GB/T19346.2-2017
非晶纳米晶合金测试方法第2部分：带材叠片系数
Methodsofmeasurementforamorphousandnanocrystallinealloys—Part2:Laminationfactorofamorphousalloystrips
- 中国标准分类号（CCS）H21
- 国际标准分类号（ICS）77.040.99
- 实施日期2018-06-01
- 文件格式PDF
- 文本页数7页
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非晶纳米晶合金测试方法第2部分：带材叠片系数
国家标准 GB/T19346.2一2017 非晶纳米晶合金测试方法 第2部分:带材叠片系数 Methodsofmeasurementforamorphousandnanoerystallinealloys一 Part2:Laminationfaetorofamorphousalloystrips 2017-09-07发布 2018-06-01实施 国家质量监督检验检疫总局 发布 国家标准化管理委员会国家标准
GB;/T19346.2一2017 非晶纳米晶合金测试方法 第2部分带材叠片系数 范围 GB:/T19348的本部分规定了平面压强法相卷环法测量非晶纳米晶合金带材的叠片系数的方法
本部分适用于用快淬工艺制造的非晶纳米晶合金带材(以下简称带材)的叠片系数测量,其中平面 压强法适用于矩形铁芯、粘接块体等用带材的叠片系数测量;卷环法适用于环形铁芯用带材的叠片系数 测量
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GB/T15019快淬金属分类和牌号 JF1305线位移传感器校准规范 JJG669压力传感器 术语和定义 GB/T15019界定的以及下列术语和定义适用于本文件
3.1 叠片系数laminationfaetor 磁性材料所占的横截面积与堆积体总横截面积之比
平面压强法测量叠片系数 4.1测量原理 将一段带材裁切成一定数量、一定尺寸的片材试样,并依次同方向整齐叠放形成试样叠层
在规定 的压强下测量试样叠层沿垂直于带材铸造方向的最大厚度
根据试样叠层的质量、长度、宽度、最大厚 度和材料密度等参数计算出叠片系数
4.2主要仪器 4.2.1 -般要求 4.2.1.1叠片系数测量系统由加压机构、线位移传感器、夹持与移动机构组成(见图1)
4.2.1.2为了避免磁场或试样碎片对测量结果的影响.系统中的各种结构件均应由非铁磁性材料制成
4.2.1.3系统中各种结构件的强度和刚性均应满足测量精度的要求
GB/T19346.2一2017 说明: 试样叠层 -压头; -压头升降机构 -线位移传感器; -量砧或压力传感器 -夹持机构; 移动机构
图1叠片系数测量机构原理示意图 4.2.2加压机构 4.2.,2.1加压机构用于对试样叠层施加规定的压强
可采用下列两种机构之 自重式压头和量砧: a 自重式压头用特定质量的金属材料制成,压头的底面与试样叠层接触; 1 2 压头自重通过压头底端对试样叠层施加压力,压强为(50士0.5)kPa;压头带有升降机构 其行程应不小于5mm 量砧在压头下方,以支撑试样叠层和承接压头对试样叠层的压力;量砧顶面为一圆形平 3 面,其尺寸应不小于压头; 量砧顶面与压头底面的圆心应在同一条垂线上,量砧顶面与压头底面构成两个测量面 44 b)小型压头和压力传感器[当不便使用a)时]: 小型压头用金属材料制成,压头的底面与试样叠层接触 1 22 压头通过升降和加压机构对试样叠层施加压力,压强为(50士0.5)kPa;压头的升降行程应 不小于5mm: 33 用一只压力传感器置于试样叠层下方,在作为量砧的同时也用于测量压头对试样叠层的 压力;压力传感器的顶面为一圆形平面,其尺寸应不小于压头; 4 压力传感器顶面与压头底面的圆心应在同一条垂线上;压力传感器顶面与压头底面构成 两个测量面; 5 压力传感器的量程应不小于测量压力的120%推荐的量程为测量压力的120% 200%);在实际测量条件下,压头通过其底端对试样叠层施加压强的最大偏差和重复性均 应不大于士1%; 压力传感器应按照JJG669的要求定期检定
GB;/T19346.2一2017 17 4.2.2.2压头的底面为圆形平面(推荐的直径为14mm mm,面积为154mm~227mm'). 4.2.2.3由压头和量砧(或压力传感器)构成的两个测量面的平行度偏差应不大于0.005mm.
4.2.3线位移传感器 4.2.3.1线位移传感器用于测量试样叠层的厚度
线位移传感器的测杆底端与压头上端连接,并可与 压头一起升降
4.2.3.2线位移传感器的量程应不小于5mm,精度应不低于士0.5%
4.2.3.3线位移传感器应按照JJF1305的要求定期检定 4.2.4夹持与移动机构 4.2.4.1夹持机构用于将试样叠层夹紧
夹持机构对试样叠层施加的夹紧力应保证在测量和移动过程 中试样叠层与夹持机构之间不产生相对位移
4.2.4.2移动机构用于使试样叠层沿垂直于带材铸造方向横移,其行程应保证在测量时压头底端能够 覆盖整个试样叠层的宽度范围
4.3试样 4.3.1取长度为一个或两个冷却辐周长的连续带材,带材表面应无污染,无皱褶,无锈蚀,无杂物
4.3.2沿带材铸造方向将其裁剪为20片或40片相同长度的片材试样,每片的长度偏差应不大于 士0.5mm,见图2
带材在裁剪时不应产生碎片
带材铸造方向 说明 带材经裁剪后形成的片材试样
图2制备叠片系数测量用试样裁剪示意图 4.3.3将片材试样以同方向依次叠放整齐,使片材试样的边缘上下对齐,形成试样叠层,见图3
带材铸造方向 说明: 带材经裁剪后形成的片材试样
1一3 图3试样叠层示意图 4.4测量方法 4.4.1试样叠层的最大总厚度按下列方法测量
GB/T19346.2一2017 在无试样状态下,降下加压机构,使压头与量砧或压力传感器所构成的测量面相接触,并施加 a 50士0.5)kPa的压强,将线位移传感器置零; b 抬起压头,将试样叠层置于测量面之间,使试样的铸造方向与移动机构的移动方向垂直,将试 样叠层的层间对齐,使试样叠层的横向边缘位于测量面之间,使试样叠层的边缘覆盖大约三分 之二的压头直径,然后用夹持机构夹紧试样叠层; 降下压头使试样叠层被压紧在测量面之间,并施加(50士0.5)kPa的压强,读取线位移传感器 的读数作为第一个测量点的试样叠层总厚度; d 抬起压头,使横移机构与试样叠层一起移动一个不大于压头直径的距离,作为第二个测量点; e 降下压头,使试样叠层被压紧在测量面之间,并施加50士0.5)kPa的压强,读取线位移传感器 的读数作为第二个测量点的试样叠层总厚度; 重复以上步骤,依次测量其他测量点的总厚度
测量点的数量应使压头完全覆盖试样叠层的 f 整个宽度
得到所有测量点总厚度的最大值h mm的量具测量试样的宽度和长度
测量宽度时,将试样沿长度方向弯曲 4.4.2用精度不低于0.02 80",然后测量圆弧处的宽度
测量长度时,将试样沿宽度方向弯曲180?,然后测量圆弧处的长度
4.4.3用精度不低于试样叠层质量0.1%的天平称量试样叠层的质量
4.4.4带材的叠片系数按式(1)计算 7
bh 0m 式中: 带材的叠片系数 L 试样叠层的总质量,单位为千克(kg) mn 试样叠层的长度,单位为米(m); 试样叠层的宽度,单位为米(m); 试样叠层总厚度的最大值,单位为米(m); hmn 材料的密度,单位为千克每立方米(kg/m'),为试样供方提供的约定密度 pm1 卷环法测量叠片系数 S 5.1测量原理 将 -定长度的带材试样以一定的张力卷绕成圆环,通过测量圆环的尺寸和质量计算出叠片系数
5.2试样的制备 试样通常长度为10m的连续带材
5.3测量方法 5.3.1将按5.2制备好的试样在张力为每10mm带宽0.50N士0.05N的条件下卷绕成内径为10 mm 且端面整齐的圆环
5.3.2用精度不低于0.02mm的量具在试样的至少3个位置分别测量圆环的内径、外径和高度,然后 分别取平均值
5.3.3用精度不低于圆环质量0.1%的天平称量圆环的质量
5.3.4带材的叠片系数按式(2)计算 4mn ..(2 = (D" 开9m
h
GB;/T19346.2一2017 式中: In -带材的叠片系数 圆环的质量,单位为千克(kg); n -圆环的高度平均值,单位为米(m). D -圆环的外径平均值,单位为米(m); -圆环的内径平均值,单位为米(n m; 材料的密度,单位为千克每立方米(kg/m'),为试样供方提供的约定密度 pm 再现性和不确定度 6.1叠片系数测量的再现性;用相对标准差表示,其值应不大于2%
6.2应识别测量中影响测量不确定度的因素,计算并报告测量结果的不确定度
试验报告 试验报告应包含以下内容 本部分标准编号; a 采用的测量方法; b 试样基本参数;试样的名称、编号、质量、密度、尺寸等; c 测量结果和不确定度
d
非晶纳米晶合金测试方法第2部分：带材叠片系数GB/T19346.2-2017
带材叠片系数是指带材在经过轧制、拉伸等加工过程中各层之间发生相对滑移的倾向，是考察带材铸态坯料质量的重要指标。而该指标对于非晶纳米晶合金的研究更是至关重要。
目前，国内外对于非晶纳米晶合金的研究越来越深入，因此制定一套准确可行的测试方法也变得极为重要。其中，非晶纳米晶带材叠片系数测试方法GB/T19346.2-2017就成为了重点研究对象。
该标准主要通过拉拔试验来测量带材叠片系数，并且规定了实验条件、试样制备及测试步骤等细节，以确保测试结果的准确性和可重复性。通过该标准的实施，可以为非晶纳米晶合金的研究提供有力的支持。
需要指出的是，在实际测试中，还需要考虑到材料表面质量、试样制备过程中的损伤等因素对测试结果的影响，因此实验条件需要严格控制，试样制备要仔细，同时还需结合其他测试方法进行综合分析。
总之，带材叠片系数是非晶纳米晶合金研究中不可或缺的重要指标，而GB/T19346.2-2017则为该领域提供了一套完善、可行的测试方法，为研究人员提供了更多的技术支持和帮助。
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