GB/T22092-2018
电子数显测微头和深度千分尺
Micrometerheadanddepthmicrometerwithelectronicdigitaldisplay
- 中国标准分类号（CCS）J42
- 国际标准分类号（ICS）17.040.30
- 实施日期2018-12-01
- 文件格式PDF
- 文本页数9页
- 文件大小609.31KB
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电子数显测微头和深度千分尺
国家标准 GB/T22092一2018 代替GB/T220922008 电子数显测微头和深度千分尺 Mierometerheadlanddepthmierometerwitheleetroniedigitaldisplay 2018-05-14发布 2018-12-01实施 国家市场监督管理总局 发布 币国国家标准化管理委员会国家标准
GB/T22092一2018 前 言 本标准按照GB/T1.1一2009给出的规则起草
本标准代替GB/T22092一2008《电子数显测微头和深度千分尺》
本标准与G;B/T22092一2008 相比,除编辑性修改外,主要技术变化如下 -扩大电子数显测微头和深度千分尺的量程到50mm(见第1章、4.2.2,2008年版的第1章、 4.2.2); 修改了电子数显千分尺数显装置的定义(见3.1,2008年版的3.1); -增加了电子数显测微头和电子数显深度千分尺的定义(见3.23.3); -增加了测微螺杆螺距为2mm的电子数显测微头和深度千分尺(见4.2.1); 修改了对锁紧变化的要求(见5.5,2008年版的第1章) 增加了对电子数显深度千分尺测量面平行度的要求和检验(见5.8.5,6.1.4) 增加了量程等于50 mm的电子数显测微头及其示值最大允许误差的要求见5.11.1); 修改了示值最大允许误差的规定值(见5.11和表l,2008年版的5.l1和表1); 删除了附录A,把附录A的内容放到正文里(见5.ll、表2,2008年版的附录A); 增加了对电子数显深度千分尺校对柱的要求(见5.13); 修改了分度误差检验方法的注2见6.3.1,2008年版的6.3.1); 修改了示值误差的检验方法(见6.4.2,2008年版的6.4.2); 增加了示值误差检验方法的B组尺寸系列检验量块(见6.4.2和表2,2008年版的6.4.2); 增加了量程等于50mm的电子数显测微头的示值误差检验量块(见6,4.2和表2); 删除了对角度传感器等分数的规定(见2008年版的5.10.3).
本标准由机械工业联合会提出 本标准由全国量具量仪标准化技术委员会(SAc/Tc132)归口
本标准负责起草单位:苏州麦克龙测量技术有限公司
本标准参加起草单位;成都工具研究所有限公司桂林量具刃具有限责任公司、成都成量工具集团 有限公司、哈尔滨量具刃具集团有限责任公司、桂林广陆数字测控有限公司、东莞市特马电子有限公司、 广西壮族自治区计量检测研究院、辽宁省计量科学研究院
本标准主要起草人;黄晓宾,王荣华,许刚赵伟荣、李荣农、周萍、,闫列雪、王昭进、王智慧、姚兴宇
本标准所代替标准的历次版本发布情况为: GB/T220922008.
GB/T22092一2018 电子数显测微头和深度千分尺 范围 本标准规定了电子数显测微头和电子数显深度千分尺的术语和定义、型式与基本参数、要求、 检 验方法、试验方法、标志与包装
本标准适用于分辨力为0.001mm,量程小于或等于50mm的电子数显测微头和测量范围上限至 300mm的电子数显深度千分尺 规范性引用文件 下列文件对于本文件的应用是必不可少的
凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文 件
凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件
GB/T1216一2018外径千分尺 GB/T2423.3一2016环境试验第2部分;试验方法试验Cab;恒定湿热试验 GB/T2423.22一2012环境试验第2部分;试验方法试验N温度变化 GB/T4208一2017外壳防护等级(IP代码 GB/T1800.2一2009产品几何技术规范(GPs)极限与配合第2部分;标准公差等级和孔、轴 极限偏差表 GB/T17163一2008 几何量测量器具术语基本术语 GB/T17164一2008几何量测量器具术语产品术语 GB/T17626.2一2006 电磁兼容试验和测量技术静电放电抗扰度试验 GB/T17626.32016电磁兼容试验和测量技术射频电磁场辐射抗扰度试验 GB/T24634一2009产品几何技术规范(GPs)GPs测量设备通用概念和要求 术语和定义 GB/T171632008,GB/T171642008和GB/T24634一2009界定的以及下列术语和定义适用 于本文件
3.1 电子数显千分尺数显装置 electronicdigitalindieatingdevicesformicrometer 利用角度传感器,电子和数字显示技术,计算并显示电子数显千分尺的测微螺杆位移的装置
注:以下简称“电子数显装置” 3.2 电子数显测微头mierometerheadwitheleetronicdigitaldisplay 利用电子数显千分尺数显装置,对测微螺杆轴向位移进行读数并具有安装部位的测量器具
3.3 电子数显深度千分尺depthmierometerwitheleetronicdigitaldlisplay 利用电子数显装置,对底板测量面与测微螺杆测量面分隔的距离进行读数的测量器具
.13
注改写GB/T17164一2008,定义2.3
GB/T22092一2018 型式与基本参数 4.1型式 电子数显测微头和电子数显深度千分尺的型式如图1和图2所示
图示仅供图解说明,不表示详 细结构
盖里 安装部位 电子数显装置 测微螺杆 锁紧装置 微分简 测力装置 0 图1电子数显测微头型式示意图 微分筒 锁紧装置 测量血 测量杆 底 电子数显置 测力装置 图2电子数显深度千分尺型式示意图 4.2基本参数 4.2.1电子数显测微头和电子数显深度千分尺测微螺杆的螺距宜为0.5mm、1mm或2mm
4.2.2电子数显测微头和电子数显深度千分尺的量程宜为25mm,30mm或50mm. 4.2.3电子数显测微头安装部位的直径宜为内12h6.
4.2.4电子数显深度千分尺的测量范围的下限宜为0mm或25mm的整数倍
GB/T22092一2018 5 要求 5.1外观 5.1.1电子数显测微头和电子数显深度千分尺表面不得有影响外观和使用性能的裂痕,划伤,碰伤,锈 蚀、毛刺等缺陷
5.1.2电子数显测微头和电子数显深度千分尺表面的镀、涂层不得有脱落和影响外观的色泽不均等 缺陷
5.1.3电子数显装置的数字显示屏应透明、清洁,无划痕、气泡等影响读数的缺陷
5.2材料 5.2.1电子数显深度千分尺底板应选择合金工具钢、不锈钢或其他类似性能的材料制造
5.2.2测微螺杆和测量杆应选择合金工具钢、不锈钢或其他类似性能的材料制造;测量面宜镶硬质合 金或其他耐磨材料
5.3相互作用 5.3.1测微螺杆和螺母之间在全量程范围内应充分啃合,配合良好,不应出现卡滞和明显的轴向窜动
5.3.2测微螺杆伸出的光滑圆柱部分与轴套之间的配合应良好,不应出现明显的径向摆动
5.4测力装置 电子数显测微头和电子数显深度千分尺宜具有测力装置
通过测力装置作用到测量面的测量力应 在4N~10N之间,测量力变化应不大于2N
5.5锁紧装置 电子数显测微头和电子数显深度千分尺宜有锁紧装置
锁紧装置应能有效地锁紧测微螺杆,锁紧 前、后,两测量面间的距离变化不应大于2m(在锁紧部位测微螺杆有刚性支撑)或3m(在锁紧部位 测微螺杆无刚性支撑)
5.6底板 电子数显深度千分尺底板的长度宜为50mm或100 mm
5.7测量杆 电子数显深度千分尺相邻测量杆之间的长度差等于量程,应成套检测
更换测量杆后的“零”值误 差不应大于表1的规定
表1示值最大允许误差、平行度公差和“零"值误差 示值最大允许误差 平行度公差 “零”值误差 测量范围 mm m 0GB/T22092一2018 表1续) 示值最大允许误差 平行度公差 “零”值误差 测量范围 mm Hm 100l150 士4 150
GB/T22092一2018 6.4示值误差 6.4.1电子数显测微头的示值误差:用准确度为2级的量块或测长仪在测微螺杆轴线上检验,检验点 见表2,应排除安装的影响
用量块检验时,将电子数显测微头紧固在具有辅助测量面的夹具上,两测量面应是球面与平面接触 方式,在两测量面间放人量块(尺寸系列见表2)进行检验,得出电子数显测微头显示值与量块尺寸的差 值,示值误差的判定采用浮动零点原则,即将各检验点的检定结果绘制成误差曲线,曲线在纵坐标上最 高点与最低点的差值即为其示值误差
表2量块的尺寸系列 单位为毫米 电子数显测微头和电子数 量块的尺寸系列 显深度千分尺的量程 A组;2.5;5.l;7.7;10.3;l2.9;l5;17.6;20,2;22.8;25 25 B组:5.12;10.24;15.36;21.5;25 A组:2.5;5.l;7.7;10.3;12.9;15;17.6;20.2;22.8;25;30 30 B组;5.12;l0.24;l5.36;21.5;25;30 50 5.12;l0.24;l5.36;21.5;25;30.12;35.24;40.36;46.5;50 注量块尺寸等于测量范围的下限加表中数值 6.4.2电子数显深度千分尺的示值误差;将电子数显深度千分尺在其下限尺寸处校准,在精密平板上 放置一对等于其上限尺寸的量块,使深度千分尺的底板测量面贴合在量块上,然后在深度千分尺测量杆 和精密平板之间放人一组准确度为2级的量块(尺寸系列见表2)进行检验,得出电子数显深度千分尺 显示值与量块尺寸的差值,示值误差的判定采用浮动零点原则,即将各检验点的检定结果绘制成误差曲 线曲线在纵坐标上最高点与最低点的差值为电子数显深度千分尺的示值误差
对于测量范围的下限大于25mm电子数显深度千分尺,需采用适合于其测量范围的专用量块或将 量块研合进行检验
示值误差的判定方法同前述
6.5重复性 在完全相同的测量条件下,重复测量5次,其5次显示值间的最大差异,即为电子数显测微头或电 子数显深度千分尺的重复性
试验方法 7.1防水,防尘试验 电子数显测微头和电子数显深度千分尺的防水、防尘试验应符合GB/T42082017的规定
7.2温度变化试验 电子数显测微头和电子数显深度千分尺的温度变化试验应符合GB/T2423.22-2012的规定
7.3湿热试验 电子数显测微头和电子数显深度千分尺的湿热试验应符合GB/T2423.3一2016的规定
GB/T22092一2018 7.4抗静电干扰试验 电子数显测微头和电子数显深度千分尺的抗静电干扰试验应符合GB/T17626.2一2006的规定
7.5抗电磁干扰试验 电子数显测微头和电子数显深度千分尺的抗电磁干扰试验应符合GB/T17626.3一2016的规定
标志与包装 8.1电子数显测微头和电子数显深度千分尺上应标志有 制造厂厂名或商标; a b测量范围; c 分辨力; d)产品序号; 防护等级高于IP40时,应标有防护等级标志
e 8.2校对柱上应标志其长度标称尺寸
电子数显测微头和电子数显深度千分尺包装盒上应标志有 8.3 a 制造厂厂名或商标; b)产品名称; 测量范围
c 8.4电子数显测微头和电子数显深度千分尺在包装前应经过防锈处理并妥善包装,不得因包装不善而 在运输过程中损坏产品
8.5电子数显测微头和电子数显深度千分尺经检验符合本标准要求的应附有产品合格证及使用说明 书，产品合格证上应标有本标准的标准号、产品序号和出厂日期
测微头和深度千分尺GB/T22092-2018
一、定义
电子数显测微头和深度千分尺是一种通过电子数字显示器来读取测量结果的高精度测量工具。它由测头、数显装置和机体三部分组成，能够在微小范围内对长度、深度等进行测量。
二、分类
根据不同的测量对象和应用场景，电子数显测微头和深度千分尺可以分为不锈钢测微头、硬质合金测微头、非磁性材料测微头、深度千分尺等多种类型。
三、结构
电子数显测微头和深度千分尺主要由以下几个部分组成：
- 测头：用于测量微小长度或深度值。
- 数显装置：通过电子数字显示器将测量结果以数字形式显示出来。
- 机体：承载测头和数显装置的主体部分。
四、使用方法
使用电子数显测微头和深度千分尺时，需要注意以下几点：
- 在使用前，需要对仪器进行校准。
- 测量时需轻拧调整螺母，使测头与被测物体之间完全接触，并且不得施加过大的力量。
- 读数时应该避免角度偏差和眼部疲劳，保持垂直视角。
- 测量完毕后，应该清洁仪器并放回原处。
五、注意事项
使用电子数显测微头和深度千分尺时，应该注意以下几个方面：
- 仪器应该保持干燥、清洁、防尘、防震、防摔。
- 避免长时间暴露在高温、高湿等恶劣环境中。
- 注意使用时的力度及角度，避免对仪器造成损坏。
