环向对接接头所需的透照次数可参照附录D的曲线图确定 6.5.3小径管采用双壁双影法的最少曝光次数 mm0.12时,相隔120"或60” 透照3次 垂直透照重叠成像时,一般应相隔120"或60"透照3次 6.6射线胶片和增感屏 6.6.1胶片系统按照GB/T19348.1一2003分为四类,即TI、T2、T3和T4类 T1为最高类别， T4为最低类别 胶片系统的特性指标见表1 胶片制造商应对所生产的胶片进行系统性能测试并提 供类别和参数 胶片的本底灰雾度应不大于0.3 6.6.2射线照相一般选用金属增感屏或不用增感屏 6.6.3胶片和增感屏的选用应符合表2,表3的规定 表1胶片系统的主要特性指标 梯度/颗粒度)最小值 梯度最小值Gmim 颗粒度最大值m (G/a a)min" 胶片系统类别 D=2.0 D=4.0 D =2.0 D =2.0 T 4.3 7.4 0.018 270 T2 4.1 6,8 0.028 150 T3 3.8 6,4 0.032 120 T4 100 3,5 5,0 0.039 表2钢、铜和镍基合金射线照相所适用的胶片系统和金属增感屏 胶片系统类别 金属增感屏类别和厚度/mm 透照厚度 射线种类 W/mm A 级 B级 A 级 B级 X射线100kV 不用屏或用铅屏前后)s0.03 T2 X射线>100kV~150kV 铅屏(前后)<0.15 T3 X射线>100kV250kV T2 铅屏前后)0.02~0.15 169Yb Ww<5 T2 铅屏(前后)<0.03,或不用屏 T3 170Tm W>5 T2 铅屏(前后)0.02~0.15 W<50 T2 铅屏(前后)0.02~0.2 X射线>250kV500kV T3 w>5o T3 前铅屏0.1~0.2b,后铅屏0.020.2
GB/12605一2008 表2(续 胶片系统类别 金属增感屏类别和厚度 /mm 透照厚度 射线种类 w/mm A级 B级 A级 B级 5Se T3 T2 铅屏(前后)0.1~0.2 前铅屏0.020.2 前铅屏0.10.2 192Ir T3 T2 后铅屏0.020.2 W100 T2 钢或铜屏(前后)0.250.7 0Co0 T3 w T3 >100 w100 T2 X射线1MeV一4MeV T3 钢或铜屏(前后)0.250.7 W>100 T3 W<100 T2 X射线>4MeV~12MMeV 铜,钢或钮前屏<14 T2 W>l00 T3 Ws100 T2 x射线>12MeV 钮前屏<1",钮后屏不用 W>100 T3 T2 也可使用更好的胶片系统类别 只要在管道与胶片之间加0.1mm附加铅屏,就可使用前屏<0.03mm的真空包装胶片 A级也可使用0.5mm~2mm错屏 经合同各方商定,A级可使用0.5mmlnmm铅屏 经合同各方商定可使用鸽屏 表3铝和钛射线照相所适用的胶片系统类别和金属增感屏 胶片系统类别" 射线种类 金属增感屏类别和厚度/m A级 B级 X射线150kV 不用屏或铅前屏0.03,后屏<0.15 X射线>150lkV250kV 铅屏前后)0.02~0.15 T2 X射线>250kV~500kV T3 铅屏(前后)0.1~0.2 169y 铅屏(前后)0.02~0.15 75Se 铅前屏0.2!,后屏 0.10.2 也可使用更好的胶片系统类别 可用0.1mm铅屏附加0.1mm滤光板取代0.2mm铅屏 射线能量和曝光量 射线能量的选择取决于透照管道的材料种类、透照方式和透照厚度(w) 通常,随着射线能量 6.7. 的降低,透照图像的对比度将增加 因此,在保证穿透力和检测范围的前提下,应尽量采用较低的射线 能量 6.7.2X射线的能量选择 使用管电压为400kV以下的X射线透照对接接头时,应根据透照厚度 w)选取管电压值，一般不应超过图6的规定 对某些被检区内厚度变化较大的管道透照时,可使用稍 高于图6所示的管电压 钢最大允许提高50kV;钛最大允许提高40kV;铝最大允许提高30kV
GB/T12605一2008 500 400 300 200 100 70 0 0 0 30 20 10 ;而 有0 20 30 透照厚度w/mm 铜及铜合金; 钢; 3-一 -钛及钛合金 -铝及铝合金 图6钢等金属材料采用X射线透照时允许采用的最大管电压 6.7.37射线源和高能x射线的选择 不同种类的7射线源和高能X射线对钢、铜和镍基合金材料 所适用的透照厚度范围见表4 对于透照厚度差较大的管道,当透照厚度(w)大于或等于10mm时,采 用适宜的7射线源透照,可获得较大的检测范围 表4不同种类的?射线源和高能x射线对钢、铜、和镍基合金材料所适用的透照厚度范围 透照厚度Ww/mm 射线源名称 A级 B级 170Tm W5 w<5 6Yb" 14MeV12MeV >50 8o X射线(>12MeV >80 >100 铝和钛的透照厚度为:A级时,l0GB/12605一2008 6.7.7小径管对接焊接接头由于结构原因(如有鳍片的管排)只能采用椭圆成像或重叠成像方式透照 -次,应选择较高管电压,曝光量宜控制在7.5mAmin以内,管子内壁轮廓应清晰地显现在底片上 6.8透照厚度 透照厚度w应根据透照方法,按表5确定 表5透照厚度的确定 透 透照厚度w 照方法 单壁透照法 2T/cos/" 双壁单影沾 外透法 2T/cose 椭圆成像 双壁双影法多次透照 27 重叠成像 K 中心全周透照法 内透法 K 偏心透照法 "0为透射角 透照的几何条件 6.9.1 f应满足下述要求 A级:>10d 3 B级:>15db2 式中: -源尺寸中的最大尺寸,最大尺寸计算方法见附录A 射线源至管道表面的最小距离f也可从诺模图中直接查得 A级确定源至管道表面距离最小值的诺模图见图7 B级确定源至管道表面距离f最小值的诺模图见图8. -50o o 00 5000- -200 3000- 2000- 1000- 500 40 300- -30 200 D 100 50 30- 心 -3 10 A级确定」最小值的诺模图 图7
GB/T12605一2008 一500 400 200 5000- 3000 E100 - 2000 巨O0 5 1000- 5 500 300 200 100- 50 30- 20 0.5 10 图8B级确定/最小值的诺模图 6.9.2采用中心全周透照法曝光时,只要得到的底片质量符合密度和像质计灵敏度的要求，/值可以 减小,但减小值不应超过规定值的50% 6.9.3采用偏心透照法时,只要得到的底片质量符合密度和像质计灵敏度的要求,/值可以减小,但减 小值不应超过规定值的20% 6.10像质计及放置位置 6.10.1底片影像质量采用像质计测定 本标准采用的像质计包括JB/T79022006规定的系列线型 像质计、专用线型像质计及本标准规定的单丝像质计 单丝像质计的型号和规格应符合附录B的 规定 外径大于100mmm的管道,其焊缝透照采用JB/T -2006规定的系列像质计 像质计一 6.10.2 7902一 般应放置在管道源侧表面焊接接头的一端(在被检区长度的1/4左右位置),金属丝应横跨焊缝，细丝置 于外侧 单壁透照时像质计应放置在源侧 双壁单影透照时像质计应放置在胶片侧 单壁透照时像质计无 法放置在源侧,允许放置在胶片侧,但应进行对比试验 对比试验方法是在射源侧和胶片侧各放一个像 质计,用与管道相同的条件透照,测定出像质计放置在源侧和胶片侧的灵敏度差异,以此修正应识别像 质计丝号,以保证实际透照的底片灵敏度符合要求 单壁透照时像质计放置在胶片侧,应在像质计上适当位置放置铅字“F”作为标记,“F”标记的影像 应与像质计的标记同时出现在底片上,且应在检测报告中注明 6.10.3小径管的焊缝透照应采用JB/T79022006规定的专用线型像质计等径金属丝),放置于源 侧管表面,金属丝应横跨焊缝放置 6.10.4外径小于和等于76mm的小径管,当采用一次椭圆透照成像时,应采用单丝像质计评定底片 10
GB/12605一2008 的有效检测范围及底片质量 单丝像质计应紧贴焊缝边缘,围绕管子全周 有效检测范围的测量及计 算方法见附录E 6.10.5原则上每张底片上都应有像质计的影像 当一次曝光完成多张胶片照相时使用的像质计数 量允许减少但应符合以下要求 a)采用源置于中心全周曝光时,至少在圆周上等间隔地放置4个像质计 b) 次曝光连续排列的多个小径管焊接接头时,至少在每张胶片上放置一个像质计,且像质计 应放置在射线透照区一侧最边缘的焊接接头上 6.10.6像质计灵敏度应根据公称厚度、透照厚度和透照方式等确定(见表6). 表6各种透照方式应达到的像质计灵敏度 单壁透照 双壁双影透照 双壁(单、双)影透照 应识别丝号和线径 像质计置于源侧 像质计置于胶片侧 像质计置于源侧 公称厚度T 透照厚度w 透照厚度W 线径 mm mmmm mnm 丝号 mm A级 B级 A级 B级 A级 B级 19 0.050 18 0.063 <2.5 <2.5 <2.5 17 0.08o <2.0 -2.54.0 >2.54.0 2.0 二2.0 >2.54.0 16 0.100 -2.03.5 6.0 -2.03. 5 >4.0~6.0 -2.03.5 >4.0一6.0 15 0.125 >3.5一5. o -6.0 3 55.0 6.08.0 -3.5~5.0 >6.012 14 0.160 >5.0~7.0 >8.0~12 -5.0~7.0 -8.015 >5.010 1218 13 0.20 7.010 20 -25 1015 1830 12 0.25 >10~15 >25~38 >15~22 2030 1218 >30 1m 0.32 >15~25 >3035 >18~30 >38~45 >22~38 >45~55 10 0.40 >25~32 >3545 0 >45~55 >38 48 >55~70 30" 0.50 >32一40 >45~65 4050 >5570 >4860 >70~100 0.63 >40~55 >65120 >5060 -70100 >6085 >100175 -6085 0.80 >55一85 >120~175 >100170 >85~125 85150 85120 170175 >125175 l.00 1.25 >150175 120175 6 .11深度对比试块 为测定对接接头的未焊透和内凹、内咬边等的深度,小径管应采用附录C规定的I型深度对比试 块;当管子外径大于100mm时,应采用附录C规定的型深度对比试块 对比试块应平行于焊缝放 置,且距焊缝边缘大于或等于5 mm 6.12标记 6.12.1透照部位的标记由识别标记和定位标记组成 标记一般由适当尺寸的铅或其他适宜的重金 属)制数字、字母、汉字和符号等构成 .12.2识别标记一般包括:产品编号、对接接头编号、部位编号和透照日期 返修后的透照还应有返 6. 修标记,返修标记用R1,R2,其中1、2表示返修次数 6.12.3定位标记一般包括中心标记和搭接标记 中心标记指示透照部位区段的中心位置和分段编号 的方向，一般用十字箭头“-”表示 搭接标记是连续检测时的透照分段标记,可用符号“”或其他能显 ll
GB/T12605一2008 示搭接情况的方法表示 6.12.4管道表面一般应做出永久保留的标记,以作为对每张底片位置对照的依据 通常采用钢印在 管道上做出永久标记.如不适合打钢印时,可用准确的草图作标记 6.12.5标记一般应放置在距焊缝边缘大于或等于5mm的部位,所有标记的影像不应重叠,且不应干 扰有效评定范围内的影像 6d .13防散射线措施 6.13.1暗盒后面应放置厚度为2nmm一3mm的铅板,以消除背散射线对像质的影响 对初次制定的 检测工艺,或使用中检测工艺的条件,环境发生改变时,应进行背散射防护检查 检查背散射防护的方 法是;在暗盒背面贴附“B”铅字标记,一般“B”铅字的高度为13mm、厚度为1.6mm,按检测工艺的规定 进行透照和暗室处理 若在底片上出现密度低于周围背景密度的“B"字影像,则说明背散射防护不够、 应增大背散射防护铅板的厚度 若底片上不出现“B”字影像或出现密度高于周围背景密度的“B”字影 像,则说明背散射防护符合要求 6.13.2采用双壁双影法透照小径管焊缝时,应采用金属增感屏、铅板、滤波板、准直器等适当措施,屏 蔽散射线和无用射线,提高成像质量 当透照成排管子时,如因管子间散射线影响大,宜在管子间用铅板或其他高密度材料来屏蔽散 6.13.3 射线 底片质量和观察 7.1底片质量 7.1.1概述 底片质量是透照工艺及胶片质量的综合反映,是评定焊接质量的依据,不符合下述要求的底片均应 视为废片,不得作为质量评定的依据 7.1.2像质计灵敏度 底片密度均匀部位(一般是邻近对接接头的母材金属区)能够清晰地看到长度不小于10mm的连 续金属丝影像时,则认为该丝是可识别的 专用线型像质计至少应能识别两根金属丝 底片上须显示 出表6对应的像质计丝号 7.1.3标记 底片应清晰地显示出定位标记识别标记等标记,位置正确且不掩盖被检对接接头影像 7.1.4伪缺欠 底片有效评定区域内不应有因胶片处理不当引起的伪缺欠影像或其他妨碍评定的伪缺欠影像 7.1.5底片密度 底片有效评定范围内的密度应至少符合下列规定 a)A级;2.0GB/12605一2008 检出范围的近似计算方法见附录E 底片上应能清晰显示管子的内壁轮廓 7.2评片 7.2.1评片应在专用评片室内进行 评片室内的光线应暗淡,室内照明用光不得在底片表面产生 反射 7.2.2评片人员在评片前应经历一定的暗适应时间 从阳光下进人评片的暗适应时间一般为5min~ 10min;从一般的室内进人评片的暗适应时间应不少于30s 7.2.3评片时,底片评定范围内的亮度应符合下列规定: a)当底片评定范围内的密度D<2.5时,透过底片评定范围内的亮度应不低于30cd/m? D) 当底片评定范围内的密度D>2.5时,透过底片评定范围内的亮度应不低于10cd/m 7.2.4评片时允许用放大倍数小于或等于5的放大镜辅助观察底片的局部细微部分 质量分级 8.1质量分级的一般规定 根据焊接缺欠类型、尺寸和数量,将焊接接头质量分为四个等级 8.1.2长宽比小于或等于3的缺欠(包括气孔、夹杂物、夹渣、夹钨)定义为圆形缺欠 它们可以是圆 形、椭圆形或其他不规则的形状 尺寸测量时应以缺欠最长部位为准 8.1.3长宽比大于3的缺欠定义为条形缺欠 包括气孔、夹杂物,夹渣和夹鸽 圆形缺欠用评定区进行评定,评定区长边应与对接接头方向平行且应置于缺欠最严重或集中 处,评定区尺寸的选定应根据母材公称厚度确定 当缺欠在评定区边界线上时,应把它划为该评定区内计算点数 8.2钢、镍、铜制管道环向对接接头射线检测质量分级 8.2.1裂缝、未熔合缺欠的评级 、I、匪级对接接头内应无裂纹,未熔合 对接接头内有裂纹未熔合评为下级 8.2.2圆形缺欠的评级 8.2.2.1 评定区应符合表7的规定 表7缺欠评定区 母材公称厚度T/mm 25 >25~100 >1l00 评定区/mm×mm) 10×10 10×20 10×30 评定时需把圆形缺欠尺寸换算成点数,并应符合表8的规定 表8缺欠点数换算表 缺欠长径/mm <1 h一 -8 10 15 缺欠点数 25 8.2.2.3评定时不计点数的缺欠尺寸应根据母材公称厚度确定,并符合表9的规定 表9不计点数的缺欠尺寸 母材公称厚度T/mm 缺欠长径/mm T<25 S0.5 25GB/T12605一2008 表10圆形缺欠允许点数的上限值 评定区/mm×mm 0×1o 10×20 l0×30 质量级别 母材公称厚度 10 >10~15 >1525 >25~50 >50~100 >100 5 12 15 18 18 12 24 30 36 缺欠点数大于川级者,单个缺欠长径大于1/2T者 条形缺欠的评级 8.2. 条形缺欠的对接接头质量分级应符合表11的规定 表11条形缺欠的分级 单位为毫米 条形缺欠长度 质量级别 母材厚度 单个缺欠 断续缺欠 T12 在任意直线上,相邻两缺欠间距均不超过6L的任何一组 12T60 1/3T 缺欠,其累计长度在12T对接接头长度内不超过T T60 20 T9 在任意直线上,相邻两缺欠间距均不超过3L的任何一组 9T45 2/3T 缺欠,其累计长度在6T对接接头长度内不超过T 30 T>45 大于级者 注l:表中L为该组条形缺欠最长者的长度,T为母材公称厚度 注2:当被检对接接头长度小于12T级)或6T级)时,可按被检对接接头长度与12T级)或6T级)的 比例折算出被检对接接头长度内条形缺欠的允许值 当折算的条形缺欠总长度小于单个条形缺欠长度 时,以单个条形缺欠长度为允许值 注3，当两个或两个以上条形缺欠在任意直线上且相邻间距小于或等于较小条形缺欠尺寸时,应作为单个连续 条形缺欠处理,其间距也应计人条形缺欠长度,否则应分别评定 任意直线是指与对接接头方向平行的 4mm;25mm之T100 具有一定宽度的矩形区，T<25mm,宽度为 mm.宽度为6mm;T>I0mm,宽度 为8mm 8.2.5未焊透的评级 8.2.5.1公称外径D>l00mm的管子,未焊透的对接接头质量分级应符合表12的规定 表12未焊透的分级 单位为毫米 未煤透深度 未媒透长度 质量 级别 单个未焊透 占壁厚百分比/% 极限深度 断续未焊透 T<12时,不大于4 在任意直线上,相邻两缺欠间距均不 12GB/12605一2008 表12(续 单位为毫米 未焊透深度 未焊透长度 质量 级别 占壁厚百分比/% 极限深度 单个未媒透 断续未焊透 T<9时,不大于6, 在任意直线上,相邻两缺欠间距均不 930时,不大于 20 在6T对接接头长度内不超过" T 大于川级者 注1表中儿为断续未煤透中最长者的长度,T为管壁厚度 注2同一对接接头质量级别中,未媒透深度中占壁厚的百分比和极限深度两个条件须同时满足 未烬透深度 的评定用同一底片上深度对比块的影像进行比对 注3;当两个或两个以上未媒透在任意直线上且相邻间距小于或等于较小未媒透长度尺寸时,应作为单个未娜 透处理,其间距也应计人未透长度,否则应分别评定 注4:当被检对接接头长度小于12T级)或6T川级)时,可按被检对接接头长度与12T级)或6T级)的 比例折算出被检对接接头长度内未焊透缺欠允许值 当折算的未焊透缺欠总长度小于单个(连续未焊透 缺欠长度时,以单个(连续)未焊透缺欠长度为允许值 注5，采用氯弧焊打底的对接接头不允许有根部未爆透缺欠 8.2.5.2公称外径D<100 的管子,未焊透的对接接头质量分级应符合表13的规定 mm 表13未焊透的分级 未媒透深度 质量级别 连续或一直线上断续未焊透总长占对接接头周长的百分比/% 占壁厚百分比/%极限深度/mm 10 1.5 <10 <15 2.0 15 N 大于级者 注1:同一对接接头质量级别中,未媒透深度中占壁厚的百分比和极限深度两个条件须同时满足 未媒透深度 的评定用同一底片上深度对比块的影像进行比对 注2:当两个或两个以上未焊透在任意直线上且相邻间距小于或等于较小未焊透长度尺寸时,应作为单个未媒 透处理,其间距也应计人未焊透长度,否则应分别评定 注3;采用氧弧焊打底的对接接头不允许有根部未焊透缺欠 8.2.6根部内凹的评级 管子对接接头根部内凹缺欠的质最分级应符合表14的规定 表14对接接头根部内凹分级 内凹深度 质量级别 内凹总长占对接接头总长的百分比/% 占壁厚百分比" l 极限深度/mm" 10 S1 公称外径大于100mm时: <3 <15 2 公称外径小于和等于100mm时 30 川 <20 <3 N 大于级者 注:同一对接接头质量级别中,内凹深度中占壁厚的百分比和极限深度两个条件须同时满足 内凹深度的评定 用同一底片上深度对比块的影像进行比对 15
GB/T12605一2008 8.2.7对接接头两侧母材不等厚质量评定时母材公称厚度的确定 当对接接头两侧的母材公称厚度不同时,应取薄侧的母材公称厚度 8.2.8综合评级 在评定区内,同时存在几种类型缺欠时,应先按各类缺欠分别评级,然后将各自评定级别之和减1 作为最终级别(大于N级者为级). 8.3铝及铝合金制管道环向对接接头射线检测质量分级 8.3.1裂纹、未熔合、夹铜的评级 、I、川级对接接头内不允许存在裂纹,未熔合,夹铜,对接接头内存在裂纹,未熔合,夹铜即为 级 8.3.2圆形缺欠的分级评定 8.3.2.1评定区应符合表15的规定 表15缺欠评定区 母材公称厚度T/mm 20 >2080 评定区/mm×mm) 10×10 10×20 8.3.2.2将评定区内的缺欠按表16规定换算为点数,按表17规定评定对接接头的质量级别 表16圆形缺欠点数换算表 缺欠长径/mm 68 8l0 缺欠点数 10 15 25 7各级别对接接头允许的圆形缺欠最多点数 表 评定区/mm×mm 10×10 10×20 质量级别 母材公称厚度 5l0 1020 2040 40 2 24 10 14 14 21 49 28 42 缺欠点数大于川级或缺欠长径大于2/3T或缺欠长径大于10mm 注:当母材公称厚度不同时,取较薄板的厚度 8.3.2.3评定时不计点数的缺欠尺寸应根据母材公称厚度确定,并符合表18的规定 表18不计点数的缺欠尺寸 单位为毫米 母材公称厚度T 缺欠长径 20 s0,4 2040 0.6 >40 <1.5%T 工拨对接接头相好材公称厚度TGB/12605一2008 8.3.4不加垫板单面焊的未焊透缺欠的分级评定 公称外径D>100mm时,不加垫板单面媒的未焊透缺欠按表19进行质量分级评定 公称外径 D<100mm的小径管不加垫板单面焊的未焊透缺欠按表20进行质量分级评定 表19管外径>100mm 时不加垫板单面焊未焊透的分级 未焊透最大深度/ /mmm 未炽透累计长度 单个未煤透最大长度 级别 n(丁为壁厚) mm amm 与壁厚的比最大值 不允许 在任意6T长度区内应不大于T(最小可为4)， 10% 1.0 1/3T最小可为)且 20 且任意300mm长度范围内总长度不大于30 在任意3T长度区内应不大于T最小可为6)， <15% 1.5 <2/3T最小可为6)且< 30 且任意300mm长度范围内总长度不大于40 大于川级 注:对断续未焊透,以未焊透本身的长度累计计算总长度 未焊透深度的评定用同一底片上深度对比块的影像 进行比对 表20外径<100mm(小径管)时不加垫板单面焊未焊透的分级 未焊透最大深度/mm 级别 未媒透总长度与对接接头总长度的比 与壁厚的比 最大值 不允许 10% 10% <15% s1.5 <15% N 大于级者 注:对断续未焊透,以未焊透本身的长度累计计算总长度 未焊透深度的评定用同一底片上深度对比块的影像 进行比对 8.3.5根部内凹和根部咬边的分级评定 根部内凹和根部咬边的分级评定按表21的规定进行 表21根部内凹和根部咬边的分级评定 根部内凹和根部咬边深度 质量级别 根部内凹和根部咬边总长度 占壁厚百分比/%极限深度/mm 不允许 公称外径大于100mm时3T范围长度区内GB/T12605一2008 8.4.2圆形缺欠的分级评定 8.4.2.1评定区应符合表22的规定 表22圆形缺欠评定区 单位为毫米 >20~50 母材公称厚度 20 评定区/mm×mm 10×10 10×20 8.4.2.2评定时需把圆形缺欠尺寸换算成点数,并应符合表23的规定 按表24评定对接接头的质量 级别 表23缺欠点数换算表 缺欠长径/" mm 16 缺欠点数 表24各级别对接接头允许的圆形缺欠最多点数 评定区/(mmXmm) 10×10 10×20 质量级别 母材公称厚度 >35 >5~1o >1020 >20~30 >3050 10 12 16 24 12 20 缺欠点数大于级者,单个缺欠长径大于1/2T者 注，当母材公称厚度不同时,取较薄板的厚度 8. 4.2.3评定时不计点数的缺欠尺寸应根据母材公称厚度确定,并符合表25的规定 4.2.4I级对接接头和母材公称厚度T<5mm的级或级对接接头,不计点数的缺欠在圆形缺 8. 欠评定区内不得多于10个 母材公称厚度T>5mm的级对接接头,不计点数的缺欠在圆形缺欠评 定区内不得多于20个 母材公称厚度T>5 >5mm的I级对接接头,不计点数的缺欠在圆形缺欠评定区 内不得多于30个 超过上述规定时对接接头质量应降低一级 表25不计点数的缺欠尺寸 单位为毫米 母材公称厚度 T 缺欠长径 <10 S0.3 >10~20 S0,4 >20~5o S0." 条形缺欠的分级评定 8 3 4. 按8.2.4的规定进行质量分级评定 8.4.4不加垫板单面焊的未焊透缺欠的分级评定 按8.3.4的规定进行质量分级评定 8.4.5根部内凹和根部咬边的分级评定 按8.3.5的规定进行质量分级评定 8.4.6综合评级 按8.2.8的规定进行评定 18
GB/12605一2008 底片保存及检测报告 底片保存 底片是检验结果的档案资料,为便于查阅,底片应分类存放在底片袋中 存放地点应以不引起底片 变形,霉变为宜 底片保存期一般不低于7年 9.2检测报告 检测报告至少应包括下述内容: a)委托单位 b)被检工件:名称、编号、规格、材质、焊接方法和热处理状况 检测设备:名称、型号、焦点源)的最大尺寸; c 检测标准和验收标准; 检测规范;技术等级、透照布置、胶片,增感屏射线能量、曝光量、焦距、暗室处理方式和条 件等; 工件检测部位及布片草图 f 检测结果及质量分级 g h检测人员和责任人员签字及其技术资格 iD 检测日期 检验报告保存 检验报告保存奶一般不低于7年(与底片同时保存),以备查阅 19
GB/T12605一2008 附录A 资料性附录 源最大尺寸计算方法 A.1X射线机有效焦点最大尺寸计算 射线源有效焦点形状按图A.1所示划分为正方形长方形、椭圆形圆形四类,其有效焦点最大尺 寸d分别按式(A.l)式(A.4)计算 正方形: dl=a它 A.1 长方形 /a丽 dl A.2 椭圆形 d=4 A.3 圆形 l=dl A.4 正方形 长方形 圆形 椭圆形 图A.1X射线机有效焦点形状分类 A.2?射线源最大尺寸d的确定 Y射线源的物理尺寸取决于源的种类、源的初始强度和源的物理形状7射线源最大尺寸d应取备 向尺寸中的最大值 20
GB/12605一2008 以圆柱形射线源为例计算;若a为该源的圆柱的直径,b为圆柱的长,则该源的最大尺寸d近似 计算为 d=十 A.5) 剂面 图A.2?射线源焦点尺寸示意图 21
GB/T12605一2008 附 B 录 规范性附录 单丝像质计 B.1单丝像质计的形状 单丝像质计由一根金属丝(其长度大于所透照管子的外周长)和铅字符号组成,其型式见图B.1 搭接部 材质标识 GB/T 金属丝 线编号 图B.1单丝像质计 B.2单丝像质计的规格与材质 像质计的宽度为15mm,其长度为管周长加15nmm;像质计根据不同的透照材料应有相应材质的 像质计丝,且有明显的表征丝号和材质的铅字标识 像质计丝和铅字标识的封装应采用非吸收性的薄 膜材料 金属丝的材料与适用透照材料范围见表B.1 表B.1不同材料的像质计适用的透照材料范围 e N T A Cu 像质计材料代号 像质计材料 碳钢或奥氏体不锈钢 镍-铬合金 工业纯钛 工业纯铝 3#纯铜 适用材料范围 碳钢、低合金钢、不锈钢 镍、镍合金 钛、钛合金 铝、铝合金 铜、铜合金 B.3像质计的线号、直径和允差 像质计的线号、直径和允差见表B.2 表B.2线号、直径与允差 线 径 差 直 3.20 士0.03 2.50 2.00 1.60 1.25 1.00 士0.02 0.80 0.65 22
GB/12605一2008 表B.2续 直 0.50 10 0.40 0.32 士0.01 12 0.25 13 0.20 0.16 15 0.125 16 0.100 1n 0.080 士0.005 18 0.063 0.050 19 23
GB/T12605一2008 c 附 录 规范性附录 专用对比块 C.1I型深度对比块 I型深度对比块分为a、b两种型式,其规格应符合图c.1和表c.1的规定 专用对比块的材料应 与被检体的材料相同或射线衰减性能相似 4一4旋转 乃一月旋转 -旋转 直糕 管外径 管外径 b 第一阶深度 T -第二阶深度; T 深度对比块厚度 图C.1 I型深度对比块 表C.1 I型深度对比块 单位为毫米 T 管子公称厚度 偏差 偏差 T 偏差 3.5 1.0 0.35 0.50 4.0 1.0 0.40 0.60 士0.01 士0.01 士0.01 5.0 0.75 1.0 0.50 0.60 0.90 C.2I型深度对比块 型深度对比块的型式和规格应符合图C.2和表C.2的规定 沟槽对比块的材料应与被检体的 材料相同或射线衰减性能相似 214