GB/T20440-2006

密集波分复用器/解复用器技术条件

TechnicalrequirementsofDenseWavelengthDivisionMultiplexer/Demultiplexer

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  • 中国标准分类号(CCS)M33
  • 国际标准分类号(ICS)33.180.20
  • 实施日期2007-02-01
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密集波分复用器/解复用器技术条件


国家标准 GB/T20440一2006 密集波分复用器/解复用器技术条件 Technicalrequirementsofdensewavelength divisionmultiplexer/demultiplexer 2007-02-01实施 2006-08-23发布 国家质量监督检验检疫总局 发布 小 国国家标准化管委员会国家标准
GB/T20440一2006 目 次 前言 范围 规范性引用文件 术语和定义、缩略语 技术要求 试验方法 检验规则 15 标识,包装,运输和贮存 16 附录A规范性附录ITU-TG.694.1DwDM栅格标称中心频率 附录B(规范性附录》IrU-TG.692附录A标称中心频率 18 推荐8波道、32波道DwIM 附录c(资料性附录ITU-TG.692附录A标称中心频率 系统的标称中心频率 ++++++*+ 19
GB/T20440一2006 前 言 与本标准技术内容相关的有如下标准,在本标准的制定过程中还注意了与以下标准的协调统一 EC61753-2-2:1998《用于非环境控制的纤维光学DwDM器件性能规范》草案、YDN120一1999 《光波分复用系统总体技术要求(暂行规定)》、YD/T10602000《光波分复用系统(wDM)技术要 -16×10Gb/s -32×2.5Gb/s部分》及YD/T1143一2001《光波分复用系统(wDM)技术要求 求 部分、,32×10Gb/s部分》对DwDM器件的性能要求 DwTM器件为DwDNM系统中的关键器件,可靠性要求很高,因此试验方法采用美国Telceordia GR-1221-cORE(1999),G;R-1209-cORE(2001)规定 本标准的附录A、附录B为规范性附录,附录C为资料性附录 本标准由信息产业部提出 本标准由信息产业部(通信)归口 本标准起草单位;武汉邮电科学研究院 本标准参加单位信息产业部电信研究院 本标准主要起草人梁臣桓、许远忠,胡强高、张佰成、刘军
GB/T20440一2006 密集波分复用器/解复用器技术条件 范围 本标准规定了密集型波分复用器/解复用器(以下简称DwDM器件)的相关定义和分类,技术要求 和试验方法;规定了检验规则及标识,包装、运输和贮存要求 本标准适用于密集型波分复用器/解复用器(DWDM器件) 规范性引用文件 下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款 凡是注日期的引用文件,其随后所有 的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本标准,然而,鼓励根据本标准达成协议的各方研究 是否可使用这些文件的最新版本 凡是不注日期的引用文件,其最新版本适用于本标准 电工电子产品环境试验第1部分,总则(idtIECc68-1:1988 GB/T2421一1999 GB/T2828.1一2003计数抽样检验程序第1部分,按接收质量限(AQL)检索的逐批检验抽样 计划(IsO2859-1:1999,IDT GB/T15972.4-1998光纤总规范第4部分:传输特性和光学特性试验方法 YD/T1065-2000单模光纤偏振模色散试验方法 具有光放大器的多波道系统光接口 ITU-TG.692(2002) wDM应用的谐栅格;DwDM懒率栅格 ITU-TG.694.l(2002 TeleordiaG;R-1209-coORE(2001光无源器件总规范 TeleordiaGR-1221-cORRE(1999)光无源器件可靠性保证总规范 术语和定义、缩略语 3.1缩胳语 下列缩略语适用于本标准 波分复用器 WDM WavelengthDivisionMultiplexer 粗波分复用器 sngthDvision.Mltiplexer CWDM CoarseWavelen DwDM Densewas velengthDvison.Mtiplexer 密集波分复用器 MUX Multiplexer 复用器 DMUX 解复用器 Demultiplexer 阵列波导光栅 AwG ArrayWaveguideGrating 方向性 Directivity 插人损耗 lnsertionLoss ReturnLoss 回波损耗 PassbandFlatness 通带平坦度 Dn PolarizationDependentLoss 偏振相关损耗 cD 色散 ChromaticDispersion 偏振模色散 PolarizationModeDispersion PMD 3.2术语和定义 下述术语和定义适用于本标准
GB/T20440一2006 3.2.1 光波长(包括波分)复用器/解复用器optiealwavelengthmuldplexer/demutiplex wDM器件;一种波长选择性分支器件(用于wDM传输系统),光信号根据信号的波长在两个预设 的端口间传递 波分复用器(MUX)和波分解复用器(DMUX)通常都称作“wDM器件”,因为通常同样 器件既可用于复用通道也可用于解复用通道 波长(包括波分)复用器;具有2个或多个输人端口和一个输出端口的分支器件,每个输人端口的光 波长限定在一个预选的波长范围内,输出端口的光是来自输人端口的光的复合(如图la) 波长(包括波分)解复用器:一种执行与波分复用器相反运作的器件,输人为由2个或多个波长范围 的光构成的光信号,每个端口的输出是不同的预选波长范围的光信号(如图1b) A1,入2,,入" MUX 图1a)复用器 入1,入,,2 DMUX 图1b)解复用器 3.2.2 密集波分复用器(DwDM diisionmultiplexer denSeaVeler engh 波长间隔小于或等于1000GHz的波分复用器为密集波分复用器 目前典型应用的波长间隔为 200GHz100GHz,50GHz 3.2.3 工作波长范围operationwavelengthrange 围绕标称工作波长入而规定的从入到入m的波长范围,在这个波长范围内DwDM器件能够按照 规定的性能工作 3.2.4 中心频率/波长centralfrequeney/wavelength 特定通道的标称中心频率/波长,它的定义示图见图3 其中心频率/波长系列见附录A、附录B 3.2.5 中心频率/波长偏差 centralfre queney/wavelengthtoleranee DwDM器件IrU-T标称中心频率/波长与实际中心频率/波长之差 6 3.2. 通道间隔 channelspacing 相邻通道间标称中心波长/中心频率的间隔 对各种标称中心波长的间隔见ITU-TG.694.1
GB/T20440一2006 2002)建议 通道间隔必须是12.5GHz、25GHz、50GHz、100GHz的整数倍,非均匀间隔也是允 许的 3.2.7 通带宽度passbandwidth 通带宽度又称通道带宽,为单个通道的通带宽度 按照ITU-TG.692建议,DwDM器件的通道宽 度必须大于通道间隔的五分之一 其定义示图见图5 3.2. 8 通道插入损耗channelinsertionlos DwDM器件的输出端口和输人端口之间的光功率之比,单位是dB,定义为 儿=一1olg(P/P 式中 P 是输人到输人端口的光功率; 是从输出端口接收到的光功率 P 注,对于wDM器件,它是" 对数转换矩阵的一个元素diw 这里i是输人端口序数,0是输出端口序数,w n×n× 是端口或o相关联的波长序数,n是输人加输出端口的总数,k是对数转矩阵的波长总数 对于DWDM和 cwDM器件,它应该被规定为图5所示的通道频率(或波长)范围内最大插人损耗和最小插人损耗 通常取通 道内最大插人损耗作为DwDM器件该通道的插人损耗,各通道中最大的插人损耗作为DwDM器件的插人 损耗 3.2.9 回波损耗returnloss 从DwDM器件的输人端口返回的光功率与输人光功率的比例,单位是dB,定义为 RL=一10lg(P,/P 式中 是输人到输人端口的光功率 P 是从同一个输人端口接收到的返回光功率 3.2.10 偏振相关损耗polarizationdependentloss 对于所有偏振态由于偏振态的变化产生的插人损耗的最大变化值,以dB表示 3.2.11 色散chromaticdispersionm 在通带内,不同群速率信号通过DwDM器件所产生的群时延,以ps/nm表示 3.2.12 偏振模色散polarizationmodedispersionm 在工作波长范围内,由于通过DwDM器件光信号的两个正交任意偏振态之间所产生的最大群时 延差,以ps表示 3.2.13 通带平坦度passhandlatness 通带平坦度也称为通道内起伏,是表征通道平坦度的参数 它是指在通道带宽范围内通道插人损 耗的起伏,以dB表示 其定义示图见图5,定义为 PF=L 一L nin Lm 式中 通道通带内最大插人损耗 IL Lx 通道通带内最小插人损耗 L Inn
GB/T20440一2006 3.2.14 通道插入损耗均匀性chamnelinsertionlossuniformity 各通道间插人损耗的最大值和最小值的差,以dB表示 3.2.15 方向性direetivity 用来衡量器件定向传输特性的参数,也称“近端隔离度” 它是指复用器在正常工作时,其输人一侧 非输人光的一端的输出光功率与输人光功率(被测波长)的比值,以dB表示 定义为: DX;=-1olgP/PdB 式中 -为输人光功率,单位mw; P 为输人一侧非输人光端口的输出光功率,单位mW P 3.2.16 相邻通道隔离度ajentchamnesolatiom 在某一特定通道上该通道输出光功率对相邻通道输出光功率的抑制比,用dB来表示 如图7所示,右相邻通道隔离度为右边相邻子通道内的最小插人损耗与本通道(通道A)在通带内 的最大插损之差即图中“隔离度对B”);左相邻通道隔离度为左边相邻通道通带内的最小插人损耗与 本通道在通带内的最大插损之差 相邻通道隔离度为右相邻通道隔离度和左相邻通道隔离度中的最 差者 3.2.17 非相邻通道隔离度non-adiacentechanneisolatiom 某一特定通道上输出光功率对非相邻的其他通道输出光功率的抑制比,用dB表示 一般,非相邻 通道的通道间隔是相邻通道间的两倍(或两倍以上),而非相邻通道隔离度比相邻通道隔离度要高得多 如图7所示的“隔离度对c”,非相邻通道隔离度为所有非相邻通道的通带内的最小插人损耗与本通道 在通带内的最大插人损耗之差 3.2.18 波长热稳定性wavelengththermalstability 表征DwDM器件通道中心波长在规定的工作温度范围内随温度变化而产生的漂移量/变化量,通 常表示为每单位温度(C)的波长漂移量,即nm/C 3.2.19 插入损耗热稳定性insertionlossthermalstability 表征DwDM器件通道插人损耗在规定的工作范围内随温度变化而产生的变化量,通常表示为每 单位温度(C)的插人损耗变化量,即dB/C 技术要求 4.1分类 按器件的工作机理通常有五类: 介质膜滤波型 -阵列波导光栅(AwG)型; 光纤光栅+环形器型; 衍射光栅型; 全光纤熔锥型 4.2DwDM器技术要求 200GH么通道间隔DwDM器件性能参数如表1所示 a
GB/T20440一2006 表1200GHz通道间隔DwDM器件性能参数 参数 单位 指标 16 通道数 中心波长 附录B nm 中心波长偏差(最大 nm 士0.1 0.5dB通带宽度 >0.5 nmm 通带平坦度 dB s0.5 通道插人损耗 dB 3.5 通道插人损耗均匀性 dB <1.o 相邻通道隔离度 dB 多25 非相邻通道隔离度" dB >30 波长热稳定性 nm/ 0.002 插人损耗热稳定性 dB/ S0.008 偏振相关损耗 dB 0.15 偏振模色胶 ps <0.2 回波损耗 dB >40 方向性? dB >50 工作温度 -5十65 储存温度 40十85 这两项参数对复用器不作要求 1 2这项参数对解复用器不作要求 b)100GHz通道间隔DwDM器件性能参数如表2所示 表2100GHz通道间隔DwDM器件性能参数 参数 单位 指标 32 40 16 通道数 中心波长 附录B nm 中心波长偏差(最大 士0.06 nmm >0.3 -0.5dB通道宽度 nmm 通带平坦度 dB S0,5 通道插人损耗 dB 通道插人损耗均匀性 dB <1.0 相邻通道隔离度 dB >25 非相邻通道隔离度" dB 30 波长热稳定性 nm/C s0.001 插人损耗热稳定性 dB/C S0.008 偏振相关损耗 0.2 S0.15 S0.15 dB 色散 -30sCD30 ps/nm 0.5 偏振模色散 ps 回波损耗 dB >40 方向性7 dB 50 工作温度 十65 -5 储存温度 -40十85 1这两项参数对复用器不作要求 2 这项参数对解复用器不作要求
GB/T20440一2006 50GHz通道间隔DwDM器件性能参数如表3所示 c 表350GH通道间隔DwDM器件性能参数 参数 单位 指标 通道数 80 160 中心波长 nm 附录A中50GHz间隔对应的标称波长 中心波长偏差(最大 士0.025 nm -0,5dB通带宽度 0.l nm 通带平坦度 dB 0.5 通道插人拟耗 dB 通道插人损耗均匀性 dB <1.5 相邻通道隔离度 dB >25 非相邻通道隔离度 dB 30 被长热稳定性” nm S0.05(一5C65C) 插人损耗热稳定性 dB/C s0.008 偏振相关损耗 dB S0,3 -3040 方向性" dB 50 工作温度 -5十65 储存温度 40十85 这两项参数对复用器不作要求 1 2 这项参数对解复用器不作要求 对于50GHz通道隔离的DwDMI器件,目前一般采用光梳状分波器法,而光梳状分波器其温度稳定性不是线 3 性关系,故采用工作温度范围内波长变化表示 DwDM器件单元组件性能参数如表4所示 表4DwDM器件单元组件光学性能要求 参数 单位 指标要求 中心波长 附录A、附录B nmm 波长间隔 GHz 200,100,50 一0,5dB带宽 >0.5(200GHz)、0.3(100GHz)、0,150GHz) nmm 通道插人损耗 <1.5 dB 隔离度 dB >25 方向性 dB >50 回波损耗 dB >40 偏振相关损耗 dB s0.2 偏振模色散 <0.2 ps s0.002(200GHz)、s0.001(100GHz 波长热稳定性 nm/ <0.05nm(一5C一65C,50GH2 损耗热稳定性 dB/C 0.008
GB/T20440一2006 试验方法 5.1外观检查 进行光学性能试验前,首先对器件进行外观检查 其外形尺寸与设计尺寸应相符;外观必须平滑、 无油溃,无伤痕及无裂纹,整个器件牢固,引线无松动或端口的连接器的插拔须平顺 5.2试验环境条件 器件的性能试验应在满足GB/T24211999规定的正常大气条件下进行,即 -温度:15C35C; 相对湿度;25%一75%; 气压:86kPa~106kPa 5.3试验仪表设备 5.3.1光源 5.3.1.1宽带光源 光源要求如下 波长范围根据工作波长选择适当的波长 输出光功率稳定性;士0.1dlB/10min 5.3.1.2可调谐激光器光源 可调谐激光器光源要求如下 -波长范围:根据工作波长选择适当的波长 -波长精度;士0.015nm; 波长重复性;士0.5pm 波长稳定性;<士1 pm; 边模抑制比:>40dB 输出光功率;>一13dBm 5.3.2光谱分析仪 光谱分析仪要求如下 -工作波长范围;根据工作波长选择适当的波长 波长精度;士0.01nm 5.3.3光功率计 光功率计要求如下 -工作波长范围;根据工作波长选择适当的波长 光功率最大动态范围:一80dBmm~十10dBm(直流); 绝对精度:士5% 5.3.4偏振控制器 偏振控制器要求如下 工作波长范围;根据工作波长选择合择的波长 偏振消光比>40dB 最大允许输人光功率:+20dBm 5.3.5回波损耗测试仪 回波损耗测试仪要求如下 -工作波长:1310nm、1550nm;
GB/T20440一2006 测试范围:一75dB0dB -测试精度:士1.0dB绝对精度),士0.4dB(相对精度) 5.3.6高低温试验箱 高低温试验箱要求如下: 工作温度范围;一40C十120C; 温度波动;士2C; 温度变化率:>2C/min 5.3.7恒温恒湿试验箱 恒温恒湿试验箱要求如下 工作温度范围;一40C十120C -温度波动;士2C; -温度变化率;>2C/min; 高温高湿:70c,70%RH,95%RH 低温低湿.10c,20%RH,20%RH 湿度波动:士1%RH士3%RH. 5.3.8振动 垂直振动系统要求如下 扫频方式:线性或指数; 100 -扫频速率;线性:0.001Hz/s100Ha/s;指数;0.001oet/min~ oct/min; 额定激振力;2940N300kgf); -额定空载加速度;980m/s'; 空载频率范围;5Hz~4000Hz; 额定速度:110cm/s 最大位移;25nm(峰-峰); 连续工作>8h 5.4测量方法 5.4.1通道中心波长、中心波长偏差、波长热稳定性,0.5dB通道宽度测量 测试原理及系统框图如图2所示 光谱分析仪 宽光源 DwDM 器件 温度试验箱 图2通带中心波长、中心波长偏差、波长热稳定性、通常宽度测试方框图 测试仪表 2 温度试验箱
GB/T20440一2006 宽带光源; 光谱分析仪 3)测试步骤 如图2将器件的公共输人端与宽光源输出端连接 a bb 将器件的每个输出端分别接人光谱分析仪的输人端测得每个输出端通道中心波长和一0.5dB 通带宽度 中心波长入是以光谱仪扫措波形最高点为顶点向下0.了B得到的入,租A在的平均值,如搁3 所示 表达式为;入=(a右十入左)/2(mm). -0.5dB通道宽度为:l入在一入有l(nm). 中心波长偏差;入=入m-下一入.(nm). 0dB 频半/改长 拢 籍 -0.5dB A-T A=(A在十Ae)" 图3中心波长入 定义示意图 将器件放人温度试验箱进行一5C65C温度循环,每个测试点恒温30min后进行测量,测得 各通道的波长,至少测3个点 然后将循环中各通道波长的最大变化值除以70,即为该器件 的波长热稳定性 5.4.2通道插入损耗、插入损耗热稳定性、通带平坦度和通道插入损耗均匀性测量 测试原理及系统框图如图4所示 功率计 可调谐 DwDM 激光器 器件 温度试验箱 图4通道插入损耗、插入损耗热稳定性、通带平坦度和通道插入损耗均匀性测试方框图
GB/T20440一2006 测试仪表: 2 温度试验箱; -可调激光器 光功率计 3)测试步骤 将光源输出端接人功率计,存储光源输人功率为参考功率; a b)将器件的公共输人端与光源输出端连接; 将器件的每个输出端分别接人功率计,使光源输出对应波长的激光,测得每个输出端的插人损 耗和通道插人损耗,按定义计算通带平坦度,如图5所示; 将器件放人温度试验箱进行一5C~65C温度循环,测得各通道插人损耗每个测试点恒温 30min后进行测量,至少测3个点 然后将循环中各通道插人损耗的最大变化量除以70,即为 该器件的通道插人损耗热稳定性 频率/波长 0dB 通道最小插入损耗 通道最大插入损耗 通带平 入制 Am- 通带 r豺于0Gt z,0.xx=0.10,对于 注:通带宽度是以ITU-T波长为中心左右0.xnm( 0.xx=0.05,对于100GH2 200GHz,0.xx=0.25),通道插人损耗,通带平坦度通道,隔离度等指标均以通带为依据 图5通带宽度、通带插入损耗通带平坦度定义示意图 5.4.3相邻通道隔离度和非相邻通道隔离度测量 测试原理及系统框图如图6所示 功率计 可调谐 DwDM 激光器 器件 图6相邻通道隔离度和非相邻信道隔离度测试方框图 1o
GB/T20440一2006 测试仪表: 2 可调谐激光器 功率计 测试步骤: 3 将光源输出端接人功率计,存储光源输人功率为参考功率, a b 将器件的公共输人端与光源输出端连接 将器件的每个输出端分别接人功率计,使光源输出对应波长的激光.测得每个输出端的插人损 耗,按定义计算出相邻通道隔离度和非相邻通道隔离度,如图7所示 通道A 通道B 通道e 频率/波长 0dB 隔离度对B 隔离度对c Au1 AmuT AmUT 通带 带 通带 图7相邻通道隔离度、非相邻通道隔离度定义示意图 5.4.4偏振相关损耗测量 测试原理及系统框图如图8所示 功率计 偏叛 DwDM 可调谐 控制器 器件 激光 图8偏振相关损耗测试方框图 测试仪表: 2 可调谐激光器光源, 光功率计; 偏振控制器 测试步骤 3 将光源输出端接人功率计,存储光源输人功率为参考功率 a 11
GB/T20440一2006 b)将器件的公共输人端与偏振控制器输出端连接,可调谐激光器输出端与偏振控制器输人端 连接 将器件的每个输出端分别接人功率计,使光源输出对应波长的激光,并使偏振控制器随机改变 激光的偏振态,测得每个输出端的偏振相关损耗 5.4.5偏振模色散测量 偏振模色散测量的基准法为“邦加球法” 测试原理及系统框图 测试原理及系统框图见YD/T1065一2000中的“邦加球法” 测试步骤 2 按系统图连接好测试系统 a b 设置扫描波长为DwDM器件的第一个输出口对应的波长; 启动测试,并使偏振控制器随机改变激光的偏振态.记录下该端口对应工作波长带宽内最大偏 振模色散值; 重复b).e)步骤,分别设置DwDMI器件所对应的波长,记录下所有偏振模色散值,其中最大值 为该DwDM器件的偏振模色散指标 注,偏振模色散也可采用其他替代法,如测量结果有争议时,以邦加球法为基准 5.4.6回波损耗测量 5.4.6.1基准法(方向耦合器法 测试原理及系统框图如图9所示 输 合器 可调谐激光器 DwDM 无回 无回 器件 输出 损终 损终 光功率计 端 端 图9回波损耗测试方框图 2 测试仪表: 可调谐激光器; -50/50耦合器; 光功率计 33) 测试步骤: 测量耦合器端口1到端口2得插人损耗记为IL,测量耦合器端口2到端口3得插人损耗记 a 为IL; b)将可调谐激光器调至相应输出波长入i 将耦合器如图9接人光路,激光器接耦合器端口1,耦合器端口2接DwDM器件对应波长为 的端口,其余端口接无回损终端,棚合器端口3接人功率计,测得端口1和端口3的显示 入 12
GB/T20440一2006 值IL1a; 该端口对应入的回波损耗值RL由下式计算: RL=IL3 一儿n一儿.a(dB) ; 重复以上三个步骤b),c).d),保证每个输人端口均有相应波长的光源输人,测量并计算所有 端口所有回波损耗值,则所有回波损耗的最小值即为此器件的回波损耗指标 5.4.6.2替代法 产品的出厂常规测量可采用替代法,替代法目前有“回波损耗测量仪直接测量”等方法 具体测量 程序见仪表使用说明书 5.4.7方向性测量 测试原理及系统框图如图10所示 输 可调谐激光器 输出 DwDM 光功率计 器件 图10方向性测试方框图 测试仪表 2 -可调谐激光器; 光功率计 3)测试步骤 将光源调至相应输出波长,输出端接人功率计,存储光源输人功率为参考功率; a 将光源相应波长光输人到对应的DwDM输人端; 将器件的其他输人端分别接人功率计,测得每个输人端的相关插人损耗; c d)重复以上a),b),e)步骤,使每个输人端口均有相应的光源输人,所记录下的所有插人损耗,其 中最小值即为此器件的方向性指标 5.4.8色散测量 色散测量按GB/T15972.4一1998的8e)微分相移法规定进行,其中试样为DwDM器件 5.5可靠性试验 产品可靠性试验包括机械完整性试验和环境温度耐久性试验,参照TelcordiaGR-1209-coRE 2001).GR-1221-coRE(1999)标准规定进行 具体要求如表5所示 13
GB/T20440一2006 表5可靠性试验要求 合格判据 批内允许 试验项目 允许样本允许失效 试验条件 试验方法 损耗变化 不合格品 名称 数/只 数/只 率/% 量/dB 5次/每方向,6个方向(3个 GR-1221-CORRE 机械冲击 坐标轴),500g,脉冲宽度 20 ll 6.2.1 ms 20g,20Hz2000Hz,4 GR-1221-CORE 机械振动 /每循环,x.,Y,Z三个方 20 min/ 1l 6.2.2 向,4循环/每轴向 100C0c AT 十100C),转换时间10s GR-1221-cORE 20 1 热冲击 极限点持续时间>5nmin,15 6.2.3 次循环 涂敷光纤、紧套缓冲光纤 GR-1209-CORRE 光缆扭曲'松套缓冲型,加强型光缆 20 1 5.4.3.2 0.45kg,10个循环 涂敷光纤、紧套缓冲光纤 GR-1209-coRE 0.23kg,90,5s,2个方向 光缆侧拉! 20 l 松套缓冲型,加强型光缆 5.4.3.3 C0.5 0.45kg,90',5s 涂敷光纤,紧套缓冲光纤 光纤光缆 0.45kg,5s,3个轴向 GR-1209-CORE 20 1l 保持力1 松套缓冲型,加强型光缆 5,4.3." .0k5s,3个轴向 GR-1221-cORE 高温贮存 85c士2C或最大贮存温 20 11 干燥》) 6.2.4 度,湿度<40%RH,2000h 高温贮存(潮75C士2c,90%RH士5% GR-1221-cORE 20 湿)或湿热RH或85C士2C、85%RH 11 6.2.5 非密封士5%RH,500 一40C士5C或最低贮存温 GR-1221-CORE 1l 低温贮存 20 6.2.6 度,2000h 0C到十70c士2c,转 GR-1221-CORE 20 温度循环 换时间1min,极限点持续 11 6,2.7 时间l5min,100次循环 注1;本可靠性试验均取DwDM器件单元组件 注2;从正常生产的产品批中随机抽取22个样品,分成两组,每组11个,分别进行机械完整性试验和环境温度耐 久性试验 每项试验不需进行在线监控,只需进行试验前后插人损耗变化量的观察记录根据数据判定合 格与香 )250m尾纤器件不作此三项试验 14
GB/T20440一2006 检验规则 DwDM器件由质量检验部门按本标准要求检验合格并发给合格证后方可出厂 6.1检验分类 检验分出厂检验和型式检验 6.2出厂检验 分为日常检验和抽样检验两种 6.2.1日常检验 该检验对生产的全部产品进行检验,其检验数据应随同产品提交给用户,DwDM器件日常检验的 项目是;插人损耗、相邻通道隔离度、非相邻通道隔离度、中心波长,0.5dlB通常宽度、回波损耗和偏振 相关损耗 检验方法见本标准5.4中相关测量方法 6.2.2抽样检验 由质量部门从一个生产批的产品或几个生产批(这些生产批是在基本相同的材料,工艺、设备等条 件制造)的产品中按一定比例抽取完整的产品或样品进行检验 抽样检验项目试验方法与6.2.1条相 同 抽样按GB/T2828. -3规定,评定等级儿一l.允许质量等级AQl.=0.1. 6.3型式检验 DwDM器件有下列情况之一时,进行型式检验,型式检验项目按5章中的测量和可靠性试验项目 规定进行 新产品或老产品转厂生产的试制定型鉴定; a b)正式生产后,如结构、材料,工艺有较大改变,可能影响产品性能时; 正常生产时,24个月后,应周期性进行型式检验 C 产品长期停产后,恢复生产时; d 出厂检验结果与上次型式检验有较大差别时; e 国家质量监督机构提出进行型式检验要求时 标识,包装,运输和贮存 标识 产品上应有产品名称,型号规格、编号等标识 7.2包装 产品应用内包装,用盒子包装好,包装内应有产品性能测试单和品质保证单,包装盒上应标有产品 名称、型号规格、生产厂家,执行标准号 7.3运输 当产品需要长途运输时,需用木箱或硬纸箱做外包装,在箱上写明不能抛甩、碰、压,应有防雨防潮 标志,以免损坏产品 7.4贮存 产品应放置在贮存温度范围以内的非暴露环境中 15
GB/T20440一2006 附录 A 规范性附录 rU-G.694.1DwDM栅格标称中心频率 表A. DwDM栅格标称中心频率 近似标称中心波长 通道间隔 nm 12.5GHz 25GHz 50GHz 100GHz和以上 195.9375 530,04 195.925o 195,925 530.14 195.9125 1530.24 195.900o 195.900 95.90 195.9 1530.33 195.8875 1530.43 1530.53 195.8750 195.875 195.8625 530.63 195.850o 195.85o 195.85 530.72 195.8375 530.82 195.825o 1530.92 95.825 195.8125 1531. 02 195.8000 195.800 95.80 195.8 1531. 12 195.7875 1531.21 195.775o 195,775 1531.31 195.7625 531.4 195.750o 195,750o 95.75 531.51 195.7375 1531. 60 70 195.725o 95.725 1531. 195.7125 1531.80 195.7000 95.700 95.70 195.7 1531.90 .6875 195 532.00 195.675o 195.675 532.09 195.6625 532.19 16
GB/T20440一2006 表A.1(续) 近似标称中心波长 通道间隔 nm 12.5GHz 25GHz 50GHz 100GHz和以上 193.2375 1551.42 193.2250 93.925 1551.52 62 193.2125 1551. 72 193.2000 93.900 93.20 193.2 1551. 193.1875 1551.82 193.175o 193.225 551.92 193.1625 552.02 193.150o 193.200 193.15 552.12 22 193.1375 552. 193.125o 193.175 1552.32 193.1125 1552.42 193.1000 93.100 93.10 193,1 1552.52 193.0875 552.62 193.075o 193.075 1552.73 193.0625 552.83 193.050o 93.050 93.05 552.93 193.0375 1553.03 193.0250 193.025 1553.13 193.0125 1553.23 193.0000 193.000 193.00 193.0 553.33 193.9875 553.43 193.975o 192.975 553.53 193.9625 1553.63 n
GB/T20440一2006 附 录 B 规范性附录 IrU-TG.692附录A标称中心频率 表B.1给出以193.1THz为参考频率,最小波道间隔为100GHz的标称中心频率 应注意,“”值 光速度)应用作频率和波长间的变换时,其值为2.99792458X10m/s 表B.1标称中心频率(标称中心波长) 标称中心频率/THz 标称中心波长/nm 标称中心频率/THz 标称中心波长/nm 196.1 1528.77 194.0 1545.32 196,0 193.9 1546.12 1529,55 195.9 1530.33 8 193. 1546,92 195.8 193.7 547.72 531.12 195.7 1531.90 193.6 1548.51 195.6 1532.68 193.5 549.32 533.47 1550.12 195.5 193.4 195,4 1534.25 193.3 550.92 195.3 1535.04 193.2 1551.72 195.2 1535.82 193.1 1552.52 193.0 195,1 536.61 1553.33 195,0 1537.40 192.9 1554.13 194.9 1538.19 192.8 1554.94 194.8 538.98 192.7 555.75 194.7 1539.77 192.6 1556.55 194.6 1540,56 192.5 1557.36 5 194. 1541.35 192.4 1558.17 2. 194,4 3 1558.98 1542.14 194.3 1542.94 192.2 559.79 194.2 1543.73 192.1 1560.61 194.1 1544.53 注:表末端点值仅作例证,可以预期未来发展多波道系统会超出表中所示的频率范围 18
GB/T20440一2006 附 录 C 资料性附录 IrU-TG.692附录A标称中心频率推荐8波道、 32波道DwDM系统的标称中心频率 YDN120-1999推荐的8波道DwDM系统的标称中心频率/标称中心波长见表c.1 表c.18波通道标称中心频率/标称中心波长 标称中心频率/THz 标称中心波长/nm 193.5 1549,32 1550,92 193.3 193." 1552.52 554.13 192.9 192.7 1555,75 192.5 1557.36 1558.98 192.3 192.1 1560,61 YDN1201999推荐的32波道DwDM系统中心频率/标称中心波长有两种选择方案;一种是连 续的频带,见表C.2;另一种是分别在两个频带内的分离频带分配,见表C.3 表c.232通道连续频带标称中心频率/标称波长 序号 中心频率/THz 波长/nm 192.1 1560.61 192.2 1559.79 192.3 1558.98 192.4 1558.17 192.5 1557.36 192.6 1556,55 192.7 1555.75 8 192. 1554.94 192.9 1554.13 1o 193.0 1553.33 11 193.1 1552.52 12 193.2 1551.72 13 193.3 1550.92 14 193.4 1550.12 5 1549,32 15 193 16 193,6 1548.51 17 193,7 1547.72 19
GB/T20440一2006 表C.2(续 序号 中心频率/THz 波长/nm 18 193.8 1546.92 19 193.9 1546.12 194.0 1545.32 20 21 194.1 1544.53 22 194.2 1543.73 23 194.3 1542.94 1542.14 24 194.4 25 194.5 1541.35 26 194.6 1540,56 194.7 1539.77 227 194.8 1538.98 28 29 194.9 1538.19 30 195.0 1537.40 31 195.1 1536.61 32 195.2 535.82 表C.332通路分离频带标称中心频率/标称中心波长 序号 频带 中心频率/TH 波长/" /nm 192.1 1560.61 192.2 1559.79 192.3 1558,98 192.4 1558.17 192.5 1557.36 红 192.6 1556.55 1555.75 192.? 192.8 1554.94 192.9 1554.13 1G 193.0 1553,33 带 193.1 1552.52 2 193.2 551.72 13 193.3 1550.92 14 193,4 1550.12 15 193.5 1549.32 16 193.6 l548.51 20
GB/T20440一2006 表C.3(续 序号 频带 中心频率/THz 波长/nm 1 194.5 1541.35 18 194.6 1540,56 19 194.7 l539.77 20 194.8 1538,98 21 194.9 1538.19 22 蓝 195.0 1537.40 l536.61 23 195.l 21 195.2 1535.82 25 195.3 1535.04 26 195.4 1534.25 21 带 195.5 l533.47 28 195.6 532.68 29 195.7 1531.90 30 195.8 1531.12 31 195.9 1530.33 32 196.0 1529.55

工业邻苯二甲酸二丁酯
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取水定额第10部分:医药产品
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