国家标准 GB/T17570一2019 代替GB/T175701998 光纤熔接机通用规范 speeificationforopticalfibrefusionsplicers General 2019-08-30发布 2020-03-01实施国家市场监督管理总局发布币国国家标准化管理委员会国家标准
GB/17570一2019 目次前言范围规范性引用文件 2 3 术语和定义产品分类要求 5.1 -般要求 5.2外观与结构 5.3尺寸和重量 5.4功能 5.5性能特性 5.6安全性 5.7环境适应性 5.8包装运输 5.9电磁兼容性 5.1o电源适应性 5.11可靠性试验方法 6.1检验条件 6.2外观与结构检查 6.3尺寸和重量检查 6.4功能检查 6.5性能特性测试 6.6安全试验 6.7环境适应性试验包装运输试验 6,.8 6.9电磁兼容性试验 6.10电源适应性试验 6.l1可靠性试验 12 12 质量检验规则 12 7.l -般规定 12 7.2检验项目 13 7.3鉴定检验 13 7.4质量一致性检验 7,5 14 其他标志、包装、运输、贮存
GB/T17570一2019 14 8.1标志 15 8.2随机文件 15 8.3运输 15 8.4贮存
GB/17570一2019 前言本标准按照GB/T1.1一2009给出的规则起草本标准代替GB/T175701998《光纤熔接机通用规范》,与G;B/T17570-1998相比主要技术变化如下 -修改了标准的适用范围(见第1章,1998年版的第1章) -增加了部分规范性引用文件(见第2章); 修改了“多模光纤、标准单模光纤、特种光纤”的术语和定义(见3.1、3.2,3.7,l998年版的3.2、 3.1、3.3); -增加了“色散位移光纤、截止波长位移光纤、非零色散位移光纤、弯曲不敏感光纤、带状光纤、回波损耗、熔接时间、加热时间、光纤图像放大倍数、拉力测试、电极寿命和端面角度”术语和定义见3.33.6、3.8、3.123.18); 修改了光纤熔接机的产品分类(见第4章,1998年版的第4章); 增加了“熔接,加热,参数设置和其他功能”(见5.): 增加了“回波损耗、熔接时间、加热时间、光纤图像放大倍数、电极寿命、工作循环次数”性能特性要求(见5.5.55.5.10); 增加了“回波损耗、熔接时间、加热时间、光纤图像放大倍数、电极寿命、工作循环次数”试验方法(见6.5.7一6.5.12) 增加了“安全试验”的试验方法(见6.6); 增加了“包装运输试验”的试验方法(见6.8). 增加了“消耗功率”的试验方法(见6.10.2) 请注意本文件的某些内容可能涉及专利本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任本标准由工业和信息化部提出本标准由全国电子测量仪器标准化技术委员会(SAC/Tc153)归口本标准起草单位;电子科技集团公司第四十一研究所、南京吉隆光纤通信股份有限公司本标准主要起草人;杨小光、陶龙弟、尚守锋,刘振,张伟,何春,李现华、王云,吴超本标准所代替标准的历次版本发布情况为: GB/T17570-1998
GB/17570一2019 光纤熔接机通用规范范围本标准规定了光纤熔接机的术语和定义、产品分类、要求,试验方法、质量检验规则和标志,包装、运输、贮存的要求本标准适用于进行石英玻璃光纤熔接的光纤熔接机(以下简称熔接机) 规范性引用文件下列文件对于本文件的应用是必不可少的凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文件凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件 GB/T191包装储运图示标志 GB/T2423.21一20o8电工电子产品环境试验第2部分;试验方法试验M,低气压 GB4824工业、科学和医疗(ISM)射频设备骚扰特性限值和测量方法 GB/T6587 2012电子测量仪器通用规范 GB 6592一2010电工和电子测量设备性能表示 2008通信用单模光纤第1部分:非色散位移单模光纤特性 GB 9771.2一2008通信用单模光纤第2部分;截止波长位移单模光纤特性 T GB 9771， -2008通信用单模光纤第4部分;色散位移单模光纤特性 9771.5一2008通信用单模光纤第5部分:非零色散位移单模光纤特性 GB/T9771.72012 通信用单模光纤第7部分;接人网用弯曲损耗不敏感单模光纤特性 GB/T12357.1一2015通信用多模光纤第1部分A1类多模光纤特性 GB/T15972.312008 光纤试验方法规范第31部分:机械性能的测量方法和试验程序抗张强度 GB/T15972.40-2008光纤试验方法规范第40部分传输特性和光学特性的测试方法和试验程序衰减 GB/T16511一1996电气和电子测量设备随机文件 GB/T17626.2电磁兼容试验和测量技术静电放电抗扰度试验 GB/T17626.3电磁兼容试验和测量技术射频电磁场辐射抗扰度试验 GB/T17626.6电磁兼容试验和测量技术射频场感应的传导骚扰抗扰度 GB/T18268.1一2010测量、控制和实验室用的电设备电磁兼容性要求第1部分;通用要求 S/T946电子测量仪器电气、机械结构基本要求术语和定义下列术语和定义适用于本文件 3.1 多模光纤 multimdeoptiealfibre 在给定的工作波长上可以传输多种模式的光纤
GB/T17570一2019 3.2 标准单模光纤 uptiealrthre standardsingle-mode 在给定的工作波长上只能传输一种模式的光纤 3.3 色散位移光纤dispersion-shiftelsimgle-mdeoptiealfibre 零色散波长在1550nm附近,最佳工作波长在1550nm 区域的单模光纤 3.4 截止波长位移光纤 eutofrwavelength shiftedlsingle-modeoptiealfibre 截止波长移到了较长波长,在1550nm波长附近损耗最小,最佳工作波长为1530nm1625nm 范围的单模光纤 3.5 非零色散位移光纤non-erodispersion-shitelsinglmodeoptiealfibre 零色散波长不在1550nm附近,在使用波长区域具有一非零的小色散值的单模光纤 3.6 弯曲不敏感光纤bending-lossinsensitivesingle-modeopticealfibre 具有非色散位移单模光纤的各项特性,且弯曲性能更加优异,适应于1260nm~1625nmm全波段传输系统的单模光纤 3.7 特种光纤speeialoptiealtibre 标准单模光纤、多模光纤,色散位移光纤,截止波长位移光纤,非零色散位移光纤和弯曲不敏感光纤以外的其他光纤 3.8 带状光纤ribbonoptiealribre 以多个单根光纤通过着色、堆叠成带和二次套塑的光纤带 3.9 光纤熔接机optiealfibrefusionspliceer 能完成光纤空间位置对准,并使用高压放电电弧熔融光纤的方法,将两根石英系光纤接续在一起的装置 3.10 接续损耗spleeloss 光纤熔接点产生的光功率损失注单位为分贝(dlB. 3.11 平均接续损耗averagesplieeloss 接续损耗的算术平均值注:单位为分贝dB) 3.12 回波损耗returnloss 在测试参考点处,后向反射光功率与人射光功率之比的对数注:单位为分贝(dB). 3.13 熔接时间splieetime 从熔接开始到熔接结束的时间
GB/17570一2019 注:单位为秒(s). 3.14 加热时间heattimme 将 -根标准热缩套管热缩成功的时间注单位为秒(s) 3.15 光纤图像放大倍数optealihre imagemagnification 在显示屏上测量显示的光纤直径与光纤实际直径的比值 3.16 拉力测试pftest 通过对熔接点施加一定的拉力,以测试熔接点的质量注，单位为牛顿(N). 3.17 电极寿命eleetrdelife 电极从开始使用至经维护后也不能进行正常熔接的熔接次数 3.18 端面角度 endlangle 光纤切割后,切割面与光纤径向面之间的夹角注:单位为度('. 产品分类光纤熔接机分类如下普通光纤熔接机 a 带状光纤熔接机 b c 特种光纤熔接机 5 要求 5.1 般要求 5.1.1误差要求本标准中未作规定的误差要求,在产品标准中可结合产品特性给出必要的误差要求误差要求应符合GB/T6592一2010的规定 5.1.2开机预热要求熔接机使用前可进行预热,预热时间由产品标准规定 5.2外观与结构 5.2.1熔接机结构应完整,外观应无明显机械损伤和镀涂破损现象,控制件均应安装正确,运动部件灵活,紧固件无松动,并符合SJ/T946的规定 5.2.2熔接机的其他外观与结构要求应在产品标准中规定
GB/T17570一2019 5.3尺寸和重量产品标准中应规定熔接机的尺寸和最大重量宽、高、深的尺寸既可以规定最大值,也可以规定局部值 5.4功能 5.4.1熔接熔接机应具有光纤熔接功能 5.4.2加热熔接机应具有加热热缩套管的功能,热缩套管的规格由产品标准规定 5.4.3参数设置熔接机应具有参数设置功能,具体内容由产品标准规定 5.4.4其他功能熔接机可具有数据存储、放电校准、自动调焦、自检等功能,具体功能由产品标准规定 5.5性能特性 5.5.1适用光纤产品标准中应规定熔接机适用的光纤类型和尺寸范围 5.5.1.1 5.5.1.2普通光纤熔接机适用于单芯光纤的熔接,具体光纤类型如下光纤特性符合GB/T9771.l一2008规定的标准单模光纤; aa 光纤特性符合GB/T12357.1一2015规定的多模光纤光纤特性符合GB/T9771.4一2008规定的色散位移光纤: c d 光纤特性符合GB/T9771.2-2008规定的截止波长位移光纤; 光纤特性符合GB/T9771.52008规定的非零色散位移光纤 e 光纤特性符合GB/T9771.7一2012规定的弯曲不敏感光纤的熔接 D 5.5.1.3带状光纤熔接机应规定一次可熔接光纤带的芯数 5.5.1.4特种光纤熔接机应规定可熔接光纤的种类和芯径的范围 5.5.2熔接过程熔接机应能手动完成光纤熔接过程除特殊情况外,熔接机应能自动完成光纤熔接过程带状光纤熔接机、特种光纤熔接机的熔接过程由产品标准规定 5.5.3熔接质量普通光纤熔接机应在产品标准中给出适用光纤的平均接续损耗和熔接成功率带状光纤熔接机、特种光纤熔接机的熔接质量指标由产品标准规定 5.5.4熔接点拉力熔接机应能对熔接点进行拉力测试,产品标准中应给出光纤熔接点拉力
GB/17570一2019 5.5.5回波损耗产品标准中应给出光纤熔接点回波损耗 5.5.6熔接时间产品标准中应给出熔接时间 5.5.7加热时间产品标准中应给出加热时间 5.5.8光纤图像放大倍数适用时,产品标准中应给出光纤图像放大倍数 5.5.9电极寿命产品标准中应给出电极寿命 5.5.10 工作循环次数熔接机完成一次熔接和加热操作为一个工作循环对于支持电池供电的熔接机,产品标准中应给出通过100%电量的电池供电进行工作开始,至电池电量不足以完成一次工作循环为止,熔接机完成的工作循环次数 5.6安全性应符合GB/T65872012中4.6的规定 5.7环境适应性应按照GB/T65872012中4.7的要求,在产品标准中给出熔接机所属环境组别应按照GB/T2423.21一2008的要求,在产品标准中给出熔接机气压适应范围或海拔高度范围 5.8包装运输应按照GB/T6587一2012中表8的要求,在产品标准中给出流通条件等级按照6.8规定进行试验后,包装箱不应该有较大的变形和损伤受试熔接机及附件不应有变形松脱涂覆层剥落等机械损伤,其性能特性应符合产品标准的要求 5.9电磁兼容性 5.9.1应符合GB/T18268.1一2010的规定熔接机的抗扰度要求应符合GB/T17626.2GB/T17626.3、 GB/T17626.6的规定,骚扰特性应符合GB4824的规定 5.9.2在产品标准中至少应规定电磁辐射抗扰度,静电放电抗扰度,电磁辐射骚扰要求,规定具体抗扰度等级及测试限值在特殊使用场合时,应增加其他要求 5.10电源适应性按照GB/T6587一2012中4.10要求,在产品标准中应给出使用的电源种类及电源电压与频率的允许偏差产品标准中应给出消耗功率
GB/T17570一2019 5.11可靠性按照GB/T6587一2012中4.11要求,在产品标准中应给出平均故障间隔时间(MTBF)的检验下限值m值 6 试验方法 6.1检验条件应根据产品的不同特点,依照本章规定的原则确定试验要求除产品标准另有规定外,试验室的环境条件,应符合GB/T6587一2012中5.2规定的检验条件,具体如下温度;15C一35C; a b) 湿度:25%~75% 气压:86kPa一106kPa: c d 电源;仪器规定的标称直流或交流电源; 状态;正常的工作位置 6.2外观与结构检查在自然光下,距离被检查面40cm,目测进行外观检查用目测配合操作的方法进行结构检查外观与结构应符合产品标准规定 6.3尺寸和重量检查用游标卡尺或其他长度量具测量熔接机的尺寸,用电子天平或其他重量量具测量熔接机的重量测量结果应符合产品标准规定 6.4功能检查 6.4.1熔接按照产品标准规定的熔接参数可以将光纤熔接成功熔接点符合产品标准规定 6.4.2加热按照产品标准规定的加热时间可以将热缩套管热缩成功热缩成功的热缩套管应呈透明状态,两侧端口完全收缩,无气泡 6.4.3参数设置由产品标准规定 6.4.4其他功能由产品标准规定 6.5性能特性测试 6.5.1测试的一般规定 6.5.1.1本标准仅规定了主要性能特性的基本测试方法,鼓励采用更先进、更合理的方法测试,若产生异议时,应以本标准规定的测试方法为准
GB/17570一2019 6.5.1.2本标准中未作规定的性能特性,若产品标准中有要求时,应规定相应的测试方法 6.5.1.3被测熔接机应按产品标准的规定进行预热,并按选用光纤将熔接机参数调整到合适状态 6.5.1.4测试用仪器和设备应按要求进行预热,在测试过程中,测试设备应置于其额定工作条件下此后,应避免试验现场的振动、仪器的移动及电网大功率设备的频繁启停 6.5.2测试设备的要求测试设备应经过计量并满足测试要求,并符合GB/T6592一2010的规定测试设备应至少满足以下要求 a 稳定光源:波长、输出功率和模式应符合熔接机产品标准的要求 b 光功率计:波长响应范围应能覆盖光源波长,具有dB和dBm显示方式; 光时域反射计(OTDR);波长响应范围应能覆盖光源波长; d 回波损耗测试仪:工作波长1310nm、1550nm: 光纤符合产品标准要求的光纤(应具有和稳定光源、光功率计相连接的适配连接器工具及材料品种及数量由测试方法规定; 带状光纤熔接机和特种光纤熔接机测试用其他设备由产品标准规定 g 6.5.3适用光纤按照产品标准规定的方法检查 6.5.4熔接过程手动熔接 6.5.4.1 按照产品标准规定的方法检查 6.5.4.2自动熔接自动熔接测试步骤如下取两段光纤,用光纤切割器按产品标准的要求制备好光纤熔接端面 aa 将两段待熔光纤装人熔接机定位V型槽内; b) 合上防风盖或按自动熔接操作键,熔接机自动完成光纤熔接过程,结果应符合产品标准规定 c 6.5.5熔接质量 6.5.5.1平均接续损耗 6.5.5.1.1测试方法分类接续损耗的常用测试方法有剪断法和后向散射法(OTDR法) 当两种测试方法产生异议时,应以剪断法的测量结果为准 6.5.5.1.2剪断法剪断法测试步骤如下: a 测试系统的连接测试系统连接框图如图1所示
GB/T17570一2019 稳定光源光功率计图1接续损耗测试系统连接框图注意保持连接部位的位置稳定,保证光功率测量的稳定性,必要时可加扰模器、滤模器和包层模剥除器等 b)测试系统的调整接通各测试设备电源,保证稳定光源的输出光功率在光功率计的功率测量范围内,且光功率计的校准波长与稳定光源的输出波长相对应系统按要求预热后,读出稳定光功率值P,(dBm)作为剪断法的基准参考功率值,然后将光功率计切换到相对功率值显示模式(单位为dB)并做归零操作光纤熔接在距离光功率计至少2m处将光纤剪断,剪断点位置记为A见图2)将光纤剪断,用熔接机将断点熔接起来,恢复光纤自由状态,从光功率计上读出熔接后稳定的光功率相对值XdB),即为第一个接续点的接续损耗 A(AgA 光功率计稳定光源待测熔接机图2接续损耗测试示意图在接续点A，处剪断,并重新制备两侧光纤端面,制备端面时确保将原接续点剔除制备好端面后再次将两侧光纤熔接,恢复光纤至自由状态,从光功率计上读出熔接后稳定的光功率相对值XgdB). 按照上述方法至少连续熔接5次,见图2 d)平均接续损耗的计算接续点的平均接续损耗按式(1)计算又-贾式中平均接续损耗,单位为分贝(dB); 接续点个数第i个接续点的接续损耗,单位为分贝(dB). x 6.5.5.1.3后向散射法按照GB/T15972.40一2008规定的方法C进行 6.5.5.2熔接成功率按照6.5.4.2规定的方法对光纤进行熔接,熔接完成后接续损耗应满足平均接续损耗的要求熔接成功率为熔接成功次数与总熔接次数的比值
GB/17570一2019 6.5.6熔接点拉力测试按照GB/T15972.31一2008规定的方法进行光纤的标距和拉伸速度应在产品标准中给出 6.5.7 回波损耗光信号在光纤中进行传输，经过熔接点时,一部分光会沿原路反射回去,另一部分光会透射过去假定人射到熔接点的总功率为P(mw),沿着人射光相反方向传输的反射光的总功率为Puk(mw) 熔接点的回波损耗RL定义为: --10(" RL= 回波损耗测试采用光连续波反射法(OCwR法),这是一种整体测试方法,仅用于测量光路中的反射光总和它通过把已知反射率的标准反射件的反射光功率与被测件的反射光功率进行比较,准确测出被测件的光回波损耗值测试原理图如图3所示回波损耗测试仪光讽终止反射 O 熔接点探测器 'ee 校准件光概合器图3熔接点回波损耗测试图测量步骤如下: 测试端连接校准件测出反射功率值P.(mw),若光源输出功率为P.(mw),光耦合器耦合系 a 数为k,校准件反射率为R,则: P=P,kR十P (3 式中附加反射功率(指光稠合器内部及测试端连接器的反射等),单位为毫瓦(mw) b 测出附加反射功率P,mw):将测试端进行匹配,使得测试端反射功率为0,即可测出附加反射功率P, 将测试端切断并利用熔接机将被测光纤与测试端连接,测出反射功率值P(mw),则 (4 P山=P, k R十P 式中熔接点的等效反射率 Rd 根据式(2)至式(4)得到熔接点的回波损耗值计算式(5),计算出回波损耗值RL(dB). d R， RL -10lgP一P,) 5 P
GB/T17570一2019 6.5.8熔接时间按照6.5.4.2规定的方法制备光纤端面并熔接光纤,从自动熔接开始计时,直至熔接完成停止计时取3次熔接时间的平均值作为熔接机的熔接时间 6.5.9加热时间将标准热缩套管放人加热器内,每次加热时从按加热操作键开始计时,直至加热结束停止计时,当加热成功时该次计时有效加热成功的标志是热缩套管整体呈透明状态,两侧端口完全收缩,无气泡取出热缩套管,待加热槽恢复到环境温度时再进行下一次加热操作取3次加热时间的平均值作为熔接机的加热时间 6.5.10光纤图像放大倍数制备标准单模光纤(包层直径为.l25mm)端面后放在左,右两解夹具中.合上防护景.将显示模式调整为单轴显示模式(简称“单显”模式),使用卡尺测量屏幕中的光纤宽度值(单位为mm),如图4所示由于标准单模光纤包层直径为0.125 ,光纤图像放大倍数为屏幕中显示的光纤宽度值除以 mm 0.125 双轴显示模式(简称“双显”模式)光纤图像放大倍数与“单显”模式测试方法相同光纤宽度图4光纤宽度示意图 6.5.11电极寿命具体测试步骤如下: 按照6.5.4.2规定的方法进行一次光纤熔接,应能熔接成功 a b) 熔接成功后,重复步骤a);如果出现熔接失败,则对熔接机进行电弧校准电弧校准完成后若可以熔接成功则重复步骤a),否则停止测试统计停止测试时已完成的放电次数作为电极寿命指标 6.5.12工作循环次数具体测试步骤如下准备已充满电的电池1块 a b)在6.1规定的检验条件下,熔接机使用电池供电,按照6.5.4.2规定的方法进行一次光纤熔接再完成熔接点热缩保护,完成后工作循环次数记作1次如此反复,直至熔接机不能完成一次工作循环时停止测试统计熔接和加热成功总次数作为工作循环次数的结果 10
GB/17570一2019 6.6安全试验按GB/T6587一2012中5.8规定的方法进行环境适应性试验 6.7.1温度试验按GB/T6587一2012中5.9.1规定的方法进行 6.7.2湿度试验按GB/T6587一2012中5.9.2规定的方法进行 6.7.3振动试验按GB/T6587一2012中5.9.3规定的方法进行 6.7.4冲击试验按GB/T6587一2012中5.9.4规定的方法进行 6.7.5低气压试验按GB/T2423.21-2008规定的方法进行 6.8包装运输试验按GB/T6587一2012中5.10规定的方法进行 6.9电磁兼容性试验熔接机应按5.9规定的要求和产品标准的规定进行电磁兼容性试验试验设备,方案、方法及试验样品的操作,应符合产品标准的规定 6.10电源适应性试验 6.10.1电源电压与电源频率按GB/T6587一2012中5.12规定的方法进行 6.10.2消耗功率具体测试步骤如下: 准备容量未满的电池1块装人熔接机 aa b 将直流稳压电源开机并将输出电压值设置为熔接机允许的数值(具体由产品标准规定),熔接机保持为关机状态,将两者按图5所示连接,此时直流稳压电源开始对熔接机充电熔接机开机,按加热操作键开始加热,然后迅速按熔接操作键开始放电,保证熔接机加热与放电状态同时有效,此时读取直流稳压电源输出电流值！和电压值V,则整机消耗功率尸计算公式为:P=I×V 11
GB/T17570一2019 直流稳压电源熔接机图5消耗功率测试示意图 6.11可靠性试验按GB/T6587一2012中5.13的规定进行质量检验规则 7.1一般规定 7.1.1检验分类本标准规定的检验分为鉴定检验和质量一致性检验需要时,可以有其他的检验分类 7.1.2检验设备所使用的试验与检验设备,应符合检验要求 7.2检验项目见表1 表1检验项目质量一致性检验鉴 c组要求章定试验方法序号检验项目 D E 低电压检条号章条号温湿振冲包装组组组气频率验度度动击运输功率 5.2 外观与结构 6.2 5.3 尺寸和重量 6.3 5.4 6.4 功能 5.5.1 适用光纤 6.5.3 5.5.2 熔接过程 6.5,4 5.5.3 熔接质量 6.5.5 5.5.4 熔接点拉力 6.5.6 5.5.5 回波损耗 6.5.7 5.5.6 熔接时间 6.5.8 10 5.5.7 加热时间 6.5.9 光纤图像放大倍数 11 6.5.10 5,5,8 12
GB/17570一2019 表1(续质量一致性检验 C组定要求章试验方法序号检验项目 D E F 低电压检章条号条号包装温振冲湿组组组组气频率组验度度动击运输压功率 12 5.5.9 电极寿命 6.5.ll 13 5.5.10 工作循环次数 6.5.12 14 5.6 安全性 6.,6 15 5,7 温度试验 6,7.1 5.7 6.7.2 16 湿度试验 17 5.7 6.7.3 振动试验 18 5.7 冲击试验 6.7.4 19 5.7 低气压试验 6.7.5 20 5.8 包装运输 6.8 21 5.9 电磁兼容性 6.9 2 5.10 电源适应性 6.10 可靠性 23 6.11 注: "表示应进行检验的项目 “o”表示需要时进行检验的项目 ”表示不进行检验的项目 7.3鉴定检验 7.3.1检验项目按表1规定的项目和要求 7.3.2抽样方案按GB/T6587一2012中6.3.2规定的方案进行 7.3.3鉴定检验合格判据按GB/T6587一2012中6.3.3规定的方法进行 7.4质量一致性检验 7.4.1检验项目检验项目按表1的规定表1中未规定的内容,需要时可在产品标准中规定 13
GB/T17570一2019 7.4.2A组检验按GB/T6587一2012中6.4.2规定的方法进行 7.43B组检验按GB/T6587一2012中6.4.3规定的方法进行 7.4.4C组检验按GB/T6587一2012中6,4.4规定的方法进行 7.4.5D组检验按GB/T6587一2012中6.4.5规定的方法进行 7.4.6E组检验按GB/T6587一2012中6.4.6规定的方法进行 7.4.7！组检验按GB/T6587一2012中6.4.7规定的方法进行 7.4.8接收与拒收按GB/T6587一2012中6.4.8规定的方法进行 7.5其他按GB/T6587一2012中6.5规定的方法进行标志,包装、运输,、贮存 8.1标志 8.1.1产品标志产品标志包含以下信息: a 产品名称和型号; 生产批号及生产年、月; b) e 制造单位名称; d)其他 8.1.2包装箱的标志包装储运图示标志应符合GB/T191的规定包装箱标志包含以下信息: 制造厂的名称、商标(代号) aa b) 产品的名称和型号; 装箱年、月; c d)毛重; 14
GB/17570一2019 包装箱的外形尺寸 8.2随机文件随机文件的编制要求应符合GB/T16511一1996的规定随机文件包含以下信息: 使用说明书; a b 装箱清单; 合格证 c 8.3运输熔接机产品标准中应规定适用的运输工具或运输要求,在运输过程中应小心轻放,严禁雨淋、日照和摔掷,并避免倒放及侧放 8.4贮存 8.4.1库房要求长期不用的熔接机应放人包装箱内贮存存放熔接机的库房应保持通风干燥,室内无酸、喊以及腐蚀性气体,无强烈机械振动、冲击,无强烈的电磁作用和日光照射熔接机不应紧靠地面,墙壁和屋顶 8.4.2贮存期限和方法贮存期限超过6个月,应从包装箱内取出熔接机.经通电复查合格后装人包装箱内重新放回库房中电池长期贮存时,每6个月对电池进行一次完全充电 15

光纤熔接机通用规范GB/T17570-2019

光纤通信技术广泛应用于各个领域，而光纤熔接机是实现光纤连接的关键设备。然而，由于其工作原理的复杂性，光纤熔接机也存在着一定的风险。因此，制定一套合理的规范对于保证光纤熔接机的安全性和可靠性至关重要。

什么是光纤熔接机？

光纤熔接机是指利用高温将两根光纤进行熔接，形成一根连续的光纤的设备。它广泛应用于电信、广电、交通等行业中，扮演着重要的角色。

GB/T17570-2019规范介绍

GB/T17570-2019《光纤熔接机通用规范》是由中国国家标准化管理委员会发布的光纤熔接机领域的标准。该规范主要从设计、生产和使用三个方面对光纤熔接机进行了规定，为提高光纤熔接机的安全性和可靠性提供了指导。

GB/T17570-2019规范内容

GB/T17570-2019规范主要包含以下内容：

术语和定义
通用要求
设计要求
生产和检验要求
使用、维护和保养要求

关键点分析

了解GB/T17570-2019规范的关键点对于保证光纤熔接机的安全性和可靠性非常重要。这些关键点包括：

设备的安全性：在设计和生产中必须符合相关的安全标准和法律法规，确保设备的安全性。
设备的质量：在生产过程中必须符合相关的质量标准，确保设备的质量。
使用和维护：在使用和维护过程中必须按照相关的标准进行操作，以保证设备的长期稳定运行。
环境要求：设备必须在符合相关的环境要求下进行使用，以保证设备的正常运行。

总结

GB/T17570-2019规范为光纤熔接机的设计、生产和使用提供了一套系统化的指导，能够有效提高设备的安全性和可靠性。在实际应用中，企业和组织应该更加注重规范的执行，确保设备得到充分保护。