电子数显测高仪

电子数显测高仪

国家标准 GB/T22094一2008 电子数显测高仪 Heightmeasuringinstrumentwithelectronicdigitaldisplay 2008-06-25发布 2009-01-01实施 国家质量监督检验检疫总局 发布 国家标准化管蹬委员会国家标准
GB/T22094一2008 前 言 本标准由机械工业联合会提出 本标准由全国量具量仪标准化技术委员会(SAC/Tc132)归口 本标准起草单位;成都工具研究所、马尔精密量仪(苏州)有限公司 本标准主要起草人:李维国、姜志刚唐以杰、何东星、王春
GB/T22094一2008 电子数显测高仪 范围 本标准规定了电子数显测高仪的术语和定义、型式与基本参数、工作条件,要求、试验方法、检验方 法、标志与包装等， 本标准适用于分辨力为0.1m,0.2pm,0.5pm和1m,量程不超过1000mm的电子数显测高 仪(以下简称“测高仪”). 规范性引用文件 下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款 凡是注日期的引用文件,其随后所有 的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本标准,然而,鼓励根据本标准达成协议的各方研究 是否使用这些文件的最新版本 凡是不注日期的引用文件,其最新版本适用于本标准 GB/T2423.3一2006电工电子产品环境试验第2部分;试验方法试验Cab;恒定湿热试验 (IEcC60068-2-78;2001,IDT GB/T2423.222002 电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验N:温度变化 IEC60068-2-14;1984,IDT GB42082008外壳防护等级(IP代码)(eqIEC529:l989) GB/T17163几何量测量器具术语基本术语 GB/T17626.2一2006电磁兼容试验和测量技术静电放电抗扰度试验(IEC61000-4-2;2001. DT) GB/T17626.3一2006电磁兼容试验和测量技术射频电磁场辐射抗扰度试验(IEC61000-4 3;2002,IDT) 术语和定义 GB/T17163中确立的以及下列术语和定义适用于本标准 3.1 电子数显测高仪heightmeasuringinstrumentwithelectroniedigitaldisplay 利用传感技术和电子技术进行测量的立式数字化几何量测量仪器 用来测量平行平面之间距离、 孔和轴直径,中心距以及相关的形位误差等 3.2 正面垂直度frontalt wndielarity perpen 测高仪测头安装面与底座的垂直度为正面垂直度 型式与基本参数 测高仪的型式见图1所示 图示仅供图解说明,不表示详细结构
GB/T22094一2008 控制器 底座 手柄 测头 图1测高仪型式示意图 4.2测高仪分辨力和测量范围见表1的规定 表 分辨力/am 测量范围/mm <400 0.l 0.2 <600 0.5 1.0 1000 5 要求 5.1外观 测高仪不应有锈迹、碰伤、划痕以及其他影响使用性能的外部缺陷 5.2相互作用 5.2.1测高仪在正常使用状态下,测头上下移动平稳,无阻滞,可停稳在量程内任意位置 5.2.2对于含有气泵托浮功能的测高仪,启动气泵后,可在光滑平板上轻松移动 电气部分的开关、按键应灵敏可靠,工作正常 5.2.3 控制器 55 .3.1功能键 测高仪控制器的功能键应灵活、可靠;标注的符号或图文应清晰且含义准确 5.3.2数字显示屏 测高仪控制器数字显示屏的数字显示应清晰、完整、无闪跳现象 5.3.3数值漂移 测高仪控制器数字显示屏的数值漂移不应大于其分辨力 5.3.4通讯接口 测高仪控制器宜设置通讯接口;制造商应能够提供控制器与其他设备之间的通讯电缆和通讯软件
GB/T22094一2008 5.3.5防护等级(IP 测高仪控制器应具有防水、防尘能力,其防护等级不得低于IP40(见GB42082008) 5.3.6工作环境 测高仪控制器应能在环境温度10C一40C,相对湿度不大于65%的条件下,进行正常工作 测高仪储存环境温度为一40C60C 5.3.7抗静电干扰能力和抗电磁干扰能力 测高仪控制器抗静电干扰能力和抗电磁干扰能力均不应低于1级(见GB/T17626.2-1998、 GB/T17626.3一1998) 5.4测量力 测高仪的测量力范围和测量力变化见表2的规定 表2 重复性 分辨力 测量范围 测量力范围测量力变化正面垂直度误差/最大允许误差 k N m mm m m 平面 曲面 400 0.1 0.2 <600 0.5~1.8 0.2 士(2L/300 1.0 1.5 0,5 1000 10 400 10 600 0.52. 0.5 15 士(5十L/300 2.0 3.0 1000 25 <700 0.52.1 25 士8 0， 5 正面垂直度误差 测高仪正面垂直度误差不应大于表2的规定 5.6最大允许误差 在足赖验环境要求,并使用出厂附懂的标准副头条件下,测商仪示值误差不应大于表2的规定 5.7重复性 测高仪重复性不应大于表2的规定 5.8最大响应速度 测高仪的最大响应速度不应小于300mm/s 5.9底座 测高仪底座表面粗糙度不应大于Ra0.4;平面度不应大于5Am,中间不应凸起 试验方法 防水、防尘试验 测高仪的防水、防尘试验应符合GB4208一2008的规定 温度变化试验 测高仪的温度变化试验应符合GB/T2123.22一2002的规定 湿热试验 测高仪的湿热试验应符合GB/T2423.31993的规定 6 抗静电干扰试验 测高仪控制器的抗静电干扰试验应符合GB/T17626.21998的规定
GB/T22094一2008 6.5抗电磁干扰试验 测高仪控制器的抗电磁干扰试验应符合GB/T17626.31998的规定 检验方法 外观 目力观察 7.2相互作用 7.2.1上下移动滑块,要求顺畅无阻滞,并能停稳在任一位置保持平衡 7.2.2启动气泵移动测高仪是否平稳 7.2.3检查电气部分的开关、按键,要求灵敏可靠;控制器应工作正常 7.3数值漂移 测头停在任意位置下,观察控制器数字显示屏数值在1h内的变化 测量力 使用分辨力小于0.01N的电子测力计,在量程范围内上下位置各测量5次测量力,取5次测量数 据的平均值作为测量力;取5次测量数据的极差值作为测量力变化 要求测量力及测量力变化符合表 2的规定 7.5垂直度误差 将被检测高仪和垂直度小于0.006mm的直角尺放置于0级平板上,根据直角尺的检定数据对其 修正;再将最大允许误差小于0.001mm的指示类仪器安装在测高仪上,使测头与直角尺正面接触，上 下移动测头,取其最大变化值作为测高仪的垂直度,误差不应超过表2的规定 注:带电子补偿功能的测高仪,经过电子修正后,满足表2中垂直度误差要求,也视作垂直度合格 7.6示值误差 在温度为20C士0.5C,温度变化小于0.3C/h,湿度为50%~60%的检验条件下使用出厂附带 的标准测头进行检验 将被检测高仪和0级量块或同等精度的其他长度标准器同时置于平面度小于2×(1十L/1000)am" 的岩石平板上,要求等温时间不小于24h 在每一检测点测量3次(取其平均值为测得值),测得值与标 准实际值代数差为示值误差,示值误差不应大于表2中最大允许误差要求 推荐检测点见表3 注:在测量范围内的任意位置,示值误差都应不大于表2中最大允许误差值 表3 单位为毫米 推荐检测点(量块尺寸) 测量范围 s400 1. .02,l.04,l.06,l.08,l.1,l.3,l.5,1.7,l.9,20,60,l00,200,300,350,400 .02,1.04,1.06,1.08,1.1,1.3,1.5,1.7,1.9,20,60,100,200,300,400,500,600 600 1.02,1.04,1.06,1.08,1.1,1.3,1.5,1.7,1.9,20,60,100,200,300,400,500,600,700,800. 1000 900,1000 7.7重复性 平面测量重复性;在测量范围内,重复测量同一平面同一点5次,所得的最大值与最小值之差为平 面测量重复性,其误差不应超过表2的要求 曲面测量重复性;在测继范围内,重复测射同一曲面同一点5次,所得的最大值与最小值之差为曲 面测量重复性,其误差不应超过表2的要求 7.8最大响应速度 上下移动测头,在速度为300mm/s的情况下,测高仪能正常工作
GB/T22094一2008 标志与包装 8.1测高仪上至少应标志 a)制造厂厂名或注册商标; b 测量范围; c)分辨力; d)产品序号; e)防护等级高于IP40时,宜标有防护等级标志 8.2测高仪包装盒上至少应标志 制造厂厂名或注册商标; a b 产品名称; c)测量范围 测高仪在包装前应经防锈处理并妥善包装,不得因包装不善而在运输过程中损坏产品 8.3 测高仪应附有产品使用说明书及标准附件 8.4 测高仪经检验符合本标准要求的应附有产品合格证,产品合格证上应标有本标准的标准号、产品 8.5 序号和出厂日期